Контрольная КиДСВТ,вар 21
.docxБЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
ИНФОРМАТИКИ и РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ
Факультет КСиС
Кафедра ЭВМ ФКСиС
Контроль и диагностика средств вычислительной техники
Контрольная работа
Синтез комбинационной схемы и построение теста контроля
Вариант №21
Выполнил: Проверила:
Ст. гр. Доц. Золоторевич Л. А.
Кашапова М.А.
Минск
2018
В соответствии с вариантом задания выбрать из таблицы 3 логическую функцию.
-
Записать ДНФ логической функции и выполнить процедуру ее минимизации методом карт Карно.
|
x1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
|
x2 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
1 |
|
x3 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
|
x4 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
|
Y |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
1 |
0 |
1 |
0 |
0 |
Карта Карно:
|
x1x2 x3x4 |
00 |
01 |
11 |
10 |
|
00 |
0 |
0 |
|
|
|
01 |
0 |
0 |
1 |
0 |
|
11 |
|
0 |
0 |
|
|
10 |
1 |
0 |
0 |
|
0
1
1
1
1
Минимизированная функция:
Представление в базисе Шеффера (И-НЕ):
Представление в базисе Вебба (ИЛИ-НЕ):
Составление тестирующих наборов для схемы, выполненной в базисе Шеффера.
Проверяем х4
Для неисправности const 0 на входе х4 найден тестовый набор {1001}.
Для неисправности const 1 на входе х4 найден тестовый набор {1000}.
Проверяем х3
Для неисправности const 0 на входе х3 найдены тестовые наборы {0010, 0011, 1011}.
Для неисправности const 1 на входе х3 найдены тестовые наборы {0000, 0001, 1001}.
Проверяем х2
Для неисправности const 0 на входе х2 найдены тестовые наборы {0110, 0111, 1001, 1101, 1111}.
Для неисправности const 1 на входе х2 найдены тестовые наборы {0010, 0011, 1010, 1011}.
Проверяем х1
Для неисправности const 0 на входе х1 найдены тестовые наборы {0000, 1000}.
Для неисправности const 1 на входе х1 найден тестовый набор {0000}.
Проверяем А1
Для
неисправности const 0 на
выходе
найдены тестовые наборы {0010, 0011, 1010}
Для
неисправности const 1 на
выходе
найдены тестовые наборы {0110, 0111, 1110}
Проверяем
Для неисправности const 0 на выходе A2 найден тестовый набор {1000}
Для неисправности const 1 на выходе A2 найден тестовый набор {1001}
Проверяем A3
Для неисправности const 0 на выходе A3 найден тестовый набор {1101}
Для неисправности const 1 на выходе A3 найден тестовый набор {1111}
Проверяем В1
Для неисправности const 0 на выходе В1 найдены тестовые наборы {0000, 0001, 0100, 0101, 0110, 0111, 1001, 1100, 1110, 1111}
Для неисправности const 1 на выходе В1 найдены тестовые наборы {0010, 0011, 1011}
Проверяем В2
Для неисправности const 0 на выходе В2 найдены тестовые наборы {0000, 0001, 0100, 0101, 0110, 0111, 1001, 1100, 1110, 1111}
Для неисправности const 1 на выходе В2 найден тестовый набор {1000}
Проверяем В3
Для неисправности const 0 на выходе В3 найдены тестовые наборы {0000, 0001, 0100, 0101, 0110, 0111, 1001, 1100, 1110, 1111}
Для неисправности const 1 на выходе В3 найден тестовый набор {1101}
Проверяем C1
Для неисправности const 0 на выходе C1 найдены тестовые наборы {0010, 0011, 1000, 1010, 1011, 1101}
Для неисправности const 1 на выходе C1 найдены тестовые наборы {0001, 0101, 0110, 1001, 1110}
Заполним таблицу неисправностей и решив задачу о покрытии найдем минимальный тестовый набор.
|
|
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
21 |
22 |
|
+ |
0000 |
|
|
|
1 |
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
|
|
|
0001 |
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
1 |
|
+ |
0010 |
|
|
1 |
|
|
1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
0011 |
|
|
1 |
|
|
1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
0100 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
|
|
|
0101 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
1 |
|
+ |
0110 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
1 |
|
|
0111 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
|
|
+ |
1000 |
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
1 |
|
|
+ |
1001 |
1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
1 |
|
|
1010 |
|
|
|
|
|
1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
1011 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
1100 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
|
|
+ |
1101 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
1 |
1 |
|
|
|
1110 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
1 |
|
+ |
1111 |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
1 |
|
1 |
|
1 |
|
|
|
Таким образом, решив задачу о строковом покрытии, получен минимальный тестовый набор: {0000, 0010, 0110, 1000, 1001, 1101, 1111}
Напишем программы для обоих базисов для vlsi-sim и проверим правильность составления минимального тестового набора.
Представление в базисе Шеффера (И-НЕ):
Базис Шеффера
circuit Sheffer;
inputs X1(1), X2(1), X3(1), X4(1);
outputs C1(1);
GATES
A1 'NAND'(1) X4(1);
A2 'NAND'(1) X3(1);
A3 'NAND'(1) X2(1);
B1 'NAND'(1) A3(1), X3(1);
B2 'NAND'(1) A2(1), X1(1), X2(1), X4(1);
B3 'NAND'(1) A1(1), A3(1), X1(1);
C1 'NAND'(1) B1(1), B2(1), B3(1);
ENDGATES
END
Проверка найденного тестового набора.
Тестовый набор, найденный программой.
Как видно из результатов, найденный тестовый с помощью метода активизации одномерного пути в vlsi-sim дал результат 93,18%.
Временная диаграмма:
Базис Пирса
circuit Pirs;
inputs X1(1), X2(1), X3(1), X4(1);
outputs C1(1);
GATES
A1 'NOR'(1) X4(1);
A2 'NOR'(1) X3(1);
A3 'NOR'(1) X2(1);
A4 'NOR'(1) X1(1);
B1 'NOR'(1) A3(1), X2(1);
B2 'NOR'(1) A4(1), X4(1), X2(1);
B3 'NOR'(1) A1(1), A3(1), A4(1), X3(1);
C1 'NOR'(1) B1(1), B2(1), B3(1);
ENDGATES
END
Временная диаграмма:
