- •Межатомное расстояние
- •1.4 Легированные полупроводники р-тип и n-тип проводимости.
- •1.5 Электронная зонная структура полупроводника.
- •1.6. Зависимость плотности состояний носителей заряда от энергии в полупроводниковом материале.
- •3.1 Неравновесные носители заряда.
- •Поверхностная безизлучательная рекомбинация через энергетические состояния поверхностных оборванных связей.
- •4.1 Бинарные полупроводниковые материалы.
- •4.2 Твердые растворы бинарных полупроводниковых соединений.
- •Уникальный твердый раствор Al X Ga 1-X As Во всем диапазоне изменения составов параметр решетки изменяется меньше чем на 0.5 %.
- •4.3 Четверные твердые растворы.
- •Жидкостная эпитаксия.
- •Газовая эпитаксия из металлорганических соединений и гидридов.
- •Молекулярно-пучковая эпитаксия.
- •5.1. Первое условие: создание инверсной заселенности в активной среде.
- •Рассматриваем:
- •5.5. При выполнении всех четырех условий создается полупроводниковый лазер
- •7.1 Гетеропереход.
- •Гетеропереходы ι рода.
- •7.3. Формирование p-n гетероперехода.
- •7.4 Ток через p-n гетеропереход ι рода.
- •Преимущества двойной лазерной гетероструктуры:
5.1. Первое условие: создание инверсной заселенности в активной среде.
Рассматриваем:
-
Спонтанное излучение
-
Стимулированное (вынужденное усиление)
-
Поглощение оптического излучения полупроводником.
Усилитель излучения возможен при избытке излучательных переходов в активной среде. → Избыток излучательных переходов возможен при избытке носителей заряда в зоне проводимости. →Условие избытка носителей заряда в зоне проводимости:
qB (fc (1-fv) – fv (1-fc) ) > 0 (38)
q – заряд, В – константа излучательной рекомбинации, fc – вероятность заселенности энергетического уровня с, fv – вероятность заселенности уровня v.
Если fc > f v, то условие инверсной заселенности достигнуто и для полупроводникового материала это условие принимает вид:
Fc – Fv > Ec - Ev > Eg (39)
F c – уровень ферми в зоне проводимости для электронов, Fv – уровень ферми в зоне валентной для дырок, E c – энергетический уровень дна зоны проводимости, E v – энергетический уровень потолка валентной зоны, Eg – ширина запрещенной зоны.
Концентрация инжектированных носителей заряда должна обеспечивать проникновение уровня Ферми в зону проводимости и валентную зону полупроводникового материала (выполнение условия вырождения полупроводникового материала).
Рис. 46. Примеры выполнения условия создания инверсной заселенности в полупроводниковом материале.
5.2. Второе условие: создание волновода в активной среде полупроводникового лазера.
В гомолазере за счет температурного градиента и градиента концентрации носителей заряда вдоль n-р перехода.
В гетеролазере за счет скачка показателя преломления полупроводниковых материалов широкозонного и узкозонного.
Волновод обеспечивает направленное распространение фотонов спонтанного излучения в активной среде, а после выполнения пороговых условий удерживает моды стимулированного (вынужденного) излучения.
5.3. Третье условие: Обратная связь для создания усилителя в активной среде. Резонатор Фабри-Перо. Образуется скалыванием полупроводникового кристалла по плоскости спаенности кристаллической решетки. На сколах кристалла (гранях резонатора Фабр-Перо) образуются зеркала R1 и R2 – коэффициент отражения зеркал резонатора.
5.4. Четвертое условие: Усиление (g) должно скомпенсировать все оптические потери внутренние и внешние:
g= αi+ 1/2L lg 1/ R1 R2 (40)
αi – внутренние оптические потери, L – длина резонатора Фабри – Перо, R1 и R2 – коэффициент отражения зеркал резонатора Фабри Перо.
Рис. 47 Иллюстрирует поглощение излучения (фотона) распространяющегося в полупроводнике(а); иллюстрирует излучательную рекомбинацию (б). В обоих случаях hν ≈ > Eg
Рис.48. Иллюстрирует спонтанное излучение (а) и возникновение когерентного фотона, стимулированного фотона , вынужденного фотона(б).
-
В первую очередь должны быть скомпенсированы потери на поглощение в самом полупроводниковом материале и наступило просветление полупроводникового материала. Которое характеризуется отсутствием возможности поглощения фотонов при распространении по волноводу активной среды.
Рис.49. иллюстрирует эту ситуацию стимулированные фотоны просветлили материал поглощаясь в нем, но их настолько много, что они могут распространяться дальше без поглощения, что приводит к усилению-рождению стимулированных фотонов.
-
Во вторую очередь должны быть скомпенсированы все внутренние оптические потери αi потери на рассеяние на неоднородностях материала (кристаллических), на неоднородностях гетерограниц полупроводниковых слоев и на свободных носителях заряда.
αi = αi кристалла + αi границ + αi свободные носители заряда (41)