- •Оглавление
- •Тема 1 1
- •Тема 2 4
- •Тема 1 Характеристика производства мэи.
- •Тема 2
- •Элементы конструкций мэи.
- •Тема 3
- •Тонкопленочные проводники и контактные площадки.
- •Тема 4
- •Эпитаксия.
- •Тема 5
- •Пленки на Si и других полупроводниках.
- •Тема 6
- •Литография.
- •Тема 7
- •Диффузия.
- •Тема 8
- •Тонкопленочная технология.
- •Тема 9
- •Влияние технологических факторов на свойства тонкопленочных элементов.
- •Тема 10
- •Методы ионного распыления.
- •Тема 11
- •Технология производства биполярных имс с диодной изоляцией элементов (обратно-смещенным p-n-переходом).
- •Тема 12
- •Технология изготовления мдп-микросхем.
- •Тема 13
- •Технологические процессы изготовления плат гибридных интегральный микросхем (гимс), гибридных больших интегральных схем (гбис) и микросборки (мс).
- •Тема 14
- •Толстопленочная технология.
400-600°С
SiO2 (тв.) + 4HF (г.) SiF4 (г.) + 2H2O (г.)
100-300°С
Тема 6
Литография.
Оригиналы и фотошаблоны.
Оригинал - это технологический чертеж каждого слоя ИМС, увеличенный во много раз (до 300 раз). Предназначен для изготовления фотошаблонов методами последовательного уменьшения и мультипликации.
Виды рабочего фотошаблона.
Имульсионный фотошаблон. Он легко стирается.
Металлизированный фотошаблон. Имеет отражательную фотоспособность до 50-60% (зеркало), что приводит к размытию края при экспонировании, уменьшение точности изготовления элементов.
Цветной фотошаблон.
Фотолитография – процесс создания защитной маски из светочувствительного материала, которая необходима для локальной обработки поверхности нижележащих слоев при формировании ИМС.
Фоторезисты – это светочувствительные материалы, которые становятся стойкими или разрушаются под воздействием ультрафиолетового света.
Требования к фоторезистам.
Светочувствительность.
Кислотоустойчивость.
Разряжающая способность.
Вязкость.
Смачиваемость.
и так далее…
.
Светочувствительность: .
Разряжающая способность – это способность фоторезитора передавать максимально возможное количество линий защитного рельефа, разделенных промежутками такой же ширины на одном миллиметре подложки.
.
Основные операции процесса фотолитографии.
Методы нанесения фоторезиста.
Центрифугирование.
Достоинства:
За 20-30 секунд получается 0,5-20 мкм.
500-8000 .
Точность - ±10%.
Метод пульверизации (напыление (электростатическое напыление)).
Достоинства:
Точность - ±5%.
Широкий диапазон толщин.
Отсутствие проколов и пор.
Погружением или поливом.
Сухой пленочный фоторезист.
Сушка.
Назначение сушки – полное удаление растворителя с фоторезиста.
Три вида сушки:
Термическая сушка (сушка сверху (образуется корка)
Температура – 80-120°С.
Время - 10 минут.
Инфракрасная сушка (разогревается подложка).
Температура – регулируемая.
Время – 5 минут.
СВЧ сушка (разогревается подложка).
Температура – нет.
Время – 1 секунда.
Линия-линия.
Метод совмещения с контролируемым зазором.
Точка-точка.
Методы:
Микроконтрольный.
Микрозазорный метод экспонирования.
Метод проекционной печати.
Рентгенолитография.
Рентгеношаблон
Недостатки:
Человеческий фактор.
Высокая стоимость элементов (золото).
Негативный фоторезист – в нем растворяются незаполяризованные (на которые не воздействовал ультрафиолет) участки.
Позитивный фоторезист – происходит деполяризация света.
Задубливание и вторая сушка.
Существует химическое и термическое задубливание.
Негативный фоторезист – 200-220°С: 30-40 минут.
Позитивный фоторезист – 160-170°С: 1 час.
Тема 7
Диффузия.
Три основных достоинства диффузии.
Можно изготавливать элементы от 0,00n мм2 до m см2 (n и m = 1 – 9).
Контроль и регулирование того, чтобы получить .
Процесс старый. Основополагающий, с минимальным разбросом электрических параметров.
Три механизма диффузии.
Диффузия по вакансиям.
Между узлами.
Путем взаимного замещения атомов.
На скорость диффузии существенное влияние оказывает дислокация.
Законы Фика.
Первый закон:
Скорость диффузии атомов одного вещества в другом при постоянном (во времени) потоке.
Градиент концетрнации постоянен.
или
Второй закон:
Определяет скорость накопления растворенной примеси в любой плоскости перпендикулярной направлению диффузии.
–основное уравнение диффузии.
h<<dпластины
xp-n<<h
Диффузия бесконечного источника.
Коэффициент диффузии зависит от:
Температуры – T.
Энергии связи – H.
Концентрации вакансий.
Исходные постоянные решетки.
Частоты колебаний атомов решетки.
Коэффициент диффузии - .
Условие диффузии из конечного источника.
В тонком приповерхностном слое (d) полупроводниковой пластины создается избыточная концентрация (N0=избыточная). Этот процесс носит название - загонка примесей.
Поверхность пластины окисляется слоем SiO2.
Идет перераспределение или по другому – разгонка примесей.
Распределение донорной присемени в монокристалле p-типа.
Техника проведения диффузии.
Температура, при которой разрушается кварц – 1000 - 1300°С.
Методы:
Диффузия в замкнутом объеме.
Диффузионные процессы в открытой трубе (в потоке газоносителя).
Диффузия по методу полуоткрытой трубы. Метод с использованием ограниченного источника.
I: «Загонка» примеси
II: «Разгонка» примеси.
Типы диффузантов.
Диффузант – это вещество, используемое в качестве примеси при диффузии.
Требования к диффузантам:
Обеспечить нужный тип проводимости.
Обладать высокой степенью чистоты.
Для p: Au, Fe, Zn – вредные примеси.
Для n: Li – вредные примеси.
Не нужно образовывать нежелательные соединения с кремнием.
Не должно быть токсичным и дефицитным.
P – фосфор.
Pкрасный: твердый источник, температура источника во время диффузии 200 - 300 °С, температура диффузии 1000 – 1300 °С.
Достоинства: низкая концентрация примесей.
P2O5: твердый источник, температура источника 200 – 300 °С, для высоких концентраций.
POCl3: жидкий источник.
Достоинства: любое значениеN0, система не загрязняется, хорошая повторяемость.
PH3: жидкий источник.
Акцепторная примесь:
B2O3: твердый источник, температура
BBr3: жидкий источник, температура 10 – 30 °С, наиболее активно разлагается при температуре 920 – 1200 °С.
B2H6: температура источника – комнатная, очень ядовит.