Мікроскоп металографічний вертикальний ммр-2р (конструкція і зовнішній вигляд).

Конструкція мікроскопа ММР-2Р наведена на рис.4.3. На металічній основі закріплюються три основні частини: блок освітлювача, станина з предметним столиком, блок об’єктивів і окулярів. В освітлювачі є: кожух 1 лампи розжарення; регулятори 2 для юстування спіралі лампи на оптичну вісь освітлювальної частини; діафрагма 3 конденсора для регулювання величини потоку випромінювання, що подається від джерела в оптичну частину освітлювача; ручка 4 для включення в оптичну систему спектрального фільтра (при відтянутій ручці).

Рис.4.3. Загальний вигляд мікроскопу ММР-2Р

За допомогою гвинта 5 можна зміщувати перпендикулярно до оптичної вісі фотозатвор з апертурною діафрагмою 6, а за допомогою механізма 7 регулювати величину польової діафрагми. Предметний столик 9 знаходиться на Г-подібній станині 8. За допомогою ручки 14 він може переміщатися верх-вниз. Для переміщення предметного столика в горизонтальній площині в двох взаємоперепендикулярних напрямках служать гвинти 10 та 11. В центрі предметного столика є круглий отвір, під який за допомогою револьверного барабану 16 шляхом його повороту підводиться вибраний об’єктив 17, зверху на отворі розміщується мікрошліф 20. За допомогою гвинта 12 вводиться чи виводиться з ходу променів діафрагма темного поля, а при витягнутому гвинті 13 (як показано на рис.3) з ходу променів виводяться поляризатор і аналізатор. Блок об’єктивів, мікрогвинтом 15, може переміщуватися дуже повільно верх-вниз, чим і здійснюється тонке фокусування випромінювання на поверхню мікрошліфа. Зображення спостерігається, використовуючи один із окулярів 19, які вставлені в тубуси 18. Увага! Мікрогвинт 15 треба обертати дуже обережно, не затискаючи його в крайніх позиціях.

Порядок виконання роботи

1. Вибрати збільшення мікроскопа (об’єктив та окуляр) для візуального спостереження за даними таблиці 4.1.

Таблиця 4.1. Збільшення мікроскопа ММР-2Р при візуальному спостереженні.

Об’єктиви для світлого і	окуляри
темного поля	15Х	20Х
10,7Х (fоб=23,2; А=0,17) 24,5Х (fоб=8,2; А=0,37) 34,5Х(fоб=6,3; А=0,65) 58Х (fоб=4,3; А=0,95)	160 360 500 871	214 500 650 1162

При виборі об’єктиву та окуляру необхідно користуватися таким правилом. Збільшення мікроскопу повинно знаходитися в інтервалі від 500 до 1000 апертур даного об’єктиву. Збільшення Г_М = 500 А є нижньою границею. Якщо збільшення менше нижньої границі, то не досягається роздільна здатність мікроскопу. Якщо збільшення більше верхньої границі, то якість зображення погіршується (воно менш чітке). Наприклад, при використанні об’єктиву з А=0,37, необхідно збільшення буде в межах 0,37 , тобто від 185^Х до 370^Х. З таблиці видно, що оптимальним є зображення в окулярі із збільшенням Г_ок=15^Х.

2. Ввести в оптичну схему мікроскопа вибраний об’єктив, попередньо піднявши предметний столик за допомогою ручки 14.

3. Встановити круглий отвір в предметному столику над вхідною зіницею об’єктиву, користуючись гвинтами 10 та 11.

4. Включити через трансформатор джерело випромінювання мікроскопа, відкрити повністю діафрагми 3, 6 та 7.

5. Розмістити досліджуваний шліф на предметному столику таким чином, щоб випромінювання від об’єктиву падало спочатку на поліровану частину мікрошліфа. Спостерігаючи в окуляр здійснюють грубе наведення на фокус, опускаючи предметний столик, за допомогою ручки 14. Обертаючи мікрометричний гвинт 15, проводять точне фокусування.

6. Користуючись гвинтом 10 і 11, переміщаємо предметний столик, розглядаючи структуру мікрошліфа в різних його місцях.

7. Розміщуємо мікрошліф таким чином, щоб випромінювання від об’єктиву падало на протравлену частину його поверхні. При необхідності дофокусовуємо зображення гвинтом тонкої наводки 15. Спостерігаємо зображення як в світлому, так і в темному полі, використовуючи при цьому ручку 12 (при витянутій ручці - темне поле, при введеній - світле поле). Зарисовуємо спостережувану в полі зору картину структури шліфа.

Зауваження! Оскільки всі роботи виконуються у звичайному світлі, то аналізатор і поляризатор необхідно вивести з ходу променів, відтягнувши до упору ручку 13.

8. Розрахувати роздільну здатність мікроскопу для вибраного об’єктиву згідно з формулою (4.3).

Контрольні питання

1. Що таке мікрошліф?

2. Обґрунтуйте вибір довжини хвилі для визначення роздільної здатності мікроскопа.

3. З’ясуйте призначення поляризатора за принципом його роботи.

4. Опишіть будову мікроскопа ММР-2Р, його оптичну схему.

5. З’ясуйте основні фізико-механічні властивості досліджуваного зразка.

Список літератури

Основна

1. Ван Флек, Х. Лоренс. Теоретическое и прикладное материаловедение. М,: “Атомиздат”, 1975, сс. 145-151.

2. А.С. Палатник, В.К. Сорокин. Материаловедение в микроелектронике. М, “Энергия”, 1978, сс. 98-105.

3. Г.Д.Фрумкин Расчет и конструирование радиоаппаратуры. М, “Высшая школа”, 1989, сс. 35-40.

4. Актуальные проблемы материаловедения. Пер. с англ. под ред. Е.И.Гиваргизова, М.М.Колтуна. М, “Мир”, 1982, сс. 67-89.

Додаткова

1. Справочник по электротехническим материалам в трех томах. Под.ред. Ю.В. Корицкого, В.В. Пасынкова, Б.М. Тареева, М.: Энергоатомиздат, 1986.

2. О.В. Травин, Н.Т.Травина. Материаловедение. М, Металлургия, 1989.