Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

m1012

.pdf
Скачиваний:
1
Добавлен:
15.11.2022
Размер:
10.66 Mб
Скачать

Пусть объект не деформируется, а смещается как жесткое целое так, что функция a(x, y) преобразуется в a(x c, y d ). То-

гда в соответствии с теоремой о смещении [28] получим

 

a(x c, y d ) F ( f

 

f

 

)e

i 2 (cf

df

)

,

 

 

 

x

y

 

 

x,

y

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где F( fx,

fy ) a(x, y).

 

 

 

 

 

 

 

 

То есть при жестком смещении фурье-образ функции

(2.26)

a(x, y)

просто умножается на коэффициент e

i 2 (cf

df

)

const.

x

y

 

 

 

 

При восстановлении двух таких зарегистрированных состояний плоской волны получим две плоские волны, имеющие одинаковые пространственные частоты и потому не интерферирующие.

При исследовании диффузно рассеивающих объектов спектр функции a(x, y) является непрерывным, и поэтому восстанавли-

ваются волны даже при наличии пространственной некотором непрерывном диапазоне частот: fx fx ,

фильтрации в fy fy . Если,

в соответствии с гипотезой Александрова–Бонч-Бруевича, считать, что при восстановлении интерферируют волны только от тождественных точек, то тогда следует рассматривать интерференцию различных пространственных частот в точке наблюдения

(рис. 2.4, а): sin / , sin 0 /

Наблюдаемая на восстановленной интерферограмме разност-

ная частота

f

равна f

sin 0 / sin / Это эквивалентно

по форме тому, что получилось для деформируемой поверхно-

сти (2.24), (2.25).

Таким образом, интерферограмма регистрирует только изменение пространственной частоты света, независимо от причины вызвавшей это изменение. Поэтому любые изменения этой частоты между объектом и плоскостью регистрации интерферограммы также внесут свой вклад в наблюдаемую при восстановлении разностную частоту f . Эти дополнительные изменения могут быть связаны, например, с рефракцией света в неоднородной среде между объектом и интерферограммой. При исследовании деформированного состояния поверхностей таковой является воздушная среда. В большинстве случаев условия проведения экспериментальных исследований позволяют создать условия, при которых рефракцией в воздухе можно пренебречь. Однако

41

при исследовании пространственных задач, когда свет проходит через неоднородно деформируемый объект (рис. 2.4, б), указанный эффект может оказаться достаточно большим, а пренебрежение им недопустимым.

а)

б)

 

 

U

 

 

U

U

grad n 0

grad n = 0

 

0

 

0

Рис. 2.4. Влияние рефракции в неоднородно деформируемом объеме на точность определения перемещений:

ав отсутствии рефракции (grad n = 0);

бпри наличии рефракции (grad n 0)

Итак, разностная частота

f ,

модулирующая амплитуду вос-

становленной волны, определяется перемещениями, вызванными деформацией исследуемого сечения, рефракцией света между этим сечением и интерферограммой. Разделение вклада в f каждого из эффектов по виду интерференционной картины (без привлечения дополнительной информации) невозможно. Если это разделение возможно либо влияние других факторов пренебрежимо мало, то применение пространственной частотной фильтрации позволяет выделять определенные пространственные частоты, и, меняя положение и ориентацию фильтра, получать интерферограммы, характеризующие поле деформаций x или y .

Таким образом, регистрация интерферограмм с использованием схем пространственной фильтрации позволяет, с одной стороны, ограничить объем регистрируемой информации до необходимого минимума, что существенно облегчает процедуру ее последующей расшифровки, с другой – по изменениям пространственной частоты регистрируемого сигнала в результате деформирования объекта исследования на основе (2.24) и (2.25) опре-

42

делить его деформированное состояние (при условии, что вклад от других эффектов в изменение пространственной частоты мал или известен).

Следует заметить, что различие между методами голографической интерферометрии, муара, в том числе голографического, и спекл-интерферометрией при рассмотрении их в области пространственных частот чисто техническое. Оно связано с особенностями регистрации информации и различием в спектральном распределении, разной чувствительностью к отдельным компонентам перемещений, различием в значениях порога чувствительности.

Однако все они основаны на регистрации изменений пространственной частоты света, возникающей при деформировании. Поэтому выводы, касающиеся причин изменения регистрируемых пространственных частот в голографической интерферометрии, применимы и к этим методам.

Выводы

1.Интерференционно-голографические методы регистрации

иобработки информации обладают целым рядом преимуществ по сравнению с другими методами исследования напряженнодеформированного состояния: высокая чувствительность к перемещениям (или изменениям показателя преломления) при одновременно низком пороге чувствительности, возможность получения информации по всему исследуемому полю объекта.

2.Высокая чувствительность метода, к сожалению, ограничивает диапазон определямых величин. Однако применение регистрирующих схем на основе двойного преобразования Фурье позволяет избирательно подойти к регистрируемой информации, ограничив ее до необходимого минимума, что существенно облегчает процесс ее расшифровки. Кроме того, при этом обеспечивается управление чувствительностью и расширение диапазона определямых величин.

3.Информацию о внутриплоскостных компонентах перемещений в виде изменений регистрируемой пространственной частоты несут только волны, дифрагировашие в исследуемой области. Недифрагировавшие волны (фурье-компоненты световой волны с нулевой пространственной частотой) никакой информации о внутриплокостных компонентах перемещений не несут.

43

4. Дополнительные изменения пространственной частоты световой волны, ранее дифрагировавшей в исследуемой области, появляются в результате рефракции, если среда между исследуемой областью и зоной регистрирации является оптически неоднородной. Поскольку при регистрации вклады от изменений, связанных с дифракцией в исследуемой области и рефракцией в неоднородной среде, суммируются, то в результате при определении напряженно-деформированного состояния возникают дополнительные погрешности.

Глава 3. АНАЛИЗ ВЛИЯНИЯ НЕОДНОРОДНО ДЕФОРМИРУЕМОГО ОБЪЕМА

НА ФОРМИРОВАНИЕ ИНТЕРФЕРОГРАММ ВНУТРЕННИХ СЕЧЕНИЙ ФАЗОВЫХ ОБЪЕКТОВ

Как уже было отмечено ранее, применение методов голографической интерферометрии (также как и методов муара, спеклинтерферометрии) основано на регистрации изменений пространственной частоты света, дифрагировавшего в исследуемой области, и существовании связи между этими изменениями и перемещениями. Причем в общем случае на изменения пространственной частоты влияют не только перемещения исследуемого объекта, но и рефракция света в неоднородной среде.

Традиционно в методах голографической интерферометрии, применяемых в механике деформируемого твердого тела, принято делить исследуемые объекты на два вида – диффузно рассеивающие и прозрачные (фазовые). При исследовании диффузных объектов используют наличие связи между перемещениями деформируемой поверхности и изменениями пространственной частоты света, дифрагировавшего на ней. На фазовых объектах обычно изменение пространственной частоты связывают с изменениями показателя преломления и рефракцией света в неоднородной среде. В связи с комплексным использованием двух разных механизмов, формирующих интерферограмму, возникает необходимость анализа влияния неоднородно деформируемого объема на пространственные частоты регистрируемых световых волн, дифрагировавших в исследуемом сечении прозрачного объекта, получения разрешающих уравнений, учитывающих эти изменения пространственных частот как из-за перемещений, так и в результате рефракции. Кроме того, появляется необходимость в разработке

44

методики, позволяющей на основе экспериментальной информации корректно определять напряженно-деформированное состояние исследуемых сечений.

Далее рассматривается решение всех этих вопросов.

3.1.Оценка влияния рефракции света

внеоднородно деформируемом объеме

на формирование интерферограмм внутренних сечений

Прохождение света через неоднородно деформируемый объем всегда сопровождается изменением его пространственной частоты в результате рефракции. Для последующего существенно насколько это изменение велико по сравнению с изменением, связанным с деформированным состоянием конкретного внутреннего сечения.

Еще в 1969 г. R.L. Kerber и J.S. Whittier [171] показали, что при динамическом нагружении и использовании муаровых методов влияние рефракции необходимо учитывать. Однако ее влияние при статическом нагружении длительное время игнорировалось. Возможно, это результат дискуссии, развернутой на страницах «Experimental Mechanics» [145] после вышеуказанной публикации. Ссылаясь на успешное решение некоторых статических задач механики твердого тела с применением методов фотоупругости или сеток, A.J. Durelli и J.A. Clark [145], утверждали, что эффект рефракции пренебрежимо мал.

К сожалению, R.L. Kerber и J.S. Whittier в этой дискуссии не акцентировали внимание на существенных отличиях регистрируемого оптического эффекта в муаровых методах от методов, на которые ссылались A.J. Durelli и J.A. Clark. Было лишь подтверждено, что в представленных оппонентами задачах эффект рефракции действительно достаточно мал, а условия, при которых игнорирование рефракции недопустимо, к сожалению, не были определены.

Нетрудно показать, что влияние рефракции может быть весьма существенным и пренебрегать им без предварительной оценки погрешности нельзя [36, 113, 177].

Рассмотрим схему регистрации интерферограмм в многолучевом интерферометре (рис. 3.1, а), основанную на схеме двойного преобразования Фурье. Она позволят избирательно подойти к регистрируемой информации и, следовательно, существенно облегчить ее анализ [20, 36, 177, 217]. В плоскости изображения можно регистрировать интерференционное поле, образованное

45

при интерференции любых пространственных частот (выбираемыx в фурье-плоскости первой линзы) как с опорным пучком, так и между собой.

а)

Двухкомпонентная

модель

= 0,63 мк

0 = 40 мм-1

L = 40 мм

E = 3,2 103 Н/мм2 С = –3,9 10-5 мм2/H

б)

в)

Рис. 3.1. Демонстрация влияния рефракции на двухкомпонентной модели в схеме двойного преобразования Фурье (а) при интерференции

дифрагировавших в исследуемом сечении волн с опорным пучком (б) и между собой (в)

46

Таким образом, можно получать интерферограммы, соответствующие голографической интерферометрии, спекл-фотогра- фии, муаровым методам [36]. Запись интерферограмм осуществлялась методом двух экспозиций или методом реального времени. Для последующего анализа метод регистрации не имеет существенного значения. Поэтому несмотря на то, что для простоты в дальнейшем делаются ссылки, как правило, на метод двух экспозиций, полученные выводы в полной мере относятся и к методу реального времени.

Представим исследуемый объект в виде двухкомпонентной модели, первая часть которой – длинная полоса с диффузной поверхностью или нанесенным на нее растром; вторая – четырехгранная призма (рис. 3.1, а). Обе части вплотную примыкают друг к другу, до деформирования они однородны (n0 = const во всем объеме) и находятся в иммерсионной ванне (на рисунке не показана).

В этом случае свет распространяется прямолинейно до диффузной поверхности (или растра), затем дифрагирует, распространяясь далее также прямолинейно в виде набора плоских волн по разным направлениям.

Спектр дифрагировавшего света можно наблюдать в фурьеплоскости первой линзы. Он является дискретным, если в исследуемом сечении присутствует регулярная структура (растр), или непрерывным в случае нерегулярной структуры (диффузно рассеивающая поверхность).

На рис. 3.1, б приведены интерферограммы, полученые при интерференции с опорным пучком волн, дифрагировавших в вертикальной плоскости (xoz) и имеющих пространственные частоты, соответствующие плюс первому и минус первому дифракционным порядкам для растра с частотой = 40 мм-1. Они характеризуют абсолютное изменение оптического пути для каждого из этих дифракционных порядков при неоднородном деформировании призмы. Несовпадение картин интерференционных полос вдоль линии действия силы показывает, что дополнительные разности хода, приобретаемые этими волнами из-за неоднородности объема, различны. Окажет ли указанная разность оптических путей влияние на точность определения деформированного состояния растра зависит от величины этого эффекта по сравнению с эффектом, вызванным деформациями растра.

При интерференции вышеуказанных дифракционных порядков между собой и однородном деформировании первой части мо-

47

дели, интерферограмма представляет собой систему эквидистантных полос (рис. 3.1, в – левая часть фотографии). Однако приложение нагрузки, создающей неоднородные деформации в объеме призмы, приводит к искажению исходной системы интерференционных полос: правая часть той же фотографии. По сути дела, эта интерферограмма является разностной картиной для интерферограмм, приведенных на рис. 3.1, б, при однородном деформировании растра и явно показывает влияние на регистрируемую информацию неоднородно деформируемого объема призмы.

Наличие искажений не вызывает сомнений. Есть ли необходимость в их учете? При заданной точности определения деформаций это зависит от соотношения изменений пространственных частот,

вызванных рефракцией

и дифракцией (

( Dif )

)

 

 

(

( R)

)

во всем деформированном объеме

 

в исследуемом сечении:

( R)

 

( Dif )

. Ко-

 

 

личественную оценку этому соотношению дадим позже – после получения соответствующих разрешающих уравнений.

3.2. Формирование интерферограмм внутренних сечений фазовых объектов

Рассмотрим условия интерференции в плоскости изображения оптической системы единичного увеличения двух плоских световых волн с пространственными частотами 0, образованных при дифракции света в исследуемом сечении четырехгранной призмы

на углы

 

0

 

(

arcsin

 

0

n

)

 

0

 

 

 

 

 

 

 

0

 

в плоскости xoz (рис. 3.2).

Интерферограмма

0 = arcsin( 0 / n0)

Рис. 3.2. Регистрация интерферограмм внутренних сечений исследуемого объекта при наличии рефракции

48

При первой экспозиции модель не нагружена, оптические пу-

ти для обоих лучей одинаковы

 

 

 

 

 

 

s

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

( )

 

( )

 

 

n ds

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

0

 

 

и поэтому

регистрирующая среда, помещенная в плоскость изображения оптической системы единичного увеличения, запишет интерференционную структуру частотой 2 0 (в муаровых методах ее называют контрольным растром).

Если между экспозициями исследуемое сечение испытывает деформации = x, а показатель преломления модели остается постоянным, что и предполагалось в ранее выполненных работах

[119, 129–132, 140, 141, 146, 153, 213, 215, 216, 218, 227, 228,

232], то регистрирующая среда при второй экспозиции запишет

интерференционную структуру (рабочий растр) частотой

 

x

.

Его

 

 

частота определяется деформированным состоянием сечения [30, 80, 81]:

x

2 0 (1 x ).

(3.1)

При восстановлении голограмм порядок интерференционной полосы N равен:

N 2 0U ,

(3.2)

где U – компонента вектора перемещения вдоль оси x, а частота интерференционных полос вдоль оси x равна разностной частоте рабочего и контрольного растров:

 

 

N

2

 

U

2

 

.

 

0

 

i

 

x

 

x

0

x

 

 

 

 

 

 

 

 

(3.3)

Если изменением показателя преломления модели в процессе ее нагружения пренебрегают, то последнее уравнение (3.3) является разрешающим при определении деформированного состояния исследуемого сечения модели и совпадает с уравнением для деформируемых поверхностей.

При наличии изменений показателя преломления изменение пространственной частоты дифрагировавшего света определяется не только деформированным состоянием сечения, но и рефракцией света, т.е. отклонением его от прямолинейного распространения на угол , определяемый величиной градиента показателя преломления на пути луча [16, 78, 88]:

49

 

1

s

n

 

 

 

 

 

 

n

 

 

ds,

 

o

 

 

0

 

 

(3.4)

где – ось подвижной системы координат, перпендикулярная направлению распространения света в модели; интеграл берется по всему пути распространения света в модели.

Рефракция приводит к дополнительному изменению углов выхода света из модели, дифрагировавшего в исследуемом сечении, а следовательно, и частоты рабочего растра. Отметим еще раз, что это изменение не связано с деформированным состоянием исследуемого сечения, а является результатом рефракции в неоднородно деформируемом объеме. Получаемую в этом случае интерференционную картину можно интерпретировать как кар-

тину, связанную с суммарной деформацией:

 

( )

x

( R)

,

где

x

x

x – деформации исследуемого сечения, а

( R)

фиктивные де-

x

 

формации, обусловленные рефракцией света.

Пусть световые волны, дифрагировавшие в исследуемом сечении объекта, проходят через объем, в котором показатель пре-

ломления не является однородным:

grad n

dn

0

(см. рис. 3.2).

dx

 

 

 

 

В этом случае каждая из них отклонится на угол, определяемый формулой (3.4), что приведет к изменению частоты интерференционной структуры в плоскости регистрации. Эти изменения зависят от распределения grad n вдоль траектории луча.

Если

grad n const,

то обе волны отклонятся в одном

направлении. В плоскости регистрации, таким образом, биссектриса угла между направлениями распространения волн уже не будет совпадать с нормалью к плоскости регистрации.

 

 

( )

 

( )

При повороте нормали на угол

 

частота рабочего

 

 

2

 

 

 

 

растра будет равна:

 

 

 

 

 

g

2

0

cos

 

 

 

Поскольку угол мал,

2 1 2 . g 0 2

(3.5)

(3.6)

50

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]