Принцип действия
Управление интенсивностью выходящего электронного пучка производится изменением напряжения на венельте относительно катода. При увеличении напряжения на венельте поток выходящих электронов увеличивается, при снижении напряжения (потенциал венельта уменьшается относительно потенциала катода) — поток снижается.
Если напряжение венельта отрицательно, то на некотором расстоянии вне стакана происходит фокусировка электронного пучка (см. рисунок).
При некотором достаточно большом отрицательном напряжении на венельте (от единиц до десятков вольт) поток электронов становится равным нулю (запирание электронной пушки).
Применение
Цилиндр Венельта применяется в электронных пушках различных электронно-лучевых приборов, электронных микроскопах, рентгеновских трубках и в других приложениях, где необходим тонкий, хорошо сфокусированный пучок электронов и требуется управление его интенсивностью. Например, в кинескопах иосциллографических электронно-лучевых трубках он служит для управления яркостью точек формируемого на люминофорном экране изображения. В этих приборах венельт часто называют модулятором.
Наведіть розрахунок фокусної відстані магнітної лінзи виходячи з прискорюючої напруги
Сформулюйте закон Гаусса для лінз.
выражение, связывающее фокусные расстояния и передний и задний отрезки (формула отрезков или формула Гаусса):
задня f ′ і передня f фокусними відстанями; a’-відстань від лінзи до зображення, a- відстань від предмета до лінзи
| ||
|
|
Види аберрацій лінз та іх параметри. Які чинники визначають дію кожного виду?
Що такое дисторсія і яка її відмінність від решти аберраций?
Різновиди контрасту на електронно-мікроскопичному зображенні
Формування зображення зразка на екрані просвічувающого електронного мікроскопу (хід променів, лінзи)
Чим відрізняється електронна мікроскопія високої роздільної здатності (HR TEM) від звичайного режиму роботи ТЕМ?
Вакуумна система електронного мікроскопу. Вимоги до вакууму. Засоби відкачки та який граничний вакуум вони забезпечують.
Основні методи підготовки зразків для електронно-микроскопичного аналіза.
Призначення електронних лінз в мікроскопі. Функціі кожної з них
Формування світлопольного та темнопольного зображень в електронному мікроскопі просвічуючего типу.
Принципи розрахунку електронограмм та мікроелектронограмм. Модифікація формули Вульфа-Брегга для випадку розсіяння електронів високої енергіі. Особливості дифракціі електронів високої енергіі порівняно з дифракцією характеристичних рентгенівських променів
Поняття про різновиди дифракційного контрасту зображень.
Фактори, що визначають роздільну здатність просвічуючого електронного мікроскопу.
Принцип роботи скануючого електронного мікроскопу