- •Содержание
- •Назначение.
- •Принципиальная схема уим.
- •Конструкция уим.
- •Оптическая схема и принцип действия.
- •Технические характеристики уим.
- •Погрешность измерения уим.
- •Руководство по работе на универсальном измерительном микроскопе.
- •Технические требования.
- •Методы испытаний.
- •Маркировка, упаковка, транспортирование и хранение.
- •Приложение Методы и средства поверки.
- •1. Условия поверки и подготовка к ней.
- •2. Проведение поверки.
- •2.1. Внешний осмотр.
- •2.2. Опробование.
- •2.2.1. Проверка взаимодействия узлов микроскопа.
- •Проверка принадлежностей микроскопа.
- •2.3. Определение метрологических параметров.
- •2.3.1. Определение отклонения от прямолинейности направления движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.2. Определение отклонения от прямолинейности направления движения каретки поперечного перемещения.
- •Проверка совпадения плоскостей передней и задней опорных поверхностей каретки продольного перемещения.
- •Определение усилия сдвига кареток.
- •Определение отклонения от перпендикулярности направлений движения кареток продольного и поперечного перемещения.
- •Определение соответствия показаний шкалы колонки действительным значениям углов ее наклона.
- •Определение смещения изображения лезвия ножа при наклоне колонки на 12˚30' в обе стороны от вертикального положения.
- •Определение соответствия длины участка между крайними линиями штриховой сетки угломерной головки при различных увеличениях объективов длине участка изображения образцовой шкалы.
- •Определение отклонения от параллельности горизонтальной линии штриховой сетки угломерной головки визирной системы направлению движения каретки продольного перемещения.
- •Определение несовпадения точки пересечения штриховой линии сетки угломерной головки с осью ее вращения.
- •2.3.12. Определение качества изображения в поле зрения бинокулярной насадки.
- •Определение разности увеличений правого и левого микроскопов бинокулярной насадки.
- •Определение отклонения от параллельности осей окуляров бинокулярной насадки.
- •Определение разности углов поворота изображения вокруг оптической оси двух оптических систем бинокулярной насадки.
- •Определение соответствия изображения одного деления градусной шкалы изображению всего участка минутной шкалы.
- •Определение правильности ориентировки изображения штрихов минутной шкалы относительно изображения штрихов лимба.
- •Определение погрешности угломерной головки.
- •Определение радиального биения скалок при любом их вылете относительно бабок.
- •Определение износа прямых центров.
- •Определение радиального биения центров при вращении скалок.
- •Определение отклонения от параллельности линии центров направлению движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.23. Определение разности толщин опорных планок для установки измерительных ножей.
- •2.3.24. Определение несовпадения линии центров с рабочими плоскостями измерительных ножей, располагаемых на опорных поверхностях каретки продольного перемещения.
- •2.3.25. Определение отклонения от параллельности линии обратных центров направлению движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.26. Определение отклонения от плоскостности рабочей поверхности стеклянной пластины предметного стола.
- •2.3.27. Определение отклонения от параллельности поверхности стеклянной пластины предметного стола направлению движения кареток.
- •2.3.28. Определение отклонения от прямолинейности образующих контрольного калибра.
- •2.3.29. Определение радиального биения центров контрольного калибра.
- •2.3.30.Определение диаметров рабочих поясков контрольного калибра.
- •Определение погрешностей микроскопа при измерениях проекционным методом.
- •Определение погрешности δ5 микроскопа при измерении методом осевого сечения среднего диаметра резьбового калибра.
- •3. Оформление результатов поверки.
- •Список используемой литературы
Технические требования.
Универсальные измерительные микроскопы должны изготовляться в соответствии с требованиями ГОСТ 14968-69 по чертежам, утвержденным в установленном порядке.
Интервал между крайними линиями штриховой сетки при различных увеличениях сменных объективов визирного микроскопа должен быть равен соответствующей длине интервала изображения шкалы, установленной в предметной плоскости. Увеличение сменных объективов, соответствующие им расстояния между штрихами и допускаемыми отклонениями указаны в следующей таблице.
Таблица 1
Увеличение объектива |
Расстояние между штрихами, мм |
Допускаемое отклонение |
9х |
0,6 |
±0,0005 |
5х |
1,08 |
±0,0005 |
3х |
1,8 |
±0,0005 |
1,5х |
3,6 |
±0,0020 |
1х |
5,4 |
±0,0020 |
Горизонтальная линия штриховой сетки визирного микроскопа при установке угломерной шкалы на нуль должна располагаться параллельно движению каретки продольного перемещения. Допускаемое отклонение ±1'.
Длина одного деления миллиметровой шкалы должна соответствовать длине всего интервала шкалы десятых долей миллиметра в поле зрения отсчетных устройств продольного и поперечного перемещений. Допускаемое отклонение на объекте ±0,0005 мм.
При наблюдении изображений угломерных шкал длина одного деления градусной шкалы должна быть равна длине всего интервала минутной шкалы. Допускаемое отклонение принимается равным ширине изображения штриха минутной шкалы для УИМ-200 и 1/4 ширины изображения биссекторного штриха для УИМ-200Э и УИМ-500Э.
На наружных поверхностях микроскопов не должно быть дефектов, ухудшающих внешний вид и эксплуатационные качества микроскопов. На нерабочих поверхностях должно быть нанесено надежное противокоррозионное покрытие.
Конструкция микроскопов должна обеспечивать работу с заданной точностью после нахождения в условиях нерабочих температур от минус 40 до плюс 45ºС и после транспортных перевозок.
Каждый универсальный измерительный микроскоп должен быть принят техническим контролем предприятия-изготовителя. Изготовитель должен гарантировать соответствие выпускаемых микроскопов требованиям ГОСТ 14968-69.
Предприятие-изготовитель обязано в течение двенадцати месяцев со дня отгрузки потребителю безвозмездно заменять или ремонтировать вышедшие из строя микроскопы при условии соблюдения потребителем правил хранения и эксплуатации, указанные в инструкции предприятия-изготовителя.
Методы испытаний.
Поверка универсальных измерительных микроскопов должна проводиться методами, указанными в инструкции 106-56 (МИ 236-81 ГСИ) и методических указаниях Комитета стандартов, мер и измерительных приборов.