- •Содержание
- •14.2.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей 146
- •1. Детали оптических систем
- •1.1. Классификация оптических деталей
- •1.2. Особенности оформления чертежа
- •1.3. Требования к конструктивным параметрам деталей
- •1.4. Требования к материалу
- •1.5. Требование к изготовлению
- •1.6. Технологические свойства оптических материалов
- •1.7. Унификация и типизация технологических процессов
- •2. Контроль параметров оптических деталей
- •2.1. Контролируемые параметры
- •2.2. Методы и средства контроля формы шлифованных поверхностей
- •2.3. Контроль формы полированных плоских и сферических поверхностей
- •2.4. Пробные стекла, их типы и классы
- •2.5. Интерферометры
- •2.6. Контроль взаимного расположения поверхностей линз
- •3. Обрабатывающие материалы
- •3.1. Шлифующие абразивы
- •3.1.1. Зернистость и зерновой состав порошков алмаза
- •3.1.2. Порошки корунда, электрокорунда и других абразивов
- •3.2. Полирующие абразивы
- •4. Инструмент
- •4.1. Алмазный инструмент
- •4.1.1. Типы и характеристики алмазного инструмента
- •4.1.2. Изготовление алмазного инструмента
- •4.2. Инструмент и приспособления для шлифования и полирования
- •4.2.1. Шлифовальный инструмент
- •4.2.2. Полировальный инструмент
- •4.2.3. Приспособления
- •5. Вспомогательные материалы
- •5.1. Смазочно-охлаждающие жидкости (сож)
- •5.2. Материалы для соединения заготовок с приспособлением
- •5.3. Материалы рабочей поверхности полировальников
- •5.4. Жидкости для промывки и чистки деталей
- •5.5. Защитные лаки и эмали
- •5.6. Протирочные материалы
- •5.7. Материалы для чистки оптических деталей
- •6. Способы формообразования сферических и плоских поверхностей
- •7. Способы механической обработки оптических материалов
- •7.1. Шлифование алмазным инструментом
- •7.2. Обработка полирующими абразивами
- •8. Операции механической обработки оптических материалов
- •8.1. Распиливание стекла
- •8.2.Сверление отверстий
- •8.3. Круглое шлифование пластин
- •8.4. Центрирование линз
- •8.5. Шлифование сферических и плоских поверхностей
- •8.5.1.Предварительное шлифование алмазными кольцевыми кругами
- •8.2.2. Тонкое шлифование алмазным инструментом
- •8.6. Полирование сферических и плоских поверхностей
- •9. Механическая обработка оптических кристаллических материалов
- •9.1. Основные физико-механические и физико-химические свойства
- •9.2. Условия для обработки кристаллов и техника безопасности
- •9.3. Механическая обработка оптических кристаллических материалов с повышенной микротвердостью
- •9.4. Разделение кристаллов на заготовки
- •9.5. Грубое шлифование
- •9.6. Кругление
- •9.7. Фасетирование
- •9.8. Сборка блоков заготовок (блокирование)
- •9.9. Среднее и тонкое шлифование
- •9.10. Полирование
- •10. Установка заготовок на приспособлениях
- •10.1. Сборка блоков
- •10.2. Разборка блоков
- •11. Влияние технологических факторов на точность формообразования
- •11.1. Деформации, вызываемые остаточными напряжениями в стекле
- •11.2. Деформации, вызываемые напряжениями в нарушенном слое шлифованной поверхности
- •11.3. Температурные деформации
- •12. Расчет нормируемых параметров процесса
- •12.1. Коэффициент запуска
- •12.2. Припуски на обработку заготовок
- •13. Расчет плоских и сферических блоков
- •13.1. Плоский блок
- •13.2. Сферический блок
- •14. Технология типовых деталей
- •14.1. Технологический процесс изготовления плоскопараллельных пластин и клиньев
- •14.1.1. Предварительная обработка
- •14.1.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей
- •14.1.3. Изготовление точных пластин
- •14.2. Технологический процесс изготовления призм
- •14.2.1. Предварительная обработка
- •14.2.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей
- •14.3. Технологический процесс изготовления линз
- •15. Технология нестандартных деталей
- •15.1. Шаровидные линзы
- •15.1.1. Характеристики деталей
- •15.1.2 Технология изготовления
- •15.2. Цилиндрические и торические поверхности
- •15.3. Оптические детали лазеров
- •15.4. Основы технологии изготовления волоконно–оптических элементов (воэ)
- •15.4.1. Основные технические характеристики воэ
- •15.4.2. Основные требования к стеклам для воэ
- •15.4.3. Изготовление волоконно-оптических пластин (вол)
- •15.4.4 Изготовление микроканальных пластин (мкп)
- •15.5. Методы изготовления деталей с асферическими поверхностями
- •1 5.5.1. Методы нанесения слоя
- •15.5.2 Методы механической обработки
- •15.6. Изготовление крупногабаритных деталей
- •Окончание табл. 15.4
- •15.7. Изготовление шкал и сеток
- •15.7.1 Виды шкал и сеток, требования к ним
- •15.7.2 Основные технологические процессы и оборудование
- •1 5.8. Оптические детали из полимеров
- •15.9. Стеклометаллические зеркала
- •16. Соединение оптических деталей
- •16.1. Способы соединения
- •16.2. Материалы, применяемые для соединения
- •16.3. Технология соединения оптических деталей
- •17. Основы сборки и юстировки оптических приборов
- •17.1. Сборочные элементы приборов
- •17.2 Структура технологического процесса сборки
- •17.3. Общие принципы построения технологического процесса сборки
- •18. Фокусировка изображения в оптическом приборе
- •18.1. Параллакс в оптическом приборе
- •18.2. Способы фокусировки
- •18.2.1 Фокусировка при помощи астрономической зрительной трубы
- •18.2.2 Фокусировка при помощи плоскопараллельной пластинки
- •18.3. Контроль параллакса по бесконечно удаленному предмету
- •18.3.1 Проверка параллакса при помощи коллиматора
- •19. Сборка и юстировка типовых узлов оптических приборов
- •19.1. Сборка и юстировка объективов
- •19.1.1. Типы конструкций объективов оптических приборов. Общие требования к сборке объективов
- •19.1.2. Сборка объективов насыпной конструкции
- •19.1.3. Методы контроля и юстировки объективов. Контрольноюстировочные приборы
- •19.1.4. Сборка и юстировка узлов с призмами и зеркалами, работающими в параллельных и сходящихся пучках
- •20. Сборка и юстировка типовых оптических приборов
- •20.1. Сборка и юстировка спектральных приборов
- •20.2. Сборка и юстировка угломерных приборов
- •20.2.1. Общие требования к сборке и юстировке оптических угломерных приборов
- •20.2.2 Сборка и юстировка угломерных приборов с поворотными визирами
- •Библиографический список
2.5. Интерферометры
Наряду с пробными стеклами на предприятиях оптико-механической промышленности широко используют интерферометры типа Физо, обеспечивающие возможность бесконтактной проверки плоских полированных поверхностей и зеркал. Принципиальная оптическая схема одного из наиболее распространенных интерферометров показана на рис. 2.6 [6].
М
Рис. 2.6. Схема контроля на интерферометре типа Физо
онохроматический источник света 5 (обычно спектральная ртутная лампа или лазер) с помощью зеркала 6 и конденсора 7 освещает отверстие диафрагмы 8, расположенной в фокальной плоскости объектива 3. Лучи, прошедшие диафрагму и полупрозрачную пластину 4, направляются к объективу 3, из которого выходят параллельными пучками. За объективом по ходу лучей расположены клин 2 и проверяемая деталь 1. Плоскость а клина является образцовой. Отраженные от нее и проверяемой поверхности б пучки возвращаются в обратном направлении, накладываются друг на друга и интерферируют. Результат интерференции наблюдают невооруженным глазом 9, помещенным вблизи фокуса F’ объектива 3, или с помощью телескопической лупы 10, сфокусированной на проверяемую поверхность.В отличие от пробного стекла в интерферометрах типа Физо используют точечный монохроматический источник света и параллельный пучок, направленный вдоль нормалей к образцовой и проверяемой поверхностям. Благодаря этому обеспечивается контроль при значительных промежутках t между образцовой и проверяемой поверхностью, причем цена полосы, равная λ/2, практически не зависит от размера воздушного промежутка и координат точек поверхности. На приборах такого типа можно проверять детали с выступающими оправами, ступенчатые поверхности и т. п. Величина и характер дефектов оцениваются с помощью интерферометров типа Физо так же, как и при контроле пробным стеклом.
Некоторые приборы типа Физо снабжаются двумя поочередно включаемыми клиньями. Образцовая поверхность одного из них имеет светоделительное покрытие с коэффициентом отражения, близким к 0,8. С помощью такого клина проверяют зеркала или полированные поверхности с высоким (более 0,2) коэффициентом отражения.
На интерферометрах типа Физо можно также проверять шлифованные поверхности. Для этого перед контролем их покрывают тонким слоем смеси, состоящей из воска, масла и парафина. В результате такого покрытия поверхность становится зеркально отражающей.
В табл. 2.5 приведены основные технические характеристики интерферометров типа Физо. Из указанных приборов серийно выпускаются интерферометры ИТ-87, ИТ-200, ИТ-100, ПК-452, остальные – небольшими партиями.
И
Рис. 2.7. Пример интерференционной картины в интерферометре ИКП-2
нтерферометр модели ИКП-2 является усовершенствованной моделью прибора ИКП-100. Тот и другой содержат оптическую систему, осуществляющую разрыв измеряемой интерференционной полосы на несколько частей и взаимный разворот примыкающих частей на 180°. Вид получаемой при этом картины показан на рис. 2.7. При измерении искривления полосы с помощью специального микрометра осуществляется нониальное совмещение разорванных частей полосы. Точность измерения – до 0,01 ширины полосы.Из табл. 2.5 видно, что существующие приборы отечественного производства позволяют за один прием проверить поверхности диаметром до 300 мм. Поверхности диаметром более 300 мм средней и невысокой точности с малым и большим значениями коэффициента отражения можно проверять с помощью интерферометра на решетках (см. выше). Интерферометры фирмы «Цайго» («Zygo», США) обеспечивают проверку за один прием полированных поверхностей диаметром до 800 мм.