Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
1.doc
Скачиваний:
6
Добавлен:
14.11.2019
Размер:
504.32 Кб
Скачать

Электронная структура поверхности твердых тел (Тест 4)

  1. Какова природа поверхностных электронных состояний (ПЭС)?

  2. Изобразите, к каким изменениям в зонной структуре ограниченного кристалла приводит появление поверхностных электронных состояний?

  3. Изобразите зонную схему энергетических состояний электронов в бесконечном кристалле и кристалле с поверхностью.

  4. Изобразите зонную диаграмму металла и полупроводника вблизи их границы с вакуумом.

  5. Какой из приведенных рисунков (левый или правый) описывает решеточный потенциал полубесконечного кристалла с поверхностью? Обоснуйте свой выбор.

  1. Дать качественное описание одномерной модели электронной структуры кристалла с поверхностью.

  2. К каким последствиям в энергетическом спектре объемного (бесконечного) кристалла приводит появление поверхности?

  3. Чем отличаются поверхностные состояния Шокли и Тамма?

Электронная структура поверхности полупроводников Тест 5

  1. Почему модель свободных электронов Зоммерфельда, в которой пренебрегают потенциальной энергией электронов, не применима для описания ограниченных кристаллов с поверхностью? Какое дополнение необходимо в этом случае вводить в данную модель?

  2. В модели "желе", в которой учитыва­ется взаимодействие электронной и ионной подсистем, дис­кретные ионные остовы кристаллической решетки металла искусст­венно заменяются равномерно распределенным по объему положи­тельным зарядом такой же величины. На чем основана возможность такого упроще­ния ?

  3. Почему модель "желе" не справедлива для металлов с концен­трацией электронов n > 2,51022 см-3, в которых среднее расстояние между свободны­ми электронами и ионами решетки мало?

  4. Почему модель "желе" адекватна только для щелочных металлов с достаточно низкой электронной плотностью (n < 2,51022 см-3)?

  5. Что такое "фриделевские осцилляции"?

  6. Дайте описание причин и характера изгиба энергетических зон полупроводникового кристалла вблизи поверхности.

  7. Что такое область простанственного заряда вблизи поверхности полупроводника. Причины ее возникновения?

  8. К каким последствиям приводит то, что в полупроводниках на ПЭС может быть локализован электрический заряд.

  9. При наличии ПЭС в полупроводниках, ввиду электронейтральности кристалла в целом, в его подповерхностной области накапливается "компенсирующий" за­ряд противоположного знака. К каким последствиям это приводит?

  10. Запишите выражение для безразмерного параметра , характеризующий степень не­собственности полупроводникового материала. Чему равна эта величина для собственного полупроводника?

  11. Запишите выражение для безразмерного параметра , характеризующий степень не­собственности полупроводникового материала n-типа проводимости.

  12. Запишите выражение для безразмерного параметра , характеризующий степень не­собственности полупроводникового материала p-типа проводимости.

  13. Нарисуйте схематически распределение электрического поля в области пространственного заряда у поверхности полупроводника при наличии поверхностных состояний.

  14. Нарисуйте схематически распределение электростатического потенциала вблизи поверхности полупроводника при наличии поверхностных состояний.

  15. Запишите соотношение для безразмерного и размерного объемного потенциала, характеризующего изгиб зон у поверхности полупроводника.

Тест 6

  1. Что такое Дебаевская длина экранирования для полупроводника?

  2. Какому типу полупроводника – собственного или несобственного - соответствует соотношение LD = (okT/2q2n)1/2 для дебаевской длины экранирования?

  3. Объясните, почему дебаевская длина экранирования LD для металла всегда будет существенно меньше, чем для полупроводника.

  4. Рассчитайте величину дебаевской длины экранирования LD для несобственного кремния n-типа ( = 11,9; n = 51018 см-3) при комнатной температуре исходя из соотношения

LD = (okT/2q2n)1/2.

Объясните, почему LD для металла будет существенно меньше.

  1. Рассчитайте величину LD для несобственного кремния n-типа ( = 11,9; n = 51017 см-3) при комнатной температуре исходя из соотношения

LD = (okT/2q2n)1/2.

Объясните, почему LD для диэлектрика будет существенно выше.

  1. Рассчитайте величину LD для несобственного кремния n-типа ( = 11,9; n = 51016 см-3) при комнатной температуре исходя из соотношения

LD = (okT/2q2n)1/2.

  1. Объясните, почему LD для металла будет существенно меньше, чем в полупроводнике.

  2. Объясните, почему дебаевская длина экранирования LD для полупроводника всегда будет существенно меньше, чем для диэлектрика (при одних условиях измерения).

  3. Сформулируйте физический смысл термина дебаевская длина экранирования LD. Расположите по порядку возрастания LD металл, диэлектрик и полупроводник.

  4. Запишите соотношение для дебаевской длины экранирования для собственного полупроводника.

  5. Имеются два полупроводника (например, кремний) – собственный и несобственный. В каком из полупроводников дебаевская длина экранирования будет больше и почему. Условия измерения одни и те же.

  6. Запишите соотношения для электрического поля в ОПЗ и на поверхности полупроводника.

Тест 7

  1. Н арисуйте справа от рисунка схему изгиба зон, возникающих в полупроводнике р-типа, на поверхности которого возникают положительно заряженные ПЭС. Обоснуйте рисунок и опишите характер изгиба зон (обеднение, обогащение или инверсия).

  1. Н арисуйте справа от рисунка схему изгиба зон, возникающих в полупроводнике р-типа, на поверхности которого возникают отрицательно заряженные ПЭС. Обоснуйте рисунок и опишите характер изгиба зон (обеднение, обогащение или инверсия).

  1. Н арисуйте справа от рисунка схему изгиба зон, возникающих в полупроводнике р-типа, на поверхности которого возникают отрицательно заряженные ПЭС.

  1. Нарисуйте справа от рисунка схему изгиба зон, возникающих в полупроводнике n-типа, на поверхности которого возникают положительно заряженные ПЭС. Обоснуйте рисунок и опишите характер изгиба зон (обеднение, обогащение или инверсия).

  1. Н арисуйте справа от рисунка схему изгиба зон, возникающих в полупроводнике n-типа, на поверхности которого возникают отрицательно заряженные ПЭС. Обоснуйте рисунок и опишите характер изгиба зон (обеднение, обогащение или инверсия).