Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
LAB_2_POWDER.doc
Скачиваний:
7
Добавлен:
28.08.2019
Размер:
1.25 Mб
Скачать

МОСКОВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

(ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ)

ФАКУЛЬТЕТ ФИЗИКИ И ЭКОНОМИКИ ВЫСОКИХ ТЕХНОЛОГИЙ

КАФЕДРА ФИЗИЧЕСКИХ ПРОБЛЕМ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЯ

«УТВЕРЖДАЮ»

Заведующий кафедрой

_______________Б.А.Калин «____»____________2001 г.

Лабораторная работа по дисциплине

«Дифракционные методы исследований»

МЕТОД ПОРОШКОВ

Преподаватели: В.Н. Яльцев, Н.А. Соколов, В.И. Скрытный

Москва

МЕТОД ПОРОШКОВ

Введение

Метод порошков является основным методом исследования технических материалов и широко применяется на практике. Иногда этот метод называют по имени ученых, его предложивших, методом Дебая-Шеррера-Хэлла.

В качестве образцов используют поликристаллическое вещество или порошок, состоящий из большого числа мелких (< 10-2 мм) кристаллитов (зерен), имеющих произвольную ориентацию в пространстве. При освещении таких образцов монохроматическим или характеристическим рентгеновским излучением возникает интерференционный эффект в виде системы коаксиальных конусов, осью которых является первичный луч. Объяснение возникновения интерференционной картины дается с использованием понятия обратной решетки. Напомним, что при хаотичной ориентировке кристаллитов обратная решетка представляет собой совокупность концентрических сфер с радиусами Hi, где Hi —длина векторов обратной решетки. Сфера распространения пересекает по окружностям указанные выше сферы, в результате чего возникают интерференционные конусы с углами раствора 4θ.

Число интерференционных конусов ограничено, так как сфера распространения пересечет только те сферы обратной решетки, радиусы которой Hi <, 2/λ; это отвечает условию di > λ/2. Уменьшая длину волны, т. е. увеличивая радиус сферы распространения, можно увеличить число плоскостей, пересекаемых сферой обратной решетки, и, следовательно, число интерференционных конусов.

Основы метода

Для регистрации интерференционной картины в методе порошков используют несколько способов расположения пленки по отношению к образцу и первичному пучку рентгеновских лучей: съемка на плоскую, цилиндрическую и конусную фотопленку. Регистрация может производиться также с помощью счетчиков. Для этой цели используют рентгеновские дифрактометры.

Рассмотрим типы съемок при фотографическом методе регистрации интерференционной картины.

Плоская фотопленка. Используются два способа расположения фотопленки: передняя и задняя (обратная) съемка. При передней съемке образец по отношению к направлению первичного пучка лучей располагается перед фотопленкой. На фотопленке регистрируется ряд концентрических окружностей, которые соответствуют пересечению с плоскостью фотопленки интерференционных конусов с углом раствора θ < 30°. Измерив диаметр колец, зарегистрированных на пленке, можно определить угол θ для соответствующих интерференционных конусов из соотношения

tg 2θ = 2 r/(2D), (1)

где r —радиус интерференционного кольца; D — расстояние образца от фотопленки. Недостатком такого способа съемки является то, что на фотопленке регистрируется только небольшое число дифракционных колец. Поэтому переднюю съемку на плоскую пленку применяют в основном для исследования текстур, при котором необходимо определить распределение интенсивности по полному дифракционному кольцу.

При задней съемке образец располагается по отношению к пучку рентгеновских лучей сзади пленки, в самой же пленке делается небольшое отверстие для входа рентгеновских лучей. На пленке регистрируются максимумы, отвечающие углу θ > 60°. Угол θ определяют из промера диаметра дифракционных колец по отношению

tg(180° – 2θ) = 2r/(2D). (2)

Обратную съемку применяют при точных определениях периодов и при измерении внутренних напряжений.

Цилиндрическая фотопленка. Ось цилиндра, по которому располагается фотопленка, перпендикулярна к первичному пучку (рис. 1). При этом типе съемки дифракционные конусы, пересекаясь с фотопленкой, образуют кривые четвертого порядка. Частным случаем такой кривой может быть прямая, которая отвечает углу отражения θ = 45°. Угол θ вычисляется из промера расстояний между линиями 2l, отвечающими одному и тому же интерференционному конусу, по соотношениям:

2l = 4 θ R; θo = (l/2R) (180o/π), (3)

где Rрадиус цилиндрической кассеты, по которой располагалась фотопленка.

Фотопленка в цилиндрической камере может располагаться несколькими способами. На рис. 1 показан обычный (симметричный) способ зарядки пленки. В этом случае концы пленки располагают вблизи диафрагмы, через которую в камеру входит пучок первичных лучей. Для выхода этого пучка из камеры в пленке делают отверстие. Недостатком такого способа зарядки является то, что в процессе фотообработки пленка сокращается по длине, в результате чего при расчете рентгенограммы следует использовать не значение радиуса R, по которому располагалась пленка во время съемки, а некоторую величину Rэфф. Определить Rэфф можно путем съемки эталонного вещества с известными периодами решетки (например, NaCl). В этом случае проводят обратный расчет рентгенограммы; по известным периодам решетки определяют теоретически углы отражения θрасч, из значений которых в комбинации с промеренными на рентгенограмме расстояниями между симметричными линиями определяют величину Rэфф. Съемка с эталоном позволяет также установить неправильность геометрии кассеты камеры (ее эллиптичность), так как в этом случае по различным линиям будут получаться разные значения Rэфф.

Рис. 1. Схема получения рентгенограммы при симметричной зарядке фотопленки

Во многих случаях применяют другой способ зарядки фотопленки, который называют асимметричным (по Страуманису). При этом способе зарядки в фотопленке делают два отверстия (для входа и выхода пучка первичных лучей), а концы пленки располагают под углом 90° по отношению к первичному пучку (рис. 2). Передние линии (отвечающие небольшим углам θ) отличаются от задних (при больших углах θ) тем, что первые обычно значительно более узкие; кроме того, задние линии обычно расщепляются на дублеты Kα1,α2.

Рис. 2. Асимметричный метод зарядки пленки (по Страуманису)

Асимметричная рентгенограмма позволяет определять Rэфф, не прибегая к съемке эталонного вещества. Для этого на рентгенограмме промеряют расстояние А и В между симметричными линиями (см. рис. 2). Эффективный радиус рентгенограмм Rэфф определяют из соотношения

Rэфф = A + B. (4)

Асимметричный метод можно применять только в том случае, если на рентгенограмме получаются четкие линии, отвечающие углам θ не меньше 50–60°.

Если на рентгенограмме отсутствуют линии при достаточно больших углах θ, то можно видоизменить способ асимметричной съемки, расположив концы пленки под углом, несколько меньшим 90°, к первичному пучку. Для выхода и входа первичного луча в фотопленке также пробивают два отверстия.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]