Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лекции Чернозубова. Группы Р и РС, 6 и 7 семестр.docx
Скачиваний:
46
Добавлен:
20.05.2014
Размер:
12.37 Mб
Скачать
  1. 400-600°С

  2. SiO2 (тв.) + 4HF (г.) SiF4 (г.) + 2H2O (г.)

  3. 100-300°С

  4. Тема 6

  5. Литография.

  6. Оригиналы и фотошаблоны.

  7. Оригинал - это технологический чертеж каждого слоя ИМС, увеличенный во много раз (до 300 раз). Предназначен для изготовления фотошаблонов методами последовательного уменьшения и мультипликации.

  8. Виды рабочего фотошаблона.

  1. Имульсионный фотошаблон. Он легко стирается.

  2. Металлизированный фотошаблон. Имеет отражательную фотоспособность до 50-60% (зеркало), что приводит к размытию края при экспонировании, уменьшение точности изготовления элементов.

  1. Цветной фотошаблон.

  1. Фотолитография – процесс создания защитной маски из светочувствительного материала, которая необходима для локальной обработки поверхности нижележащих слоев при формировании ИМС.

  2. Фоторезисты – это светочувствительные материалы, которые становятся стойкими или разрушаются под воздействием ультрафиолетового света.

  3. Требования к фоторезистам.

  1. Светочувствительность.

  2. Кислотоустойчивость.

  3. Разряжающая способность.

  4. Вязкость.

  5. Смачиваемость.

  1. и так далее…

  2. .

  3. Светочувствительность: .

  4. Разряжающая способность – это способность фоторезитора передавать максимально возможное количество линий защитного рельефа, разделенных промежутками такой же ширины на одном миллиметре подложки.

  5. .

  6. Основные операции процесса фотолитографии.

  7. Методы нанесения фоторезиста.

  1. Центрифугирование.

  1. Достоинства:

  • За 20-30 секунд получается 0,5-20 мкм.

  • 500-8000 .

  • Точность - ±10%.

  1. Метод пульверизации (напыление (электростатическое напыление)).

  1. Достоинства:

  • Точность - ±5%.

  • Широкий диапазон толщин.

  • Отсутствие проколов и пор.

  1. Погружением или поливом.

  2. Сухой пленочный фоторезист.

  1. Сушка.

  2. Назначение сушки – полное удаление растворителя с фоторезиста.

  3. Три вида сушки:

  1. Термическая сушка (сушка сверху (образуется корка)

  • Температура – 80-120°С.

  • Время - 10 минут.

  1. Инфракрасная сушка (разогревается подложка).

  • Температура – регулируемая.

  • Время – 5 минут.

  1. СВЧ сушка (разогревается подложка).

  • Температура – нет.

  • Время – 1 секунда.

  1. Линия-линия.

  1. Метод совмещения с контролируемым зазором.

  1. Точка-точка.

  1. Методы:

  1. Микроконтрольный.

  2. Микрозазорный метод экспонирования.

  3. Метод проекционной печати.

  1. Рентгенолитография.

  2. Рентгеношаблон

  3. Недостатки:

  • Человеческий фактор.

  • Высокая стоимость элементов (золото).

  1. Негативный фоторезист – в нем растворяются незаполяризованные (на которые не воздействовал ультрафиолет) участки.

  2. Позитивный фоторезист – происходит деполяризация света.

  3. Задубливание и вторая сушка.

  4. Существует химическое и термическое задубливание.

  5. Негативный фоторезист – 200-220°С: 30-40 минут.

  6. Позитивный фоторезист – 160-170°С: 1 час.

  7. Тема 7

  8. Диффузия.

  9. Три основных достоинства диффузии.

  1. Можно изготавливать элементы от 0,00n мм2 до m см2 (n и m = 1 – 9).

  2. Контроль и регулирование того, чтобы получить .

  3. Процесс старый. Основополагающий, с минимальным разбросом электрических параметров.

  1. Три механизма диффузии.

  1. Диффузия по вакансиям.

  2. Между узлами.

  3. Путем взаимного замещения атомов.

  1. На скорость диффузии существенное влияние оказывает дислокация.

  2. Законы Фика.

  1. Первый закон:

    1. Скорость диффузии атомов одного вещества в другом при постоянном (во времени) потоке.

    2. Градиент концетрнации постоянен.

  1. или

  1. Второй закон:

  1. Определяет скорость накопления растворенной примеси в любой плоскости перпендикулярной направлению диффузии.

  2. –основное уравнение диффузии.

  1. h<<dпластины

  2. xp-n<<h

  1. Диффузия бесконечного источника.

  2. Коэффициент диффузии зависит от:

  1. Температуры – T.

  2. Энергии связи – H.

  3. Концентрации вакансий.

  4. Исходные постоянные решетки.

  5. Частоты колебаний атомов решетки.

  1. Коэффициент диффузии - .

  2. Условие диффузии из конечного источника.

  1. В тонком приповерхностном слое (d) полупроводниковой пластины создается избыточная концентрация (N0=избыточная). Этот процесс носит название - загонка примесей.

  1. Поверхность пластины окисляется слоем SiO2.

  2. Идет перераспределение или по другому – разгонка примесей.

  1. Распределение донорной присемени в монокристалле p-типа.

  2. Техника проведения диффузии.

  3. Температура, при которой разрушается кварц – 1000 - 1300°С.

  4. Методы:

  1. Диффузия в замкнутом объеме.

  1. Диффузионные процессы в открытой трубе (в потоке газоносителя).

  1. Диффузия по методу полуоткрытой трубы. Метод с использованием ограниченного источника.

  1. I: «Загонка» примеси

  2. II: «Разгонка» примеси.

  3. Типы диффузантов.

  4. Диффузант – это вещество, используемое в качестве примеси при диффузии.

  5. Требования к диффузантам:

  1. Обеспечить нужный тип проводимости.

  2. Обладать высокой степенью чистоты.

  1. Для p: Au, Fe, Zn – вредные примеси.

  2. Для n: Li – вредные примеси.

  1. Не нужно образовывать нежелательные соединения с кремнием.

  2. Не должно быть токсичным и дефицитным.

  1. P – фосфор.

  1. Pкрасный: твердый источник, температура источника во время диффузии 200 - 300 °С, температура диффузии 1000 – 1300 °С.

  1. Достоинства: низкая концентрация примесей.

  1. P2O5: твердый источник, температура источника 200 – 300 °С, для высоких концентраций.

  2. POCl3: жидкий источник.

  1. Достоинства: любое значениеN0, система не загрязняется, хорошая повторяемость.

  1. PH3: жидкий источник.

  1. Акцепторная примесь:

  1. B2O3: твердый источник, температура

  2. BBr3: жидкий источник, температура 10 – 30 °С, наиболее активно разлагается при температуре 920 – 1200 °С.

  3. B2H6: температура источника – комнатная, очень ядовит.