- •1.Общие понятия об оптических м-дах
- •2.Понятие м-да и м-дики анализа. Характеристики м-дики.
- •3.4.Физ. Основы рефрактометрического м-да. Коэффициент преломления.
- •5. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •6. Принцип действия рефрактометра Аббе.
- •7. Принцип действия рефрактометра Пульфриха.
- •8. Применение рефрактометрии для идентификации в-ва и контроля качества.
- •9. Физ. Основы поляриметрического м-да.
- •10.11. Типы оптической активности.
- •12. Зависимость угла вращения пл-сти поляризации от строения в-ва
- •13. Спекрополяриметрический м-д.
- •14. Принцип действия кругового поляриметра. Схема прибора.
- •15. Устройство клиновых поляриметров.
- •16. Применение поляриметрии и спектрополяриметрии.
- •17. Физ. Основы нефелометрии и турбидиметрии. Рассеяние и поглощение света.
- •18. Основные требования к химическим реакциям и условия их проведения.
- •19. Приборы нефелометрического анализа.
- •20. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •21. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация м-дов спектрального анализа.
- •22.Физ. Основы спектрального анализа.
- •23. Схемы энергетических переходов в атомных спектрах.
- •24. Схемы энергетических переходов в молекулярных спектрах.
- •25. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •28. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •29.Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •31. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
- •30. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
25. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра. В основе атомно-эмиссионного анализа лежат спектры излучения, которое испускает анализируемое вещество. Для того чтобы получить такие спектры, используются эмиссионные спектрометры.
1
2
3
4
5
1- ист-к возбуждения; 2-модулятор; 3-анализатор; 4-детектер; 5- регистрирующее устройтво.
Анализируемый образец, прошедший этап пробоподготовки, вносят в источник возбуждения, где происходит его испарение и атомизация, а также возбуждение агомов. Внешние валентные электроны атомов анализируемого вещества благодаря энергии, поглощенной в источнике возбуждения, переходят на более высокие энергетические уровни, чем в основном состоянии. Самопроизвольный возврат электронов из неустойчивого возбужденного состояния на основной энергетический уровень, соответствующий минимуму внутренней энергии анализируемых атомов, сопровождается испусканием излучения с характеристическими для каждого вида атомов длинами волн.
Это излучение, пройдя модулирующее устройство, попадает на анализатор. Механический или электронный модулятор прерывает излучение и регистрируемый на самописце сигнал становится сигналом переменного тока фиксированной частоты. Это позволяет проще усиливать сигнал (т.к. усилители переменного тока более просты и удобны в работе) и снизить погрешности измерений.
В анализаторе, называемом также спектральным прибором, монохроматором, производится разделение излучения, поступающего от источника возбуждения, по частотам и выделение спектральных линий определяемых элементов. Эти линии фиксируются детектором, т.е. приемником излучения, и регистрируются самописцем или фотографическим м-дом.
26. Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров. В атомно-эмиссионной спектроскопии чаще всего применяются м-ды, в которых атомизация и возбуждение анализируемого вещества совмещены. Наиболее распространенными источниками атомизации и возбуждения являются: пламя, электрическая искра, различные формы тлеющего разряда, а в последние годы — различные виды безэлектродных высокочастотных разрядов индуктинно-связанная плазма, микроволновый разряд, а также лазерные атомизаторы.
0бщее требование ко всем источникам возбуждения — они должны обеспечивать необходимую яркость спектра и быть достаточно стабильными.
Пламя. Именно способность давать яркий и стабильный спектр в сочетании с простотой регулировки и надежности работы является причиной широкого распространения пламенных источникам возбуждения и т.н. пламенной фотометрии. Атомизация вещества и возбуждение его спектра и пламени имеет в основном термический характер. В аналитической практике для получения пламени в т.н. плазменном атомизаторе используют газовые смеси.
Дуга. Электрическая дуга — ЭТО разряд при сравнительно большой силе тока (5-7А) и небольшом напряжении (50-80В). Разряд возникает между электродами анализируемого материала или между анализируемым образцем и электродом, не содержащим определяемых элементов. Температура дуги составляет 5000-6000С°, при угольных электродах— до 7000С°. В дуге удается получить спектры почти всех элементов. Для обеспечения непрерывности и стабильности горения дуги применяют специальные дуговые генераторы. Недостатками дуговой атомизации и возбуждения являются чрезмерная в некоторых случаях яркость и сравнительно невысокая воспроизводимость условий возбуждения, что ограничивает применение дугового возбуждения в качественном и особенно в количественном анализе. Существенным недостатком дуги является также значительное разрушение анализируемого образца.
Искра. Для получения искры используются специальные искровые генераторы, принципиальная схема одного из которых представлена на рис.
Искра образуется между электродами 2 в аналитическом промежутке 1. Электроды подключены к конденсатору 4 через катушку индуктивности 3. На конденсатор подается напряжение со вторичной обмоткой повышающего трансформатора 5. Первичная обмотка трансформатора питается по сети напряжением 20 или 127 В через реостат 7.
Индуктивно-связанная плазма. Плазма -- это частично или полностью ионизированный газ, образующийся в результате термической ионизации атомов и молекул при высоких температурах под действием электромагнитных полей большой напряженности при облучении газа потоками заряженных частиц высокой энергии. В плазме суммарная конц-ция электронов и отрицательных ионов равна конц-ции положительных ионов, вследствие чего ее результирующий пространственный заряд равен нулю.Для получения индуктивно-связанной плазмы (ИСП) используют высокочастотный генератор с рабочей частотой 27-56 МГц и потребляемой мощностью 1,0-1,5 кВт и специальную горелку - трехтрубчатый плазмотрон.
Ионизация происходит в центр аксиальности канала и число возб ч-ц в перефер. Оболочке относит. Небольшое. Благодаря этому самопоглощение наблюд. При высокой конц-ции определ. Эл-тов
27. Анализаторы и спектральные приборы
Анализаторы (монохроматоры или спектральные приборы) - устройства, предназнач-ые для разделения светового пучка на вх-щие в него монохроматические компоненты. Осн эл-тами этих устр-в явл-ся призмы или дифракц-ые решетки. В самых простых приборах, предназнач-ых для ан-за 1-3 элементов с простыми спектрами, применяют анализаторы со светофильтрами, имеющими узкую полосу пропускания. Задача спектр-ого прибора сост в том, чтобы из излучения, испуск-ого анализируемым в-вом, выделить харак-кие спектр линии, принадл-ие отд-ым эл-ам, вх-щим в его состав. Дисперс-ые спектр-ые приборы (анал-ры) сост из 3-х частей: вх-го коллиматора, диспергирующего эл-та и вых коллиматора с фокус-щим объективом.
Свет от ист-ка 1 проходит через вх-ую щель 2 в виде расходящегося пучка на калиматорный объектив 3. Щель расположена в пл-сти, перпенд-ой оптич-ой оси объектива 3 на расстоянии его главного фокуса, поэтому расходящиеся лучи от каждой точки щели, становятся паралл-ми. Паралл-ые пучки лучей падают на преломляющую грань призмы 4 или на дифракц-ую решетку. Пройдя ч-з призму или отражаясь от решетки, эти пучки распадаются на мн-во парал-ых пучков света разл λ. Диспергирующее действие призмы основано на зав-сти ее n от λ. n с ув-ем λ ум-ся, поэтому призма отклоняет короткие волны λ1, больше чем λ3. На дифракц-ой решетке, предст-щей собой сов-сть большого числа регулярно располож-ых штрихов (канавок, щелей, выступов), нанесенных тем или иным способом на плоскую или вогнутую пов-сть, падающий на нее фронт световой волны разбивается штрихами на отд-ые (когерентные) пучки, к-ые претерпев дифракцию на штрихах, интерферируют под разл углами относит-но угла падения всего неразложенного излучения, образуя результирующее распределение света по λ - спектр излучения. (Когерентность света - взаимная согласованность протекания во времени световых колебаний в разных т-х пр-ства и t, характеризующая их способность к интерференции).
Сущ-ют отражат-ые и прозрачные дифр-ые решетки. В отражат-ых дифракц-ых решетках штрихи нанесены на зеркальную метал-ую пов-сть, и рез-щая интерф-ая картина обр-ся в отраж-ом от решетки свете. На прозрачн решетках штрихи нанес-ы на прозрачн стекл-ую пов-сть, и интер-ная картина обр-ся в прохо-щем свете. Диф-ая решетка в б-ей степени отклоняет длинные волны.
Фокусирующий объектив 5 собирает лучи каждой длины волны в соответствующих местах своей фокальной поверхности 6, на которой получается ряд изображений освещ-го участка вх щели 2 в виде узких прямоуг-ов, парал-ых друг др и самой щели. Если вх щель 2 дост-о узкая, характ-ое излуч атомов предст-но рядом узких отд полосок, являющихся монохр-ими изобр-ями вх щели, т.е. спектр-ми линиями. Если в фок-ой пл-сти 6 расположена фотопластинка, то можно зарегистрировать все линии широкой обл спектра.