- •1. Поверхностная обработка полупроводниковых материалов
- •1.2. Механическая обработка кремниевых пластин
- •Очистка поверхности пластин после механической обработки
- •Методы контроля чистоты поверхности пластин
- •1.3. Химическое травление кремния
- •Кинетика травления кремния
- •Две теории саморастворения кремния
- •Влияние примесей
- •Дефекты структуры полупроводника
- •Ориентация поверхности полупроводника
- •Концентрация компонентов травителя
- •Температура раствора
- •Химико-динамическая полировка
- •Анизотропное травление
- •Травление окисла и нитрида кремния
- •Промывка пластин в воде
- •Очистка пластин в растворах на основе перекиси водорода
- •1.4. Плазмохимическое травление кремния
- •Классификация процессов плазмохимического травления
- •Кинетика изотропного травления кремния
- •Образование радикалов в газоразрядной плазме
- •Взаимодействие радикалов с атомами материалов
- •Травление двуокиси и нитрида кремния
- •Факторы, влияющие на скорость ПХТ материалов
- •Анизотропия и селективность травления
- •2. Диэлектрические пленки на кремнии
- •2.1. Термическое окисление кремния
- •Окисление кремния при комнатной температуре
- •Физический механизм роста окисла при высокой температуре
- •Структура окисла кремния
- •Модель Дила - Гроува
- •Кинетика роста окисла кремния
- •Влияние температуры окисления
- •Влияние парциального давления окислителя
- •Влияние ориентации подложки
- •Влияние типа и концентрации примеси в подложке
- •Оборудование для окисления кремния
- •2.2. Методы контроля параметров диэлектрических слоев
- •Контроль толщины слоя диэлектрика
- •Контроль дефектности пленок
- •Метод электролиза воды
- •Электрографический метод
- •Метод электронной микроскопии
- •Метод короткого замыкания
- •2.4. Осаждение диэлектрических пленок
- •Осаждение пленок диоксида кремния
- •Осаждение нитрида кремния
- •3.1. Диффузия примесей в полупроводник
- •Механизмы диффузии примесей
- •Диффузия по вакансиям. Коэффициент диффузии
- •Распределение примесей при диффузии
- •Диффузия из бесконечного источника
- •Диффузия из ограниченного источника
- •Первый этап диффузии
- •Источники примесей
- •Источники донорной примеси
- •Источники акцепторной примеси
- •Поверхностный источник примеси
- •Второй этап диффузии
- •Перераспределение примеси при диффузии в окисляющей среде
- •Контроль параметров диффузионных слоев
- •3.2. Эпитаксия
- •Рост эпитаксиальных пленок
- •Методы получения эпитаксиальных слоев кремния
- •Хлоридный метод
- •Пиролиз моносилана
- •Гетероэпитаксия кремния на диэлектрических подложках
- •Перераспределение примесей при эпитаксии
- •3.3. Ионное легирование полупроводников
- •Характеристики процесса имплантации
- •Пробег ионов
- •Дефекты структуры в полупроводниках при ионном легировании
- •Распределение внедренных ионов
- •Распределение примеси в интегральных структурах
- •Распределение примеси в двухслойной мишени
- •Влияние распыления полупроводника
- •Распределение примеси при термическом отжиге
- •Низкотемпературный отжиг
- •Оборудование для ионного легирования
- •Ионные источники
- •4. Технология литографических процессов
- •4.1. Классификация процессов литографии
- •4.2. Схема фотолитографического процесса
- •4.3. Фоторезисты
- •Позитивные фоторезисты
- •Негативные фоторезисты
- •Основные свойства фоторезистов
- •4.4. Фотошаблоны
- •4.5. Технологические операции фотолитографии
- •Контактная фотолитография
- •Искажение рисунка при контактной фотолитографии
- •Литография в глубокой ультрафиолетовой области
- •Проекционная фотолитография
- •4.6. Электронолитография
- •4.7. Рентгенолитография
- •Электронорезисты
- •5. Металлизация
- •5.1. Свойства пленок алюминия
- •Электродиффузия в пленках алюминия
- •Методы получения металлических пленок
- •5.2. Создание омических контактов к ИС
- •5.3. Использование силицидов металлов
- •5.4. Многоуровневая металлизация
- •Содержание
Как и при диффузии донорных примесей, бор выделяется на поверхности кремния с образованием боросиликатного стекла:
(2x + y)B2O3 + xSi → 4xB + (SiO2 )x (B2O3 )Y + 2xO2 (3.16)
В качестве жидкого источника обычно используется трибромид бора ВВr3, который требует присутствия кислорода в системе. При этом протекает реакция с образованием борного ангидрида:
4BBr3 +3O2 → 2B2O3 + 6Br2 ↑
Применяя газовый источник примеси - диборан В2Н6, - можно получать слои с поверхностной концентрацией не более 1017 см-3 (при определенной температуре и содержании диффузанта в атмосфере, а также при достаточно высоком содержании кислорода). Реакции, происходящие при диффузии из диборана, можно описать следующими уравнениями:
в потоке газа
B2 H 6 → 2B + 3H 2
4B + 3O2 → 2B2O3
на поверхности кремния
Si +O2 → SiO2 |
|
2B2O3 +3Si → |
|
4B +3SiO2 |
|
xSiO2 + yB2O3 |
→ (SiO2 ) X (B2O3 )Y |
Галлий диффундирует в кремний через слой окисла ЗЮ?, создавая под окислом диффузионные слои р-типа. Маской при его диффузии служит нитрид кремния. Источником примеси может быть как окисел Gа2О3, так и жидкие галогениды: GаС13, GаВr3, GaJ3.
Поверхностный источник примеси
Выделение элементарной примеси всегда происходит на поверхности кремния из примесносиликатного стекла, образующегося при осаждении на кремний (реакции (3.12) - (3.17) независимо от агрегатного состояния источника примеси). Образование примесносиликатного стекла, таким образом, необходимо для успешного проведения легирования полупроводника. Образующееся на поверхности кремния примесносиликатное стекло называется поверхностным источником примеси или локальным источником в отличие от внешнего источника -жидкого, твердого, газообразного.
Поверхностный источник представляет собой силикатное стекло, в котором атомы кремния замещены атомами примеси. Молярное соотношение окисла примеси и окисла кремния определяется фазовыми диаграммами состояний соответствующих систем.
Второй этап диффузии
После загонки примеси образовавшееся на поверхности кремния примесносиликатное стекло должно быть удалено, чтобы при последующей температурной обработке не происходило дальнейшего поступления примеси в полупроводник, а также не было химического взаимодействия примеси с кремнием с образованием труднорастворимых соединений. В то же время, если
поверхность кремния остается открытой, то при разгонке примесь из легированного слоя будет испаряться в окружающую среду, тем самым не будут выполняться граничные условия (3.8) о непроницаемости поверхности при х = 0. Поэтому процесс разгонки примеси проводится в кислородсодержащей среде (в присутствии азота или аргона). Содержание кислорода может составлять
2-10 %. Вначале для предотвращения испарения примеси проводят кратковременное (5-10 мин) окисление кремния в сухом кислороде, затем содержание кислорода снижают. Разгонку примеси проводят в тех же диффузионных печах, что и загонку.
Перераспределение примеси при диффузии в окисляющей среде
На втором этапе диффузии идут одновременно два конкурирующих процесса - диффузия примеси в глубь кристалла и окисление поверхности кремния, обогащенной примесью. От соотношения скоростей этих двух процессов будут зависеть результирующая поверхностная концентрация примеси, глубина залегания p–n - перехода и вид распределения примеси по глубине диффузионного слоя.
На границе двух фаз кремний - окисел кремния будет происходить перераспределение примеси, на которое влияют следующие параметры:
- коэффициент сегрегации примеси
m = |
C 0 ( Si ) |
|
C 0 ( SiO 2 ) |
||
|
равный отношению равновесных концентраций (растворимостей) примесей при данной температуре в кремнии и окисле кремния;
- отношение коэффициентов диффузии примеси в кремнии и окисле кремния при данной температуре
r = |
D Si |
D SiO 2 |
- отношениеC = B / DSi , где В - константа параболического роста
окисла. Эта величина характеризует способность примеси уйти из той части объема кремния, которая переходит в окисел. Если скорость окисления мала, примесь успеет перераспределиться в полупроводнике из поверхностного слоя в более глубокие слои. Если же скорость роста окисла велика, примесь будет захватываться растущим окислом в соответствии с коэффициентом ее сегрегации.
Если m > 1, то примесь при окислении оттесняется в кремний и ее концентрация на границе раздела двух фаз возрастает. Если же m < 1, то примесь поглощается окислом и поверхность кремния обедняется ею. Следует учитывать, что при окислении на каждую единицу объема окисла затрачивается 0,44 объема кремния. Поэтому даже при m = 1 поверхность кремния будет слегка обедняться примесью.
Меняя окружающую среду и температуру диффузии, можно управлять величиной параболической константы роста окисла В и тем самым управлять