- •Материалы электронной техники
- •Предисловие
- •Лабораторная работа № 1 исследование зависимости электропроводности полупроводника от напряженности внешнего электрического поля
- •Пояснения к работе
- •Задание
- •Указания по выполнению работы в лаборатории
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 2 исследование полупроводниковых терморезисторов
- •Пояснения к работе Общие сведения
- •Технология производства терморезисторов
- •Основные параметры и характеристики
- •Задание
- •Указания по выполнению работы в лаборатории
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3 исследование диэлектрической проницаемости и электрических потерь диэлектрических материалов
- •Пояснения к работе Поляризация диэлектриков
- •Потери в диэлектриках
- •Температурная зависимость диэлектрической проницаемости и tgδ
- •Описание лабораторной установки
- •Задание
- •Порядок проведения лабораторной работы
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4 исследование характеристик ферромагнитных материалов
- •Пояснения к работе
- •Описание лабораторной установки
- •Задание
- •Порядок проведения лабораторной работы
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 исследование магнитной проницаемости магнитомягких материалов
- •Пояснения к работе
- •Описание лабораторной установки
- •Задание
- •Порядок проведения лабораторной работы Измерение индуктивностей
- •Снятие температурных зависимостей
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6 исследование термоэлектрического эффекта
- •Пояснения к работе Контактные явления
- •Термоэлектрический эффект
- •Материалы, применяемые для термопар
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок проведения лабораторной работы
- •Содержание отчета
- •Описание лабораторной установки
- •Задание
- •Порядок проведения лабораторной работы
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Исходные данные для индивидуальных заданий по вариантам
- •Библиографический список
- •Содержание
Описание лабораторной установки
Исследуемый образец магнитного материала представляет собой тороид феррита марки 6000НН с намотанной на него обмоткой. Образцы помещены в муфельную (или печь), внутри которой температура контролируется по датчику цифрового термометра, вставленному c тыльной стороны печи. Выводы обмоток образца соединены с измерителем индуктивности типа Е12-1. Начальная магнитная проницаемость определяется на основании выражения (5.1) по формуле
(5.3)
где μ0 = 4π 10–7 Гн/м; L – индуктивность катушки, Гн; S = (R – r)h – площадь поперечного сечения сердечника, м; lср – средняя длина магнитопровода, которая считается как
(5.4)
Здесь R = 12,5 мм – внешний радиус тороида; r = 7,5 мм – внутренний радиус тороида; W = 250 – количество витков на магнитопроводах.
Толщина тороида h = 5 мм (рис. 5.2).
Рис. 5.2. Размеры сердечника
Методика измерения индуктивности образцов основана на использовании нулевых биений двух генераторов, которые имеются в приборе Е7-5а (Е12-1). В колебательный контур одного генератора (рис. 5.3) включен эталонный конденсатор СЭ переменной емкости.
Рис. 5.3. Принципиальная электрическая схема измерений индуктивности методом нулевых биений
В контур второго генератора последовательно с индуктивностью L2 включается измеряемая индуктивность LХ. СH – начальная емкость эталонного конденсатора СЭ. Электрические колебания двух генераторов подаются на смеситель (на рис. 5.3 не показан), на выходе которого при неравенстве частот получаются биения. Эти биения подаются на стрелочный индикатор, расположенный на лицевой панели измерителя. При равенстве частот в колебательных контурах имеют место нулевые биения, т. е. биения с частотой, близкой к нулю.
Перед началом измерений клеммы LX закорачиваются (соединяются проводником), а емкость СЭ устанавливается на нуль. Затем добиваются нулевых биений подстройкой индуктивности второго контура L2 при помощи ручки «начальная установка». При этом:
(5.5)
Затем к клеммам LX подключают измеряемую индуктивность, что приводит к изменению частоты второго генератора. Равенство восстанавливается изменением емкости СЭ. При нулевых биениях:
(5.6)
С учетом (5.5) получим:
(5.7)
Так как L1 и С2 постоянны, то LX пропорциональна только СЭ. Это дает возможность проградуировать шкалу СЭ в единицах измерения индуктивности.
Задание
Изучить температурную зависимость начальной магнитной проницаемости, а также описание лабораторной установки и порядок проведения лабораторной работы.
Снять зависимости индуктивностей образцов от температуры в диапазоне от комнатной до 210 ºС.
Построить графики L = f(t °С).
Построить графики температурной зависимости начальной магнитной проницаемости μH (t °С).
Определить точку Кюри для феррита.
Определить температурные коэффициенты магнитной проницаемости для интервала температур t1–t2 ºC, заданного преподавателем (табл. П.5 приложения).
Построить зависимость TKμ = f(t °С) для феррита.
* Жирным шрифтом выделены задания, которые необходимо выполнить непосредственно на лабораторной установке.