1.5. Порядок проведения работы

Вариант 1. Снять спектральную зависимость коэффициента пропускания двух диэлектрических зеркал при угле падения света 0°,

Вариант 2. Снять спектральную зависимость коэффициента пропускания диэлектрического зеркала при углах падения света 0 и 45°.

1.6. Методика проведения измерений

1.6.1. Включить источник питания лампы. Если используется источник питания ЛИПС-35, то установить напряжение 11 В, плавно увеличивая его от нуля. Перевести переключатель на микроамперметре из положения «Арретир» в положение «Нар.шунт.». Чувствительность микроамперметра регулировать с помощью шунта.

1.6.2. Установить на измерительном барабане монохроматора отсчет, соответствующий минимальной длине волны по табл. 1.1.

1.6.3. При установленном зеркале записать показания амперметра; вынув зеркало, записать новые показания.

1.6.4. Повторить п.1.6.3 для варианта 1 со вторым зеркалом. Для варианта 2 то же зеркало установить а подставку «45°».

1.6.5. Выполнить измерения в диапазоне 640...800 нм через каждые 10 нм.

1.6.6. Обработать результаты измерений, построить спектральные зависимости коэффициента отражении на одном графике.

1.7. Содержание отчета

1. Цель работы

2. Схема стенда и характеристики измерительных приборов и устройств.

3. Таблицы экспериментальных и расчетных данных. '

4. Графики измеренных характеристик.

5. Выводы по проделанной работе.

Контрольные вопросы

1. Как устроено МДЗ?

2. Какие материалы применяются для изготовления ЦЦЗ и как от них зависит коэффициент отражения?

3. Каков принцип работы МДЗ?

4. Как зависит оптическая толщина диэлектрических пленок от угла паления света?

5. В какую область спектра (длинноволновую или коротковолновую) смещается спектральная характеристика МДЗ при увеличении угла падения света?

6. Какие характерные области имеет спектральная кривая МДЗ?

7. Назовите оптические параметры МДЗ

8. Как распределяется в пространстве мощность падающего на зеркало излучения и каково соотношение между результирующими компонентами?

9. Что такое коэффициент поглощения, какого его типичное значение?

10. Что такое коэффициент пропускания, как его измеряют?

11. Назначение поляризатора и пластинки /4 в приборе для измерения пропускания.

12. Что такое коэффициент отражения, как его измеряют?

13. Что такое коэффициент рассеяния, как его измеряют?

14. Преимущества и недостатки различных оптических схем для измерения рассеяния.

15. Что такое рассеяние «назад» у МДЗ и как его можно измерить?

16. Изменяет ли МДЗ вид поляризации падающего на него излучения?

17. Из каких соображений выбирается ширина выходной щели монохроматора?

18. Какова геометрическая толщина слоев L и H у диэлектрического зеркала, если максимум отражения приходится на  = 700 нм, а слои изготовлены из SiO₂ с n=2,0?

19. Почему диэлектрическое зеркало незначительно затрудняет наблюдение различных предметов, даже если его пропускание составляет десятые и сотые доли процента?

20. Основные источники погрешностей при измерении коэффициента отражения. Как его можно уменьшить?

Лабораторная работа №2

ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКОГО МОДУЛЯТОРА

Цель работы: ознакомиться о принципом действия и конструкцией электрооптического модулятора; экспериментально исследовать основные характеристики электрооптического модулятора.