- •1 Аналитический обзор
- •1.1 Современное производства алмазного инструмента
- •1.2 Основные виды инструмента
- •1.2.1 Выбор марки и зернистости алмазно-абразивного инструмента
- •1.2.2 Способ сортировки природных алмазов по степени шероховатости поверхност
- •1.2.3 Связки алмазно-абразивного інструмента
- •1.3 Особенности шлифования металлов и твёрдого сплава
- •1.3.1 Силы резания и температура при шлифовании
- •1.4 Адсорбционные свойства алмазов
- •1.4.1 Удельная поверхность
- •1.4.2 Плотность
- •1.4.3 Пористость
1.4.1 Удельная поверхность
Различают наружную (внешнюю) и внутреннюю удельные поверхности. При этом под внутренней удельной поверхностью понимают только полости, открытые наружу, т.е. внутренняя поверхность не включает стенки изолированных пор. Во внешнюю удельную поверхность входят все выступы и трещины, глубина которых меньше их ширины. Внешняя удельная поверхность синтетических алмазов определяется методом квазистационарной фильтрации разреженного газа, т.е. исходя из условия, что градиент давления в слое порошка в любой момент времени есть величина постоянная. Для измерения удельной поверхности этим методом используется прибор ДУП-2. Удельная поверхность определяется из соотношения
S=K· ɛ2 / m·t / b, см2/г (1.5)
где К– коэффициент диффузии для кнудсеновского течения газа (n>>d),
величина, постоянная для каждого прибора, см2/с;
m– навеска порошка, г;
b=ln[P(t) / P0] – перепад давления над образцом в момент времениt;
ɛ–пористость навески порошка при определенной насыпной
плотности
ɛ = 1-ρн / ρт (1.6)
где ρт– плотность алмазов, г/см3 ;
ρн – насыпная плотность порошка, г/см3 (ρн = m / Fh, где F – площадь
кюветы, см2,h– высота слоя порошка, см)
Внешняя удельная поверхность порошков синтетических алмазов в значительной мере зависит от размеров и формы алмазных частиц, топографии и поверхности (рисунок 1.6).
1 – шлифпорошки из алмазов марки АС4; 2 – шлифпорошки зернистостью 160/125
алмазов марок АС32 (а), АС15 (б), АС6 (в), АС4 (г), АС2 (д)
Рисунок 1.6 – удельная поверхность порошков синтетических алмазов,
измеренная прибором ДУП-2
Наличие микротрещин, пористость частиц, энергетическая неоднородность поверхности существенного влияния на нее не оказывают.
Полная удельная поверхность твердых тел (внутренняя и внешняя) определяется адсорбционными методами.
Наибольшее распространение получил метод БЭТ, основанный на определении адсорбции нейтральных газов на поверхности при условии заполнения монослоя.
Удельная поверхность вычисляется из выражения
S=Xm / M·N·Am· 10-20, м2/г (1.7)
где Xm– емкость монослоя (в граммах адсорбата на 1 г твердого тела);
M– молекулярная масса адсорбата, г;
N– число Авогадро;
Am – площадь поперечного сечения молекул адсорбата, т.е. площадь,
которую адсорбированная молекула занимает на поверхности
твердого тела в заполненном монослое
В качестве адсорбата обычно используется азот. Метод очень чувствителен к изменению химического состояния поверхности. К сожалению, этим методом трудно измерить удельную поверхность шлифпорошков синтетических алмазов из-за их малой удельной поверхности [3].
1.4.2 Плотность
Теоретическая плотность алмазов ρ = 3,515 г/см3. Плотность реальных кристаллов алмазов зависит от совершенства их строения, содержания механических включений, внутренних пустот. Определенные экспериментально пикнометрическим методом значения ρ синтетических алмазов составляют 3,32–3,60 г/см3, однако преобладающее количество кристаллов синтетических алмазов имеет значение ρ = 3,52–3,56 г/см3[3] .