Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
КурсоваяФХОТИЭиНЭ_сульфид ртути.docx
Скачиваний:
1
Добавлен:
30.12.2023
Размер:
651.22 Кб
Скачать

3.3. Оценка погрешности определения температуры кипения

Проведём расчёт относительных погрешностей нахождения температур кипения по формуле (17)

(17)

Таблица 3.3. Справочные и расчётные температуры кипения реагирующих компонентов

Компонент

Ткип.теор., К[3]

Ткип.расчёт., К

Hg

629,81

625,5

0,68

S2

717,75

833,5

16,13

Расчёт для обоих компонентов:

Погрешность для ртути мала, можем считать полученные данные достоверными. Такое немаленькое значение погрешности для компонента серы может быть связано с тем, что при расчёте изменения теплоёмкостей, при поиске данных C0p для заполнения таблицы 1, мы пренебрегаем влиянием температуры на теплоёмкость, берём эти значения как константы.

  1. Построение р-т-диаграмм

Термодинамические расчёты равновесий трех приведённых процессов позволяют построить первое приближение P-T-диаграмм для соединения АВ в виде линий трёхфазных равновесий в системе.

Для расчёта линии стехиометрии воспользуемся соотношением

(PHg)стех = 2∙(PS2)стех

Таблица 4 Значения десятичных логарифмов давлений компонентов

Т, К

lg(PHg)ГОГHg

lg(PHg)ГОГS

lg(PS2)ГОГHg

lg(PS2 )ГОГS

lg(PHg)стех

lg(PS2)стех

298

-5,502

-13,152

-29,076

-13,777

-13,260

-13,561

234

-8,430

-18,445

-39,941

-19,910

-18,833

-19,134

392

-2,958

-8,526

-19,579

-8,443

-8,398

-8,699

800

1,057

-0,968

-4,350

-0,300

-0,645

-0,946

1098

2,056

0,986

-0,439

1,701

1,324

1,023

Построение линии стехиометрии осуществляется по результатам решения системы уравнений:

П редставив данной выражение в более привычном виде, получим систему:

Р ешение такой системы:

Меняя значения a=lnKp1, получим значения стехиометрических давлений.

Для построения границы области гомогенности (ГОГ) со стороны ртути следует решить систему уравнений:

Представив данной выражение в более привычном виде, получим систему:

Решение такой системы:

Меняя значения a=lnKp1 и b=lnKp2, получим значения давлений на границе области гомогенности со стороны ртути.

Аналогично строится ГОГ со стороны серы:

Представив данной выражение в более привычном виде, получим систему:

Решение такой системы:

Меняя значения a=lnKp1 и c=lnKp3, получим значения давлений на границе области гомогенности со стороны серы.

Прологарифмируя решения трёх систем, получаем искомые значения, которые для удобства сведены в таблицу 4.

По полученным данным построим P-T-диаграммы для обоих компонентов:

n-тип проводимости

р-тип проводимости

Рис. 4.1. P-T-диаграмма сульфида ртути в координатах lg(PHg) – 1000/T

n-тип проводимости

р-тип проводимости

Рис. 4.2. P-T-диаграмма сульфида ртути в координатах lg(PHg) – 1000/T в увеличенном масштабе

n-тип проводимости

р-тип проводимости

Рис. 4.3. P-T-диаграмма сульфида ртути в координатах lg(PS) – 1000/T

n-тип проводимости

р-тип проводимости

Рис. 4.4. P-T-диаграмма сульфида ртути в координатах lg(PS) – 1000/T в увеличенном масштабе

Для ртути халькогенидов преобладающие типы дефектов – вакансии Hg, халькогенов (которым сейчас является сера), атомы Hg в междоузельном пространстве.[3] Первый дефект, из перечисленных, способствует p-типу проводимости. Остальные два дефекта – n-типу.

На графиках наглядно видно, что преобладающим в области гомогенности исследуемого сульфида является n-тип проводимости.

Соседние файлы в предмете Физико-химические основы технологии материалов электронной техники