- •Московский государственный технический университет им.Н.Э.Баумана
- •Калуга,
- •2013 Г.
- •Практическая часть
- •2. Теория.
- •2.1 Модели полупроводниковых диодов
- •Практическая часть
- •Практическая часть
- •1*1014 50 135 1250 1250
- •Практическая часть
- •Лабораторная работа № 5
- •1.2 Краткие сведения по полевым транзисторам с управляющим p-n переходом
- •1.3 Параметры модели Шихмана-Ходжеса
- •1.4 Паспортные параметры птуп и способы идентификации параметров математических моделей
- •1.5 Функциональные схемы для измерения параметров статической математической модели птуп
- •1.6 Задание
- •1.7 Подготовка измерителя параметров полупроводниковых приборов л2-56 к работе
- •1.8 Порядок выполнения работы при применении измерителя свойств полупроводниковых приборов л2-56
- •1.9 Порядок выполнения работы при применении лабораторного стенда 87л-01
- •1.10. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6
- •2.1 Введение
- •2.2 Краткие сведения по полевым транзисторам с изолированным затвором и индуцированным каналом
- •2.3 Параметры модели Шихмана-Ходжеса
- •2.4 Паспортные параметры мдп и способы идентификации параметров математических моделей
- •2.5 Функциональные схемы для измерения параметров статической математической модели мдп
- •2.6 Задание
- •2.7 Подготовка измерителя л2-56 к работе
- •2.8 Порядок выполнения работы при применении измерителя свойств полупроводниковых приборов л2-56
- •2.9 Порядок выполнения работы при применении лабораторного стенда 87л-01
- •2.10. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 7
- •1. 1 Введение
- •1.2 Краткие теоретические сведения по тиристорам
- •1.3 Сечения различных типов структур тиристоров и их свойства
- •1.4 Функциональные схемы для исследования вах тиристоров
- •1.5. Задание
- •1.6 Подготовка измерителя л2-56 к работе
- •1.7 Порядок выполнения работы при применении измерителя свойств полупроводниковых приборов л2-56
- •1.8 Порядок выполнения работы при применении лабораторного стенда 87л-01
- •1.9 Контрольные вопросы
- •Общие сведения по параметрическим и компенсационным стабилизаторам тока
- •Практическая часть
2.3 Параметры модели Шихмана-Ходжеса
Полевые транзисторы с индуцированным каналом на постоянном токе удовлетворительно описываются четырёхпараметрической статической моделью Шихмана-Ходжеса, устанавливающей связь выходного стокового тока транзистора с напряжениями затвор-истоки сток-исток[1]. Эта модель справедлива при коротком соединении истока с подложкой. Выходная вольтамперная характеристика (ВАХ) полевого транзисторасостоит из двух ясно выделенных участков, соответствующих двум режимам работы транзистора, которые дляn- канального ПТИК имеют вид:
если
если. Первый участок и соответствующий ему режим называют триодным, второй участок и соответствующий режим называют участком (режимом) насыщения или пологим участком. Параметрами модели являются . Теория предсказывает, что, но в реальных транзисторах параметрможет быть отличным от. Параметрсовместно с параметромопределяет выходное сопротивление транзистора в режиме насыщения. Параметрестьпороговое напряжение для ПТИК. Эта величина зависит от напряжения смещения, что называют эффектом подложки. Определять параметры статической математической модели Шихмана-Ходжеса можно по выходным ВАХ, а можно и по производным от них. При нахождении этих параметров на пологой части ВАХ с низкой точностью определяется величина параметра . Параметрдляканального транзистора находится в соответствии с формулой:
.
Здесь - ширина канала,- подвижность носителей заряда (дырок) в канале,- толщина подзатворного диэлектрика,- длина канала, – относительная диэлектрическая проницаемость подзатворного диэлектрика, - диэлектрическая постоянная. Дляканального транзистора в соотношении (3) вместо подвижности дырок необходимо использовать подвижность электронов. При коротком замыкании подложки с истоком пороговое напряжение является фиксированным, а в общем случае подчиняется следующей формуле:
(4)
где - потенциал Ферми,- напряжение, связанное с наличием заряда поверхностных состоянийна конденсаторе, состоящем из электрода затвора, подзатворного диэлектрика и второго электрода (полупроводника) и имеющем емкость. При этом величина:
,
.
Здесь - постоянная Больцмана,абсолютная температура исследуемого твердого тела,- заряд электрона, взятый по модулю,- концентрация мелких доноров (акцепторов) в подложке,- собственная концентрация носителей заряда в подложке. Коэффициентв соотношении (4) следует формуле:
.
Семейство выходных ВАХ ПТИК представлено на рис. 2. Выход на пологую зависимость тока стока (в режиме насыщения) от величины приложенного напряжения сток-исток происходит в связи с тем, что образуется горловина (область вблизи стока, лишённая носителей заряда). При дальнейшем увеличении стокового напряжения имеет место уменьшение эффективной длины канала и возможно смыкание областей истока и стока. Причины данного поведения кроются в модуляции длины канала под действием напряжения и генерации- рекомбинации носителей заряда в обедненной области стока.
2.4 Паспортные параметры мдп и способы идентификации параметров математических моделей
В паспортах на полевые транзисторы с управляющим переходом характерные параметры ПТИК приводятся при использовании особо оговоренных действующих напряжениях между электродами и токах:
- пороговое напряжение (), которое указывается при определенном напряжении между стоком и истокоми величине тока стока;
- начальный ток стока, который указывается при определенном напряжении между стоком и истоком, при коротком замыкании затвора с истоком (напряжение между затвором и истоком при этом равно нулю);
-ток утечки затвора (при коротком замыкании стока с истоком), который указывается при определенном напряжении между истоком и затвором;
- сопротивление сток-исток в открытом состоянии (или выходная проводимость), которое указывается при определенном малом напряжении между стоком и истоком, обычно меньшем, чем 0,5 В, и коротком замыкании затвора с истоком;
- для частичного описания функционирования ПТИК на высоких частотах указываются две емкости: затвор-исток и затвор-сток.
Рис.2. Выходные ВАХ n- канального ПТИК
Идентификация параметров статической математической модели ПТУП производится на основе экспериментальных данных. При этом возможны два подхода – один основан на поиске решений систем уравнений, получаемых из функциональных зависимостей (1) и (2). Второй подход, реализуемый часто при производстве транзисторов, требует установления определенных граничных значений напряжений и токов и уже с их помощью производится получение параметров математических моделей. В данной лабораторной работе необходимо пользоваться первым подходом.