- •Физические основы электроники
- •Краткие правила по технике безопасности
- •Правила выполнения лабораторных работ.
- •Работа в лаборатории
- •Отчет по работе
- •1 Исследование статических характеристик
- •Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Схема исследования
- •Задание к работе в лаборатории.
- •Указания к составлению отчета.
- •2 Исследование влияния температуры
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Содержание работы.
- •Задание к работе в лаборатории
- •5 Содержание отчета
- •3 Исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов с управляющим
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •Литература
- •3 Транзисторы, исследуемые в работе
- •4 Схемы исследования
- •5 Задание к работе в лаборатории
- •6 Указания к составлению отчета
- •4 Исследование статических характеристик
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Транзисторы, исследуемые в работе
- •4 Схемы исследования
- •5 Задание к работе в лаборатории
- •6 Указания к составлению отчета
- •5 Исследование статических характеристик биполярного транзистора
- •2 Подготовка к работе
- •Литература
- •3 Схемы исследования
- •4 Задание к работе в лаборатории
- •5 Содержание отчета
- •6 Исследование частотных свойств транзисторов
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •Литература
- •3 Предельно-допустимые параметры исследуемого транзистора
- •4 Схема исследования
- •5 Указания к работе в лаборатории
- •5.3.4 Как и в предыдущем случае установить частоту генератора равной
- •6 Указания к составлению отчета
- •Физические основы электроники.
1 Исследование статических характеристик
И ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ
Цель работы
Изучить устройство полупроводникового диода, физические процессы, происходящие в нем, характеристики, параметры, а также типы и применение полупроводниковых диодов.
2 Подготовка к работе
Изучить следующие вопросы курса:
Электрические свойства полупроводников. Собственные и примесные полупроводники.
Электронно-дырочный переход, его характеристики и параметры. Прямое и обратное включение p-n перехода.
Вольтамперные характеристики и параметры полупроводниковых диодов.
Влияние температуры на характеристики и параметры диодов.
Типы полупроводниковых диодов, их особенности и характеристики. Применение.
Ответить на следующие контрольные вопросы:
2.2.1. Что такое собственная и примесная проводимость полупроводника?
Объяснить образование электронно-дырочного перехода.
Что такое контактная разность потенциалов? Как она образуется?
Чем определяется толщина p-n перехода?
Нарисовать потенциальную диаграмму p-n перехода при включении его в прямом и обратном направлениях?
Привести классификацию и пояснить систему обозначений полупроводниковых диодов.
Рассказать об особенностях устройства выпрямительных и высокочастотных диодов.
Сравнить теоретическую и реальную вольтамперную характеристики диода.
Сравнить вольтамперные характеристики диодов, изготовленных из Ge, Si и Ga As.
Нарисовать и объяснить характеристику стабилитрона. Показать на ней рабочий участок.
Нарисовать и объяснить вольтамперные характеристики диода для двух различных значений температуры.
Нарисовать и объяснить вольтамперные характеристики диода; указать участки, которые соответствуют состоянию электрического и теплового пробоя.
Перечислить основные параметры полупроводниковых диодов
( номинальные и предельные).
2.2.14. Дать определение дифференциальных параметров и пояснить их физический смысл.
2.2.15. Что такое барьерная и диффузионная емкости диода? Дать определение.
2.2.16. Объяснить принцип действия и особенности применения полупроводниковых диодов различных типов: выпрямительных, высокочастотных, импульсных, стабилитронов, варикапов.
2.2.17. Нарисовать условные обозначения выпрямительных диодов,
стабилитронов, варикапов и схемы их включения.
Какими способами можно увеличить допустимую мощность,
рассеиваемую диодом?
3 Литература
Электронные, квантовые приборы и микроэлектроника. /Под редакцией Федорова Н.Д. -М: Радио и связь, 1998. Стр. 11-66.
Электронные приборы. /Под редакцией Шишкина Г.Г. -М.: Энергоатомиздат, 1989. Стр. 12-43, 54-88, 97-129.
Батушев В.А. Электронные приборы. -М.: Высшая школа, 1980. Стр. 29-85.
Справочники по полупроводниковым диодам.
Конспект лекций.
4 Схема исследования
На рис. 1 и 2 приведены схемы для снятия вольтамперных характеристик диода. Необходимость использования двух схем для снятия прямой и обратной ветвей вольтамперной характеристики вызвана тем, что напряжение на диоде при прямом включении значительно меньше, чем при обратном. Поэтому используются разные источники напряжения G1 и G2 для снятия прямой и обратной ветвей вольтамперной характеристики. Для ограничения резкого изменения тока последовательно с источниками включен резистор R1.
Рис. 1.
Рис. 2.
Отличие схем состоит также в том, что в первой схеме вольтметр подключен параллельно диоду, а во второй - источнику. Подключать вольтметр непосредственно к диоду во второй схеме не следует, так как ток, протекающий через вольтметр, соизмерим с обратным током диода и микроамперметр будет показывать сумму токов диода и вольтметра, давая большую погрешность.
Пределы измерения приборов следует выбирать с учетом максимально допустимых параметров исследуемых диодов.
На рисунке 3 приведена схема исследования диода на переменном токе. Источником переменного тока является генератор G, в качестве которого используется генератор Г3-111 или подобный. Форму подводимого напряжения, напряжения на диоде и на нагрузке наблюдают с помощью осциллографа.
Рис. 3.