7. Порядок выполнения работы

1. Получить рентгенограмму у преподавателя.

2. Найти расстояния .

3. Рассчитать углы _i и sin²_i, заполнить таблицу 3.

Таблица 3

№ п/п	Li	i	sini	sin2i

4. Сравнить ряд значений Q_i с данными табл. 2, определить тип кристаллической структуры.

5. Найти индексы всех линий рентгенограммы.

6. Рассчитать постоянную решетки.

7. Отчет о лабораторной работе.

Отчет о лабораторной работе должен быть у каждого студента. В отчете должно содержаться следующее.

1. Краткий конспект описания, содержащий основные аналитические зависимости, используемые при проведении лабораторной работы и копия рентгенограммы (дебаеграммы).

2. Результаты расчетов индексов Миллера и постоянной решетки.

8. Требования техники безопасности.

При выполнении работы по настоящей методике существует опасность поражения электрическим током. Для предупреждения поражения электрическим током необходимо соблюдать «Инструкцию № 26-09 по охране труда при выполнении работ на электроприборах, электроустановках в помещениях кафедры КФН».

Контрольные вопросы

1. Дать определение кристалла. Что такое кристаллическая структура? Методы рентгеноструктурного анализа.

2. Дифракция рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Условия Лауэ. Закон Вульфа-Брэгга. Обратная решетка.

3. Эквивалентность условия Лауэ и закона Вульфа-Брегга. Решетки Бравэ.

4. Записать выражения для структурного фактора кубического кристалла с

а) простой кубической структурой,

б) объемоцентрированной структурой,

в) гранецентрированной структурой,

если в качестве решетки Бравэ выбрана ПК решетка.

5. Найти объем зоны Бриллюэна кубического кристалла с постоянной решетки a, если прямая решетка

а) простая кубическая,

б) объемоцентрированная кубическая,

в) гранецентрированная кубическая.

6. Описать форму ячейки Вигнера-Зейтца для кубического кристалла с ПК, ОЦК и ГЦК решетками.

7. Методы рентгеноструктурного анализа. Свойства обратной решетки.

8. Методы рентгеноструктурного анализа. Построение Эвальда.

9. Найти выражение для d_hkl в кубическом кристалле с ПК решеткой.

10. Как определить межплоскостное расстояние с наибольшей точностью.

11. Как определить тип решетки, пользуясь методом Дебая.

12. Отличие кристаллических тел от аморфных. Индексы Миллера. Их количество для кубических решеток и для гексагональных.

13. Решетка алмаза.

14. Закон Вульфа-Брегга. Метод Дебая-Шерера.

15. Структурный фактор. Принципиальная схема порошкового метода.

16. Три основных типа кубических решеток. Количество атомов в элементарной ячейке и координационное число (количество ближайших соседей).

17. Индексы Миллера? Схематично изобразить кристаллографические плоскости с индексами Миллера (100), (010), (111) и (110).

18. .Описать методику определения типа кристаллической структуры и параметра решетки, использованные в лабораторной работе.

16