Экзаменационный билет № 13

1. Строение кристаллов. Внутрикристаллические силы. Физические типы кристаллических решеток. Пространственная решетка. Миллеровские индексы. Классификация кристаллов. Классификация дефектов в кристаллах. Реальные кристаллы. Блочная структура. Дислокации. Контур и вектор Бюргерса. Механические свойства твердых тел. Физические процессы при деформации. Пластическая деформация. Движение дислокаций. Генерирование дислокаций. Источник Франка-Рида.

2. Фазовые переходы. Фазовые переходы 1-го рода. Уравнение Клапейрона-Клаузиуса. Фазовые переходы 2-го рода. Уравнение Эренфеста. Критические и закритические явления.

1. Строение кристаллов. Внутрикристаллические силы. Физические типы кристаллических решеток. Пространственная решетка. Миллеровские индексы. Классификация кристаллов. Классификация дефектов кристаллов. Реальные кристаллы. Блочная структура. Дислокации. Контур и вектор Бюргерса. Механические свойства твердых тел. Физические процессы при деформации. Пластичная деформация. Движение дислокаций. Генерирование дислокаций. Источник Франка – Рида.

Подавляющее большинство твердых тел в природе имеет кристал­лическое строение. Характерная черта кристаллического состояния - анизотропия, т. е. зависимости ряда физических свойств (механических, тепловых, электрических, оптических) от направ­ления. Причиной анизотропии кристаллов служит упорядоченное распо­ложение частиц (атомов или молекулРаскалывание кристал­лов легче происходит по определенным плоскостям, называемым плоскостями спайности.

Весь кристалл может быть получен путем многократного повторения в трех различных направ­лениях одного и того же структурного элемента, называемого элементарной кристаллической ячейкой. Длины ребер а, b и с кристаллической ячейки назы­ваются периодами идентичности кристалла. Кристаллическая ячейка представляет собой параллелепипед, построенный на трех векторах а, b, с, модули которых равны перио­дам идентичности. Этот параллелепипед, кроме ребер а, b, с, харак­теризуется также углами ,  и  между ребрами. Величины а, b, с и ,  и  однозначно определяют элементарную ячейку и называются ее параметрами.

Внутреннее строение кристаллов. Давно предпола­гали, что внешняя форма кри­сталла отражает его внутрен­нее строение и обусловлена правильным расположением частиц, составляющих кристалл, — молекул, атомов или ионов. Это расположение мож­но представить в виде кристаллической решетки — про­странственного каркаса, образованного пересекающимися пря­мыми линиями. В точках пересечения линий— узлах решет­ки — лежат центры частиц. Физические типы кристаллических решеток. В зависимости от природы частиц, помещающихся в узлах кри­сталлической решетки, и от характера сил взаимодействия между частицами различают четыре типа кристаллических решеток и соот­ветственно четыре типа кристаллов: ионные, атомные, металличе­ские и молекулярные.

1. Ионные кристаллы. В узлах кристаллической ре­шетки помещаются ионы разных знаков. Силы взаимодействия между ними являются в основном электростатическими (кулоновскими). Связь, обусловленная электростатическими силами притяжения между разноименно заряженными ионами, называется гетеро-полярной (или ионной). Типичным примером ионной решетки может служить решетка соли NaCl. Эта решетка принадлежит к кубической системе. Ближайшими соседями иона данного знака будут ионы противопо­ложного знака. Ионный кри­сталл состоит не ионов. Весь кристалл в целом можно рассматривать как одну гигантскую молекулу.

2. Атомные кристаллы. В узлах кристаллической решетки помещаются нейтральные атомы. Связь, объединяющая в кристалле (а также и в молекуле) нейтральные атомы, называется гомеополярной (или ковалентной). Силы взаимо­действия при гомеополярной связи имеют также электрический (но не кулоновский) характер. Объяснение этих сил может быть дано только на основе квантовой механики. Гомеополярная связь осуществляется электронными парами. Это означает, что в обеспечении связи между двумя атомами участ­вует по одному электрону от каждого атома. По этой причине гомеополярная связь имеет направленный характер. При гетерополярной связи каждый ион воздействует на все достаточно близкие к нему ионы. При гомеополярной связи воздействие направлено на тот атом, с которым у данного атома имеется совместная электронная пара. Гомеополярная связь может осуществляться только валент­ными, т, е, наименее связанными с атомом электронами. Поскольку каждый электрон может обеспечить связь только с одним атомом, число связей, в которых может участвовать данный атом (число соседей, с которыми он может быть связан), равно его валентности. Типичными примерами атомных кристаллов могут служить алмаз и графит. Оба эти вещества тождественны по химической природе (они построены из атомов углерода), но отличаются кристал­лическим строением. Такую же решетку, как у алмаза (решетку типа алмаза), имеют типичные полупроводники — германий (Ge) и кремний (Si). Для этой решетки характерно то, что каждый атом окружен четырьмя равноотстоящими от него соседями, расположенными в вершинах правильного тетраэдра. Каждый из 4 валентных электронов входит в электронную пару, связыв. данный атом с одним из соседей.

3. Металлические кристаллы. Во всех узлах кристаллической решетки расположены положительные ионы ме­талла. Между ними беспорядочно, подобно молекулам газа, дви­жутся электроны, отщепившиеся от атомов при образовании ионов. Эти электроны играют роль «цемента», удерживая вместе положи­тельные ионы; в противном случае решетка распалась бы под дей­ствием сил отталкивания между ионами. Вместе с тем и электроны удерживаются ионами в пределах кристаллической решетки и не могут ее покинуть. Большинство металлов имеет решетки одного из трех типов: кубическую объемно-центрированную , кубическую гранецентрированную и так называемую плотную гек­сагональную Кубическая гранецентрированная и плотная гексагональная решетки соответ­ствуют наиболее плотной упаковке одинаковых шаров.

4. Молекулярные кристаллы. В узлах кристалли­ческой решетки помещаются определенным образом ориентирован­ные молекулы. Силы связи между молекулами в кристалле имеют ту же природу, что и силы притяжения между молекулами, приво­дящие к отклонению газов от идеальности. По этой причине их называют ван-дер-ваальсовскими силами. Моле­кулярные решетки образуют следующие вещества: Н₂, Na, О₂, СО₂, Н₂О. Пространственная решетка. Пространственные решетки, например, относящиеся к кубической сингонии, бывают простые и сложные: объемно - и гране- центрированные. В простой решетке на одну ячейку приходится одна частица, так как в каждой ячейке имеется 8 вершин, а каждая частица в вершине относится в свою очередь к 8 ячейкам: ( ). В объемно-центрированной решетке на одну ячейку приходится две частицы: ( N=1/8·8+1=2), в гранецентрированной – 4: (N=1/8·8+1/2·6=4).

Миллеровские индексы. Если параметры граней измерять осевыми единицами (в единицах а, b и с, т. е. х = A·a, y =В·b, z = С·с), то при таком методе характеристики положения граней выявляется весьма важный закон - закон рациональных отношений. Параметры любой грани кристалла А, В, С, выраженные в осевых единицах, относятся как простые целые числа - индексы грани h, k, l (индексы Миллера). Индексы грани - это величины, обратно пропорцио­нальные параметрам грани А, В, С: (1/А: 1/В: 1/С = h: k: l.). Совокупность индексов грани называется символом грани: (hkl); символ единичной грани (111). Если грань пересекает отрицательные направления осей, символ запишется ( ). Найдем, например, индексы грани с параметрами: А=2, В = 5,С = 2 . Отношение индексов граней (1/2: 1/5: 1/2 = h: k: l). Приведем дроби к общему знаме­нателю 10, который после этого отбросим. Получим: h:k:l = 5:2:5. Следовательно, символ грани (525). Если грань параллельна од­ной из осей, например X, (0kl); если грань параллельна двум осям, например, Y и Z, ее символом будет (h00). Разделив на h, получаем окончательно (100). Помимо обозначений отдельных граней (hkl) применя­йся обозначения для совокупности сходных граней {hkl}. Например, обозначение {100} заменяет совокупность (100), (010), (001), ( ),( )( ). Направление, перпендикулярное грани (hkl), обозначается {hkl}. Совокупность направлений, перпендикулярных граням, обозначается <hkl>.

Классификация кристаллов. Кристаллическая решетка может обладать различными видами симметрии. Под симметрией кристаллической решетки понимается свойство решетки совпадать с самой собой при некоторых простран­ственных перемещениях. Всякая решетка прежде всего обладает трансляционной симмет­рией, т. е. совпадает сама с собой при перемещении (трансляции) на величину периода идентичности. Из других видов симметрии - симметрия по отношению к поворотам вокруг некоторых осей, а также к зеркальному отражению относительно определен­ных плоскостей.

Если решетка совпадает сама с собой при повороте вокруг не­которой оси на угол 2/n (следовательно, за один полный поворот вокруг оси решетка совпадает сама с собой n раз), то эта ось назы­вается осью симметрии n-го порядка. Можно показать, что, кроме тривиальной оси 1-го порядка, возможны только оси симметрии 2-го, 3-го, 4-го и 6-го порядков. Плоскости, при зеркальном отражении от которых решетка совпадает сама с собой, называются плоскостями сим­метрии. Различные виды симметрии называются элементами симметрии кристаллической решетки. Кристаллическая решетка обладает одновременно несколькими видами симметрии. Однако не всякое сочетание эле­ментов симметрии оказывается возможным. По форме элемен­тарной ячейки все кристаллы делятся на 7 кристалло­графических систем (или сингонии), каждая из которых включает в себя несколько классов симметрии. В порядке возрастающей симметрии кри­сталлогр. системы располагаются следующим образом.

1. Триклинная система. a b c;   . Элем.ячейка имеет форму косо­уг. параллелепипеда.

2. Моноклинная система. a b c;  =  = 90°;  90⁰. Элементарная ячейка имеет форму прямой призмы, в основании которой лежит параллелограмм .

3. Ромбическая система. все ребра — разные: a b c; ===90°. Элем. ячей­ка имеет форму прямоугольного параллелепипеда.

4. Тетрагональная система. Все углы — прямые, два ребра — одинаковые: а = b c; ===90°. Элемен­тарная ячейка имеет форму прямой призмы с квадратным осно­ванием.

5. Ромбоэдрическая (или тригональная) си­стема. Все ребра — одинаковые, все углы также одинаковые и отличные от прямого: а = b = c;  =  =  90°. Элементарная ячейка имеет форму куба, деформированного сжатием или растяже­нием вдоль диагонали.

6. Гексагональная система. а = b c; а = b = 90°,  = 120°. Если составить вместе три элементарные ячейки, то получается правильная шестигранная призма.

7. Кубическая система. а = b = с; ===90°. Элементарная ячейка имеет форму куба.

Классификация дефектов кристаллов. Дефектами кристаллов называют нарушения идеальной кристал­лической структуры (может заключаться в отсут­ствии атома в узле решетки (вакансия), в замене атома данного вещества (своего атома), чужим атомом (атомом примеси), во внед­рении лишнего атома (своего или чужого) в межузельное простран­ство). Подобные дефекты называются точечными, вызы­вают нарушения правильности решетки, распространяющиеся на расстояния порядка нескольких периодов. Дислокации. Контур и вектор Бюргерса. существуют дефекты, сосредоточенные вблизи некоторых линий. Их называют линейными дефектами или дислокациями. Дефекты такого вида нарушают пра­вильное чередование кристаллических плоскостей. Простейшими видами дислокаций являются краевая и винтовая дис­локации. Краевая дислокация обусловливается лишней кристаллической полуплоскостью, вдвинутой между двумя соседними слоями атомов. Край этой полуплоскости образует дислокацию дан­ного вида. Винтовую дислокацию можно представить как результат разре­за кристалла по полуплоскости и последующего сдвига лежащих по разные стороны разреза частей решетки навстречу друг другу на величину одного периода. Внутренний край разреза образует винтовую дислокацию. Кристалл с винтовой дислокацией состоит из одной кристаллической плоскости, которая изогнута по винтовой поверх­ности (такую поверхность называют геликоидом). Линия дислокации совпадает с осью винта. При каждом обходе вокруг этой линии крис­таллическая плоскость смещается на один период. В обоих случаях линии дислокации являются прямыми. В общем случае линии дислокации могут быть кривыми. Винтовая дислокация часто возникает в процессе роста кристал­лов из раствора или расплава. Захват атома гладкой плоской кристаллической поверхностью энергетически менее выгоден и по­этому менее вероятен, чем присоединение атома к ступеньке, су­ществующей на поверхности кристалла с винтовой дислокацией. Поэтому кристаллы предпочитают расти со встроенной внутрь винтовой дислокацией. Новые атомы присоединяются к краю сту­пеньки, вследствие чего рост кристалла происходит по спирали. Контур Бюргерса строится вдоль обхода линейного несовершенства.Пластичная деформация. Дефекты оказывают сильное влияние на физические свойства кристаллов, служат причиной того, что пластическая деформация реальных кристаллов происходит под воздействием напряжений на несколько порядков меньших, чем вычисленное для идеальных кристаллов. Движение дислокаций. У монокристаллов металлов легко происходит сдвиг вдоль атомных слоев. Не следует представлять себе этот процесс так, что все атомы слоя смещаются одновременно как одно целое. В дей­ствительности атомы перескакивают в новые положения неболь­шими группами поочередно. Такое поочередное перемещение атомов может быть представлено как движение дислокации. Для переме­щения дислокации достаточно напряжений, много меньших, чем для перемещения всего атомного слоя сразу. Первоначально имевшаяся дислокация под воздействием созданных в кристалле напряжений перемещается вдоль кристалла. Это перемещение сопровождается поочередным сдвигом атомов слоя, лежащего над дислокацией, относительно атомов слоя, лежащего под дислокацией. Перемещению дислокаций препятствует наличие других дефек­тов в кристалле, например, присутствие атомов примеси. Дислока­ции тормозятся также при пересечении друг с другом. Если количе­ство дислокаций и других дефектов в кристалле мало, дислокации перемещаются практически свободно. В результате сопротивление сдвигу будет невелико. Увеличение плотности дислокаций и возра­стание концентрации примесей приводит к сильному торможению дислокаций и прекращению их движения. В результате прочность материала растет. Так, например, повышение прочности железа достигается растворением в нем атомов углерода (такой раствор представляет собой сталь).

Реальные кристаллы. В реальных кристаллах наблюдаются дефекты структур. Число этих дефектов и их тип оказывают влияние на некоторые свойства кристаллических веществ.

Генерирование дислокаций. Источник Франка – Рида. Плотность дислокаций уменьшается, следовательно прочность увеличивается. Но в действительности этого нет, так как в нутрии имеются генераторы дислокаций. Наступает момент. Когда дислокации соприкасаются и образуется дислокационная петля, которая движется и создает новые дислокации. Источник Франка – Рида – бесконечный неиссякаемый дислокационный источник дислокационных линий. Прочность уменьшается, кристаллы разрушаются.

2. Фазовые переходы. Фазовые переходы 1-го рода. Уравнение Клапейрона-Клаузиуса. Фазовые переходы 2-го рода. Уравнение Эренфеста. Критические и закритические явления.

При равновесии, а следовательно, и при фазовых превращениях химические потенциалы вещества в фазах, а также давление (при плоской поверхности) и температура фаз всегда одинаковы. Что же касается других термических и калорических величин (или соответствующих им производных разных порядков от энергии Гиббса), то они при фазовых превращениях теряют непрерывность. Фазовые превращения, при которых скачком изменяется удельный объем v и поглощается (или выделяется) теплота называются фазовыми переходами первого рода. Объем и энтропия выражаются через первые производные энергии Гиббса:

Исходя из этого, Эренфест предложил классификацию фазовых переходов, по ко­торой порядок фазового перехода опреде­ляется порядком тех производных термо­динамического потенциала, которые при переходе испытывают скачки: при фазовых переходах первого рода испытывают скачки (все или только некоторые) первые произ­водные энергии Гиббса, при фазовых пере­ходах второго рода первые производные энергии Гиббса непрерывны, но испытывают скачки его вторые ппоизводные—теплоемкость(С_Р= ), сжимаемость ( ), коэффициент теплового расширения ( ).

В настоящее время известны фазовые переходы первого рода: плавление, кипение, переход проводника из нормального состояния в сверхпроводящее в магнитном поле, переходы из одной кристаллической модификации в другую и т. д., фазовый переход второго рода — превращение проводника из нормального состояния в сверхпроводящее при отсутствии магнитного поля, а также большое число фазовых переходов, при которых вторые производные термодинамического потенциала обращаются в бесконечность (критические переходы): критический переход жидкость —газ, переход ферромагнетика в парамагнетик, сегнетоэлектрический переход и др. Критические переходы не укладываются в классификацию фазовых переходов Эренфеста, указывая на ее ограниченность.

Основным уравнением, характеризующим фазовые переходы пер­вого рода, является дифференциальное уравнение Клапейрона — Клаузиуса. Это уравнение получается из условия равенства хими­ческих потенциалов при равновесии двух фаз и связывает между собой теплоту перехода, скачок удельного объема и наклон кривой равновесия в точке перехода.

Из формулы следует уравнение кривой равновесия р=р(Т). Однако дифференциальное уравнение кривой равновесия имеет нораздо более простой вид и связывает медлу собой указанные выше лекщгко измеряемые величины: . (12.3)

Уравнение является дифференциальным уравнением кривой равновесия и называется уравнением Клапейрона — Клаузиуса. Чаще его записывают в виде: (12.4)

где — теплота перехода на моль или грамм веще­ства; v" — v' — изменение объема соответствующей массы веще­ства. Главное применение уравнения состоит в вычислении удельных теплот испарения, возгонки, плавления и изменения моди­фикации.

Если на систему действует не давление р, а какая-либо другая обобщенная сила А, то мы получаем общее дифференциальное уравнение кривой равновесия двух фаз однокомпонентной системы: .(s – изменение энтропии , а – скачок внешнего параметра).

Уравнением Клапейрона — Клаузиуса: определяет изменение температуры фазового перехода (например, точки замерзания или кипения) с изменением давления.

ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ ВТОРОГО РОДА. УРАВНЕНИЕ ЭРЕНФЕСТА

В отличие от фазовых переходов первого рода при фазовых пере­ходах второго рода никакого скачка в изменении состояния не происходит. Состояние системы изменяется непрерывно, и в точках фазового перехода состояния фаз совпадают. Тепловой эффект перехода равен нулю, и удельный объем остается прежним (s^’’=s^’, v^’’=v^’), но теплоемкость С_р, коэффициент теплового расширения и сжимаемость испытывают скачки. Связь между этими скачками и наклоном кривой равновесия в точке перехода определяется урав­нениями Эренфеста, который впервые (1933) ввел представление о фазовых переходах второго рода при рассмотрении перехода Неl в Неll.

До недавнего времени к фазовым переходам второго рода по­мимо сверхпроводящего перехода при отсутствии магнитного поля относили также превращение железа в точке Кюри в парамагнит­ное состояние, переход Неl в Неll, многие превращения в кристаллах. По современным представлениям, только сверхпроводящий переход при Н = 0 является переходом второго рода по Эренфесту, остальные же из названных переходов имеют другую при­роду.

Найдем уравнения Эренфеста. Правая часть уравнения Кла­пейрона — Клаузиуса (12.3) в точке фазового перехода второго рода принимает вид неопределенности О/О. Для ее раскрытия вос­пользуемся правилом Лопиталя. Дифференцируя числитель и зна­менатель правой части (12.3) или по Т, или по р, получаем уравнения Эренфеста:

В общем случае, если на систему действует обобщенная сила А, которой соответствует внешний параметр а, уравнения Эренфеста будут иметь вид (то же, с заменой р на А, v на а).

Уравнения Эренфеста связывают скачки вторых производных термодинамического потенциала не только при фазовых переходах второго рода, но и в случае целого ряда фазовых переходов первого рода. Примером такого перехода первого рода является переход из упорядоченного состояния в неупорядоченное в сплавах AuCu₃, AuCu и др. Характерной особенностью этих фазовых переходов является постоянство скачков объема и энтропии на всей линии превращения:

, (12.12)

так что на диаграмме Т, р наклон линии фазового равновесия dp/dT= S/ V оказывается постоянным и, следовательно, сама эта линия есть прямая (линейные фазовые переходы первого рода). Дифференцируя уравнение (12.12) по температуре вдоль линии равновесия, получаем выражения откуда непосредственно следуют уравнения Эренфеста.

Таким образом, уравнения Эренфеста определяют широкий класс фазовых превращений — линейные фазовые переходы первого рода и фазовые переходы второго рода.

КРИТИЧЕСКИЕ И ЗАКРИТИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ

В 1860 г. Д. И. Менделеев, исследуя зависимость поверхностного натяжения жидкостей от температуры, установил, что при неко­торой температуре, названной им температурой абсолютного кипения, поверхностное натяжение исчезает. При этом обе сосущест­вующие фазы (жидкость и пар) становятся тождественными. Такое состояние характеризуется определенными значениями темпера­туры Ткр, давления р_кр и объема V_кр и называется критическим состоянием. Кривая равновесия жидкости и пара на диаграмме Т, р кончается в критической точке.

На основании этих экспериментальных исследований Дж. В. Гиббс (1876) и независимо от него А. Г. Столетов (1879) сформулировали основные положения классической термодинами­ческой теории критических явлений. По Гиббсу — Столетову, кри­тическая фаза представляет собой предельный случай двухфаз­ного равновесия, когда обе равновесно сосуществующие фазы ста­новятся тождественными. Иначе говоря, это устойчивое состояние однородной системы, лежащее на границе устойчивости по отно­шению к виртуальным изменениям каждой ее координаты при по­стоянстве других термодинамических сил.

Математически граница устойчивости однородной системы по отношению к таким виртуальным изменениям ее координат опре­деляется обращением в равенства термодинамических неравенств, характеризующих эту устойчивость однородной системы: (dp/dV)_T=0, (dT/dV)_p=0, (dT/dS)_p=0, (dp/dS)_T=0.

Условия устойчивости критического состояния: T S- p V>0.

Критическое состояние определяется четырьмя уравне­ниями для функции двух переменных, не может в данном случае привести к противоречию, так как, согласно термодинами­ческому тождеству

только два из приведенных уравнений являются независимыми.

Критическое состояние системы жидкость — пар — это однокомпонентная, однофазная система, поэтому по правилу фаз n<k число степеней свободы критического состояния f_кр=k-n=0.

Это означает, что критическое состояние простой однокомпонентной системы возможно лишь при определенных температуре, давлении и объеме, т. е. в одной критической точке Т_кр, р_кр, V_кр, Параметры критической точки зависят только от свойств данного вещества.

С изменением термодинамических сил, действующих на систему, изменяются различные характеристики фазового перехода первого рода (ФП I рода). Так, при повышении температуры и давления в системе жидкость — пар уменьшаются удельная теплота пере­хода и области метастабильных и неустойчивых состояний (см. рис. 46). Предельным случаем ФП I рода является критический пе­реход.

Как показывается в статисти­ческой физике, коэффициенты устойчивости обратно пропорцио­нальны флуктуациям различных физических величин. С приближе­нием к критической точке флук­туации растут. За критической точкой существуют только устой­чивые состояния, поэтому в этой области невозможно сосуществование фаз, имеющих границу раздела. Анализ термодинамической устойчивости закритической фазы привел В. К. Семенченко к пост­роению термодинамики непрерывных фазовых переходов.

Как уже упоминалось, рассмотрение изотерм вблизи критиче­ской точки показывает, что точки перегиба на этих изотермах име­ются и в закритической области. Но точка перегиба на кривой соот­ветствует экстремумам на кривых для ее первых производных, В точках квазиспинодали флуктуации достигают при данных усло­виях наибольшего значения и система превращается в смесь флуктуационных зародышей обеих граничных (далеких от этого состоя­ния) фаз — квазифазу или мезофазное состояние*, не теряя своей макроскопической однородности. Поскольку минимум устойчиво­сти является поворотной точкой в отношении изменения свойств фаз, он до некоторой степени аналогичен точке фазового перехода второго рода и условно его можно считать за точку закритического перехода. При этом, конечно, не нужно забывать, что закритический переход происходит на конечном интервале Т, р и других термо­динамических сил. Поэтому в условной точке закритического пере­хода не происходит скачков энтропии, объема и других я,-, а только их быстрое изменение. Работа и удельная теплота перехода также равны по этой причине нулю. Сами коэффициенты устойчивости изменяются также непрерывно, а не скачком; в этом состоит от­личие закритических переходов от ФП II рода по Эренфесту.

До сих пор мы для опреде­ленности пользовались диаграм­мами, относящимися к флюид­ным системам, т. е. системам газ — жидкость. Однако все из­ложенное применимо и к ани­зотропным системам, а также к системам, фазы которых отли­чаются по своим магнитным или электрическим свойствам (ферро-и антиферромагнетики, сверх­проводники и сегнетоэлектрики разных типов).

Очень интерес­ный случай критического перехода в анизотропной среде пред­ставляет а-^-переход в кварце. Он сопровождается резко выражен­ной критической опалесценцией и экстремумами нескольких КУ. Но самым интересным является возможность непосредственного на­блюдения смешанного состояния обеих граничных фаз.