Министерство образования и науки Российской Федерации

ФEДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ «САРАТОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

ИМЕНИ Н.Г. ЧЕРНЫШЕВСКОГО»

УТВЕРЖДАЮ

Зав. кафедрой материаловедения, технологии и управления качеством,
д.ф.-м.н., профессор
уч. ст., уч. зв.
			С.Б. Вениг
подпись, дата				иниц.,фамилия

Отчет об учебной ознакомительной практике электронная микроскопия

студентки 2 курса 221 группы

направления «Материаловедение и технологии материалов»

факультета нано- и биомедицинских технологий

Филоненко Татьяны Вадимовны

продолжительность 2 недели, 02.07.2012- 15.07.2012

Руководитель практики от университета,

доцент, к.ф.-м.н.				Е.Г. Глуховской
должность, уч. ст., уч. зв.		личная подпись, дата		инициалы, фамилия

Руководитель практики от организации (учреждения, предприятия),

должность, уч. ст., уч. зв.		личная подпись, дата		инициалы, фамилия

Саратов 2012

Содержание

Введение 3

1 Основные характеристики ЭМ……………………………………………………4

2 Принцип действия ЭМ…………….….……...………………………………..…. 6

2.1 Просвечивающий электронный микроскоп……………………………………6

2.2 Сканирующий электронный микроскоп……………………………………….7

3 Методы электронной микроскопии………………………………………………8

3.1 Метод реплик…………………………………………………………………….8

3.2 Метод декорирования…………………………………………………………...8

3.3 Амплитудная электронная микроскопия………………………………………8

3.4 Фазовая электронная микроскопия…………………………………………….9

3.5 Лоренцовая электронная микроскопия…………………...……………………9

3.6 Количественная электронная микроскопия…………………………………..10

Список используемых источников…………………………………………..…....11

Введение

В век быстро развивающейся техники ученому необходимо наблюдать, исследовать и правильно объяснять явления, происходящие на микронном и субмикронном уровнях. Электронный микроскоп - это прибор с большими возможностями, позволяющий на таком уровне наблюдать и изучать неоднородные органические и неорганические материалы и поверхности. В данном приборе исследуемая область или анализируемый микрообъем облучаются тонко сфокусированным электронным пучком, либо неподвижным, либо разворачиваемым в растр по поверхности образца. При взаимодействии электронного пучка поверхностью образца возникают следующие типы сигналов: вторичные электроны, отраженные электроны, оже-электроны, характеристическое рентгеновское излучение и фотоны различных энергий. Эти сигналы исходят из специфических эмиссионных областей внутри образца и могут быть использованы для изучения многих характеристик объекта (состава, топографии поверхности, кристаллографической ориентации и т.д.).

В электронном микроскопе наибольший интерес представляют сигналы, создаваемые вторичными и отраженными электронами, поскольку они меняются при изменении топографии поверхности по мере того, как электронный луч сканирует по образцу. Вторичная электронная эмиссия возникает в объеме вблизи области падения пучка, что позволяет получать изображения с относительно высоким разрешением. Объемность изображения возникает за счет большой глубины фокуса сканирующего электронного микроскопа, а также эффекта оттенения рельефа контраста во вторичных электронах. Возможны и другие типы сигналов, которые оказываются также полезными во многих случаях.