- •2. Классификация полимеров по структуре.
- •3. Классификация полимеров по молекулярной массе.
- •4. Молекулярная и надмолекулярная структура полимеров.
- •5. Типология полимеров.
- •6. Понятие о сополимерах.
- •7. Термопластичные полимеры. Примеры
- •8. Термореактивные полимеры. Примеры.
- •9. Пэнп и пэвп.
- •19. Основные разновидности промышленных полимеров и пластмасс.
- •20. Элементоорганические полимеры.
- •21. Термомеханические свойства и термомеханическая кривая.
- •22. Понятие о пластмассах.
- •23. Неорганические полимеры. Углерод. Алмаз.
- •24. Аморфные полимеры. Примеры.
- •25. Графит. Углеграфитовые материалы.
- •26. Аллотропные модификации углерода.
- •27. Твердость полимеров. Определение твердости по Бринеллю, по Роквеллу, по Виккерсу.
- •30. Графен. Фуллерены.
- •31. Слюда. Асбест.
- •32. Силикаты. Классификация. Тройная диаграмма.
- •33. Керамика. Технология керамики.
- •34. Классификация керамических материалов.
- •35. Порошковые графиты.
- •36. Керамика. Огнеупоры.
- •38. Стекло. Состав, структура.
- •41. Оптические и электрические свойства стекол.
- •42. Получение стекол.
- •44. Упрочение стекол, в т.Ч. Термическое.
- •45. Химическая стойкость стекол.
- •46. Применение стекол.
- •48. Классификация композиционных материалов (км) по виду матрицы.
- •49. Металлические матрицы км.
- •50. Полимерные матрицы км.
- •52. Классификация композиционных материалов по виду наполнителя:
- •53. Наполнители зернистые естественные.
- •54. Металлические порошки в качестве наполнителей км.
- •55. Технический углерод, аэросил в качестве наполнителей км.
- •61) Нитевидные кристаллы
- •62) Направления повышения прочности материалов
- •63) Элементарные полупроводники
- •64)Характеристика Кремния.
- •65)Характеристика Германия
- •66)67)68) Основные требования к полупроводниковым материалам.Сравнительная характеристика основных методов получения монокристаллов.Методы кристаллизации из расплава. Коэффициент сегрегации.
- •69) Метод Чохральского.
- •71) Методы кристаллизации из газовой фазы. Эпитаксия.
- •72) Формирование кремниевых эпитаксиальных пленок.
- •73) Метод получения р-n перехода
- •74) Основные подходы в планетарной технологии
- •75) Схема изготовления кремневого резистора
- •76) Бестигельная зонная плавка кремния.
- •77) Требования к подложкам. Получение защитных пленок.
- •78) Маркировка кремния. Акцепторы. Доноры. Поликристаллический кремний.
- •79) Полупроводниковые соединения. Принципы классификации.
61) Нитевидные кристаллы
Нитевидные кристаллы – кристаллические вещества нитевидной формы с большим отношением длины к поперечному сечению (более 20 при диаметре до 5 мкм). Из-за формы их часто называют усами.
Нитевидные кристаллы обладают крайне высокими значениями прочности и жесткости и рассматриваются в качестве перспективного высокопрочного наполнителя для производства КМ будущего.
Методы их получения разнообразны: из газовой фазы, из расплавов и растворов путем химического разложения или электролиза последних, а также из твердой фазы. В настоящее время получено более 100 веществ в виде нитевидных кристаллов, среди них металлы, оксиды, карбиды, галогениды, нитриды, графит и органические соединения.
62) Направления повышения прочности материалов
Прочность реального материала может быть повышена за счет увеличения плотности дислокаций или уменьшения числа дефектов.
Повышение плотности дислокаций тормозит их продвижение под воздействием приложенной нагрузки, что приводит к повышению физико-механических свойств материала. Традиционные способы упрочнения материалов основаны на повышении плотности дислокаций разнообразными технологическими приемами (правая ветвь кривой).
Левая ветвь кривой отображает повышение прочности материала в результате уменьшения числа дефектов. Основным технологическим приемом снижения дефектности материала является уменьшение геометрических размеров дискретных элементов структуры материала. Предел повышения прочности материалов в данном случае ограничен лишь его теоретической прочностью.
Итак, одним из направлений реализации перспективного направления повышения прочности материалов является рассмотренная
технология нитевидных кристаллов.
Другое направление уменьшения дефектности материала – получение дискретных элементов структуры материала размерами менее 100 нм, которые называют наноструктурами.
63) Элементарные полупроводники
В группу элементарных полупроводников входят элементы, расположенные в В-подгруппах следующих групп Периодической системы: III (В), IV (Si, Ge), V (Р, As), VI (S, Se, Те).
Элементарные полупроводники IV группы (кремний и германий) являются основными материалами полупроводникового приборостроения.
Имеют кристаллическую решетку типа алмаза, в которой атомы соединены ковалентной связью. Период решетки у кремния меньше, чем у германия, что определяет более прочную ковалентную связь из-за более сильного перекрытия электронных облаков, и следовательно, большую ширину запрещенной зоны.
64)Характеристика Кремния.
Атомный номер 14, атомная масса 28,1. Базовый материал для создания ИМС и дискретных полупроводниковых приборов (диодов, транзисторов и т. д.). При комнатной температуре химически инертен, в расплавленном – химически активен. Широкое применение в технике получил после создания метода бестигельной зонной очистки. Кремний наиболее подходящий материал для изготовления фотоэлектрических преобразователей, трансформирующих световую энергию в электрическую.
По распространению в земной коре кремний занимает второе место после кислорода. В свободном состоянии в природе не встречается. Процесс получения кремния в целом аналогичен получению германия. Сырьем для его производства служит кремнезем, содержащий до 99,9 % SiO2. Из SiO2 восстановлением получают технический кремний, содержащий менее 3% посторонних примесей. Из такого кремния получают тетрахлорид кремния (SiCl4), который подвергают химической очистке. Далее, уже из тетрахлорида кремния выделяют очищенный кремний по реакции:
SiCl4 + 2Zn Si + 2ZnCl2 или SiCl4 +2Н2 Si + 4НСl