gurtov
.pdfПриложение А. Нобелевские премии за работы по твердотельной электронике
|
|
|
|
|
Формулировка |
Ссылка на текст нобелевской |
|
|
|
|
Авторы |
Нобелевского |
|||
|
|
|
лекции |
||||
|
|
|
|
|
комитета |
||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
1998 |
|
|
|
|
Robert B. |
|
http://nobelprize.org/ |
||||
|
|
Laughlin |
|
||||
|
|
|
physics/laureates/1998/ |
||||
1/ |
|
of the prize |
|
||||
3 |
|
laughlin-lecture.pdf |
|||||
|
|
|
|
USA |
|
||
|
|
|
|
|
«Fractional quantization» |
||
Stanford University |
|
||||||
|
Nobel Lecture, |
||||||
Stanford, CA, USA |
|
||||||
|
December 8, 1998 |
||||||
|
|
|
b. 1950 |
|
|||
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|||
|
|
Horst L. |
|
http://nobelprize.org/ |
|||
|
|
Störmer |
|
||||
|
|
|
physics/laureates/1998/ |
||||
1/ |
|
of the prize |
for their discovery |
||||
3 |
stormer-lecture.pdf |
||||||
Federal Republic |
of a new form of |
||||||
«The fractional quantum Hall |
|||||||
of Germany |
quantum fluid with |
||||||
effect» |
|||||||
Columbia University |
fractionally charged |
||||||
Nobel Lecture, |
|||||||
New York, NY, USA |
excitations |
||||||
December 8, 1998 |
|||||||
|
|
|
b. 1949 |
|
|||
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
http://nobelprize.org/ |
|
Daniel C. Tsui |
|
physics/laureates/1998/ |
|||||
1/ |
3 |
of the prize |
|
stormer-lecture.pdf |
|||
|
|
|
USA |
|
«Interplay of disorder and |
||
|
|
|
|
|
|||
Princeton University |
|
interaction in two-dimensional |
|||||
Princeton, NJ, USA |
|
electron gas in intense magnetic |
|||||
|
|
|
b. 1939 |
|
fields» |
||
(in Henan, China) |
|
Nobel Lecture, |
|||||
|
|
|
|
|
|
December 8, 1998 |
|
|
|
|
|||||
Роберт Лафмен |
|
|
|||||
1/ |
3 |
премии |
|
|
|||
|
|
|
США |
|
|
||
|
|
|
|
|
Дробное квантование |
||
Стэнфордский |
|
||||||
|
|
||||||
университет |
|
|
|||||
|
|
|
р. 1950 |
|
|
||
|
|
|
|||||
Хорст Штермер |
за открытие новой |
|
|||||
1/ |
3 |
премии |
формы квантовой |
|
|||
|
|
|
ФРГ |
жидкости с дробно |
Дробный квантовый эффект |
||
|
|
|
|
||||
Колумбийский |
заряженными |
Холла |
|||||
университет, США |
возбужденными |
|
|||||
|
|
|
р. 1949 |
состояниями |
|
||
|
|
|
|||||
Дэниел Цуй |
|
|
|||||
1/ |
3 |
премии |
|
Взаимосвязь беспорядка |
|||
|
|
|
США |
|
и корреляции в двумерном |
||
|
|
|
|
|
|||
Принстонский |
|
электронном газе в сильных |
|||||
университет |
|
магнитных полях |
|||||
|
|
|
р. 1939 |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
Gurtov.indd 373 |
17.11.2005 12:29:30 |
Приложение А. Нобелевские премии за работы по твердотельной электронике
|
|
|
|
|
Формулировка |
Ссылка на текст нобелевской |
|
|
|
|
Авторы |
Нобелевского |
|||
|
|
|
лекции |
||||
|
|
|
|
|
комитета |
||
|
|
|
|
|
|
||
2000 for basic work on information and communication technology |
|||||||
Zhores I. Alferov |
|
http://nobelprize.org/physics/ |
|||||
|
laureates/2000/alferov-lecture.pdf |
||||||
1/ |
|
of the prize |
|
||||
4 |
|
«The double heterostructure: |
|||||
|
|
|
Russia |
|
|||
|
|
|
|
concept and its applications |
|||
A. F. Ioffe Physico- |
|
||||||
|
in physics, electronics and |
||||||
Technical Institute |
|
||||||
for developing |
technology» |
||||||
St. Petersburg, Russia |
|||||||
Nobel Lecture |
|||||||
|
|
|
b. 1930 |
semiconductor |
|||
|
|
|
December 8, 2000 |
||||
|
|
|
|
|
heterostructures used |
||
|
|
|
|
|
|
||
Herbert Kroemer |
in high-speed- and |
http://nobelprize.org/physics/ |
|||||
opto-electronics |
|||||||
1/ |
4 |
of the prize |
laureates/2000/kroemer-lecture.pdf |
||||
Federal Republic |
|
«Quasi-electric fields and band |
|||||
of Germany |
|
offsets: teaching electrons new |
|||||
University of California |
|
tricks» |
|||||
Santa Barbara, CA, USA |
|
Nobel Lecture, |
|||||
|
|
|
b. 1928 |
|
December 8, 2000 |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
Jack S. Kilby |
|
http://nobelprize.org/physics/ |
|||||
|
laureates/2000/kilby-lecture.pdf |
||||||
1/ |
|
of the prize |
|
||||
2 |
for his part in the |
«Turning potential into realites: |
|||||
|
|
|
USA |
||||
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
invention of the |
the invention of the integrated |
||
Texas Instruments |
|||||||
integrated circuit |
circuit» |
||||||
Dallas, TX, USA |
|||||||
|
Nobel Lecture, December 8, |
||||||
|
|
|
b. 1923 |
|
|||
|
|
|
|
2000 |
|||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|||||
2000 за основополагающие работы в информационных и |
|||||||
телекоммуникационных технологиях |
|
||||||
Жорес Иванович Алферов |
|
|
|||||
1/ |
4 |
премии |
|
Двойные гетероструктуры: |
|||
|
|
|
Россия |
|
свойства и их использование |
||
Физико-техничекий |
за открытие |
в физике, электронике и |
|||||
институт им. А. Ф. Иоффе |
полупроводниковых |
технологиях |
|||||
|
|
|
р. 1930 |
гетероструктур, |
|
||
|
|
|
|
|
используемых |
|
|
Герберт Кремер |
|
||||||
в высокоскростной |
|
||||||
1/4 премии |
оптоэлектронной |
Квазиэлектрические поля и |
|||||
|
|
|
|
ФРГ |
связи |
||
|
|
|
|
разрывы зон: новое поведение |
|||
Калифорнийский |
|
||||||
|
электронов |
||||||
университет, США |
|
||||||
|
|
||||||
|
|
|
р. 1938 |
|
|
||
|
|
|
|||||
Джек С. Килби |
за вклад |
|
|||||
1/ |
|
премии |
Переход от возможного |
||||
2 |
в изобретении |
||||||
|
|
|
США |
к реальности: изобретение |
|||
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
интегральной |
|||
Техас Инструментс |
интегральной схемы |
||||||
схемы |
|||||||
|
|
|
р. 1923 |
|
|||
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
Gurtov.indd 374 |
17.11.2005 12:29:30 |
Приложение А. Нобелевские премии за работы по твердотельной электронике
|
|
|
|
|
Формулировка |
Ссылка на текст нобелевской |
|
|
|
|
Авторы |
Нобелевского |
|||
|
|
|
лекции |
||||
|
|
|
|
|
комитета |
||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
2003 |
|
|
|
Alexei A. Abrikosov |
|
http://nobelprize.org/physics/ |
|||||
1/ |
3 |
of the prize |
|
laureates/2003/abrikosov- |
|||
USA and Russia |
|
lecture.pdf |
|||||
Argonne National |
|
«Type II superconductors and |
|||||
Laboratory |
|
the vortex lattice» |
|||||
Argonne, IL, USA |
|
Nobel Lecture, December 8, |
|||||
|
|
|
b. 1928 |
|
2003 |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
http://nobelprize.org/physics/ |
|
Vitaly L. Ginzburg |
|
laureates/2003/ginzburg- |
|||||
|
lecture.pdf |
||||||
1/ |
|
of the prize |
for pioneering |
||||
3 |
«On superconductivity and |
||||||
|
|
|
Russia |
contributions |
|||
|
|
|
superfluidity» |
||||
P. N. Lebedev Physical |
to the theory |
||||||
Nobel Lecture, December 8, |
|||||||
|
|
Institute |
of superconductors |
||||
|
|
2003 |
|||||
Moscow, Russia |
and superfluids |
||||||
На русском языке http://data. |
|||||||
|
|
|
b. 1916 |
|
|||
|
|
|
|
ufn.ru//Ginzburg/Gin_nob_ |
|||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
r.pdf |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Anthony J. Leggett |
|
http://nobelprize.org/physics/ |
|||||
|
laureates/2003/leggett-lecture. |
||||||
1/ |
|
of the prize |
|
||||
3 |
|
||||||
United Kingdom and USA |
|
||||||
|
«Superfluid 3-He: the early days |
||||||
University of Illinois |
|
||||||
|
as seen by a theorist» |
||||||
Urbana, IL, USA |
|
||||||
|
Nobel Lecture, December 8, |
||||||
|
|
|
b. 1938 |
|
|||
|
|
|
|
2003 |
|||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|||||
Алексей А. Абрикосов |
|
|
|||||
1/ |
3 |
премии |
|
|
|||
США и Россия |
|
Сверхпроводники типа II и |
|||||
Аргонская национальная |
|
вихревые решетки |
|||||
лаборатория |
|
|
|||||
|
|
|
р. 1928 |
|
|
||
|
|
|
|||||
Виталий Л. Гинзбург |
за новаторский |
|
|||||
1/ |
|
премии |
|
||||
3 |
вклад в теорию |
|
|||||
|
|
|
Россия |
Сверхпроводимость и |
|||
|
|
|
сверхпроводимости |
||||
Физический институт |
сверхтекучесть |
||||||
и сверхтекучести |
|||||||
им. П. Н. Лебедева |
|
||||||
|
|
||||||
|
|
|
р. 1916 |
|
|
||
|
|
|
|||||
Энтони Дж. Лаггет |
|
|
|||||
1/ |
3 |
премии |
|
Сверхтекучий He-3: первые |
|||
Великобритания и США |
|
||||||
|
дни с точки зрения теоретика |
||||||
Университет Иллинойса |
|
||||||
|
|
||||||
|
|
|
р. 1938 |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
Gurtov.indd 375 |
17.11.2005 12:29:30 |
Приложение А. Нобелевские премии за работы по твердотельной электронике
Нобелевские премии по химии, связанные с тематикой твердотельной микро- и оптоэлектроники1
Таблица А.2
|
|
|
|
|
|
Формулировка |
Ссылка на текст нобелевской |
|
|
|
|
Авторы |
нобелевского |
||||
|
|
|
лекции |
|||||
|
|
|
|
|
|
комитета |
||
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
1996 |
|
|
||
Robert F. Curl Jr. |
|
http://nobelprize.org/ |
||||||
|
chemistry/laureates/1996/ |
|||||||
1/ |
|
of the prize |
|
|||||
3 |
|
curl-lecture.pdf |
||||||
|
|
|
USA |
|
||||
|
|
|
|
|
«Dawn of the fullerenes: |
|||
Rice University |
|
|||||||
|
experiment and conjecture» |
|||||||
Houston, TX, USA |
|
|||||||
|
Nobel Lecture, December 7, |
|||||||
|
|
|
b. 1933 |
|
||||
|
|
|
|
1996 |
||||
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Sir Harold W. Kroto |
|
http://nobelprize.org/ |
||||||
|
chemistry/laureates/1996/ |
|||||||
1/ |
|
of the prize |
|
|||||
3 |
for their discovery |
kroto-lecture.pdf |
||||||
|
|
|
|
|
||||
United Kingdom |
of fullerenes |
«Symmetry, space, stars |
||||||
University of Sussex |
||||||||
|
and C60» |
|||||||
Brighton, United Kingdom |
|
|||||||
|
Nobel Lecture, December 7, |
|||||||
|
|
|
b. 1939 |
|
||||
|
|
|
|
1996 |
||||
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|||||
Richard E. Smalley |
|
http://nobelprize.org/ |
||||||
1/ |
3 |
of the prize |
|
chemistry/laureates/1996/ |
||||
|
|
|
USA |
|
smalley-lecture.pdf |
|||
|
|
|
|
|
||||
Rice University |
|
«Discovering the fullerenes» |
||||||
Houston, TX, USA |
|
Nobel Lecture, |
||||||
|
|
|
b. 1943 |
|
December 7, 1996 |
|||
|
|
|
|
|||||
Роберт Ф. Керл мл. |
|
|
||||||
1/ премии |
|
Заря фуллеренов: эксперимент |
||||||
|
|
|
3 |
США |
|
|||
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
и гипотезы |
|||
Университет Райса |
|
|||||||
|
|
|||||||
|
|
|
р. 1933 |
|
|
|||
|
|
|
|
|||||
Сэр Гарольд. В. Крото |
|
|
||||||
1/ премии |
за открытие |
Симметрия, космос, |
||||||
|
|
|
3 |
|
|
|||
Великобритания |
фуллеренов |
звезды и C60 |
||||||
Университет Суссекса |
||||||||
|
|
|||||||
|
|
|
р. 1939 |
|
|
|||
|
|
|
|
|||||
Ричард И. Смелли |
|
|
||||||
1/ |
3 |
премии |
|
|
||||
|
|
|
США |
|
Открытие фуллеренов |
|||
|
|
|
|
|
||||
Университет Райса |
|
|
||||||
|
|
|
р. 1943 |
|
|
|||
|
|
|
|
|||||
|
|
|
||||||
1 http://nobelprize.org/chemistry/ |
|
Gurtov.indd 376 |
17.11.2005 12:29:30 |
ПРИЛОЖЕНИЕ Б
РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ
Глава1.Необходимые сведения из физики твердого тела и физики полупроводников
1.1. Концентрация собственных носителей заряда ni имеет сильную температурную зависимость и определяется как:
ni = |
NC NV |
|
− |
Eg |
|
|
exp |
|
, |
(Б1.1) |
|||
|
||||||
|
|
|
|
2kT |
|
где эффективная плотность состояний в C- и V-зонах NC,V также зависит от температуры T и эффективной массы плотности состояний m*:
|
|
|
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
|
3 |
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
|
mn,* |
pkT 2 |
|
|
mn,* |
|
2 |
T |
|
|
|
|
|||||||
NC, V |
|
19 |
|
p |
2 |
|
−3 |
|
|||||||||||||
= 2 |
2π |
|
|
|
|
= 2,5 10 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
, см |
|
. (Б1.2) |
|||
h |
2 |
m |
|
|
|
||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
300 |
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Ширина запрещенной зоны Eg имеет слабую зависимость от температуры типа Eg = Eg0 – αT. Величины Eg0 и α приведены в приложении, здесь же можно найти величины NC и NV при T = 300 К. Расчет значений эффективной плотности состояний в C- и V-зонах и концентрации собственных носителей заряда ni при температуре жидкого азота 77 К приводится ниже.
|
|
|
Si |
Ge |
GaAs |
InSb |
|
|
|
|
|
|
|
N |
C |
, см–3 |
3,6·1018 |
1,04·1019 |
5,8·1016 |
5,1·1015 |
N |
V |
, см–3 |
1,4·1018 |
6,9·1018 |
9,8·1017 |
1,5·1018 |
ni, см–3 |
3·10–20 |
1,4·10–7 |
2,8·10–33 |
1,2·1010 |
1.2.Примесь полностью ионизована, когда концентрация равновесных электро-
нов равна концентрации легирующей примеси n0 = ND. Из основного соотношения для полупроводников n0·p0 = ni2 найдем концентрацию неосновных носителей заряда p0 = ni2/n0. Для Si p0 = 2,6·103, для GaAs p0 = 1,2·10–3 см–3.
1.3.В собственном полупроводнике n0 = p0 и положение уровня Ферми относительно середины запрещенной зоны полупроводника φ0 можно рассчитать как:
|
|
|
|
|
|
|
kT |
|
|
NV |
|
3 |
|
|
mn* |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
ϕ |
0i |
= |
|
|
ln |
|
|
|
= |
|
|
kT ln |
|
|
, |
|
|
|
|
|
|
|
(Б1.3) |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
* |
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
NC |
|
4 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
mp |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
mn,p* |
kT |
|
|
|
|
|
|
|
mn,p* |
|
|
|
T |
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
||||||||||||||||
N |
|
|
|
|
|
|
|
|
19 |
|
2 |
|
||||||||||||||||||
|
= 2 |
2π |
|
|
|
|
|
|
= 2,5 |
10 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
. (Б1.4) |
|||||||||
C, V |
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
h |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
m0 |
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
300 |
|
|
|
Gurtov.indd 377 |
17.11.2005 12:29:31 |
Приложение Б. Решения задач
T, К |
|
300 |
77 |
φ0, эВ |
Si |
–0,0124 |
–0,0032 |
|
InSb |
0,074 |
0,019 |
|
|
|
|
Таким образом, в кремнии уровень Ферми лежит ниже, а в антимониде индия — выше середины запрещенной зоны полупроводника Ei (рис. Б1.1).
Ec
Ei φ0 > 0
Ev
Рис. Б1.1. Зонная диаграмма полупроводника, когда φ0 > 0, mp* > me*
1.4. В легированном полупроводнике p0 >> ni положение уровня Ферми φ0 можно рассчитать по формуле:
ϕ0 |
= |
kT |
|
p0 |
|
|
|
ln |
|
. |
(Б1.5) |
||
q |
|
|||||
|
|
ni |
|
|
Концентрацию основных носителей p0 найдем, зная величину удельного сопротивления ρ = 10 Ом·см, как:
1 |
|
p0 = qμpρ . |
(Б1.6) |
В результате: p0 = 3,3·1014 см–3, φ0 = 0,067 эВ.
1.5. Положение уровня Ферми в InSb определим по формуле (Б1.4):
φ0 = 0,085 эВ.
Чтобы найти φ0 относительно середины запрещенной зоны, нужно учесть сдвиг уровня Ферми в собственном полупроводнике (см. задачу 1.3): –0,019 эВ, т. е. φ0n = 0,104 эВ в n-InSb и φ0p = 0,066 эВ в p-InSb. Если рассчитать положение уровня Ферми относительно края С-зоны, то:
Eg − ϕ0n = 0,115 − 0,104 = 0,011 эВ . 2
Это не превышает величины 2kT (0,013 эВ при T = 77 К), т. е. n-InSb — вырожден, p-InSb — нет.
1.6.Зная удельное сопротивление ρ = 4,5 Ом·см, по формуле (Б1.5) найдем уро-
вень легирования ND = 1·1015 см–3, а далее по формуле (Б1.4) положение уровня Ферми φ0 = 0,284 эВ при 300 К и φ0 = 0,52 эВ при 77 К.
1.7.Величину удельного сопротивления ρ получим из соотношения:
ρ = |
1 |
= |
1 |
, |
|
|
|||
|
σ |
|
qμn n |
учитывая условие полной ионизации примеси.
Gurtov.indd 378 |
17.11.2005 12:29:34 |
Приложение Б. Решения задач
p-тип: p0 = NA; n-тип, n0 = ND.
ρ = |
1 |
= |
|
1 |
|
. |
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
σ |
|
qμn,p NA,D |
|
|
|||||
ρn |
= |
|
|
|
|
|
1 |
|
|
= 0,42 Ом см; |
|
|
|
|
|
|
|
||||||
1,6 10 |
−19 |
16 |
|||||||||
|
|
|
|
1500 10 |
|
|
|||||
ρp |
= |
|
|
|
|
1 |
|
=1,05 Ом см. |
|||
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
10 |
−19 |
16 |
||||||
|
1,6 |
|
600 10 |
|
|
1.8. В собственном полупроводнике удельная электропроводность равна:
σi = qnμn + qpμp = qni (μn + μp)
и, соответственно, ρi = 1/σi:
|
Si |
Ge |
GaAs |
InSb |
|
|
|
|
|
ρi, Ом·см |
1,9·105 |
43 |
6,4·107 |
4·10–3 |
1.9. Вырождение в полупроводнике наступает, когда уровень Ферми F приближается к C- или V-зоне на расстояние порядка kT, т. е. F – EV = kT. В случае полной ионизации примеси концентрация дырок p определяется как:
|
EV |
− F |
|
|
p = NV exp |
|
|
|
(Б1.7) |
|
|
|||
|
kT |
|
и равна уровню легирования NA: NA = p = NV/2,73. Для Si: NA = 3,8·1018 см–3, для Ge: NA = 2,2·1018 см–3.
1.10.ND = 7,4·1014 см–3. Учитывая температурную зависимость ni (см. задачу 1.1), вычисляем φ0: при T = 300 К φ0 = 0,47 эВ и при 77 К φ0 = 0,72 эВ, тогда Δφ0 = 0,25 эВ.
1.11.Известно, что Eg и NC,V зависят от температуры. Для оценки граничной температуры пренебрежем этим фактом. Тогда, учитывая, что n0 = ND и n0 = ni, после преобразования получим:
|
Tгр = |
Eg |
|
|
1 |
|
. |
|
||
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
2k |
NC NV |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
ln |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ND |
|
|
|
|
Si |
|
Ge |
|
GaAs |
|
InSb |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Tгр, К |
668 |
|
|
|
439 |
|
1104 |
|
195 |
|
Tгр, °C |
395 |
|
|
|
166 |
|
831 |
|
–78 |
1.12.На качественной зависимости ln n от 1/T можно выделить 3 участка:
1)с энергией активации Eа, соответствующей ионизации примеси, 2) собственно матрицы полупроводника и 3) нулевой (рис. Б1.2).
Gurtov.indd 379 |
17.11.2005 12:29:34 |
Приложение Б. Решения задач
По уровню легирования ND = n0 = 7·1015 см–3 можно рассчитать равновесную концентрацию неосновных носителей заряда:
p0 = ni2 = 2,1 105 см−3.
ND
Время жизни τ0 рассчитаем как:
τ0 = |
1 |
, |
(Б1.9) |
Ntοtvt |
т. е. τ0 равно 1·10–7 с.
Неравновесные концентрации носителей заряда равны:
n = n0 + n ≈ n0 — основных и p = p0 + p ≈ p — неосновных.
В первом случае, когда n, p << ni, формула (2.1) сводится к:
G = |
−ni2 |
= − |
|
ni |
, |
ni 2 τ0 |
|
|
|||
|
2 |
τ0 |
G = 7,25·1016 см–3·c–1.
Во втором случае, когда n >> ni и p0 >> p:
G = n0 p = p − p0 = − p0 , |
||
n0τ0 |
τ0 |
τ0 |
G = 2,6·1011 см–3·c–1.
1.15.Время жизни τ0 рассчитаем по формуле (2.2) как τ0 =1·10–8 с, концентрации неравновесных носителей заряда равны n = ND = 1016 см–3 и p = G·τ0 = 1013 см–3.
1.16.Коэффициент рекомбинации r получим из соотношения G = R = r·n·p.
G = r(n + p) = r(n0 + n + p0 + p) = r ·Δn·(n0 + p0) = r ·Δn·n0. |
|
|||||||
Отсюда имеем для r : |
|
|
|
|
||||
r = |
G |
|
1 |
= |
1 |
, |
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
n n0 |
τ0n0 |
|
|
||||
r = 1·10–8 см3c–1, избыточная концентрация электронов n = G ·τ |
= 5·1012 |
см–3. |
||||||
|
|
|
|
|
0 |
|
|
1.17. При наличии градиента концентраций плотность диффузионного тока:
j |
диф |
= qD |
n = |
qμn |
|
|
n = 825 |
А |
. |
|||||
kT |
|
см2 |
||||||||||||
|
|
|
|
x |
|
x |
|
|||||||
1.18. В стационарном случае имеем: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
q |
|
|
|
|
|
|||||||
G = |
τ |
p |
и G = γ·I, |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
поэтому p = γ·I·τ, т. е. p = 1016 см–3.
Δσ = |
p(μn + μp ) |
= 0,15. |
|
||
σ0 |
n0μn |
Gurtov.indd 381 |
17.11.2005 12:29:35 |
Приложение Б. Решения задач
Глава 2. Барьеры Шоттки, p-n-переходы и гетеропереходы
2.1. Контактная разность потенциалов Δφms = ФAu – ФGe = ФAu – χ + Eg/2 – φ0. Учитывая, что:
|
1 |
|
|
|
15 |
−3 |
|
||
ND = |
|
|
=1,6 10 см |
|
и |
||||
qμnρ |
|
||||||||
|
|
|
ND |
|
|
|
|
||
ϕ0 |
= kT ln |
|
|
= 0,11 эВ , |
|||||
ni |
|||||||||
имеем ФGe = 4,22 эВ, φк = 0,48 эВ. |
|
|
|
|
|
|
2.2. Ширина области обеднения W определяется: |
|
||
W = |
2εsε0 (Δϕms −Vg ) |
. |
(Б2.1) |
|
|||
|
q Nd |
|
Высота барьера Δφms, уровень легирования ND и φ0 рассчитываются, как и в задаче 2.1:
ND = 4,2·1016 см–3, φ0 = 0,38 эВ, φк = 1,07 эВ.
Тогда:
W (VG = +0,4) = 0,14 мкм,
W (VG = –0,2) = 0,14 мкм, W (VG = 0) = 0,14 мкм.
2.3, 2.4. Зависимость электрического поля E и потенциала φ в барьере Шоттки от координаты x можно рассчитать как:
E = |
dϕ |
= |
q ND |
W |
− |
x |
||||
|
|
|
|
|
1 |
|
; |
|||
dx |
|
|
|
|
|
|||||
|
|
εs ε0 |
|
W |
||||||
|
|
|
|
x |
2 |
|
|
|
||
ϕ = ϕmax 1− |
|
|
. |
|
|
(Б2.2) |
||||
W |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Ширина области обеднения W определяется, как и в задаче 2.2. Ответ для задачи 2.3 при x = 0:
Emax (VG = +0,3 В) = 3,82·104 В/см,
Emax (VG = 0 В) = 4,95·104 В/см,
Emax (VG = –110 В) = 5,78·105 В/см.
Ответ для задачи 2.4 при W = 4,2 мкм:
E (x = 1,2 мкм) = 1,9·104 В/см,
φmax = φк + VG = 5,65 эВ,
φ(x) = 2,9 В.
2.5. Вольт-амперная характеристика идеального диода описывается формулой:
qVG |
|
|
j = js (e kT |
−1). |
(Б2.3) |
Gurtov.indd 382 |
17.11.2005 12:29:35 |