2.7. Контрольные вопросы
-
Назовите
основные компоненты СТМ и их назначение.
Объясните принцип работы СТМ на примере
туннельного контакта двух проводников.
-
Поясните
устройство и принцип действия туннельного
сенсора. Опишите основные параметры,
которые вы будете определять в работе.
-
Что
такое режим постоянного тока и
постоянной высоты? Что такое V-
и Z-модуляция?
Для чего они применяются?
-
Туннельная
спектроскопия. Объясните влияние
направления туннелирования электронов
на изображение поверхности кремния.
-
Назовите
факторы, определяющие качество
изображения в СТМ. Какие требования
предъявляются к СТМ-зонду?
2.8. Литература
Лит.
2-1. Г. Бинниг, Г. Рорер. Сканирующая
туннельная микроскопия - от рождения к
юности - Нобелевские лекции по физике
- 1996. УФН, т. 154(1988),
вып.2, с. 261.
Лит.
2-2. J.A.
Kubby,
J.J.
Boland.
Scanning
Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces. Eslevier, 1996
(Surface
Science Reports, 26
(1996)61-204).
2-18
