- •«Орловский государственный аграрный университет» методические указания к лабораторным работам по физике
- •Работа № 3.1 изучение микроскопа и определение показателя преломления прозрачных пластинок при помощи микроскопа
- •Описание метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение показателя преломления стеклянной пластинки
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.2 изучение рефрактометра и определение показателя преломления прозрачных веществ
- •Описание прибора и методика измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Работа №3.3 измерение радиуса кривизны линзы и длин световых волн при помощи интерференционных колец ньютона
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение радиуса кривизны линзы
- •Работа №3.4 изучение явления дифракции и определение длины волны света при помощи дифракционной решетки
- •Порядок выполнения работы
- •Определение полосы пропускания светофильтров с помощью дифракционной решетки
- •Описание прибора и метода измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.6 изучение явления поляризации света и проверка законов брюстера и малюса
- •Порядок выполнения работы
- •I. Изучение закона брюстера
- •II. Изучение закона малюса
- •Работа №3.7 исследование вращения плоскости поляризации света
- •Описание прибора и метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Изучение законов излучения абсолютно черного тела и их применение к нечерным телам
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.9 изучение линейчатых спектров. Градуировка спектроскопа и определение постоянной ридберга по спектру гелия
- •Порядок выполнения работы
- •Градуировка спектроскопа по спектру водорода
- •Определение длин поли видимой части спектра гелия и вычисление постоянной Ридберга
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.10 изучение законов освещенности
- •Порядок выполнения работы
- •Зависимость освещенности от расстояния до источника света
- •Определение зависимости освещенности от угла падения лучей
- •Контрольные вопросы
- •Работа № 3.11 изучение фотоэлектрических свойств фоторезисторов
- •Описание установки
- •Некоторые параметры фоторезисторов
- •Порядок работы.
- •Зависимость фототока от напряжения при постоянном световом потоке
- •Зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении
- •Контрольные вопросы
- •Изучение явления внешнего фотоэффекта. Определение постоянной планка
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.13 исследование температурной зависимости сопротивления полупроводников
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.14 снятие счетной характеристики счетчика по космическому излучению
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Работа № 3.15 изучение явления дифракции света от щели и нити.
- •Работа №3.16
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы Упражнение 1
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Содержание
Описание установки
В данной работе исследуется полупроводник ММТ. Исследуемый образец помещается в термостат, который наполнен непроводящей жидкостью. Температура в термостате измеряется термометром. Исследуемый полупроводник подключается к мосту постоянного тока. Уравновешивая мост, измеряют величину сопротивления, как функцию температуры.
Порядок работы
Ознакомиться с методикой измерения сопротивления с помощью моста постоянного тока.
Измерить сопротивление исследуемого образца при комнатной температуре.
Включить нагреватель и, повышая температуру, измерить сопротивление образца через каждые десять градусов в интервале от 200С до 800С.
Значение сопротивлений записать в соответствующие таблицы.
По данным таблицы построить график зависимости сопротивления полупроводника от температуры.
По уравнению (13.8) рассчитать В, используя R1 и R2 для двух значений Т1 и Т2, близких к комнатной.
Используя уравнение (13.9), рассчитать ширину запрещенной зоны полупроводникового терморезистора.
Рассчитать ТКС полупроводника по уравнению (13.7), приняв Т=300К.
Контрольные вопросы
В чем отличие энергетической структуры проводников и полупроводников?
Каков характер проводимости полупроводников?
Что такое «электронная проводимость», «дырочная»?
Каково различие проводимости полупроводников от проводимости металлов?
Какие полупроводники называются собственными полупроводниками?
Почему ТКС полупроводников отрицательный?
Какова размерность температурного коэффициента сопротивления (ТКС)?
Работа №3.14 снятие счетной характеристики счетчика по космическому излучению
Цель работы: наблюдение и измерение мягкой компоненты вторичных космических лучей при помощи счетчика Гейгера – Мюллера.
Приборы и принадлежности: экспериментальная установка типа СТС-5, состоящая из газового счетчика, секундомера, металлических экранов и счетчика импульсов.
Введение
Космическими лучами называются потоки элементарных частиц и атомных ядер, приходящих на Землю из космического пространства.
Первичное космическое излучение, наблюдаемое за пределами земной атмосферы, состоит в основном из протонов высокой энергии и небольшого количества ядер более тяжелых элементов. При прохождении через атмосферу они сталкиваются с ядрами атомов атмосферных газов и вызывают различные ядерные превращения, приводящие к возникновению вторичного космического излучения.
В составе вторичных космических лучей имеются компоненты: «жесткая» (малопоглощаемая), проникающая сквозь большие толщи вещества, и «мягкая» (легко поглощаемая веществом).
Важную роль при возникновении жесткой компоненты вторичного излучения играет генерация -мезонов (или пионов), рождающихся при столкновении протонов первичного излучения с нуклонами ядер. Существуют положительные +, отрицательные - и нейтральные ° пионы. Заряд положительного и отрицательного пионов равен элементарному заряду е. Масса заряженных пионов одинакова и равна 273 mе, масса нейтрального пиона равна 264 mе, где mе — масса электрона; mе = 9,110-31 кг.
Заряженные пионы имеют время жизни 2,5610–8с, после чего распадаются на -мезоны (или мюоны) по схеме
где + и - - положительный и отрицательный мюоны,
- нейтрино и - антинейтрино.
Положительный и отрицательный заряды мюонов равны элементарному заряду е. Масса заряженных мюонов равна 207 mе (нейтральных мюонов не существует). Время жизни мюонов составляет 2,2210-6 с после чего они распадаются на другие частицы. Мюоны не взаимодействуют с ядрами атомов, способны проходить в веществе огромные расстояния и являются главной частью жесткой компоненты вторичного излучения. Кроме мюонов в жесткую компоненту входит часть дошедших до Земли первичных протонов и образовавшихся в результате ядерных реакций быстрых протонов и нейтронов.
Мягкая компонента состоит из электронов, позитронов и фотонов, которые возникают при распаде других элементарных частиц и исчезают при взаимодействии друг с другом и ядрами атомов. Так, например, при распаде мюонов образуются электроны и позитроны по схеме
где е+ - позитрон, е- - электрон.
При столкновении с ядрами атомов электроны и позитроны вызывают появление - квантов, которые в свою очередь генерируют в поле ядерных сил электронно-позитронные пары.
Задача данной работы заключается в наблюдении и измерении мягкой компоненты (,--излучения) вторичных космических лучей при помощи счетчика Гейгера-Мюллера, являющегося основной частью экспериментальной установки.
Для выполнения работы используется установка типа 4 СТС 5. С помощью этой установки можно производить не только снятие счетной характеристики, но и определение активности изотопа, линейного коэффициента поглощения -лучей, -излучений и других характеристик космического и радиоактивного излучений.
Космическая частица воздействует на счетчик Гейгера-Мюллера, который является основной частью установки и состоит из круглого проводящего цилиндра 1 (рис. 14.1) с натянутой вдоль оси цилиндра тонкой металлической нитью 2. К нити подключается положительный полюс от выпрямителя. Отрицательный полюс подключается к цилиндру и соединяется с землей.
Пространство между электродами 1 и 2 заполнено газом при пониженном давлении. Между ними создается высокая разность потенциалов порядка 300-350 В. Влетевшая космическая частица ионизирует газ между электродами счетчика, образовавшиеся ионы отводятся к электродам и создают ток через сопротивление 3. Падение напряжения с этого сопротивления через конденсатор 4 и провода 5 подается на пересчетный прибор и после усиления создает на его выходе счетный импульс. Вторая частица создает второй импульс и т.д.
Рис. 14.1
Чтобы снять счетную характеристику, необходимо поставит рукоятку регулировки напряжения в крайнее левое положение, соответствующее минимуму подаваемого напряжения, и включить установку в сеть тумблером. После прогрева в течении 1-5 мин. медленно повышать напряжение до потенциала зажигания счетчика U3. При U<U3 счетчик работать не будет. Убедившись в том, что газовый счетчик начал работать, можно приступить к снятию характеристики. Нужно включить тумблер пуска и одновременно секундомер. После 5 мин. включить тумблер пуска и секундомер, подсчитать число импульсов и записать напряжение по вольтметру. Затем повышать напряжение скачками через 50-100 В, и при каждом из них включать тумблер и секундомер, и просчитать число импульсов за определенное время. По полученным значениям N, U построить графическую зависимость числа импульсов, примерный вид которой приведен на рис. 14.2.
На счетной характеристике имеется почти прямолинейный участок, соответствующий разности напряжений от U1 до U2. В этом диапазоне счет почти не изменяется при изменении напряжения, счетчик фиксирует все частицы и работает наиболее устойчиво. Этот участок, называемый «плато», рекомендуется использовать на практике в качестве рабочего.
Рис. 14.2
После окончания работы и выключения установки необходимо кнопку «сброс» держать нажатой в течении 0,2-0,5 мин., чтобы снять высокое напряжение.