- •1. Разработка структурной и принципиальной схем устройства
- •2. Расчет элементов принципиальной схемы
- •3. Разработка интегральной микросхемы
- •3.1. Выбор навесных элементов и расчет конфигурации пленочных элементов
- •3.2. Расчет амплитудно-частотной характеристики
- •3.3. Разработка топологии
- •3.4. Этапы изготовления устройства в виде гибридной интегральной микросхемы
3.3. Разработка топологии
Расчет плёночных конденсаторов:
Определение площади конденсатора Cp1:
Определение площади конденсатора Cp2:
Определение площади конденсатора CК:
В этих формулах использовано значение = 80 пФ/мм2, характерное для пленки монооксида кремния, толщиной 0,5 мкм.
По приведённым расчётам делаем вывод, что конденсатор можно изготавливать напылением (термическим), а конденсаторы и компонуются в схеме, как навесные элементы:
– типа К-53-16 ёмкостью 1 мкФ мм3 (Up = 16 В)
– типа К-10-9-М750 ёмкостью 7500 пФ мм3 (Upаб = 50 В).
Составление топологии ГИМС:
Определение площади занимаемой элементами схемы:
Здесь – площадь, занимаемая транзисторами,
– площадь, занимаемая резисторами,
– площадь, занимаемая конденсаторами.
Учитывая площадь соединений, промежутки между элементами и расстояния от края подложки, увеличиваем требуемую площадь в 4 раза:
Выбираем в качестве материала подложки – ситалл СТ-50-1.
Так как стандартный размер заготовки минимальный – 4860, то на такой подложке может быть собрана группа 36 проектируемых в данном задании ГИМС и площадью, равной 130 мм2 стандартного размера 1610 = 160 мм2.
Эскиз топологии проектируемой ГИМС показан на рис.5
3.4. Этапы изготовления устройства в виде гибридной интегральной микросхемы
Тонкоплёночные элементы – резисторы, конденсаторы и проводники - изготавливаются технологическими методами термического напыления: резисторов – кермета, конденсатора – моноокиси кремния (диэлектрика).
Основной метод изготовления – фотолитография.
На подложку из ситалла марки СТ50-1 наноситься сплошная плёнка резистивного слоя, а поверх него – проводящий слой.
Затем поверхность покрывают фоторезистом и с помощью фотошаблона наносят рисунок для проводящего слоя (проводники, контактные площадки). Через окна в маске проводят травление проводящего слоя, а затем фоторезист удаляют химическим, либо – энергетическим (сочетание сильных окислителей с лучевым воздействием) способом.
Получаются готовые контактные площадки. Затем наносят фоторезист и с помощью фотошаблона формируют рисунок полосок резистора. Последующим травлением удаляют фоторезист и получают конфигурацию резистора и контактных площадок.
Изготовление конденсаторов происходит последовательным напылением алюминиевых обкладок на подслой хром-титана, а затем – оксида кремния и в последующем алюминия и контактных проводников.
Однако конденсаторы чаще используют в виде навесных элементов.
Заключение
Оптимальность конструкции разработанного устройства в значительной степени зависит от выполнения всех исходных схемотехнических (электрических), технологических, конструктивных и эксплутационных требований и ограничений.
Теперь приходит черёд проведения тщательных испытаний, которые должны не только подтвердить безупречность электрических характеристик ИС, но и удостоверить стабильность её температурных и механических свойств. ИС считается готовой к продаже только после успешного завершения электрических, тепловых и механических испытаний.
Список литературы
-
А.Н. Игнатов
-
1 1. А.Н. Игнатов, Н.Е. Фадеева “Разработка интегрального устройства” Методические указания к курсовой работе Новосибирск 2006 СибГУТИ 36 с. 3. А.В. Цыкина “Проектирование транзисторных усилителей низкой частоты” М. “Связь” 1976 184 с.