брандон

материалов и технологий

л

W\

Д. БРАНДОН, У. КАПЛАН

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

ТЕХНОСФЕРА

И Р

териалов и технологий

Д. БРАНДОН, У. КАПЛАН

Микроструктура

материалов. Методы исследования и контроля

Перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнением О. В. Егоровой

Рекомендовано Институтом химической физики РАН в качестве учебного пособия для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"

ТЕХНОСФЕРА

Москва

2004

Д. Брандон, У. Каплан

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля Москва:

Техносфера, 2004. - 384с. ISBN 5-94836-018-0

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.

Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микро­скопов.

Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехно­логиями.

Microstructural Characterization of Materials

Dawd Brandon and \Va\ne L> Kaplan

JOHN \Ч1 П M)\S

© 1999 John Wiley & Sons Ltd.

The Atrium, Southern Gate, Chichester, West Sussex, P019 8SQ UK © 2004, ЗАО «РИЦ «Техносфера» перевод на русский язык, оригинал-макет, оформление

ISBN 5-94836-018-0 ISBN 0 471 98501 5 (англ.)

Содержание

материалов и технологий 1

И Р 2

териалов и технологий 2