- •Забезпечення якості та метрологія радіоелектронної апаратури методичні рекомендації до виконання лабораторних робіт
- •Забезпечення якості та метрологія радіоелектронної апаратури
- •До виконання лабораторних робіт
- •6.050902 "Радіоелектронні апарати"
- •Методичні рекомендації
- •Правила виконання лабораторних робіт у лабораторії
- •Інструкція з техніки безпеки при роботі в лабораторії
- •Лабораторна робота № 1 встановлення законів розподілу параметрів елементів і компонентів апаратури
- •1 Мета роботи
- •2 Загальні відомості
- •3 Прилади і обладнання
- •4 Порядок виконання роботи
- •5 Методика виконання роботи
- •7 Контрольні запитання
- •Дослідження способів визначення коефіциєнтів впливу методами теорії чутливості
- •4 Оцінка характеристик поля допуску
- •5 Опис лабораторної установки
- •6 Порядок виконання роботи
- •8 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 3 дослідження взаємозв'язку параметрів елементів і компонентів апаратури
- •1 Мета роботи
- •2 Загальні відомості
- •3 Прилади і обладнання
- •4 Порядок виконання роботи
- •5 Методика виконання роботи
- •7 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 4 дослідження експлуатаційних температурних допусків радіокомпонентів
- •1 Мета роботи
- •2 Загальні відомості
- •3 Прилади і обладнання
- •4 Підготовка до роботи
- •5 Порядок виконання роботи
- •5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 5 моделювання виробничої похибки складальних операцій
- •1 Мета роботи
- •2 Загальні відомості
- •3 Хід роботи
- •4 Методика моделювання в MicroCap
- •6 Контрольні питання
- •Список рекомендованої літератури
- •Додаток 1
- •Додаток 2
4 Оцінка характеристик поля допуску
Величину і положення поля допусків на осі параметра характеризують половина допуску і координата його середини (рис.2.1)
По вертикалі на рис.2.1 відкладена щільність розподілу вірогідності для відносного відхилення параметра.
При вирішенні задачі призначення допусків доводиться пов'язувати числові характеристики закону розподілу , , з характеристиками поля допусків і . Для цієї мети служать введені Н. А. Бородачевим коефіцієнти відносної асиметрії і відносного розсіювання .
|
Рис. 2.1 Щільність розподілу вірогідності |
Коефіцієнт відносної асиметрії показує, яку частину половини допуску складає систематичний зсув параметра щодо середини поля допуску:
Використовуємо поняття коефіцієнта розсіювання параметра
де − середньоквадратичне відхилення параметра.
Використовуючи вирази для і до , можна встановити зв'язок між математичним очікуванням, середньоквадратичним відхиленням закону розподілу параметра і характеристиками поля допуску:
(2.6)
В икористовуючи основне рівняння теорії чутливості, а також (2.6), неважко знайти, вважаючи параметри схеми некорельованими і, обчислюючи для обох частин (2.4), спочатку математичне очікування, а потім дисперсію:
Якщо врахувати, що при закон розподілу вихідного параметру практично не відрізняється від нормального, тобто має симетричну форму, і сумістити середину поля допуску на вихідний параметр з його центром групування, отримаємо , тому координата середини поля допуску визначиться виразом
(2.7)
При некорельованих параметрах елементів для половини допуску вихідного параметра отримуємо
(2.8)
Розглядаючи рис.2.1, неважко встановити, що , а отже, і залежать від гарантованої надійності забезпечення допуску , яка оцінюється вірогідністю того, що параметр елементу потрапляє в поле допуску. Ця вірогідність рівна площі під кривою щільності розподілу в межах допуску (на рис.2.1 заштрихована).
При нормальному розподілі для коефіцієнт відносного розсіювання (випадок, коли ). Коефіцієнти відносного розсіювання для резисторів, конденсаторів наведені в табл.2.1.
Таблиця 2.1
Клас точності елемента |
I |
II |
III |
|
1.0 |
1.37 |
2.1 |
Для більшості типів резисторів і конденсаторів можна прийняти . Тому для систем, у яких вихідний параметр залежить від параметрів резисторів, конденсаторів і інших пасивних елементів
(2.9)
Якщо поле допуску на елементи розташовується симетрично щодо "номіналу", то систематичний зсув параметрів відсутній, . Звідси
(2.10)
Наведені співвідношення для і дозволяють знайти основні характеристики поля допуску вихідного параметра, якщо відомі характеристики поля допуску параметрів елементів і задана величина гарантованої надійності забезпечення допуску.