- •Антенны и распространение радиоволн
- •1. Антенная система из активного и пассивного вибраторов
- •1.1. Введение, теоретические сведения
- •1.2. Экспериментальная установка
- •1.3. Лабораторный эксперимент
- •1.4. Контрольные вопросы
- •1.5. Содержание отчета
- •2. Исследование спиральной антенны
- •2.1. Введение. Теоретические сведения
- •2.2. Экспериментальная установка
- •2.3. Проведение измерений
- •2.4. Контрольные вопросы
- •2.5. Содержание отчета
- •3. Измерение коэффициента усиления рупорной антенны
- •3.1. Теоретические сведения
- •3.2. Методика измерения коэффициента усиления антенны
- •3.3. Лабораторный макет
- •3.4. Проведение измерений
- •3.5. Обработка результатов измерений
- •3.6. Контрольные вопросы
- •3.7. Содержание отчёта
- •4. Исследование зеркальной антенны
- •4.1. Введение. Принцип действия зеркальной антенны
- •4.2. Теоретические сведения
- •4.2. Экспериментальная установка
- •4.3. Эксперимент
- •4.4. Обработка результатов эксперимента.
- •4.5. Контрольные вопросы
- •4.6. Содержание отчета
- •5. Влияние проводящей поверхности на диаграммы направленности антенн
- •5.1. Идея метода зеркальных изображений
- •5.2. Применение метода зеркальных изображений к антеннам, размещенным над проводящей плоскостью
- •5.3. Обобщение на антенны с произвольно поляризованным излучением
- •5.4. Интерференция полей антенны и ее зеркального изображения
- •5.5. Частные случаи
- •5.6. Интерференционные множители
- •5.7. Экспериментальная установка
- •5.8. Проведение измерений
- •5.9. Обработка результатов и теоретические расчеты
- •5.10. Контрольные вопросы
- •5.11. Содержание отчета
- •6. Исследование многоэлементной антенной решетки «волновой канал»
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Математическое описание вибраторных антенных решеток
- •6.2.1. Система связанных интегральных уравнений для многоэлементной антенной решетки вк
- •6.2.2. Решение системы связанных иу
- •6.2.3. Метод наведенных эдс
- •6.3. Описание лабораторного макета
- •6.4. Задание и указания к выполнению работы
- •6.4.1. Измерение ксв вк1 и вк2 в полосе частот 2…3 гГц
- •6.4.2. Экспериментальное исследование дн вк1 в е- и в н-плоскостях на заданных дискретных частотах из интервала 2.35…2.45 гГц
- •6.4.3. Расчет основных характеристик вк на основе электродинамического моделирования в специализированных пакетах
- •6.5. Требования к содержанию отчета
- •6.6. Контрольные вопросы
- •7. Исследование микрополосковой антенной решетки
- •7.1. Общие сведения
- •7.2. Математическое описание мпа
- •7.3. Лабораторный макет
- •7.4.4. Измерение отношения «вперед/назад»
- •7.4.5. Измерение дн по кросс поляризации (выполняется по указанию преподавателя)
- •7.4.6. Расчет характеристик мпар на основе моделирования в специализированном пакете
- •7.5. Требования к содержанию отчета
- •7.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Оглавление
- •Антенны и распространение радиоволн
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
7.2. Математическое описание мпа
Математическое моделирование МПА следует выполнять на основе решения интегрального уравнения относительно двумерного распределения токов по плоскости антенны с ядром, зависящим от свойств материала подложки, такой подход является наиболее точным и реализован в ряде стандартных пакетов (MWOffice,Agilentи др.). Вместе с тем, существует ряд упрощенных подходов к расчету характеристик МПА, позволяющих с инженерной точностью оценить основные полевые характеристики. Одним из таких подходов является метод, разработанный Дернеридом, сводящийся к аналогии между МПА и отрезком длинной линии, нагруженным с двух сторон на резистивные и емкостные элементы. Резистивные элементы эквивалентны потерям на излучение, двух щелей с длиной равной ширине МПАW (рис. 7.1,а), расположенных на расстоянии равном длине элементаL, емкостные элементы описывают краевой эффект (емкость между концом полосковой линии передачи и проводящим основанием).
Резонансная частота прямоугольной МПА зависит от геометрии антенны (прежде всего длины элементаL) и диэлектрической проницаемости подложки и определяется по формуле, гдес– скорость света;– эффективная длина излучателя;– эффективная диэлектрическая проницаемость, которая отличается от проницаемости материала подложки, поскольку поле МПА присутствует как в диэлектрике, так и в воздухе. Эти величины вычисляется по формулам:
;
.
Здесь – диэлектрическая проницаемость материала подложки;– длина элемента;– толщина подложки.
Увеличение диэлектрической проницаемости подложки при фиксированной геометрии элемента приводит к понижению резонансной частоты. В ряде случаев в целях уменьшения габаритов антенных систем прибегают к использованию материалов подложки с относительной диэлектрической проницаемостью от 2 до 10. Одновременно с этим уменьшение размеров МПА ведет к сужению полосы рабочих частот и уменьшению КНД.
Диаграмма направленности МПА определяется как: , гдеи– угломестная и азимутальная компоненты поля излучения:
;
;
. (7.1)
Здесь – угол места и азимутальный угол сферической системы координат;– волновое число;– длина волны в воздухе;W– ширина МПА;– постоянная, зависящая от амплитуды возбуждения.
Диаграмма направленности антенной решетки вычисляется в соответствии с теоремой перемножения как произведение множителя системы на ДН одного элемента:
(7.2)
(7.3)
где – число элементов в решетке по одной и другой координатам (в данном случае, общее число элементов в решетке равно произведению);– периоды антенной решетки (т. е. расстояние между центрами элементов) по координатамхиусоответственно, для исследуемой в работе АР.
7.3. Лабораторный макет
В зависимости от режима измерения в лабораторной работе используются две схемы макета. На рис. 7.6. представлена схема лабораторного макета для измерения КСВ, на рис. 7.7, – схема, на основе которой проводятся исследования полевых характеристик.
Рис.7.6
Рис. 7.7
Структура лабораторного макета аналогична используемой в работе № 6.
7.4. Программа работ
Основная программа:
1. Измерение КСВ МПАР в полосе частот 3.0…4.0 ГГц.
2. Экспериментальное исследование ДН МПАР.
3. Расчет ДН МПАР на основе приближенной модели.
Дополнительная программа:
1. Измерение отношения вперед/назад.
2. Измерение ДН по кроссполяризационному излучению.
3. Расчет основных характеристик МПАР на основе моделирования в специализированном пакете.
7.4.1. Измерение КСВ МПАР в полосе частот 3.0…4.0 ГГц
Описание настройки, калибровки приборов, а так же процедуры измерения МПАР не отличается от описания работы № 6, следует отметить, что анализ необходимо проводить в диапазоне 3…4 ГГц.
7.4.2. Экспериментальное исследование ДН МПАР
Провести измерение ДН в Е- или вН-плоскости на заданных дискретных частотах из интервала 3.3…4.0 ГГц (по заданию преподавателя), зарегистрировать уровень боковых лепестков (УБЛ) и ширину главного лепестка.
7.4.3. Расчет ДН МПАР на основе приближенной модели
Настоящий пункт выполняется на основе математической модели, приведенной в разд. 7.2.
Исходные данные к расчету:
1. Размеры одиночного элемента 31×46 мм.
2. Период в Е-плоскости 62 мм.
3
Рис. 7.8
4. Толщина диэлектрика 5 мм.
5. Относительная диэлектрическая проницаемостьподложки – 1,05 (пенополиэтилен).
Ниже представлены результаты расчета ДН МПА и МПАР на основе приведенных в разд. 7.2 соотношений для синфазной равноамплитудной МПАР той же геометрии, что и исследуемая в данной работе МПАР, но выполненной на подложке с диэлектрической проницаемостью 3 на частоте 2.6 ГГц.