Глава 3.

Выводы.

Для специалистов в различных областях электроники не является секретом, что основные параметры большинства полупроводниковых приборов (ПП) варьируются в достаточно широких пределах от экземпляра к экземпляру даже в рамках одного и того же типономинала и при близких условиях испытаний, не говоря уже об изменении характеристик каждого экземпляра в реальных условиях эксплуатации. Такая нестабильность ПП в процессе их производства и эксплуатации не позволяет без принятия специальных мер обеспечить высокую повторяемость параметров электронных устройств, в составе которых используются полупроводниковые изделия. На практике при разработке электронных схем проблему зависимости параметров изделия в целом от параметров используемых в нем ПП удается решить путем ввода некоторой избыточности по количеству активных и пассивных элементов для организации различного рода обратных связей. Тем не менее, существуют области, в которых просто невозможно обойтись без специализированных устройств для измерения параметров ПП и получения их вольт-амперных характеристик (ВАХ). Прежде всего, они крайне необходимы в научных и учебных лабораториях, работающих в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов при разработке новых изделий, где важно уже на начальном этапе строго контролировать параметры разрабатываемых устройств и исследовать влияние на них различных внешних факторов, например, климатических. Работа отбраковочных участков на производстве ПП также немыслима без приборного контроля за параметрами компонентов, в том числе, на испытательных стендах (климатических, термоциклических и т. п.). Еще одной областью, где применение приборов для измерения и графического отображения вольт-амперных характеристик ПП весьма эффективно, является проведение практических лабораторных работ в процессе изучения основ полупроводниковой техники. Использование таких приборов позволяет наглядно демонстрировать не только качественные зависимости в соответствии с теорией, но и различные особенности реальных изделий относительно соответствующих теоретических выкладок в этой области, что значительно повышает эффективность обучения. Особенно полезно сопоставление на одном графике зависимостей теоретических, заданных в аналитическом виде, и реально снятых для конкретного изделия.

Существующие отечественные серийно выпускаемые приборы для измерения параметров ПП не вполне подходят для решения этих задач. Обычно они представляют собой либо аналоговые (например, Л2-54), либо цифровые (например, серии Л2-6х, Л2-7х, Л2-8х) измерители основных параметров полупроводниковых приборов, причем без визуального отображения их вольт-амперных характеристик. Вместе с тем, хорошо известно, что ПП, удовлетворяющий требованиям по величине параметра в одной (или даже нескольких точках) может иметь аномальную в целом ВАХ, что, конечно же, свидетельствует о его неисправности. Кроме того, каждый из существующих приборов предназначен для измерения параметров только одного-двух классов полупроводниковых изделий. Так, обычно с помощью приборов для измерения параметров биполярных транзисторов можно также измерять параметры диодов и стабилитронов (Л2-54, Л2-68, Л2-69, Л2-70, Л2-76, Л2-77, Л2-79), но для измерения параметров полевых транзисторов приходится применять другие специализированные приборы, например, Л2-78 или Л2-80. Из отечественных приборов для снятия вольт-амперных характеристик в нашей стране наиболее известен Л2-83, а из импортных — приборы американской фирмы Tektronix, например, серии 370В. Таким образом, можно сказать, что в настоящее время не существует отечественного серийно выпускаемого универсального прибора, который бы позволял не только производить измерения параметров различных классов ПП, но и при этом визуально отображать их основные статические вольт-амперные характеристики. При этом желательно, чтобы в нем была предусмотрена возможность подключения к компьютеру для автоматизации процесса тестирования и упрощения документирования результатов контроля. И конечно, он должен быть максимально прост в управлении и недорог, чтобы его можно было широко использовать в учебном процессе в ВУЗах.

Список использованной литературы.

1. Электронный учебно-методический комплекс [Электронный ресурс] : Измерение ВАХ. — Режим доступа: http://vmg.pp.ua

2. СпецТехноРесурс [Электронный ресурс] : Измеритель Л2-77 — Режим доступа: http://s-t-r.ru/products/5849--2-77.aspx

3. СпецТехноРесурс [Электронный ресурс] : Измеритель Л2-78 — Режим доступа: http://s-t-r.ru/products/5850--2-78.aspx

4. СпецТехноРесурс [Электронный ресурс] : Измеритель Л2-80 — Режим доступа: http://s-t-r.ru/products/5851--2-80.aspx

5. Электроника [Электронный ресурс] : Электронный учебно-методический комплекс— Режим доступа: http://files.lib.sfu-kras.ru/ebibl/umkd/48/u_course.pdf

6. ОАО МНИПИ [Электронный ресурс] : ИППП-1— Режим доступа: http://mnipi.com/ru/produkt/izmeriteli-parametrov-poluprovodnikovyix-priborov/izmeriteliippp-1.html

7. Учебное пособие [Электронный ресурс]: Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий— Режим доступа: http://www.knigafund.ru/books/84470

8. Измерение параметров силовых полупроводниковых приборов в состоянии низкой проводимости [Электронный ресурс] : — Режим доступа: http://www.fetmag.mrsu.ru/2010-1/pdf/Measurement_in_low_conductivity.pdf

9. Каталог приборов [Электронный ресурс] : Измерители— Режим доступа: http://www.etalonpribor.ru/izmeriteli_parametrov_poluprovodnikovih_priborov/

10. Компоненты и технологии [Электронный ресурс] : Новые возможности измерения ВАХ— Режим доступа: http://kit-e.ru/articles/measure/2007_09_211.php

11. Элизприбор [Электронный ресурс]: Каталог— Режим доступа:http://www.elizpribor.ru/category/139.htm

12. Федеральный центр информационно-образовательных ресурсов [Электронный ресурс] : Измерение параметров и исследование характеристик компонентов электрических и электронных цепей с сосредоточенными параметрами, полупроводниковых приборов и интегральных микросхем— Режим доступа: http://srtv.fcior.edu.ru/catalog/meta/6/mc/discipline%20SPO/mi/6.220301.08.11/p/page.html

13. Актаком [Электронный ресурс] : Виртуальный измеритель вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов АСС-4211— Режим доступа: http://www.aktakom.ru/upload/kipis_articles/article_acc-4211.pdf

14. Современные проблемы создания и эксплуатации радиотехнических систем [Электронный ресурс] : Измеритель параметров нелинейных эквивалентных схем полупроводниковых приборов— Режим доступа: http://www.conf-2011.ru/conf.php?id=64

15. Кeithley [Электронный ресурс] : Лаборатории полупроводниковых приборов— Режим доступа: http://www.keithley.ru/re/sdl

16. Википедия [Электронный ресурс] : Характериографы— Режим доступа: http://ru.wikipedia.org/wiki/%D0%A5%D0%B0%D1%80%D0%B0%D0%BA%D1%82%D0%B5%D1%80%D0%B8%D0%BE%D0%B3%D1%80%D0%B0%D1%84

17. Каталог радиолюбительских схем [Электронный ресурс] : Характериографы— Режим доступа: http://www.irls.narod.ru/izm/osc/har.htm

18. Радио-библиотека схем [Электронный ресурс] : Измеритель параметров полупроводниковых приборов на PIC16F876— Режим доступа: http://dmitrstas.ucoz.ru/publ/chasy/izmerenie/izmeritel_parametrov_poluprovodnikovykh_priborov_na_pic16f876/9-1-0-139

19. Технический портал радиолюбителей России [Электронный ресурс]: Классификация радиоизмерительных приборов ГОСТ 15094-69— Режим доступа: http://www.cqham.ru/hpa/klass.htm

20. Планета радиолюбителя [Электронный ресурс] : Измеритель параметров полупроводниковых приборов на ATmega8— Режим доступа: http://grebenyuk-aa.ru/index.php/radioelectr/10-microcontrol/47-microcontrprib?showall=&start=4

21. Электронно - библиотечная система [Электронный ресурс] : Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий.— Режим доступа: http://www.iqlib.ru/book/preview/AC7CFADFD20B4AEBA6128FD0306CC230

Содержание.