- •1.2. Основные методы теоретического анализа электромагнитных экранов
- •1.3. Методика инженерного расчета параметров и характеристик однородных экранов
- •100 108 109 1010 F, Гц 80 60 50 40 Медь 10 мкм Алюминий 10 мкм 1 мкм Сталь 1 мкм 30
- •Eпад e1
- •108 F, Гц 109 1010 Алюминий Медь Сталь
- •Контрольные вопросы
- •Примеры расчета параметров и характеристик однородных экранов
- •4. Задания для самостоятельного расчета параметров и характеристик однородных экранов
- •5. Содержание отчета
- •2. Основные теоретические положения.
- •Литература
1.3. Методика инженерного расчета параметров и характеристик однородных экранов
Получение аналитических соотношений для инженерного расчета параметров и характеристик однородных экранов путем точного решения электродинамической задачи для реального экрана и определенных параметров СВЧ-поля помехи (экранируемого электромагнитного поля) весьма затруднительно. Поэтому при выводе расчетных формул используют различные допущения, которые в некоторой степени ограничивают применение теоретических результатов.
Рекомендациям по расчету однородных экранов посвящен ряд публикаций [1-8]. Дальнейшее изложение методики инженерного расчета параметров и характеристик однородных экранов в основном базируется на работе [1].
Выражение для экранного затухания однородного экрана в соответствии с формулой
(15)
можно, используя выражение (3) и (8), представить в виде суммы двух слагаемых:
[дБ] . (16)
Множитель определяет степень влияния второй границы стенки экрана. При большом затухании волн помехи >>1 первое слагаемое полностью определяется отражением волны от границы раздела воздух
экран, в других случаях его величина зависит также от толщины стенки экрана. Первое слагаемое в выражении (16) является составляющей экранного затухания, обусловленной отражением волны поля помехи от наружной стенки экрана (за счет относительных потерь на отражение ). Второе слагаемое зависит от величины затухания волны помехи при распространении в среде из материала стенки экрана и поэтому зависит от геометрической толщины стенки . С физической точки зрения его величина определяется процессами поглощения энергии при распространении электромагнитного поля помехи в среде с диссипативными потерями. Поэтому второй член в формуле (16) является составляющей полного экранного затухания, обусловленной поглощением волны помехи в стенке экрана .
На рис. 2 и 3 приведены частотные зависимости составляющих экранного затухания и однотипного экрана, рассчитанные для разных металлов и различных толщин стенок экранов. Как видно из графиков,
Аэ
отр,
дБ
100 108 109 1010 F, Гц 80 60 50 40 Медь 10 мкм Алюминий 10 мкм 1 мкм Сталь 1 мкм 30
Рис. 2. Частотные зависимости от толщины стенки экрана
для различных металлов
Составляющая экранного затухания более слабо зависит от частоты и практически мало зависит от толщины стенки экрана. При увеличении частоты электромагнитного поля помехи уменьшается, причем зависимость от относительного изменения частоты при >5 практически линейная. В нижней части диапазона СВЧ и при очень малых толщинах стенки экрана не зависит от частоты. Это обусловлено тем, что увеличение отражения волны от передней поверхности стенки экрана компенсируется соответствующим изменением противофазной волны, отраженной от задней поверхности стенки экрана.
Выражение (16) справедливо для случая, когда форма экрана совпадает с фронтом волны поля помехи. При конструировании экранов чаще всего сталкиваются с конструкциями, имеющими следующие соотношения между основными геометрическими размерами:
один из размеров намного меньше, чем все остальные;
два поперечных размера экрана сравнимы друг с другом и намного меньше третьего;
все поперечные размеры сравнимы друг с другом (характерно для замкнутых СВЧ-экранов любой формы).
В инженерных расчетах с приемлемыми допущениями можно заменить экраны сложной формы эквивалентными экранами простейшей формы, т. е. плоскими, цилиндрическими, сферическими и т. п.
Аэ
погл,
дБ
200
108
109
1010
f,
Гц
100
1
2
4
63
40
20
10
6,3
Сталь
1мкм
1 мкм
Алюминий
10
мкм
10 мкм
Медь
10
мкм
10
мкм
Алюминий
10
мкм
1 мкм
Сталь
1мкм
10
мкм
Рис. 3. Частотные зависимости от толщины стенки экрана
для различных металлов
Как уже отмечалось, волновое сопротивление , оказываемое свободным пространством при распространении волн поля помехи, зависит от структуры этих волн. Если W0 обозначить для основных структур волн (плоской, цилиндрической и сферической) через то соотношения между ними выражаются в виде
. (17)
Подставляя эти соотношения в формулы (10) и (11), можно получить примерную связь между коэффициентами реакции плоского, цилиндрического и сферического металлических экранов, изготовленных из одного и того же материала и имеющих одинаковую толщину стенки
(18)
(19)
Обозначая экранное затухание экранов плоской, цилиндрической и сферической форм соответственно через Аэ с, Аэ п, Аэ ц, из выражений (18) и (19) получим:
Аэ п Аэ ц + 6,0 Аэ с + 9,6 ДБ. (20)
Если учесть, что формулу (16) удобнее применять со значениями волновых сопротивлений для плоской волны (см. формулы (6) и (7), то выражение (20) можно записать
Аэ Аэ п – Аф, (21)
где Аф составляющая экранного затухания, обусловленная формой экрана и равная 0; 6,0 и 9,6 дБ соответственно для плоского, цилиндрического и сферического экранов.
Экранное затухание однородных экранов в диапазоне СВЧ обычно бывает порядка 100 дБ, поэтому видно, что конструктивная форма экрана мало влияет на его параметры экранирования. Решающее значение в этом случае имеют электротехнические свойства материала экрана, толщина его
стенки и внутренние размеры экрана. Слабое влияние формы экранов на характеристики экранирования позволяет при конструировании устройств СВЧ выбирать форму экранов и корпусов исходя только из требований к компоновке устройства СВЧ и его технологичности. В то же время это дает возможность, заменяя реальную форму ближайшей эквивалентной (плоской, цилиндрической или сферической), создавать унифицированные ряды конструкций однородных экранов и электрогерметичных корпусов.
В полученных формулах для расчета экранов не учитываются некоторые явления, которые могут существенно влиять на качество экранирования.
К таким явлениям в первую очередь относятся резонансы внутренней полости экранов и корпусов. Этот эффект должен обязательно учитываться при конструировании СВЧ-экранов из металлических материалов. Как известно, любое пространство, окруженное отражающими поверхностями, на
некоторых частотах, называемых собственными, проявляет резонирующие свойства. При этом происходит многократное усиление амплитуды электромагнитной волны поля (в данном случае поля помехи) внутри такого пространства по сравнению с амплитудой волны поля, возбуждающего его.
Влияние резонансных явлений, обусловленных внутренней полостью экрана, рассмотрим на упрощенной электрической модели экрана в виде двух бесконечных металлических пластин, расположенных параллельно друг другу на расстоянии (рис. 4). При падении на экран плоской волны поля помехи (ограничимся случаем одностороннего нормального падения) единичной амплитуды часть энергии волны проникает в экранированное пространство и распространяется в нем от стенки I к стенке II также в виде плоской волны . Достигая границы II, она отражается и меняет направление распространения.
Если коэффициент отражения от границы II равен , то отраженную волну можно записать в виде
X
∞
∞