- •СОДЕРЖАНИЕ
- •Рефлектометры Riser Bond
- •Уровни сигналов, электрические параметры интерфейса, форма импульса
- •Нормы на стабильность частоты. Джиттер в системах Е1
- •2.3. Канальный уровень Е1
- •2. Структура систем передачи Е1
- •2.1. Канал Е1
- •2.2. Физический уровень Е1
- •Основные характеристики интерфейса Е1. Тип линейного кодирования
- •Цикловая и сверхцикловая структура Е1
- •Процедуры контроля ошибок передачи. Использование избыточного кода CRC-4
- •2.4. Сетевой уровень Е1
- •2.5. Структура системы передачи Е1
- •3. Эксплуатация и технология измерений систем Е1
- •3.1. Общая концепция измерений цифровых систем передачи Е1
- •3.2. Типовые схемы подключения анализаторов к цифровому потоку Е1
- •3.3. Анализ работы мультиплексоров Е1
- •Анализ процедур демультиплексирования
- •3.4. Анализ работы регенераторов
- •Измерения параметров частоты линейного сигнала
- •Основные стандарты норм на параметры ошибок в цифровых системах передачи
- •Параметры ошибок и методы их измерений по G.826
- •Параметры ошибок и методы их измерений по Приказу №92
- •Измерение параметров кодовых ошибок. Связь кодовых и битовых ошибок
- •Измерения параметров качества аналоговых сигналов, передаваемых в системе Е1
- •Назначение измерений сетевого уровня
- •Измерения, связанные с анализом диагностики ошибок в первичной сети
- •4. Структура и технология эксплуатационных измерений в системах передачи PDH
- •Основные характеристики интерфейсов. Типы линейного кодирования
- •Уровни сигналов и электрические параметры интерфейса
- •Нормы на стабильность частоты. Джиттер в системах PDH
- •Цикловая и сверхцикловая структура Е2
- •Общая концепция измерений в системах PDH
- •5. Основы функционирования систем SDH
- •5.1. Технология SDH
- •5.2. Состав сети SDH. Типовая структура тракта SDH
- •5.3. Процессы загрузки/выгрузки цифрового потока
- •5.4. Процедуры мультиплексирования внутри иерархии SDH
- •5.5. Структура заголовка РОН
- •5.6. Структура заголовка SOH
- •5.8. Методы контроля четности и определения ошибок в системе SDH
- •5.9. Оперативное переключение в системе SDH. Резервирование
- •5.10. Структура сообщений о неисправности системы SDH
- •6. Технология эксплуатационных измерений систем SDH
- •6.1. Общая концепция измерений в системах передачи SDH
- •Актуальность измерений в системах SDH
- •Классификация измерений сложных технологий. Новый принцип построения классификации. Многомерная концепция измерений
- •Построение измерительной концепции систем SDH
- •6.2. Измерения мультиплексоров ввода-вывода
- •Функциональные тесты уровней маршрутов (группы {1.2.1.} и {1.3.1.})
- •Функциональные тесты маршрута высокого уровня (группа {1.3.1.})
- •Функциональные тесты МВВ секционного уровня (группа {1.1.1})
- •6.3. Измерения мультиплексоров
- •Функциональные тесты синхронных мультиплексоров {2.1.1}
- •Стрессовое тестирование мультиплексоров {2.1.2}
- •6.4. Измерения регенераторов
- •Измерения регенераторов, связанные с функциями по усилению линейного сигнала {3.1.1}
- •Стрессовое тестирование коммутаторов разных уровней (группы {4.Y.2})
- •6.6. Измерения на сети SDH в целом
- •Функциональные тесты системы передачи - задача трассировки маршрута и методы анализа трасс
- •Анализ идентификаторов маршрутов (сообщения Jx)
- •Функциональные тесты на сети в целом - анализ активности указателей в тракте {5.6.1}
- •Анализ рассинхронизации в тракте передачи {5.5.1}
- •Приложение. Рекомендации ITU-T и ETSI по стандартам первичной сети
- •Словарь русских сокращений
- •Словарь иностранных сокращений
- •Сокращенные названия фирм
- •Литература
- •Исправления, вносимые в книгу
Таблица 6.3. Группы измерений плоскости X-Y
Класс группы |
1. Секционный |
2. Уровень |
|
маршрута |
|||
по компонентам |
уровень |
||
низкого уровня |
|||
|
|
||
1. Анализ |
1.1.Z |
1.2.Z |
|
мультиплексоров |
|||
МВВ |
|
|
|
2. Анализ |
2.1.Z |
|
|
мультиплексоров |
|
||
|
|
||
3. Анализ |
3.1.Z |
|
|
регенераторов |
|
||
|
|
||
4. Анализ |
4.1.Z |
4.2.Z |
|
коммутаторов |
|||
|
|
||
5. Анализ сети |
5.1.Z |
5.2.Z |
|
в целом |
|||
|
|
Таблица 6.4. Группы измерений плоскости Z-Y
|
Группы по |
1. Секционный |
2. Уровень |
|
|
маршрута |
|||
|
методам |
уровень |
||
|
низкого уровня |
|||
|
|
|
||
1. |
Функциональ |
Х.1.1 |
Х.2.1 |
|
ные тесты |
||||
|
|
|||
2. |
Стрессовое |
Х.1.2 |
Х.2.2 |
|
тестирование |
||||
|
|
|||
3. |
Логическое |
Х.1.3 |
Х.2.3 |
|
тестирование |
||||
|
|
|||
Таблица 6.5. Группы измерений плоскости X-Z
3. Уровень маршрута высокого уровня
1.3.Z
4.3.Z
5.3.Z
3. Уровень маршрута высокого уровня
Х.3.1
Х.3.2.
Х.3.3.
4. Уровень |
5. Уровень |
6.Уровень |
нагрузки |
маршрута |
сети |
1.4.Z |
1.5.Z |
|
4.5.Z
5.4.Z 5.5.Z 5.6.Z
4. Уровень |
5. Уровень |
6. Уровень |
нагрузки |
маршрута |
сети |
Х.4.1 |
Х.5.1 |
Х.6.1 |
Х.4.2. |
Х.5.2. |
Х.6.2 |
Х.4.3. |
Х.5.3. |
Х.6.3. |
|
Группы |
1. Анализ мультип |
2. Анализ |
3. Анализ |
4. Анализ |
5. Анализ сети |
|
|
по методам |
лексоров МВВ |
мультиплексоров |
регенераторов |
коммутаторов |
в целом |
|
1. |
Функцио |
1.Y.1 |
2.Y.1 |
3.Y.1. |
4.Y.1. |
5.Y.1 |
|
нальные тесты |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
2. |
Стрессовое |
1.Y.2 |
2.Y.2 |
3.Y.2. |
4.Y.2. |
5.Y.2 |
|
тестирование |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
3. |
Логическое |
|
|
|
|
5.Y.3. |
|
тестирование |
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|||
Ниже рассмотрены измерения в соответствии с разработанной классификацией. При описа нии измерений следуем следующей схеме:
•в качестве будут рассмотрены отдельно классы измерений по компонентам (номер X); отдельно в качестве разделов рассмотрены измерения каждого уровня (номер Y);
для каждого раздела рассмотрены все три группы измерений по методам организации (но мер Z).
При описании каждой группы измерений дается ссылка на ее номер в предлагаемой класси фикации в фигурных скобках, например {2.1.3}.
По возможности рассмотрены все 39 групп измерений. В случае, если группа содержит большое количество измерений, она рассматривается отдельно. Если группа состоит из одного или нескольких измерений, она рассматривается в общем контексте, но с обязательной ссылкой на номер.
6.2. Измерения мультиплексоров ввода-вывода
Группа измерений МВВ {1.Y.Z.} является одной из самых важных и включает в себя 10 от дельных групп измерений (см. табл. 6.6). Большое количество измерений группы определяется тем, что МВВ представляет собой чрезвычайно важный элемент сетей SDH, осуществляющий, с
Таблица 6.6. Группы измерений в системах SDH
Но |
Номер в |
Описание группы |
|
мер |
классификации |
||
|
|||
|
|
Анализ мультиплексоров МВВ |
11.1.1. Функциональные тесты мультиплексоров МВВ секционного уровня
21.1.2. Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ секционного уровня
31.2.1. Функциональные тесты мультиплексоров МВВ маршрута низкого уровня
41.2.2. Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ маршрута низкого уровня
51.3.1. Функциональные тесты мультиплексоров МВВ маршрута высокого уровня
61.3.2. Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ маршрута высокого уровня
71.4.1. Функциональные тесты мультиплексоров МВВ уровня нагрузки
81.4.2. Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ уровня нагрузки
91.5.1. Функциональные тесты мультиплексоров МВВ уровня маршрута
10 |
1.5.2. |
Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ уровня маршрута |
Анализ мультиплексоров
112.1.1. Функциональные тесты мультиплексоров секционного уровня
122.1.2. Стрессовое тестирование мультиплексоров секционного уровня
Анализ регенераторов
133.1.1. Функциональные тесты регенераторов секционного уровня
143.1.2. Стрессовое тестирование регенераторов секционного уровня
Анализ коммутаторов
154.1.1. Функциональные тесты коммутаторов секционного уровня
164.1.2. Стрессовое тестирование коммутаторов секционного уровня
174.2.1. Функциональные тесты коммутаторов маршрута низкого уровня
184.2.2. Стрессовое тестирование коммутаторов маршрута низкого уровня
194.3.1. Функциональные тесты коммутаторов маршрута высокого уровня
204.3.2. Стрессовое тестирование коммутаторов маршрута высокого уровня
214.5.1. Функциональные тесты коммутаторов уровня маршрута
22 |
4.5.2. |
Стрессовое тестирование коммутаторов уровня маршрута |
Анализ сети в целом
235.1.1. Функциональные тесты процессов сети секционного уровня
245.1.2. Стрессовое тестирование процессов сети секционного уровня
255.1.3. Логическое тестирование сети секционного уровня
265.2.1. Функциональные тесты процессов сети маршрута низкого уровня
275.2.2. Стрессовое тестирование процессов сети маршрута низкого уровня
285.2.3. Логическое тестирование сети маршрута низкого уровня
295.3.1. Функциональные тесты процессов сети маршрута высокого уровня
305.3.2. Стрессовое тестирование процессов сети маршрута высокого уровня
315.3.3. Логическое тестирование сети маршрута высокого уровня
325.4.1. Функциональные тесты процессов сети уровня нагрузки
335.4.2. Стрессовое тестирование процессов сети уровня нагрузки
345.5.1. Функциональные тесты процессов сети уровня тракта
355.5.2. Стрессовое тестирование процессов сети уровня тракта
365.5.3. Логическое тестирование сети уровня тракта
375.6.1. Функциональные тесты процессов сети
385.6.2. Стрессовое тестирование процессов сети
39 |
5.6.3. |
Логическое тестирование сети |
одной стороны, загрузку и выгрузку потоков PDH в сеть SDH, с другой стороны - формирование синхронного транспортного модуля в соответствии с правилами мультиплексирования, изложен ными в гл. 5. Таким образом, МВВ как сетевой элемент находится на границе сопряжения сетей PDH и SDH, и следовательно, параметры его функционирования чрезвычайно важны для работы всей сети SDH. В результате на всех этапах эксплуатации системы SDH выполняются измерения, связанные с анализом работы МВВ, которые рассмотрены ниже.
Функциональные тесты уровней маршрутов (группы {1.2.1.} и {1.3.1.})
Группы функциональных тестов МВВ уровней маршрутов включают различные методы анали за формирования заголовков маршрутов высокого и низкого уровней (рис. 6.5). Как следует из рис. 6.3, все измерения уровня маршрутов связаны с формированием виртуальных контейнеров VC-12, VC-2, VC-3 и VC-4. Основным элементом формирования виртуальных контейнеров являются заголовки НО-РОН и LO-POH. Использование того или другого типа заголовка зависит от типа за гружаемой нагрузки (загружаются ли потоки Е1 или потоки ЕЗ/Е4).
В случае комбинированной нагрузки измерения обоих групп объединяются. Основным объ ектом измерений групп {1.2.1.} и {1.3.1.}, таким образом, являются заголовки маршрутов. В со ответствии с основными информационными полями заголовков РОН, описанными в п. 5.5, можно выделить следующие группы измерений.
Функциональные тесты МВВ маршрута высокого уровня включают в себя (см. рис. 5.12):
анализ поля индикатора маршрута; анализ типа полезной нагрузки и правильности формирования поля С;
мониторинг канала управления F в случае, если известен протокол управления по каналу; анализ сверхцикловой структуры в байтах Н4.
Анализ перечисленных полей дает информацию о корректности формирования структуры виртуальных контейнеров верхнего уровня VC-3 и VC-4. Другие информационные поля, такие как поля ВЗ, G1 и N1, используются для контроля ошибок и наиболее важны в измерениях уровня маршрута, тогда как информационное поле КЗ существенно не для измерений МВВ, а для функ циональных тестов коммутаторов и процедур резервного переключения APS (см. ниже).
139.264 kbit/
34,368 kbit/s
6,312 kbit/
2,048 kbit/
1,544 kbit/s
Аналогично к функциональным тестам маршрута низкого уровня относятся (рис. 5.10):
анализ поля идентификатора маршрута J2;
анализ информационного поля байтов V5.
Для организации измерений могут использоваться две схемы, представленные на рис. 6.6.
Графический интерфейс: |
Состав информационных полей |
конфигурация анализатора |
заголовков маршрутов и TU |
Система управления |
Система управления |
Данные о типе загрузки |
Данные о типе загрузки |
Рис. 6.6. Функциональные тесты МВВ уровней маршрутов
Для проведения измерений на этапе эксплуатации сети используется схема рис. 6.6а. В этом случае от системы управления сетью SDH оператор получает данные о параметрах загрузки и вы грузки потоков PDH тестируемого МВВ, куда включаются данные о типах и параметрах загружаемых потоков (например, загружаются только потоки Е1 или поток Е4, возможны варианты комбинирован ной загрузки, как это показано в установках графического интерфейса на рис. 6.6), а также о методе загрузки (например, асинхронная, бит-синхронная и т.д.). На основании этих данных анализируется информация заголовков НО-РОН и/или LO-POH, передаваемых в потоке STM-1. Для проведения из мерений анализатор включается в поток без нарушения связи. Для этого могут использоваться два метода подключения: подключение к тестовому гнезду МВВ по электрическому интерфейсу STM-1 (иногда этот интерфейс в литературе называется STM-1e), либо непосредственно к оптическому сиг налу через пассивный оптический разветвитель (интерфейс STM-1o/STM-4o/STM-16o). Пассивный оптический разветвитель представляет собой устройство, обеспечивающее передачу от 5 до 10% мощности оптического сигнала на измерительный прибор. Обычно небольшое падение оптической мощности не оказывает воздействия на линейный сигнал, в то же время использование оптического разветвителя позволяет проводить измерения в режиме мониторинга линейного сигнала по оптиче скому интерфейсу.
Вкачестве примера результатов измерений на рис. 6.6 показаны графический экран устано вок измерительного прибора Flexacom компании ICT, внизу показан экран результатов измерений, где указаны отдельно заголовки секционного уровня, уровней маршрутов и TU. В последнее время общей тенденцией в измерительных приборах для анализа SDH стало использование графических экранов и средств графического отображения результатов данных, что позволяет значительно оп тимизировать процесс конфигурации анализатора и интерпретации результатов. Такая оптимиза ция необходима, поскольку анализ SDH - это многопараметрический анализ с большим количест вом как входных, так и выходных параметров. Как видно из рис. 6.6, в качестве результата отобра жаются наименования всех информационных полей заголовков и их содержимое.
Вкачестве второй возможной схемы организации измерений (рис. 6.66) анализатор PDH/SDH может использоваться не только как анализатор, но и как генератор потока PDH, загру жаемого в мультиплексор. В этом случае для проведения измерений используется обычно один канал PDH. На анализаторе выставляются параметры загружаемого потока PDH, система управле ния позволяет указать метод загрузки потока. Затем анализатор подключается к линейному сигна лу в режиме мониторинга по интерфейсу STM-1e или через оптический разветвитель, и произво дятся измерения параметров заголовка. Как и в первом случае, основным результатом измерений