- •Материал для подготовки к контрольной работе по кипр тпу
- •Часть 1
- •1. Введение. Основные термины и определения 3
- •2. Конструктивно-технологические основы тонкопленочной микроэлектроники 6
- •3. Конструктивно-технологические особенности толстопленочных гис (мсб) 24
- •Введение. Основные термины и определения
- •Конструктивно-технологические основы тонкопленочной микроэлектроники
- •Конструкция и основные элементы тонкоплёночных мсб и гис
- •Методы получения тонких пленок
- •Термическое вакуумное напыление
- •Катодное распыление
- •Катодное распыление по двухэлектродной схеме (диодное распыление)
- •Подложки гис и мсб
- •Методы формирования тонкопленочных структур
- •Масочный метод
- •Метод фотолитографии
- •Комбинированный процесс
- •Электронно-лучевая технология
- •Танталовая технология
- •Пассивные элементы тонкопленочных гис
- •Тонкопленочные резисторы
- •Тонкоплёночные конденсаторы
- •Т онкоплёночные индуктивности
- •Служебные элементы
- •Качество тонкоплёночных элементов и проблемы его обеспечения
- •Контроль толщины и скорости нанесения тонких пленок
- •Контроль внешнего вида
- •Контроль электрических параметров мсб (гис)
- •Конструктивно-технологические особенности толстопленочных гис (мсб)
- •Методы нанесения толстых плёнок с использованием трафаретной печати
- •Пассивные элементы толстопленочных гис (мсб)
- •Методы изготовления толстых пленок с помощью электролитического и химического осаждения
Комбинированный процесс
Данный метод основан на комбинации масочного метода и метода фотолитографии. Масочным методом формируют плёночные элементы простой конфигурации, а также элементы, изготовить которые фотолитографией невозможно (конденсаторы). Методом фотолитографии изготавливают сложные тонкоплёночные структуры.
Технологический процесс:
1. Нанесение резистивного слоя;
2. Нанесение слоя для внутрисхемных соединений;
3. Первая фотолитография;
4. Вторая фотолитография;
5. Напыление через маску нижних обкладок конденсатора;
6. Напыление диэлектрика;
7. Напыление верхних обкладок конденсатора;
8. Нанесение защитного слоя.
Электронно-лучевая технология
Метод применяется для формирования пассивной части ГИС и МСБ с помощью электроннолучевой гравировки. Сначала на керамику напыляют резистивные и проводящие слои, потом проводят фрезерование с помощью электронного луча. Метод позволяет автоматизировать процесс и целесообразен для получения резисторов высокой точности.
Танталовая технология
Пленки из тантала являются исходным материалом для формирования выводящих емкостных и резистивных элементов.
Преимущества:
резисторы и конденсаторы могут быть получены на основе одного материала, что упрощает технологию и стоимость;
при анодировании пленок тантала получается диэлектрик для конденсаторов, защитный слой для резисторов и, кроме того, возможна корректировка сопротивлений резисторов;
пленка Та2О5 обладает высокой диэлектрической прочностью, высоким значением диэлектрической проницаемости, невосприимчивостью к влажности и высокой добротностью;
танталовые резисторы и конденсаторы стабильны и надежны во времени;
тантал относительно других мало восприимчив к радиации;
На основе метода можно получить 3 вида конденсаторов:
Та – Та2О5 – Аи – высокая диэлектрическая прочность;
Та – Та2О5 – Ni – пониженная чувствительность к влаге;
Au – Та2О5 – Al – низкое сопротивление обкладок;
По танталовой технологии невозможно изготовление многослойных структур, так как при фотолитографии верхнего контактного слоя будет нарушена геометрия нижних танталовых слоев.
Формирование схемы по танталовой технологии:
нанесение тантала;
фотолитография (1);
нанесение алюминия (2);
фотолитография (3);
анодирование, покрытие фоторезистом (4);
осаждение алюминия методом термического испарения (5);
фотолитография – получение верхней обкладки конденсатора (6);
нанесение фоторезиста марки ФН-103 (защита);
фотолитография – нанесение защитного слоя;
Пассивные элементы тонкопленочных гис
Тонкопленочные резисторы
, где
0 – удельное объемное сопротивление;
R0 – удельное поверхностное сопротивление квадрата поверхности Ом/м2;
Кф – коэффициент формы;
Типичные параметры плёночных резисторов:
Тип резистора
|
Rо, Ом/Кв
|
Rтах, ОМ
|
Rтin, ОМ
|
, %
|
ТКС- 10-4/С°
|
R(t), % при 70°С на 1000ч
|
|
б/пдг
|
с/пдг
|
||||||
Тонко плёночный
|
10 - 30000
|
106
|
10
|
±5
|
±0,05
|
0,25
|
0,005
|
Толсто плёночный
|
5 - 106
|
108
|
0,5
|
±15
|
±0,2
|
2
|
0,05
|
Материал: хром, нихром, рений, тантал, нитрид тантала, кермет.
Стабилизация параметров резисторов осуществляется с помощью термообработки (отжига в вакууме или на воздухе) или термотоковой обработки. После проведения подобных операций устраняются дефекты тонкоплёночной структуры, так как структура распыляемого образца отличается от структуры напылённого резистора.
Необходимость подгонки обусловлена:
Погрешностью воспроизведения электрофизических и геометрических параметров плёночных резисторов.
Требуемой функциональной точностью выходных параметров ГИС и МСБ.
Различают групповую и индивидуальную подгонку. Групповая подгонка - метод, с помощью которого изменение электрофизических свойств плёнки осуществляется по всей рабочей зоне резистора. Для данного метода можно использовать термообработку электронным лучом и анодное травление.
Сущность индивидуальной подгонки заключается в изменении свойств и толщины плёнки (термотоковой обработкой, обработкой лучом лазера, анодным и химическим окислением), а также изменении контура самого резистора (с помощью вращающегося алмазного бора, электроискровым испарением и т.д.).
Распространение получила специальная форма резисторов, позволяющая осуществлять подгонку путем перерезания или замыкания контактных перемычек.