- •1.Понятие метода и методики анализа. Характеристики методики.
- •2. Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
- •3. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •4. Приборы рефрактометрического анализа.
- •5. Применение рефрактометрии для идентификации в-ва и контроля качества.
- •6. Физ. Основы поляриметрического метода.
- •7. Зав-мость угла вращения плоскости поляризации от строения в-ва.
- •10. Физ. Основы нефелометрии и турбидиметрии.
- •11. Приборы нефелометрического анализа.
- •12. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •13. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация методов спектрального анализа.
- •14.Физ. Основы спектрального анализа.
- •15. Типы и хар-тер электронных переходов.
- •16. Зависимость числа доп.Энерг.Сост. От положения в таблице.
- •17. Классиф. Хим.Элементов по способности к возбужд. И иониз.
- •18. Схемы энергетических переходов в атомах.
- •20. Зависимость длин волн рез.Спектр.Линий от полож.В таблице.
- •22. Факторы, влияющие на интенсивность спектр.Линий в спектрах атомной эмиссии.
- •23. Ширина спектральной линии. Причины уширения.
- •24. Схемы энергетических переходов в молекулах.
- •26*. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в пламенной атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •27. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в дуговой и искровой атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •25. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •28. Устройство и принцип действия трехтрубчатого плазмотрона для атомно-эмиссионного анализа с индуктивно-связанной плазмой.
- •29. Способы выделения аналитических спектральных линий элементов из полихроматического излучения анализируемого образца. Схема и принцип действия монохроматора дисперсионного типа.
- •30. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •33. Достоинства и недостатки фотографической регистрации спектров атомной эмиссии.
- •31. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
- •33. Определение интенсивности спектральной линии элемента при фотографической регистрации спектра.
- •34. Полуколич. Метод сравнения в атомно-эмиссионном анализе.
- •35. Полуколичественный метод гомологических пар в атомно-эмиссионном анализе.
- •36. Полуколичественный метод появления и усиления спектральных линий в атомно-эмиссионном анализе.
- •32. Уравнение Ломакина-Шейбе.
- •37. Методы точного количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием стандартов.
- •38-39. Общие положения теории аас.
- •41. Пламенная атомизация в атомно-абсорбционном анализе: условия проведения, механизм
- •29. Монохроматоры
- •39. Конструкция и принцип действия безэлектродной газоразрядной лампы.
- •30. Детекторы
- •26. Подготовка проб к анализу методами оптической атомной спектроскопии
- •45. Физические основы рентгеноспектрального анализа.
- •46. Схема возбуждения и испускания рентгеновских спектральных линий. Критический край поглощения.
- •47. Диспергирующие и детектирующие устройства рентгеновских спектрометров.
- •48. Основы кач-го и кол-го рентгеноспектрального анализа
- •49. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-эмиссионного анализа.
- •50. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-флуоресцентного анализа.
2. Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
Рефрактометрический анализ основан на определении показателя (коэффициента) преломления исследуемого вещ-ва.
Рис. 1. Преломление свет
Световой луч, распространяющийся в среде 1 под углом падения i1, проходит в среде 2 под углом i2, называемым углом преломления (рис.1).
Изменение направления распространения света (преломление) при его переходе из одной среды в другую хар-ся относительным показателем преломления среды 2 по отношению к среде 1, равным n21 =v1 / v2, (1), где v1 и v2, - скорости распространения световой волны в средах 1 и 2 соответственно.
Если световая волна переходит из вакуума (среда 1 - вакуум), показатель преломления среды 2 (вещество) называется абсолютным: n2 = с/ v2, (2), где с - скорость света и вакууме (3 х 1010 см/с).
Относительный показатель преломления n21 согласно формулам 1 и 2:
n21= n2/ n1 (3)
При измерении показателей преломления жидких и твердых тел обычно определяются их относительные показатели преломления по отношению к воздуху. Для получения абсолютных показателей преломления достаточно умножить величину показателя преломления вещества но отношению к воздуху на абсолютный показатель преломления воздуха, равный при атмосферном давлении и комнатной температуре nабс=1,00027, следовательно nабс=1,00027n (4).
На практике измерение показателя преломления производится по формуле:
n21 =v1 / v2= sin i1/sin i2 (5), как отношение синуса угла падения i1 к синусу угла его преломления i2.
Каждое индивидуальное хим. соединение имеет при постоянных условиях измерения строго определенное значение показателя преломления, величина которого определяется строением этого вещ-ва, что объясняется индивидуальным характером взаимодействия ЭМИ с вещ-вом.
При прохождении света через неполярное вещ-во молекулы этого вещ-ва попадают в электромагнитное поле, под воздействием которого происходит деформационная поляризация молекулы, вызываемая как смещением электронов относительно ядер атомов (электронная поляризация), так и смещением ядер атомов относительно друг друга (атомная поляризация), и пропорциональная напряженности поля.
Центры тяжести положительных и отрицательных зарядов в молекуле теперь не совпадают и возникает индуцированный дипольный момент, пропорциональный напряженности поля. При прохождении света через полярное вещество к деформационной поляризации добавляется и т.н. ориентационная поляризация, связанная с тем, что под влиянием электромагнитного поля такие молекулы ориентируются вдоль силовых линий ноля, стремясь принять устойчивое положение, отвечающее минимуму потенциальной энергии.
Поляризации Р молекулы связана е диэлектрической проницаемостью среды:
Р = Рдеф +Рор = (-1)/( + 2) (М /d) = 4/3 NA, (6)
где Рдеф - деформационная поляризация; Рор–ориентационная поляризация; М- молекулярная масса вещества; d-плотность вещества; NA-число Авагадро; - поляризуемость молекулы.
Полная поляризация наблюдается только в статическом поле и поле низкой частоты. В высокочастотном поле диполи не успевают ориентироваться. Поэтому, например, в поле ИК-излученин возникает электронная и атомная поляризация, а в поле видимого света - только электронная поляризация, т. к. благодаря высокой частоте колебаний поля смещаются только легкие частицы - электроны. Для неполярных веществ Рор =0 и Р = Рдеф = Рэл.