Висновок:

Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (РФЕС) заснована на явищі фотоефекту з використанням монохроматичного рентгенівського випромінювання і дозволяє визначати енергії електронних рівнів на підставі виміряних кінетичних енергій фотоелектронів. Розподіл емітованих фотоелектронів по кінетичної енергії являє собою фотоелектронний спектр. Спектри рентгенівської фотоемісії несуть в собі цінну інформацію про природу хімічного зв'язку досліджуваних елементів і з'єднань. Інтенсивність фотоелектронних ліній в спектрі відображає щільність зайнятих електронних станів в приповерхневому шарі.

Кожен хімічний елемент при будь-якому Z (заряд ядра) має свій специфічний набір значень енергій зв'язку для внутрішніх електронів, за якими можна його ідентифікувати і судити про елементний складі зразка. Тому метод РФЕС часто називають ЕСХА - електронна спектроскопія для хімічного аналізу.

За допомогою РФЕС можна досліджувати без руйнування зразка поверхню твердих тіл, адсорбовані на ній молекули, поверхневі процеси (корозія, адсорбція, каталіз і т. д.). Глибина виходу фотоелектронів із зразка становить не більше 5 нм (500 А) або 10-15 монослоїв атомів, тому метод чутливий тільки до верхнього поверхневому шару.

На підставі залежності енергії зв'язку від ефективного заряду, ступеня окислення і характеру хімічного зв'язку досліджуваного атома з сусідніми атомами можна вивчати електронні та геометричні характеристики хімічних сполук.

Метод РФЕС дозволяє досліджувати і визначати в хімічному з'єднанні всі елементи, крім водню й гелію, в будь-якому агрегатному стані. Зазвичай експеримент проводять з твердими речовинами у вигляді порошків або пластин. Для дослідження легколетких зразків або рідин вдаються до заморожування.

Перелік літературних посилань:

1. Быков, А.В. Физические методы исследования [Текст]: учеб пособие / А.В. Быков, Г.Н. Демиденко, В.Ю. Долуда, Э.М. Сульман. Тверь: ТГТУ, 2010.- 160 с.

2. В.Л. Карбовский, А.П. Шпак. Рентгеновская и электронная спектроскопия. Киев: Наук.думка, 2010 – 263 с.

3. Зигбан К., Нордлинг К., Фальман А. и др. Электронная спектроскопия. [Текст]: - М.: Мир, 1971.

4. Осьмушко И. С., Вовна В. И., Короченцев В. В. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия твёрдых тел: теория и практика [Текст]: учебное пособие/ Владивосток: Изд-во Дальневост. ун-та, 2010.- 42 с.

5. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Текст] / под ред Д. Бриггса, М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. 600 с.

6. Філатов О.В., Холявко В.В. Сучасні експериментальні методики фізичного матеріалознавства [Текст]: Лабораторний практикум для студентів напряму підготовки 050403 „Інженерне матеріалознавство” спеціальності 05040302 „Фізичне матеріалознавство” денної та заочної форм навчання / Уклад.: О.В.Філатов, В.В. Холявко. – К.: НТУУ „КПІ”, 2014. - 200 с.

7. Нефедов В.И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений. – М.: Химия, 1984. 256 с

8. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy / Eds. J. Chastain, R.C. King. Minnesota. Jr. Physical Electronics Inc., 1995. 261 p

9. http://srdata.nist.gov — база данных по полосам РФЭС.

10. Карлссон Т.А. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия. Л.: Машиностроение. 1981. 431 с.