Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Метрология.doc
Скачиваний:
6
Добавлен:
08.11.2018
Размер:
271.36 Кб
Скачать

Общие правила и условия определения характеристик погрешностей.

1. На основе заданных исходных данных и анализа первого проекта МВИ проводится расчет характеристик погрешностей соответствующих первому проекту. При данном расчете в качестве метрологических характеристик СИ принимают их номинальные значения. 2. Выбирают те характеристики(дисперсии или модули наиболее возможных значений) суммированием которых определяется искомая характеристика полной погрешности. 3. Если в МВИ предусмотрено уменьшение влияния составляющей путем прямых многократных измерений, то вместо ее характеристики в расчет вводят характеристику случайной погрешности среднего арифметического прямых измерений. При этом за окончательный результат принимают указанное среднее арифметическое. 4. Если в систематическую составляющую погрешности входят составные части значения, которых постоянны и известны, их исключают введением поправок. 5. В зависимости от того, какие заданные характеристики внешних условий рассчитывают погрешности измерения в реальных условиях. • Если использовать конкретные значения влияющих величин с пренебрежимо малыми возможными величинами (например, температура окружающей среды 20±2°С, или 220±5В), то рассчитанные характеристики погрешности измерения соответствуют применению МВИ именно при этих значениях влияющих величин. • Если заданны верхние и нижние границы влияющих величин, например -30, +50″С, то могут быть рассчитаны только наибольшие характеристики погрешностей измерений, соответствующие граничным условиям применения МВИ. • Если использовать характеристики влияющих величин как случайных процессов, то характеристики погрешностей измерений рассчитываются как функции случайного процесса. 6. При анализе первого проекта МВИ необходимо проверить, не возникает ли вследствие каких либо особенностей МВИ дополнительно составляющих погрешностей МВИ. Если они меньше 15-20% их не учитывают, если больше, то необходимо учитывать. При анализе первого проекта МВИ могут проводиться экспериментальные исследования для получения требуемых данных, для этого изготавливается макет реализации МВИ соответствующий первому проекту.

Определение характеристик погрешностей прямых измерений.

1. Рекомендуется погрешность разделить на 3 группы составляющих (методические, инструментальные и личные). 2. Выявляют характеристики следующих возможных методических погрешностей: • Погрешность, обусловленная различием между прямой моделью объекта и той, которая отражала бы свойства изучаемого объекта. Например, втулка в действительности представляет собой искаженный усеченный конус и диаметр ее Понятие о качестве измеряемой величины диаметра в любом поперечном сечении втулки приводит к методической погрешности измерения равная ?2. • Погрешность, обусловленная возможными отклонениями от номинальных значений параметра функций зависимости информативного параметра вторичного процесса от измеряемой величины. • Погрешность передачи величин от объекта измерений средствам измерений. Например, для измерения втулки используют нутромер, практически невозможно установить его строго перпендикулярно основанию втулки. 3. В соответствии с методическим материалом по применению ГОСТ 8.009-84 к инструментальным погрешностям прямых измерений отнесены погрешности, зависящие от свойств СИ: погрешности СИ, составляющие погрешности, измерения обусловленные взаимодействием СИ с объектом измерений и т.д. Погрешность СИ, как правило, разделяют на следующие составляющие: основную погрешность, дополнительную погрешность и динамическую погрешность. На данном этапе разработки МВИ характеристики дополнительных и динамических СИ определяют путем расчета по нормированным метрологическим характеристикам СИ и исходным данным. 4. К личной погрешности относят составляющую, обусловленную погрешностью отсчета оператором показаний по шкалам измерительных приборов. Принято, что “средний” оператор может интерполировать в пределах деления шкалы по 0,2 деления.