Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Венгеровский, Л. В. Прецизионные полупроводниковые стабилизаторы

.pdf
Скачиваний:
7
Добавлен:
19.10.2023
Размер:
4.3 Mб
Скачать

Рис. 19. Принципиальная электрическая схема двухпозиционного регулятора

сторов, облегченный режим работы терморезистора, повышенный к. п. д. Выбор режимов балансного каскада можно произвести, используя формулы:

 

*в =

I f iE oR Tcos <*t-Ez (Я, +

R T)j ;

^ к э =

£<> +

E0RTp (#K + Rэ) cos

 

cos (01

 

m ~ [ R 3$—Ли) (/?[ + R r ) + R lR T,

где /Б

— ток

базы одного транзистора;

Uк э — напря­

жение коллектор—эмиттер транзистора; (3 — коэффи­ циент усиления в схеме с общим эмиттером; Е 0 — мак­ симальная-амплитуда импульсов; Ez —напряжение сме­ щения, определяемое по статической входной характе­ ристике транзистора; Нг1 — входное сопротивление транзистора при UK э = 0; R K, R 3 — сопротивления

в цепи коллектора и эмиттера соответственно; R T, Rj_ — сопротивления, соответствующие обозначениям на схеме.

Эти формулы выведены из условия линейно-кусочной аппроксимации входных характеристик транзисторов и имеют расхождение с экспериментальными данными не более 5%.

Ключевой усилитель мощности представляет собой [2] каскад 5, содержащий управляющий ключ и мосто­ вую схему из составных транзисторов различной прово­ димости и источника питания со средней точкой. Схема управляется от одного источника управляющего сиг­ нала, . роль которого выполняет транзисторный каскад на Т11.

Потенциал коллектора Т11 может принимать отно­ сительно общей заземленной точки, в соответствии с уп­ равляющим импульсом, либо положительное значение, равное U2, либо нуль. Если потенциал коллектора Т11 равен нулю, то к плечу Т13Т15 приложено напряже­ ние, равное Un, насыщающее это плечо, а к плечу Т12Т14 это же напряжение, но запирающее его. При равенстве потенциала коллектора Т11 положительному напряжению U2 к плечу Т13Т15 приложено напря­ жения (£/а— запирающее это плечо и отпирающее

61

плечо Т12Т14. Очевидно, что для надежной работы схемы должны выполняться неравенства:

 

 

ВцВл4 (Цг Uд) \

j

 

 

 

R 25 +

R 20

14Ц. нас ’

 

 

 

 

 

^13^15 ("д

^ Ш у Э. нас)

^ j

 

 

 

Я27

15К,- нас

 

 

 

 

U 2— t/ 15 зап

 

(£/а - С/д) /?25

 

t/д. пр

25 ~Ь RjO

 

 

 

 

 

' <''Лзк.0и^13_1_ ^15 ков’

 

 

R 27

 

 

 

 

 

" д

К- Э нас

^ 1А зап ^д . пр

 

 

 

Я,

 

^ ^ 1 2 К0в^[2~1" ^14 КОв’

где В 13,

Б 16,

В 12,

В 14 — статический коэффициент уси­

ления по току в схеме с общим эмиттером соответствую­ щих транзисторов, /,ЗК0в, Лбков’ Лгков’ ^мков на" чальный ток коллектора при максимальной температуре

среды соответствующих транзисторов;

/ 15к „ас, / 14 Кнас —

ток насыщения

коллектора; t/15aan,

t/ 143an— напря­

жение база—эмиттер запертых транзисторов

775 и Т14

соответственно;

t/д. пр — напряжение

диода

в прямом

направлении;

t/,1K3Hac— напряжение

коллектор —

эмиттер транзистора в режиме насыщения;

R25,

R26,

R27 —• сопротивления, соответствующие обозначениям на

схеме.

 

 

является

воз­

Отличительной особенностью каскада

можность управления им от одного источника, в то время как обычные мостовые схемы требуют для управления два синхронно работающих источника. СЭТ разработана для ПСН, имеющего полную погрешность выходного напряжения не более 0,05% за 1000 ч работы, и обеспе­ чивает следующие характеристики:

Температура статирования

................. . . .

30° С

Погрешность статирования

± 0 ,8 СС

Время выхода на режим с темпе­

9

мин

ратуры + 60 ° С .................................

 

Время выхода на режим

с темпе ­

мин

ратуры — 60° С .................................

 

8

Градиент по объему статируемого

не более 0,5 °С

объекта.................................................

 

62

Конструктивно регулятор выполнен с применением современных микросплавных кремниевых транзисторов КТ301Ж и КТ319В. В оконечном каскаде использованы транзисторы КТ801Б и 1Т403Е. Регулятор эксплуати­ руется совместно с термоэлектрическим термостатом, построенном на шести модульных термобатареях ТБМ-2М с оптимальным током 0,5 а и максимальной разностью температур 55° С при температуре горячего спая 30° С. Для теплосъема с горячего спая служит игольчатый ра­ диатор из дюралюминия с полной поверхностью 330 см2. Термобатареи одним спаем жестко закреплены на ра­

диаторе. На другой спай

 

 

помещен статируемый объ­

 

 

ект— этажерочные модули

 

 

ПСН в термораспределй*-

 

 

тельной обойме из красной

 

 

меди М3. Между

обоймой

 

 

и рабочим спаем,

а также

 

 

между обоймой и модулем

 

 

помещен тонкий слой теп­

 

 

лопроводной пасты КПТ-8,

 

 

служащей для улучшения

 

 

теплового контакта. Сверху

 

 

обойма

прижимается ко­

Рис 20. Принципиальная схе­

жухом из пенопласта, име­

ма * СЭТ с

использованием

ющим

толщину

стенок

транзисторного

нагревателя

не менее

10 мм. Статируе­

и микросхемы 1УТ401Б

мый спай внутри

кожуха

 

 

изолирован от радиатора поролоновой прокладкой на половину высоты термобатареи. Масса термостата не более 100 а.

В ПСН, к которым предъявляются менее жесткие требования к временной нестабильности и достаточно жесткие требования к температурной нестабильности, наиболее целесообразно применять СЭТ с температурой статирования выше верхнего предела рабочих темпера­ тур. Примером такой СЭТ может служить разработан­ ная авторами СЭТ с использованием полупроводнико­ вого нагревателя и микросхемы 1УТ 401 Б.

Принципиальная схема СЭТ приведена' на рис. 20. В этой схеме сигнал, пропорциональный изменению температуры, формируется и усиливается непосредст­ венно в датчике температуры, роль которого выполняет

63

линейная микросхема 1УТ 401 Б. Возможность исполь­ зования микросхемы 1УТ 401Б в качестве датчика тем­ пературы объясняется достаточно большим дрейфом по току указанной микросхемы. Рассмотрим более под­ робно работу микросхемы 1УТ 401Б как датчика тем­ пературы. Эквивалентная схема 1УТ 401Б для этого случая показана на рис. 21. Для приведенной эквива­ лентной схемы справедлива следующая система уравне­ ний:

^ В х 2

IО- С Т " I >

 

1

 

 

I

I

I

е&

 

*вх2 — 102

\

'гвх

 

I

_ I

__ ?е_ .

(55)

*вх1 — -*01

 

,

1

/ i?2 + e12 + e8— ^вх1^1 = 0;

 

^ В Ы Х ^ 1 2 IО. c R o . С

&Ё I B x l R l ’

 

и

— ЛеР.

 

 

Решая систему уравнений (55) относительно входного напряжения ее, получим:

е*= -

е12 (Ro. с ~f~ ^ 2) Н~ I M R o . с 4R1R2) — / 02R2R0. с

Ro.

R1R0. с/Свх Н~ ^ 2 ^ 0 . J r BX + R 2R,/rB

(56)

Максимальный температурный дрейф выходного на­ пряжения микросхемы пропорционален максимальному дрейфу входного напряжения ег.

'^'P7’rnax^B“x = ^ ДРгтахее-

Из формулы (56) видно, что наибольший температур­

ный дрейф при постоянной величине резистора

Р 0. с

будет иметь место при равенстве нулю второго

или

третьего слагаемого в числителе. Это условие можно

реализовать,

приняв в

схеме резисторы

R x = 0 или

R 2 = 0. Тогда выражения (56)

для

R x =

0

можно за­

писать так:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

^12 (1 ~f~ ^ г / ^ О . с)

^ 0 2 ^2

 

(57)

 

 

1 + (1 - \ - A) R2/R0

с

R 2/г ВХ

 

 

 

 

 

Так как

дрейфующие

параметры микросхемы е12 и

/ 02 входят

в

уравнение

(57) в числитель,

то

очевидно,

64

что максимум дрейфа будет при максимальном значе­ нии числителя и минимальном знаменателя. Откуда следует, что максимальный температурный дрейф мик­ росхемы получим при R 0. c -> со (т. е. при разомкнутом усилителе, без сопротивления обратной связи) и также при R z -+ со. Действительно, при R 0. c = со выражение 57) превращается в следующее:

-- 102^2

(58)

1 + ^ г /Лвх

 

Практически дрейфом микросхемы по напряжению

Lможно пренебречь по сравнению с дрейфом по току

дТ

д!

при больших значениях R 2, и тогда выражение

(58) для дрейфа ег запишется так:

ДРг^е

ДРг^02Гвх

(59)

1+ /'вх/^2

 

 

 

откуда при R 2 = со

 

 

ДРгтахев = Дрг^оагвх.

(60)

3 Л. В. Венгеровский

65

Выражением (60) определяется максимально возмож­ ный температурный дрейф микросхемы 1УТ 401, что дает возможность оценить максимальную чувствитель­ ность микросхемы к температуре при использовании ее в качестве датчика температуры:

d U пых

д !а ■А г,

(61)

дТ max дТ

Из формул (59) и (61) видно, что при большом значе­ нии коэффициента усиления А микросхемы и при до­ статочно большом входном сопротивлении гвх даже при

малых значениях дрейфа по току

можно получить

высокую чувствительность такого датчика к темпера­ туре.

Чувствительность микросхемы к температуре растет при увеличении сопротивления R2, включенного в цепь входа микросхемы, от нуля при R 2 — 0 до максималь-

ногоЗзначения

А гвх ПРИ R* ~ 00

по экспоненциаль­

ному

закону.

Практически

чувствительность близка

к максимальной при

R 2 >-5

гвх.

что максимальной

Из

формулы

(57)

следует также,

чувствительностью к температуре обладает схема в ра­ зомкнутом режиме без сопротивления обратной связи. При введенном сопротивлении обратной связи чувстви­ тельность растет от малых величин при малых значе­

ниях R 0_c и увеличивается до максимума при R 0 с =

°°»

так же, как и при увеличении R2, по экспоненциальному

закону. Приведенная принципиальная схема

СЭТ

(рис. 20) разработана с учетом приведенного выше ис­ следования. Микросхема использована в разомкнутом режиме. В качестве резистора R2 включен резистор ве­ личиной 510 ком (на схеме R5). Схема работает следую­ щим образом. При изменении температуры изменяются, т. е. дрейфуют, токи входов 9 и 10 микросхемы, при этом дрейф по току входа 9 создает на большом по величине резисторе R5 большое изменение напряжения. Дрейф же по току входа 10 почти не меняет падения напряже­ ния на резисторе R4, так как сопротивление Rt — 3 ком, т. е. много меньше R5. Разность потенциалов между вхо­ дами 9 и 10 усиливается самой микросхемой и управляет величиной тока базы регулирующего транзистора Т1,

66

а следовательно, и током коллектора 77. Выделяемая на 77 и R6 мощность идет на поддержание температуры статирования на заданном уровне. Резистор R6 является дополнительным регулирующим элементом; его обмотка выполнена из провода «Нихром» диаметром 0,07 мм, с полным сопротивлением 170 ом. R l, R2 и R3 служат для установки температуры статирования, обеспечивая начальное смещение микросхемы по току входа 10. С1 служит для корректирования микросхемы от паразит­ ной генерации. Питание микросхемы производится от источника напряжения постоянного тока ± 12,66 в.

Датчик температуры—микросхема 1УТ 401Б конструк­ тивно вмонтирован в красномедную обойму и имеет с ней хороший тепловой контакт. В эту же обойму помещен стабилитрон, служащий элементом ИЭС ПСН. С обой­ мой спаян корпус регулирующего транзистора Т1, а по периметру обоймы, с ее наружной стороны, разме­ щена обмотка нагревателя R6, также имеющая хороший тепловой контакт с обоймой. В качестве регулирующего элемента использован кремниевый транзистор КТ301ЖВся конструкция помещена в теплоизолирующий ко­ жух из пенопласта. СЭТ предназначена для работы в диа­

пазоне

температур + 60° С, температура статирования

+ 70° С.

Точность поддержания температуры статиро­

вания

+

3° С. Максимальное время выхода на режим

15 мин.

Масса СЭТ не более 20 а.

Г Л А В А Ч Е Т В Е Р Т А Я

СОБСТВЕННЫЕ ВОЗМУЩЕНИЯ, ИХ ВЛИЯНИЕ НА ПСН

ИСПОСОБЫ СНИЖЕНИЯ ЭТОГО ВЛИЯНИЯ

11.ВРЕМЕННАЯ НЕСТАБИЛЬНОСТЬ РЕЗИСТОРОВ

ИЕЕ УМЕНЬШЕНИЕ

Ксобственным возмущениям относят шумыТи изме­ нения параметров элементов ПСН во времени. Влияние шумов в основном сказывается в цепи обратной^связи ПСН, так как для обеспечения точного рёгулирования выходного напряжения необходимо иметь достоверную информацию о его истинной величине, а шумы, смеши­ ваясь с сигналом, несущим полезную информацию, мас­ кируют его. Изменения параметров элементов ПСН во

3*

Б7

времени сказываются на выходном напряжении ПСН еще более существенно. Так, изменение параметров ЗУ во времени эквивалентно изменению задающего воздей­ ствия.

Рассмотрим элементы ПСН — источники возмуще­ ний, влияющие на выходное напряжение ПСН.

Временной дрейф резисторов является результатом необратимых изменений, происходящих в них с тече­ нием времени вследствие разнообразных физико-хими­ ческих процессов. Временной дрейф имеет сложный ха­ рактер, зависящий как от типа резистора, его конструк-

Рис. 22. Старение сопротивлений типа ВС = 0,5 в полевых ус­ ловиях

/ — 0,6 Мом; / / .— 10 Мом; при влажности 98%; I I I — 10 Мом

ции и технологии изготовления, так и от условий, в ко­ торых он эксплуатируется или находится. В непроволоч­ ных резисторах дрейф появляется сравнительно быстро. Дрейф резисторов наблюдается не только тогда, когда они находятся под действием напряжения или тока, но и когда они не работают, а хранятся в складских по­ мещениях. Разница заключается лишь в скорости дрейфа. Поэтому при учете временного дрейфа резисто­ ров следует учитывать не только время их работы в схеме ПСН, но и время хранения ПСН, т. е. полного срока существования. Действие времени на резисторы может усиливаться или ослабляться в зависимости от других факторов.

68

На рис. 22 показам характер старения сопротивле­ ний типа ВС = 0,5 в различных условиях [18]. Из рисунка видно, что внешняя среда и условия эксплуа­ тации оказывают весьма существенное влияние на вре­ менной дрейф резисторов. Даже параметры резисторов одного типа могут иметь различные дрейфы, если усло­ вия их эксплуатации различны. Это обстоятельство зна­ чительно затрудняет возможность учета временного дрейфа элементов при проектировании ПСН.

Проволочные резисторы обладают более высокой стабильностью при воздействии на них различных фак­ торов. Соответственно и характер изменения парамет­ ров во времени проволочных резисторов имеет меньший разброс. Особенно это касается проволочных резисторов одного типа, эксплуатирующихся в одинаковых усло­ виях.

Временную нестабильность сопротивления, вызван­ ную необратимыми изменениями в резисторе, принято характеризовать коэффициентом нестабильности.

5R = Rt0~ Ri -100, %,

RiQ

где бR — коэффициент нестабильности; R/o, R t — зна­ чение сопротивления соответственно в моменты времени

t 0 и t.

Проволочные резисторы в зависимости от конструк­ ции и условий эксплуатации в большинстве случаев мо­ гут иметь коэффициент нестабильности, равный 0,01 — 0,5% за 1000 ч [18].

Нестабильность сопротивления проволочных резисто­ ров обусловлена физико-химическими явлениями, про­ исходящими в резистивных проволоках, контактных

узлах и других

материалах и деталях резисторов, и

в значительной

степени зависит от конструкции ^ т е х ­

нологии изготовления резисторов. Несмотря на то, что изучением причин нестабильности резистивных прово­ лок занимаются очень давно, до сих пор нет общеприня­ той точки зрения на процессы стабильности сопротив­ ления. Однако анализ результатов исследований этого вопроса позволяет установить некоторые причины вре­ менного дрейфа [18].

Резистивные, сплавы представляют собой двойные или тройные твердые-растворы, составляющие которых рас­

69

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ