- •Московский государственный технический университет им.Н.Э.Баумана
- •Калуга,
- •2013 Г.
- •Практическая часть
- •2. Теория.
- •2.1 Модели полупроводниковых диодов
- •Практическая часть
- •Практическая часть
- •1*1014 50 135 1250 1250
- •Практическая часть
- •Лабораторная работа № 5
- •1.2 Краткие сведения по полевым транзисторам с управляющим p-n переходом
- •1.3 Параметры модели Шихмана-Ходжеса
- •1.4 Паспортные параметры птуп и способы идентификации параметров математических моделей
- •1.5 Функциональные схемы для измерения параметров статической математической модели птуп
- •1.6 Задание
- •1.7 Подготовка измерителя параметров полупроводниковых приборов л2-56 к работе
- •1.8 Порядок выполнения работы при применении измерителя свойств полупроводниковых приборов л2-56
- •1.9 Порядок выполнения работы при применении лабораторного стенда 87л-01
- •1.10. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6
- •2.1 Введение
- •2.2 Краткие сведения по полевым транзисторам с изолированным затвором и индуцированным каналом
- •2.3 Параметры модели Шихмана-Ходжеса
- •2.4 Паспортные параметры мдп и способы идентификации параметров математических моделей
- •2.5 Функциональные схемы для измерения параметров статической математической модели мдп
- •2.6 Задание
- •2.7 Подготовка измерителя л2-56 к работе
- •2.8 Порядок выполнения работы при применении измерителя свойств полупроводниковых приборов л2-56
- •2.9 Порядок выполнения работы при применении лабораторного стенда 87л-01
- •2.10. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 7
- •1. 1 Введение
- •1.2 Краткие теоретические сведения по тиристорам
- •1.3 Сечения различных типов структур тиристоров и их свойства
- •1.4 Функциональные схемы для исследования вах тиристоров
- •1.5. Задание
- •1.6 Подготовка измерителя л2-56 к работе
- •1.7 Порядок выполнения работы при применении измерителя свойств полупроводниковых приборов л2-56
- •1.8 Порядок выполнения работы при применении лабораторного стенда 87л-01
- •1.9 Контрольные вопросы
- •Общие сведения по параметрическим и компенсационным стабилизаторам тока
- •Практическая часть
Практическая часть
Оборудование.
1. Лабораторный стенд 87Л-01, коммутационная плата №1, осциллограф С1-83.
Задание.
1. Определите характерные диапазоны напряжения и силы тока, которые выдают генераторы напряжения и тока, встроенные в стенд – ГН1, ГН2, ГН3 и ГТ. Определите с помощью осциллографа величину и форму напряжения от источника напряжения
2. С помощью осциллографа С1-83 определите форму и диапазоны изменения длительности и амплитуды импульсов, выдаваемых генератором прямоугольных импульсов, диапазоны изменения амплитуды и частоты генераторов низкой и высокой частоты вашего конкретного стенда.
3. Наблюдайте на экране осциллографа диапазон перестройки глубины модуляции генератора высокой частоты и диапазон выходных напряжений данного генератора в режиме синусоидального сигнала.
Порядок выполнения работы.
На коммутационной плате №1 с помощью съёмной панели №1 соберите схему определения диапазонов тока и напряжения, выдаваемых генератором тока (рис. 3). При этом вместо диода V1 используйте резисторы номиналами 100 Ом, 1 кОм, 10 кОм, 100 кОм. Соедините гнезда генератора тока стенда с гнездами Х1 и Х2 схемы, гнёзда измерителя тока АВМ1 с гнёздами Х3 и Х4, гнёзда измерителя напряжения с гнёздами Х5 и Х6. Сменными элементами являются резисторы.
Рис. 3
Включите стенд 87Л-01.
Измерьте падение напряжения на резисторе с номиналом 100 Ом в диапазоне токов 1-10 мА.
Смените резистор (установите резистор с номиналом 1 кОм) и повторите п. 3. Результаты занесите в таблицу и постройте график зависимости напряжения на резисторе от тока, протекающего через него.
Выключите стенд 87Л-01.
Соберите схему для исследования свойств генератора тока ГН1. (рис. 4).
Рис. 4
Включите стенд 87Л-01.
Снимите зависимость тока генератора ГН1 от напряжения при номиналах резисторов нагрузки 1 кОм и 2 кОма.
Выключите стенд 87Л-01.
Соедините гнезда Х9 и Х10 стенда со щупом осциллографа,
Х11 и Х12 с генератором прямоугольных импульсов согласно рис.5. .
Включите стенд 87Л-01.
Определите с помощью осциллографа диапазон импульсных напряжений, выдаваемых генератором импульсов.
Выключите стенд 87Л-01.
Рис. 5
Отчет должен содержать схемы электрические принципиальные, осциллограммы, данные по измерению напряжений, графики искомых функциональных зависимостей. В конце работы сформулируйте и занесите в отчёт выводы по данной лабораторной работе.
ВНИМАНИЕ!
ВСЕ ИЗМЕНЕНИЯ НОМИНАЛОВ КОМПОНЕНТОВ ПРОИЗВОДИТЬ ТОЛЬКО ПРИ ВЫКЛЮЧЕННОМ СТЕНДЕ 87Л-01!
-
Работа №1. Исследование функционирования диодов на p-n переходах
Цель работы.
Цель работы состоит в измерении в широком интервале вольтамперных характеристик полупроводникового диода на p-n переходе при прямом смещении и определении по ним тока насыщения и коэффициента неидеальности.
2. Теория.
Вольтамперная характеристика идеального p-n – диода описывается моделью Шокли, согласно которой зависимость тока от напряжения на выводах даётся выражением
(1)
где - ток насыщения (обратный ток диода при). Точно такое же выражение получается для ВАХ диода Шоттки в моделях Бете и Давыдова-Пекара-Шоттки. Экспоненциальная зависимость от напряжения обусловлена в обоих случаях надбарьерным механизмом прохождения тока. Однако физические интерпретации тока насыщения дляp-n – диода и диода Шоттки совершенно различны. В первом случае он определяется экстракцией неосновных носителей заряда, во втором – эмиссией или диффузией основных носителей заряда.
Для учёта отклонений от идеальных моделей формула (1) модифицируется – в показатель экспоненты вводится коэффициент неидеальности m,
(2)
Основные причины отклонения от идеальности p-n –диода – падение напряжения на последовательном сопротивлении, рекомбинация и генерация носителей в ОПЗ, утечки. В диоде Шоттки имеют значения только первая и последняя причины.
Токи насыщения и коэффициенты неидеальности – важные параметры диодов. По их температурным зависимостям можно определить физические параметры структур – ширины запрещённой зоны полупроводника.