- •Вопрос 1
- •Вопрос 2
- •Вопрос3
- •Диффузионные паромасляные вакуумные насосы нвдм и нд
- •Вопрос4, 17
- •Вопрос5
- •Вопрос 13
- •Вопрос6
- •Вопрос 9
- •Вопрос7
- •Вопрос 8,34
- •Вопрос 10
- •Вопрос 11
- •2.1. Лазерные излучатели класса 1
- •2.2. Лазерные излучатели класса 2
- •2.3. Лазерные излучатели класса 3
- •2.3.1. Лазерные излучатели подкласса 3а
- •2.3.2. Лазерные излучатели подкласса 3б
- •2.4. Лазерные излучатели класса 4
- •Вопрос 14
- •Вопрос 16
- •Вопрос18
- •Вопрос15
- •Вопрос 19
- •Вопрос20
- •Определение плазмы
- •Классификация
- •Вопрос 21, 26
- •Вопрос 22
- •Вопрос 23
- •Вопрос 24
- •Вопрос 25
- •Вопрос 27
- •Вопрос 28
- •Вопрос 29
- •Вопрос 30
- •Вопрос 31
- •Вопрос32
- •10.1 Выращивание из раствора в расплаве (спонтанная кристаллизация)
- •Вопрос 33
- •Технология очистки подложек для производства микроэлектронных изделий
- •Вопрос 35
- •Основы классификации наноматериалов
- •Вопрос36
- •Свойства сверхпроводников Нулевое электрическое сопротивление
- •Фазовый переход в сверхпроводящее состояние
- •Эффект Мейснера
- •Эффект Литтла-Паркса
- •Изотопический эффект
- •Момент Лондона
Вопрос18
Достоинства методов ионно-плазменного распыления. Трехэлектродная система распыления.
При ионно-плазменном распылении в камере создается начальное давление 133-10- Па. Затем между катодом и анодом установки пропускают термоэлектрический ток высокой плотности (несколько ампер на квадратный сантиметр), после чего в камеру подают инертный газ до давления 133-IQ-*... 133-10-* Па и с помощью высокочастотного трансформатора зажигают разряд. Возникающие при разряде положительные ионы с низкой энергией бомбардируют подложку и удаляют с ее поверхности загрязнения ( ионное травление ). После этого на мишень подается отрицательный потенциал. Вытягиваемые из плазмы разряда положительные ионы бомбардируют мишень с энергией, достаточной для распыления атомов материала мишени. Атомы, выбитые из мишени, двигаются преимущественно в направлении, перпендикулярном поверхности мишени.
Большое достоинство ионно-плазменного распыления заключается в его универсальности. С одинаковым успехом могут распыляться металлы с различными свойствами, например вольфрам и золото. Такие сплавы, как нихром, пермаллой, нержавеющая сталь, распыляются без диссоциации состава распыляемого материала. При ионно-плазменном распылении сложные (сплавные) плеики из двух или нескольких металлов могут изготавливаться одновременным распылением нескольких независимых мишеней. Распыляться могут как чистые полупроводниковые материалы (кремний), так и полупроводниковые соединения. Большим преимуществом ионно-плазменного метода является его безынерционность. Распыление материала происходит лишь тогда, когда на мишень подается напряжение; распыление сразу же прекращается после выключения напряжения. Плотность напыляемого ионного пучка можно регулировать изменением тока эмиссии вольфрамового катода и давления инертного газа. Скорость осаждения может изменяться е очень широких пределах: от десятых долей нанометра до десятых долей микрона в минуту. Равномерность толщины пленки при ионно-плазменном распылении достигает 1...27о, что значительно выше, чем при катодном распылении, где вносятся искажения непроводящей подложкой, расположенной между катодом и анодом. Благодаря высокой энергии попадающих на подложку атомов прочность сцепления с подложкой пленки, полученной при ионно-плазменном методе, получается очень высокой. Для напыления диэлектрических материалов плазма зажигается с помощью радиочастотного излучения.
Недостатком ионно-плазменного распыления считается меньшая скорость наращивания пленки, однако в ионно-плазменные установки можно одновременно загружать десятки подложек. Такие установки часто имеют автоматическое управление.
Трехэлектродная система распыления
Для повышения чистоты получаемой на подложке пленки процесс ионно-плазменного распыления необходимо проводить при как можно меньшем давлении рабочего газа. Однако, как уже отмечалось ранее, понижение давления приводит к тому, что при большой длине свободного пробега электронов вероятность их столкновения с атомами рабочего газа становится ничтожно малой, и газовый разряд гаснет. Поэтому для поддержания разряда в камере и обеспечения распыления мишени при низких давлениях необходимы специальные меры. Одним из вариантов решения проблемы является применение трехэлектродной системы распыления, изображенной на рис. 3. Цифрами на рисунке обозначены: 1 - термокатод; 2 - анод; 3 - мишень; 4 - подложка; 5 - подложкодержатель. Таким образом, в данной системе имеются три независимо управляемых электрода: термокатод, анод и распыляемая мишень, потенциал которой относительно термокатода составляет несколько киловольт.По достижении в камере вакуума порядка10-4 Па термокатод разогревают и в камеру через натекатель подают инертный газ при давлении 0,05 - 1 Па. В результате термоэлектронной эмиссии с катода будут интенсивно испускаться электроны, ускоряющиеся вертикальным электрическим полем. При напряжении между термокатодом и анодом порядка 100 В возникает несамостоятельный газовый разряд, при этом разрядный ток достигает нескольких ампер. Мишень, имеющая отрицательный потенциал относительно катода, оттягивает на себя значительную часть ионов, образующихся в газовом разряде, и ускоряет их. В результате бомбардировки мишени ионами происходит ее распыление, и распыленные атомы осаждаются на подложке, формируя тонкую пленку. Такие трехэлектродные системы, в которых электрические цепи разряда и распыления разделены и управляются независимо друг от друга, обеспечивают гибкость управления процессом. Скорость осаждения составляет единицы нанометров в секунду, что в несколько раз превышает аналогичный показатель для двухэлектродной схемы катодного распыления. Дальнейшее развитие трехэлектродных систем распыления привело к использованию автономных ионных источников. Ионный источник представляет собой газоразрядную камеру с термокатодом, в которую подается рабочий газ под давлением ~ 0,5 Па, что обеспечивает высокую концентрацию ионов. Газоразрядная камера отделена от камеры осаждения калиброванными отверстиями, благодаря чему обеспечивается перепад давлений, и давление в камере осаждения, где расположены мишень и подложка, составляет ~ 0,015 Па. Часть ионов поступает через отверстия в камеру осаждения, ускоряется и распыляет мишень. Такая конструкция позволяет увеличить скорость распыления мишени и повысить чистоту осаждаемых на подложке пленок.