- •Лабораторная работа № 1исследование электронных ключей на биполярных транзисторах
- •1. Теоретические сведения
- •Задержка включения транзистора
- •Формирование фронта переключения транзистора
- •Влияние барьерной емкости база-коллекторного перехода
- •Время рассасывания избыточного заряда
- •Время среза
- •2. Порядок выполнения работы
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 2исследование диодно-транзисторных и транзисторно-транзисторных логических элементов
- •Диодно-транзисторная логика
- •Транзисторно-транзисторная логика
- •Порядок выполнения работы
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 3исследование устройств формирования импульсов и генераторов колебаний на интегральных цифровых элементах
- •Генераторы импульсов
- •Формирователи импульсов заданной длительности
- •Программа работ
- •Содержаниеотчета
- •Контрольныевопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 4исследование дифференциального усилителя
- •Дифференциальный усилитель
- •Параметры дифференциального усилителя
- •Порядок выполнения работы
- •Оформление отчета
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Содержание
- •Основы микроэлектроники Методические указания
- •6 30092, Г. Новосибирск, пр. К. Маркса, 20
Влияние барьерной емкости база-коллекторного перехода
Рассматривая перезаряд барьерной емкости коллекторного перехода, обратимся к схеме замещения транзистора (рис. 1.6).
Рис. 1.6
Распишем первый закон Кирхгофа для 1-го и 2-го узла схемы замещения.
,
или
;
;
;
.
Учитывая, что , запишем
,
.
Значение достигается в момент, который может быть определен из (6).
Уравнение (6) представляет собой неоднородное линейное дифференциальное уравнение с постоянными коэффициентами вида , решение которого легко можно найтиметодом вариации произвольной постоянной(метод Лагранжа) в виде
.
Решая (6), получаем
,
где .
Выражение (7) аналогично выражению (5) но длительность процесса здесь определяется постоянной времени коллекторной емкости: . Множитель (+1) при постоянной временисвязан с проявлением так называемогоэффекта Миллерапри наличии связи между входом и выходом.
Время рассасывания избыточного заряда
Пусть транзистор был насыщен током , тогда заряд, накопленный в нем, равен(рис. 1.7), где– постоянная времени накопления избыточного заряда.
В некоторый момент времени ток базы скачком уменьшается от положительного значения до отрицательного значения. С этого момента начинается уменьшение заряда с постоянной времени рассасывания, причем приt заряд стремится к теоретическому значению заряда.
Рис. 1.7
Время рассасывания , определяется ГОСТ 18604.21 –78 как отрезок времени между моментом подачи запирающего токаи моментом, когда напряжение на коллекторе в схеме достигнет уровня (0.1…0.3)Eп [2].
При этом транзистор будет находиться в насыщенном состоянии до тех пор, пока заряд не снизится до величины . Таким образом, согласно (1) время рассасывания накопленного заряда в базе можно определить
.
Для ориентировочных расчетов можно принять для бездрейфовых транзисторов (например, для сплавных германиевых) и– для дрейфовых транзисторов (например, диффузионных по технологии), где,– постоянная времени.
.
Время среза
Аналогично выводу соотношения (9) легко получить время среза – .
.
2. Порядок выполнения работы
Обеспечить ключевой режим работы схемы, изображенной на рис. 1.8. Для этого рассчитать величины сопротивлений ,при следующих данных:
– VT– КТ201А,,= 10 МГц,Ск = 20 пФ,Сэ = 5 пФ;
– Eк = 5 В;
– ;
– Iкн= 5 мА;
– S = 3;
– Ег = 2 В;fг = 50 кГц.
Результаты расчета согласовать с преподавателем.
Собрать схему согласно рис. 1.8, используя расчетные данные.
Зарисовать эпюры напряжений в точках аиbс относительным их расположением, а также эпюры напряжений, отражающиеи.
Измерить параметры ,,,. Измерения проводить, используя внешнюю синхронизацию осциллографа.В качестве синхронизирующего сигнала использовать сигнал Eг.
При оформлении отчета рассчитать параметры ,,,и занести в таблицу. Сравнить расчетные и измеренные данные.
Рис. 1.8
Экспериментально определить минимальное значение входного сигнала EГ1, при котором транзистор находится на границе режима насыщения. В качестве критерия определения использовать напряжение. Для этого использовать измеренные значения,, по которым вычислить.
Измерить параметры ,,,. Полученные значения занести в таблицу.
Зарисовать эпюры напряжений в точках аиbс относительным их расположением, а также эпюры напряжений, отражающиеи.
Рассчитать значения токов ипо следующим соотношениям:
;
.
Рассчитать коэффициент усиления по выражению
.
Установить величину напряжения генератора, соответствующую , для этого воспользоваться соотношением
.
Провести измерения согласно п.п. 2.1.
Результаты измерений занести в таблицу.
Собрать схему, изображенную на рис. 1.9, со значениями параметров элементов, рассчитанных в п. 2.1 и дополнительным резистором .
Рис. 1.9
Рассчитать амплитуду сигнала генератора по соотношению
. (10)
При проведении эксперимента установить амплитуду сигнала генератора согласно полученному в расчете, а частоту сигнала EГ2, – равную 50 кГц.
Измерить параметры ,,,. Полученные значения занести в таблицу. Зарисовать эпюры напряжений в точкахаиbс относительным их расположением, а также эпюры напряжений, отражающиеи.
Собрать схему, изображенную на рис. 1.10, со значениями параметров элементов, соответствующих п. 2.3, и конденсатором С = 1 нФ. Установить частоту сигналаEГ, равную 50 кГц.
Рис. 1.10
Измерить параметры ,,,. Полученные значения занести в таблицу.
Зарисовать эпюры напряжений в точках аиbс относительным их расположением, а также эпюры напряжений, отражающиеи.
2.6. Собрать схему, изображенную на рис. 1.11, со значениями параметров элементов, соответствующих п. 2.5. Установить частоту EГ, равную 50 кГц.
Измерить параметры ,,,. Полученные значения занести в таблицу.
Рис. 1.11
Зарисовать эпюры напряжений в точках а и b с относительным их расположением, а также эпюры напряжений, отражающие и.