- •Понятие “Прибор”, “Система”.
- •2. Структурные схемы приборов. Классификация приборов.
- •3. Режимы работ приборов.
- •4. Обобщённая структура иис. Аппаратные модули иис. Основные функции, выполняемые аппаратными модулями.
- •5. Классификация объектов проектирования и их параметры.
- •6. Основные этапы и задачи проектирования.
- •7. Структура тз и примеры параметров проектируемого устройства.
- •8. Схема процесса проектирования.
- •9. Математические модели и их классификация.
- •10. Классификация приборов и систем. Структурная схема системы автоматического контроля (сак).
- •11. Датчики физических величин. Структурная схема тензорезисторного датчика усилия.
- •12. Функции преобразования электронных измерительных цепей датчиков.
- •13. Нормирующие измерительные преобразователи разомкнутого типа.
- •14. Нип компенсационного типа (кип).
- •15. Масштабирующие преобразователи тока и напряжения на оу.
- •16.Способы вывода кодированной информации на цифровых индикаторах.
- •17. Газоразрядные индикаторы.
- •18. Электролюминесцентные индикаторы.
- •19. Жидкокристаллические индикаторы.
- •20. Полупроводниковые индикаторы.
- •21. Устройства регистрации информации.
- •22. Носители информации.
- •23. Кодоимпульсная запись на магнитной поверхности.
- •24. Показатели качества приборов и систем.
- •25. Квалиметрия. Системный подход как основа проектирования.
- •26. Программно-технические средства сапр.
- •27. Типовые компоненты сапр.
- •28. Пакеты моделирования pcad, microcap, micrologic/
- •29. Принципы агрегатирования при проектировании приборов и систем.
- •30. Выбор интерфейсов измерительных систем. Структурные схемы интерфейсов.
- •31. Приборный интерфейс.
- •32. Проектирование программного обеспечения (по) измерительных систем (ис).
- •33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
- •34. Технические средства метрологических поверок.
- •35. Сертификация приборов и систем.
- •36. Физические величины и поля. Примеры преобразования физических величин и полей.
- •37. Расчёт основных характеристик индуктивного преобразователя.
- •38. Влияние внешней среды на параметры преобразователей.
- •39. Методы повышения точности.
- •41. Основные требования к ацп и цап.
- •Характеристики статической точности
- •Динамические характеристики цап и ацп
- •Условия применения цап и ацп
- •Содержание.
33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
Под метрологическим обеспечением приборов и систем поним-ся комплекс мер, направленных на достижение и подержание в этих системах требуемой точности измерения. Метрологич. обеспечение ИС на стадии их разработки, произв-ва и эксплуатации решает разл. задачи. На стадии проектирования должны быть выполнены метрологич. экспертиза проекта, технич. заданий и документации на ИС, разработка технич. средств и методик метрологич. аттестации и поверки ИС, гос. или ведомственные приемочные испытания. Метрологич. обеспечение ИС на стадии произв-ва включ. контрольные испытания и метрологич. надзор за технич. документацией и технологией изготовления ИС. В период эксплуатации должна быть обеспечена метрологич. аттестация в случае, когда условия эксплуатации отличаются от нормальных условий. Комплекс метрологич. хар-к ИС должен позволять с должной достоверностью оценить погрешность результатов измерения, получ. с помощью ИИС. В технич. документации на ИС определяю условия контроля метрологич. хар-к (МХ): объем выборки, допустимая погреш-ть измерения, минимально допустимое кол-во точек и их расположение в диапазоне измерения, условия проведения экспериментов. Хар-ки алгоритма вычислений контролируется экспериментально или расчетным методом на правильность регламентируемых значений. Контрольный состав МХ опред-ся на стадии разработки тех. задания. К нормируемым МХ основной погреш-ти относятся: моменты систематич. составляющей М[Δs], дисперсия D[Δs], СКО σ[Δs]; указыв-ся предельные значения случ. погреш-ти от трения и гистерезиса; ф-я влияния χ(ξ)=А Δ ξ, А=const; передат. ф-я, переходная и импульсная ф-ии; входное и вых. полное сопротивление.
34. Технические средства метрологических поверок.
Имеются 2 осн. пути реализации поверок, производимых в целях установления соотв-я хар-к поверяемой системы метрологич. нормам.
Структурная схема автоматизир. испытаний системы с устройством формирования образцовых сигналов (а) или образцовым прибором (б). Путь а связан с испытанием для поверки калибраторов, формирующих образцовые сигналы, подаваемые на вход поверяемой ИС. Путь б предусматривает применение образцовых приборов или преобразователей для измерения сигналов, подаваемых на вход контролируемой ИС и сравнения рез-в измерения, получ. образцовыми ср-ми измерения и поверяемой ИС. Технич. ср-ва метрологич. поверки м.б. внешними (автономными) по отношению к поверяемым ИС и встроенными в них.
35. Сертификация приборов и систем.
это (в настоящие время) одно из наиболее широко применяемых форм обеспечения качества приборов и систем.
это официальное удостоверение конкурентной способности изделия.
Сертификация обладает системой понятий и правилами реализеции своих функций. Являясь одним из направлений стандартизации сертификация сама регламентируется документами нормативно-технического характера. Сертификация – это методическая и практическая деятельность специально уполномоченного органа власти направленная на определение, проверку и документальное подтверждение….
36. Физические величины и поля. Примеры преобразования физических величин и полей.
Физич. величина – особенность, св-во общее в качественном отношении многим физич. объектам, но в количественном отнош. индивидуально для каждого объекта. Физ.вВеличины классиф. на электрич., магнитные, тепловые, механич. и т.д. Подавляющее большинство этих величин в процессе измерения преобр-ся в электрич., как наиболее удобные для передачи. Физич. поле – особая форма материи, система с бесконечным числом степеней свободы. К ним относятся электромагн., гравитационное, поля ядерных сил, волновые поля. Источниками физ. полей явл. частицы.