- •1. Единство измерений
- •2. Классификация измеряемых величин
- •3. Общность и различия архимедовых и неархимедовых величин
- •4. Неархимедовы одномерные величины
- •5. Размер и значение физической величины
- •6. Метод размерностей
- •7. Системы единиц измерения
- •8. Воспроизведение единицы времени
- •9. Определение единицы массы
- •10. Понятие шкалы измерений
- •11. Шкалы наименований
- •12. Шкалы разностей (интервалов)
- •13. Фундаментальные физические константы
- •14. Понятие точности измерений
- •15. Погрешность измерений
- •16. Фундаментальный смысл понятия неопределенности измерений применительно к квантовым объектам.
- •17. Схема процесса измерения
- •18. Систематическая и случайная погрешности
- •19. Учет влияния окружающей среды на точность измерений
- •20. Последовательная процедура сравнения измеряемого значения с мерами с учетом вероятностей ошибок сравнения
- •21.Определение средства измерений. Основные виды средств измерений.
- •22. Метрологические характеристики средств измерений.
- •23. Интерференция электромагнитных волн. Шкала электромагнитных волн.
- •24. Интерференция света. Интерферометрический способ измерения линейных размеров.
- •25. Дифрактрометрические методы измерений.
- •26. Волны де Бройля. Квантовая интерференция.
- •27. Принцип работы лазера. Применение для измерения физ. Величин.
- •28. Понятие эталона. Виды эталона.
- •29. Эталон времени, частоты и длины.
- •30. Способы перехода к новому типу эталона массы.
- •31. Квантовый эффект Холла . Использование для воспроизведения единицы электрического сопротивления.
- •32. Стационарный и нестационарный эффект Джозефсона.
- •33. Воспроизведение единицы электрического напряжения на основе эффекта Джозефсона.
- •34. Эффект Мессбауэра. Применение в спектроскопии.
- •35. Статический характер квантовых измерений.
- •36. Определение и примеры нанотехнологии
- •37. Средства измерений необходимые для нанотехнологий
- •38. Зондовые методы исследования. Туннельный эффект.
- •39. Схема действия сканирующего туннельного микроскопа.
- •40. Принцип действия атомно-силового микроскопа.
- •41. Меры устойчивости наноструктур. Связь с плотностями упаковок
- •42. Определение надежности средств измерений. Безотказность средств измерений.
- •43. Методы обеспечения надежности и качества средств измерений.
- •44. Основные причины отказов средств измерений на стадиях разработки , производства и эксплуатации.
24. Интерференция света. Интерферометрический способ измерения линейных размеров.
Интерференция света — перераспределение интенсивности света в результате наложения(суперпозиции) нескольких световых волн. Это явление сопровождается чередующимися в пространстве максимумами и минимумами интенсивности. Её распределение называется интерференционной картиной.
Интерферометр — измерительный прибор, в котором используется интерференция волн. Существуют интерфе-рометры для звуковых и для электромагнитных волн: оптических (ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной областей спектра) и радиоволн различной длины.
Наибольшее распространение получили оптические интерферометры, применяемые для измерения длин волн спектральных линий, показателей преломления прозрачных сред, абсолютных и относительных длин, угловых размеров звёзд и т.д.
Интерферометры применяют также для контроля качества оптических деталей и их поверхностей, для контроля чистоты обработки металлических поверхностей и пр.
-Применение интерферометра Майкельсона
Интерферометр Майкельсона широко используется в физических измерениях и технических приборах. С помощью этого прибора впервые была измерена абсолютная величина длины волны света, доказана независимость скорости света от движения Земли (опыт Майкельсона).
Перемещая одно из зеркал интерферометра Майкельсона, получают возможность плавно изменять оптическая разность хода D, а зависимость интенсивности центрального пятна от D, в свою очередь, даёт возможность анализировать спектральный состав падающего излучения с разрешением 1/D см—1.
-Применение интерферометра для измерения длин.
Интерферометр Майкельсона в сочетании с призменным монохроматором— интерференционным компаратором Кёстерса— применяется для абсолютного и относительного измерений длин концевых (измерительных плиток) сравнением их с длиной волны света или между собой с точностью до 0,025 мкм.
Монохроматор — спектральный оптический прибор для выделения узких участков спектра оптического излучения.
При использовании лазера (стабилизированной частоты ~ 2×10-9) интерферометр -Майкельсона позволяет с такой же абсолютной точностью измерять длины порядка 10 м.
-Применение интерферометра для измерения углов.
При замене плоских зеркал в интерферометре Майкельсона отражающими триэдрами его используют для измерения углов с точностью до 10-6 рад. Сочетание интерферометра Майкельсона с микроскопом (микроинтерферометр В. П. Линника) позволяет по виду интерференционной картины определять величину и форму микронеровностей металлических поверхностей.
-Применение интерферометра для измерения длин.
На рис. обозначены: А — диспергирующая призма; S — щель монохроматора.
25. Дифрактрометрические методы измерений.
Дифрактометрический метод, является прямым методом определения механических напряжений по деформациям кристаллической решетки в поверхностном слое материала. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измерение механических напряжений дифрактометрическим методом связано с измерением периодов кристаллической решетки. Падающие на кристалл рентгеновские лучи 1 и 2 (рисунок 1) взаимодействуют с электронами, находящимися на внутренних оболочках атомов.
Рис. 1. Дифракция рентгеновских лучей на атомных плоскостях кристалла.