- •Ответы на экзаменационные вопросы по предмету «Метрология, стандартизация и сертификация»
- •1)Диагностирование, контроль, испытание
- •2) Погрешности измерений
- •3) Виды измерений
- •4)Измерения и измерительная информация
- •5) Классификация видов измерений
- •6) Гос.Метрологический надзор и контроль
- •7) Классификация методов измерений
- •8) Нормативно-правовые основы метрологии
- •10) Основы метрологического обеспечения.
- •11) Классификация погрешностей измерений
- •12) Модели нормирования метрологических характеристик
- •13) Выявление и исключение грубых погрешностей
- •14) Основные метрологические характеристики средств измерений
- •15) Качество измерений
- •16.Методика поверки щитовых измерительных приборов
- •17. Методы обработки результатов измерений
- •18. Методика поверки приборов для измерения частоты
- •19. Динамические измерения и динамические погрешности
- •20. Методика поверки щитовых измерительных приборов с использованием потенциометра
- •21.Суммирование погрешностей
- •22.Сравнительный анализ погрешностей измерения
- •23. Виды средств измерений
- •24. Сравнительный анализ методов измерений.
- •25. Метрологические характеристики средств измерений.
- •26. История метрологии
- •27.Классы точности средств измерений.
- •28.Поверка щитовых приборов при измерениях.
- •29. Метрологич.Характеристики цифровых средства измерений
- •30.Определение результирующей погрешности средства измерений.
11) Классификация погрешностей измерений
1.По форме числового выражения: абсолютные, относительные, приведённые. 2.По закономерностям проявления: грубые (промахи), случайные (предельные, среднеквадратические, вероятностные, средние, среднеарифметические), систематические, методические, инструментальные, субъективные, условно-постоянные, безусловно-постоянные, примерные, прогрессирующие, периодические, статические, динамические.
Систематическая составляющая погрешности остаётся величиной постоянной или закономерно изменяющейся при проведении повторных и последующих измерений одного и то же параметра. Грубые погрешности представляют собой резкое отклонение от полученного результата измерений. Субъективная постоянная погрешности зависит от индивидуальных особенностей и опыта экспериментатора.
Методическая составляющая погрешности обусловлена несовершенством выбранного метода измерений.
Инструментальная составляющая обусловлена несовершенством конструкции измерительного прибора, а также его установкой.
12) Модели нормирования метрологических характеристик
В основу систему нормирования МХ заложен принцип адекватности оценки погрешности измерения и её действительно значения при условии, что реально найденная оценка является оценкой «сверху». Последнее условие объясняется тем, что оценка «снизу» всегда опаснее, так как приводит к большему ущербу от недостоверности измерительной информации.
Комплекс НМХ должен обеспечить оценку инструментальной составляющей погрешности измерения при известных условиях изменения СИ и характера изменения измеряемых величин. Следовательно, комплекс НМХ должен устанавливаться, исходя из требований реальных условий эксплуатации конкретных СИ. На этом основании все СИ целесообразно разделить на 2 функциональные категории:
1.СИ используемые совместно с другими измерительными, преобразовательными, вычислительными, регистрирующими и управляющими устройствами. Погрешность в таких сложных СИ претерпевает ряд преобразований по мере прохождения её по измерительному каналу.
2.СИ используемые отдельно в качестве показывающих или регистрирующих приборов, к выходу которых не могут быть подсоединены другие устройства. Естественно комплекс НМХ для этих категорий различен, т.к. например для второй категории нормирование динамических характеристик излишне. Тогда с учётом степени усложнения комплексов НМХ все виды СИ можно классифицировать по трём группам:
*меры и цифроаналоговые преобразователи (ЦАП)
*измерительные и регистрирующие приборы
*аналоговые (АП) и цифровые измерительные преобразователи (ЦИП)
Для первой и третьей групп СИ должны нормироваться характеристики нормирования взаимодействия с устройствами, подключёнными к входу и выходу СИ и неинформативные параметры выходного сигнала. Кроме того, для третьей групппы должны нормироваться номинальная функция преобразования fном (x) (в си второй группы ее заменяет шкала или другое градуированное отсчетное устройство) и полные динамические характеристики.
Наиболее распространенными формами записи класса точности ЦСИ являются:
1)δор=± [c+d (Xk/x – 1)]
c и d – постоянные коэффициенты, Хк–постоянное значение диапазона измерений, х–текущее значение.
2) δор=± [(a+b)Xk/x], b=d, a=c-b
3)символическая запись, характерная для зарубежных ЦСИ.
Δор=± [a(%)x + b(%) Xk], которую следует читать так: предел допускаемых значений погрешности равен а(%) значения измеряемой величины плюс b(%) значения верхнего предела диапазона измерения.
(По рисунку). Модель II применима для СИ, случайной составляющей погрешности которых можно пренебречь. Эта модель включает: расчет наибольших возможны значений составляющих погрешности СТ для гарантирования вероятности Р=1 недопущения выхода погрешности СИ за расчётные пределы. Модель II используется для наиболее ответственных измерений, связанных с учётом технических и экономических факторов, возможных катастрофических последствий, угрозы здоровью людей и т.п.
Модель I даёт рациональную оценку основной погрешности СИ с вероятностью Р<1 из-за пренебрежения резко реализующимися составляющими погрешности.
Комплекс для моделей I и II погрешности предусматривает статистическое объединение отдельных составляющих погрешностей с учётом их значимости.
Однако для некоторых СИ такое статистическое объединение нецелесообразно. Это точные промышленные (в технологических процессах) СИ, измеряющие медленно изменяющиеся процессы в условиях, близких к нормальным, образцовые СИ, при использовании которых не производится многократных наблюдений с усреднениями. За инструментальную (модель III) в таких приборах может быть принята их основная погрешность или арифметическая сумма наибольших возможных значений отдельных составляющих погрешностей.