- •Сущность и область применения капиллярного неразрушающего контроля
- •Технологические характеристики методов и способов контроля
- •Освещенность объектов контроля при различных уровнях чувствительности
- •2.2. Область применения капиллярной дефектоскопии
- •2.3. Средства капиллярного неразрушающего контроля
Технологические характеристики методов и способов контроля
Наименование метода
|
Способ обнаружения индикаторного следа дефекта
|
Обозначе-ние капилляр-ных методов и способов |
Технологическая характеристика
|
Проника-ющих растворов
|
Яркостный (ахроматический)
|
Я
|
Обнаружение дефектов по индикаторному ахроматическому следу в видимом излучении |
Цветной (хроматический)
|
Ц
|
Обнаружение дефекта по цветному индикаторному следу в видимом излучении |
|
Люминесцентный
|
Л
|
Обнаружение дефекта в длинноволновом ультрафиолетовом излучении по люмицесцирующему видимым излучением индикаторному следу |
|
Люминесцентно-цветной
|
ЛЦ
|
Обнаружение дефекта по цветному или люминесцирующему индика-торному следу в видимом пли длинноволновом ультрафиолетовом излучении
|
|
Фильтрующихся суспензий |
Люминесцентный Цветной
|
ФЛ ФЦ
|
Обнаружение дефекта по скоплению отфильтрованных частиц (люмине-сцентных, цветных, люминесцентно-цветных) |
Капиллярно-электростатиче-ский
|
КЭ
|
Обнаружение дефектов в неметаллических объектах по индикаторному следу, образованному наэлектризованным порошком и пенетрантом |
|
Комбини-рованный
|
Капиллярно-электроиндуктив-ный
|
КИ
|
Обнаружение дефектов в неэлектропроводных объектах электроиндуктивным методом по изменению удельной электрической проводимости в зоне дефекта, заполненного пенетрантом |
Капиллярно-магнитопорош-ковый
|
КМ
|
Обнаружение дефектов (поверх-ностных отдельно от подповерх-ностных) в намагничиваемых ферромагнитных объектах по индикаторному следу, образованному проявителем, содержащим ферро-магнитный порошок, и индикаторным пенетрантом |
|
Капиллярно-радиационный излучения |
КР
|
Обнаружение дефектов по наличию ионизирующего излучения в зоне дефекта, заполненного радиоактивным пенетрантом |
|
Капиллярно-радиационный поглощения
|
КП
|
Обнаружение дефектов по пог-лощению ионизирующего излучения в зоне дефекта, заполненного пене-трантом, поглощающим излучение |
|
|
Капиллярно- акустический эмиссионный
|
КАЭ
|
Обнаружение дефектов по акустической эмиссии затвердевшего в полостях дефектов пенетранта при пластическом деформировании изделий |
Капиллярно-электроразряд-ный
|
КЭР |
Обнаружение дефектов по характеристикам разряда в переменном или постоянном электрическом поле при заполнении дефектов пенетрантом со специальными электрическими свойствами |
Осмотр деталей после их обработки дефектоскопическими материалами требует специальных условий освещенности, которые регламентируются в зависимости от установленного класса чувствительности. При цветном и ахроматическом методах капиллярного НК с визуальным способом выявления дефектов применяется комбинированное (общее и местное) освещение. Применять только общее освещение допускается в тех случаях, когда по условиям технологии использовать местное освещение невозможно. На стационарных рабочих местах применять только местное освещение не допускается.
В качестве источников света используются люминесцентные лампы (преимущественно типа ЛБ или ЛХБ), а также лампы накаливания. Не допускается применять газоразрядные лампы высокого давления (ДРЛ, металлогалогенные).
Для ограничения пульсации освещенности применяется двух или более ламповые стандартные светильники с аппаратурой включения УБИ и УБК. Одноламповые люминесцентные светильники для местного освещения допускается применять только при использовании преобразователей на повышенную частоту. Кроме того, должны быть приняты меры для ограничения отражений блескости.
При люминесцентном методе НК ультрафиолетовая облученность контролируемой поверхности может быть измерена химическими методами, основанными на реакции разложения щавелевой кислоты под действием ультрафиолетового излучения. Однако на практике применяется косвенный метод оценки ультрафиолетовой облученности, подробно изложенный далее, в разделе "Проверка капиллярных дефектоскопов". За относительную единицу интегральной облученности принимают облученность, при которой люминесцентный экран излучает световой поток, создающий освещенность 2 лк.
Уровень освещенности объектов при контроле капиллярными методами выбирается в зависимости от требуемой чувствительности. Значения освещенностей для выявления протяженных индикаторных следов дефектов типа трещин в зависимости от класса чувствительности приведены в табл. 4.
Таблица 4