Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Цифровые многозначные элементы и структуры учеб. пособие

.pdf
Скачиваний:
7
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
6.11 Mб
Скачать

Таким образом, для составных элементов существует оптимальное

число k0 состояний, равное [г] 1

ИЛИ IZJ при котором приведенная

надежность максимальна

(рис. 95),

причем k0 > 3 .

Для

позиционных

элементов

 

также существует оптимальное чи­

 

сло состояний, при котором при­

 

веденная

надежность

элементов

 

максимальна.

Это следует из того,

 

что 2 <

k <

km. Однако k0 очень

 

зависит от вида функций

р (k) и

 

ф (у) и сделать какие-либо

выводы

 

 

 

 

 

20

40

60

во

Рис. 95. К расчету приве­

 

 

 

 

 

к

 

Рис.

96. Зависимость приведен­

денной надежности много­

 

ной

надежности

многоустойчи­

устойчивых элементов.

 

 

вых элементов от числа их сос­

 

 

 

тояний при ДЛ = 0,01:

 

о его величине в общем

случае не

I — е~^о^=0.9; at= 0,01; 2 — е—^ =

= 0,9; о* = 0,1;

3 — е

= 0,3;

представляется возможным.

Если

at =

0,901.

 

 

 

случайные величины X/,

(/ =

1 , 2 ,

 

 

 

 

 

..., п) имеют примерно одинаковые дисперсии, то вне зависимости от

вида функций f](xj)

при п = 5 ч- 10 можно

утверждать,

что случай­

ная величина Y распределена

по нормальному закону.

Если к тому

же предположить, что математическое ожидание М (Y) =

0, а р (1г) =

то

 

1+ААА

 

1

 

 

 

kt

У*

In k

 

 

 

 

2о2 dy

 

 

 

 

l-k& A

 

 

 

 

 

kt

 

 

 

где а 2—‘дисперсия

случайной

величины Y.

График

зависимости Р'п

от k приведен на рис. 96. На рис. 97 показано, как зависит оптимальное

число

k0 состояний позиционных

элементов от времени при Х0 =

= 10

°ч -I и а =

10 _6 ч~‘.

что с увеличением числа состояний

Таким образом,

несмотря на то,

надежность многоустойчивых элементов уменьшается, общая надеж­ ность устройств, построенных на их основе, в некоторых случаях может быть значительно повышена.

160

 

Более точная подстройка параметров многоустойчивых элементов

и облегчение условий работы,

то есть

уменьшение ДА, приводит

к увеличению к0— оптимального числа со­

ко

стояний (рис. 96). В моменты времени, ког-

100

да преобладают внезапные отказы, надеж-

$q

ность и оптимальное число состояний пози­

60

ционных элементов увеличиваются, а состав-

ных — уменьшаются (рис. 97).

При нали-

^

чии сильных механических воздействий

на

го

-----------------------------------------------------------Рис. 97. Зависимость оптимального числа состоя­

 

ний

многоустойчивых элементов от

времени при

 

Я0 =

Ю- 5 ч- 1 , а = 10_6 ч ~‘ и АЛ =

0,01.

 

 

конструкцию цифрового устройства следует применять позиционные элементы, так как в этих условиях надежность определяется в основ­ ном внезапными отказами [7]. В стационарных условиях более на­ дежными являются составные элементы, так как здесь преобладают постепенные отказы.

§ 5.8. Надежность фазо-импульсных многоустойчивых элементов

Фазо-импульсные элементы являются позиционными. Следователь­ но для них справедливо все сказанное в § 5.7 о надежности позици­ онных элементов, то есть существует максимально допустимое число kmсостояний и оптимальное k0 число состояний фазо-импульсных эле­ ментов. Оценим указанные величины для фазо-импульсного элемента, схема которого приведена на рис. 32.

Анализ работы этого элемента показывает [26], что более всего на его надежность по постепенным отказам влияет время Т заряда конденсатора С от нуля до опорного напряжения U0. Это время равно

Т = т In ь — и„ ’

где т = RC — постоянная времени цепи заряда конденсатора С от источника Е (на рис. 32 RC = R XC и Е = Ег — 27 В).

Элемент будет обладать k устойчивыми состояниями, если

 

к ~~{ < Т < —

где f — частота

синхронизирующих импульсов.

Отсюда получаем

 

 

+ ^ г4 г

где

2k — 1

тп = -------- г— .

2/ In t - U 9

161

Величину т0, постоянную для всех элементов, можно сделать более стабильной, чем т. Поэтому в дальнейшем нестабильностью т0 будем пренебрегать (хотя это и не обязательно). Нестабильность т0 можно учитывать описанным в § 5.7 методом, однако это не дает качественно новых результатов. Пусть

R = (R0±

AR0) (1 + XJ), С = ( С 0± АС0)

(1 + X tt), C0R0 = тс.

Обозначим,

1пУУ

Тогда на основании из­

что R (t, k, N) = (t , k)) ln* .

ложенного в предыдущем параграфе получим

 

 

 

 

 

I

Х2| <

 

R(t,k, N) = [P1

где

Ат0 =

АСр

.

ARn

 

Со

^

R 0 '

 

 

 

 

На рис. 98

приведены графики зависимости R (t, k, N) при N —

= е

= 2,71 ...

в предположении,

что случайная величина Х х + Х 2

распределена по нормальному закону с математическим ожиданием М (Лх + Х 2) и дисперсией о2. Из этих графиков видно, что оптималь­ ное число /?0 устойчивых состояний может быть значительно больше двух. При этом максимально допустимое число km — [z] — 1 состояний определяется из уравнения

Так как величины и имеют порядок 0,01, то &т = 25.

Заметим, что аналогичный анализ, выполненный для фазо-импуль­

сных элементов

с дозирующей и накопительной емкостями (рис.

31),

показывает, что

для таких элементов &0 =

3 -г- 15

(в зависимости

от типа используемых конденсаторов) и km =

26.

(рис. 32) с

на­

Сравним надежность фазо-импульсного элемента

дежностью триггерной декады. Пусть надежность триггерной декады по постепенным отказам равна единице, а внезапные отказы фазо­ импульсного элемента и триггерной декады имеют постоянные интен­ сивности Хг и Х2соответственно. Так как при прочих равных условиях фазо-импульсный элемент содержит меньше деталей, чем триггерная декада, то Хг < Хг и, следовательно,

г (0 =

= * U p jl * 1 + * 2 1< - 1~ а АТ° } >

(5 -9)

где X = Хх — Х?,

Pu (t) — надежность фазо-импульсного

элемента,

Рт(t) — надежность триггерной декады. Если плотность / (у) распре­ деления случайной величины Х г + Х 2 в точке у = 0 не равна нулю,

то при достаточно большом

t из(5.9) получим

г if) =

ец/ (0) 2 ('

162

Следовательно, при

оо величина г (/) -> оо.

Это означает, что,

начиная с некоторого

/0, Рм будет больше Рт. При

малых значениях

/соотношение между Р м и Ртсильно зависит от X, Лт0 и f (у). На рис. 99 показаны графики зависимости г (/) в предположении, что случайная величина Х г + Х 2 распределена по нормальному закону с дисперсией

о2 и М ( Хг + Х 2) = 0.

г ft)

Рис. 98. Зависимость надежности

фазо-импульсных

элементов от чис­

ла их состояний:

 

 

/ — Яг =

0,9; о* =

0,01;

2 — Р , = 0.9;

a t = 0,05;

3 P t — 0,3; а< =

0,01.

Рис. 99. Зависимость отношения на­ дежностей фазо-импульсного элемента и триггерной декады от параметра a t:

1 — %/а = 1000; Дт =

0.02; 2 — Х/а =10; Дт =

= 0,02; 3— К/а = 1;

Дт = 0,01; 4— Я./СТ = 0,1;

Дт =0,01.

 

Таким образом, надежность фазо-импульсных элементов при t -*■ оо становится выше надежности триггерных декад. Поэтому применение фазо-импульсных элементов вместо триггерных декад является пер­ спективным методом повышения надежности цифровых устройств при одновременном снижении их сложности.

§ 5.9. Способ повышения надежности фазо-импульсных элементов

Фазо-импульсные многоустойчивые элементы на основе емкостного накопителя могут иметь большую надежность, чем схемы с тем же числом устойчивых состояний на двоичных триггерах, при условии, что начальные параметры радиодеталей соответствуют их номиналь­ ным значениям. На практике выполнение этого условия выражается в необходимости настройки элемента на заданное число устойчивых состояний путем подбора параметра одной из деталей схемы (обычно дозирующего конденсатора). Однако вводя в схему подбираемую или перестраиваемую радиодеталь, невозможно наладить промыш­ ленный выпуск фазо-импульсных элементов небольшой стоимости, пригодных для массового использования.

В связи с этим возникает задача устранения критичности фазо­ импульсных элементов к нестабильности параметров схемы [3].

163

Для этого в схему фазо-импульсного элемента вводят цепь само­ настройки, в результате чего любые влияния дестабилизирующих факторов компенсируются изменением величины управляющего сигнала на выходе цепи самонастройки, например напряжения компарации. В простейшем случае такая цепь представляет собой фильтр нижних частот с большой постоянной времени, подключаемый к фазо-импуль­ сному элементу с емкостным накопителем вместо внешнего источника напряжения компарации. Для элемента памяти (рис. 32) режим са­ монастройки может быть введен подключением к аноду диода Д1 па­ раллельной RC цепи, изображенной на рис. 100.

Рассмотрим на примере изменения величины емкости С механизм

действия

самонастройки. В

данном случае

напряжение на

конден­

саторе С (рис. 101) после дос-

ти\

Q

f

тижения величины, достаточ-

Q

ной для

открывания диода

ие, ______________________ _

Рис.

100. Цепочка

Рис. 101. К объяснению действия

#фСф

самонастрой­

механизма самонастройки фазо-им­

ки.

 

пульсного элемента.

Д1, не остается неизменным, а продолжает возрастать в течение времени еТ одновременно с напряжением на конденсаторе фильтра Сф. Однако крутизна изменения, а следовательно, и ток базы

транзистора 7\, уменьшается в раз. При Сф С практически

весь ток от источника Ег через сопротивление R t идет на заряд кон­ денсатора фильтра Сф, вследствие чего элемент срабатывает точно так же, как и без цепи самонастройки. Если параметры схемы остаются без изменений, то работе элемента с числом устойчивых состояний к соответствует такое среднее значение напряжения на конденсаторе Сф, что величины его приращений при заряде емкости за время гТ и при разряде за время kT равны. Предположим, что под влиянием каких-либо причин величина емкости С уменьшилась. Это приводит к увеличению крутизны нарастания напряжения на конденсаторе С (линия Г на рис. 101), диод Д1 открывается раньше и, следовательно, время заряда конденсатора Сф возрастает на величину АеТ, что обус­

ловливает увеличение среднего значения напряжения

на вели­

чину

ДСф.В итоге к моменту очередного срабатывания элемента влия­

ние

изменения емкости С оказывается скомпенсированным

за счет

увеличения напряжения компарации £/ф. Аналогично, увеличение ем­ кости С приводит к уменьшению среднего значения 1/ф. Очевидно,

164

что процесс компенсации будет иметь место при изменении любых других параметров (R1, /?ф, Т, Ех и др.), если только скорость из­ менения этих параметров меньше критической, определяемой постоян­ ной времени СфЯф.

Условия правильной работы элемента с цепью самонастройки мож­

но описать теми же формулами,

что и для элемента

без

цепи само­

настройки,

если вместо величины U0 подставить значение £/ф, оп­

ределяемое из условия равенства величин

 

 

 

 

 

приращений напряжений на конденсато­

 

 

 

 

 

ре Сф при

заряде и разряде,

то есть

 

 

 

 

 

Е,Т (к — е)

еЯфЕг

 

А .

 

 

 

 

 

 

КХС

 

s■Rф+kR,

 

 

 

 

 

 

где 0 < е <

1 , — падение

напряже-

 

 

 

 

 

ния на диоде Д1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Как видно из аналитической записи,

 

 

 

 

 

основными

параметрами схемы,

опреде­

 

 

 

 

 

ляющими

требуемый режим работы, яв­

 

 

 

 

 

ляются величины накопительной емкости

 

 

 

 

 

С и сопротивлений Rx и /?ф.

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 102 представлены области

 

 

 

 

 

устойчивой работы десятичного фазо-им­

 

 

 

 

 

пульсного элемента (рис. 32) в плос­

 

 

 

 

 

кости параметров Rt и С при различных

Рис. 102. Области устойчивой

значениях

/?ф. В качестве диода Д1

ис­

пользован

диод типа Д220, транзисто­

работы десятичного фазо-импуль­

сного элемента в плоскости па­

ры — типа

П416Б, номинальные значе­

раметров Ri и С при:

ния напряжений

Еи Ег,

£ см

соответ­

/ —

Я ф

220 кО м ;

2 Н ф = 220 кО м ;

ственно — 100В, — 12,5В,

-(-1,5В,

но­

3 — Я ф =

180

к О м .

 

минальная

частота синхронизирующих

 

сравнения

пунктирной

импульсов — 100

кГц,

Сф =

1

мкФ. Для

линией показана

область устойчивой работы элемента без самонаст­

ройки при U0 =

10 В.

Границы

заштрихованного

прямоугольника

соответствуют

отклонению

параметров от номинальных значений на

± 20%.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Как видно из рис. 102, введение самонастройки расширяет область

устойчивой работы фазо-импульсного элемента в

10— 15 раз, благода­

ря чему надежности по постепенным отказам фазо-импульсного эле­ мента и статического триггера становятся сравнимыми в случае приме­ нения однотипных деталей. Аналогичное утверждение справедливо и относительно надежности по внезапным отказам, так как число дета­ лей триггера и фазо-импульсного элемента примерно равны. Отсюда следует, что фазо-импульсный элемент, выполняя функции триггер­ ной декады, обеспечивает увеличение среднего времени безотказной работы приблизительно в четыре раза.

ЛИТЕРАТУРА

1. А й з е н б е р г Н. Н., Р а б и н о в и ч 3. Л. Некоторые классы функцио­ нально полных систем операций и канонические формы представления функций многозначной логики.— «Кибернетика», 1965, № 2.

2.Б о р и с о в К- Г. и др. Электронная клавишная настольная машина.— «Ме* ханизация и автоматизация управления», 1968, № 3.

3.Б о р и с о в К. Г. и др. О надежности фазо-импульсных многоустончивых элементов.— «Автометрия», 1970, № 1.

4.Б ы ч е н о к Н. Н. и др. Матрица умножения десятичных чисел. Авт. свид.

СССР, № 230518.

5.К а р ц е в М. А. Арифметика цифровых машин. М., «Наука», 1969.

6.К о р н е й ч у к В. И. Функционально полный набор многозначных потен­ циальных логических элементов.— «Автоматика и вычислительная техника», 1968, № 5.

7.К о р н е й ч у к В. И. Надежность и оптимальное число состояний много­

8.

устойчивых элементов.— «Автоматика и вычислительная техника»,

1968, № 5.

К о р и е й ч у к

В. И. Канонические формы представления многозначных

 

переключательных

функций в системе теоретико-множественных операций.—

9.

В сб.: Вопросы теории ЭЦВМ. Киев, «Наукова думка», 1969, вып. 1.

 

К о р н е й ч у к

В. И.,

Р о м а н к е в и ч

А. М.

Реализация

й-значных

 

дешифраторов.— В сб.: Вопросы теории ЭЦВМ. Киев, «Наукова думка»,

1967,

10.

вып. 2.

В. И.,

Р о м а н к е в и ч

А. М.,

Т а р а с е н к о

В. П.

К о р н е й ч у к

 

Об одном методе реализации симметричных многозначных функций.— Известия

11.

вузов. Радиофизика, 1970, № 8.

В. П.

Синтез комбинационных

К о р н е й ч у к

В. И.,

Т а р а с е н к о

 

суммирующих схем из многозначных функциональных элементов.— Известия

12.

АН СССР. Техническая кибернетика, 1968, № 3.

 

 

 

К о р н е й ч у к

В. И.,

Т а р а с е и к о В. П. Синтез комбинационных мно­

 

жительных схем из многозначных логических элементов.— Известия АН

СССР.

13.

Техническая кибернетика, 1968, № 6.

В. П.

Схемы сравнения

много­

Ко р н е й ч у к

В. И.,

Т а р а с е н к о

 

значных кодов.— Известия АН СССР. Техническая

кибернетика,

1969,

№ 5.

14.Н е ч и п о р у к Э. И. О многополюсниках, реализующих функции много­ значной логики.— В сб.: Проблемы кибернетики. М., Физматгиз, 1961, вып. 5.

15.Многозначные элементы и структуры. (Сборник статей). М., «Советское радио»,

1967.

16.П о с п е л о в Д. А. Логические методы анализа и синтеза схем. М., «Энергия», 1968.

17.П о с п е л о в Д. А. и др. Представления в многозначных логиках.— «Кибер­ нетика», 1969, № 2.

18.Р а б и и о в и ч 3. Л. и др. Об одном классе канонических форм представ­ ления трехзначных функций.— Известия АН СССР. Техническая кибернетика,

1963, № 5.

166

19. Р о м а н к е в и ч А. М. Методы минимизации функций многозначной логи­ ки.— «Кибернетика», 1965, № 3.

20.Р о м а н к е в и ч А. М. Вопросы минимизации функций в одной расширенной алгебре.— В сб.: Вопросы теории ЭЦВМ. Киев, «Наукова думка», 1966, вып. 1.

21. Р о м а н к е в и ч А. М. Минимизация многозначных

функций в системе,

включающей все одноместные операции.— «Кибернетика»,

1969, № 3.

22.С а м о ф а л о в К. Г. и др. Фазо-импульсные многозначные элементы для систем автоматизации.— «Механизация и автоматизация управления», 1969, № 1.

23. С а м о ф а л о в

К. Г.,

К о р и е й ч у к

В. И. Многоустойчивые элементы в

 

цифровой вычислительной технике.— «Механизация

и автоматизация

управле­

24.

ния», 1969, № 1.

К. Г.

и др. Пьезокерамический элемент памяти с тремя ус­

С а м о ф а л о в

 

тойчивыми состояниями.— «Механизация

и

автоматизация управления»,

1966,

25.

№ 3.

В. П.,

С и т н и к о в

Л. С.,

У т я к о в Л. Л.

Много­

С и г о р с к и й

26.

устойчивые элементы дискретной техники. М., «Энергия», 1966.

 

 

С и т н и к о в

Л. С. Многоустойчивые элементы в цифровой вычислительной

27.

технике. Киев, «Наукова думка», 1970.

 

Счетчиковые структуры

с

фазо­

С и т н и к о в

Л. С.,

У т я к о в Л. Л.

 

импульсным кодированием на основе интегральных схем.— «Автометрия»,

1970,

№ 4.

28.Я б л о н с к и й С. В. Функциональные построения в й-значпой логике.— «Труды Математического института им. Стеклова», т. 51. М., Изд-uo АН СССР,

1958.

Самофалов Константин Григорьевич Корнейчук Виктор Иванович Романкевич Алексей Михайлович Тарасенко Владимир Петрович

Ц И Ф РО В Ы Е

МНОГОЗНАЧНЫЕ

ЭЛЕМЕНТЫ

И

СТРУКТУРЫ

Учебное пособие для студентов специальностей «Электронные вычислительные машины» и «Прикладная математика»

Издательское объединение «Вища школа» Головное издательство

Редактор

Ж- Г. Д а в и д е н к о

Литредактор Н. Г. К и р и л л о в а

Обложка художника Г. М. Б а л ю н а

Художественный редактор С. П. Д у х л е н к о Технический редактор Л. Ф. В о л к о в а Корректор Ф. И. С л о б о д с к а я

Сдано в набор 19.XII 1973 г. Подписано к печати 24.V 1974 г. Формат бумаги 60 X 841/ |Я. Бумага тип. Кя 1. Физ.-печ. л. 10,5. Усл.-печ. л. 9,76. Уч.-изд. л. 9,62. Тираж 6000. Издат. № 959. БФ 31415. Цена 58 коп.

Головное издательство издательского объединения «Вища школа», 252054, Киев, 54, Гоголевская, 7.

Напечатано с матриц Головного пред­ приятия республиканского п т а п я д - ственного объединения «Полщрафкнига» Госкомиздата УССР, Киев, Дов­ женко, 3, на Белоцерковской книжной

фабрике, К. Маркса, 4. Зак. 896.

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ