tipsnano » 13 July 2017г в 13:55
Добавил в Элементы и приборы нанотехнологии
10. Issledovanie rezhimov zhidkostnogo travleniya zhertvennogo sloya SiO2.pdf
11. ISSLEDOVANIE METODOV MODIFIKACII ZONDOV DLYa ATOMNO-SILOVOY.pdf
14. Study of Modification Methods of Probes for Critical-Dimension Atomic-Force Microscopy.pdf
15. Sbornik 91 str.pdf
16. Sbornik 126 str.pdf
20. MODELIROVANIE OTKLONENIYa KANTILEVERA NA OSNOVE POLIKRISTALLIChESKOGO KREMNIYa.pdf
21. ISSLEDOVANIE ELEKTROFIZIChESKIH SVOYSTV PLENOK POLIKRISTALLIChESKOGO KREMNIYa.pdf
Study of Modification Methods of Probes for Critical-Dimension Atomic-Force Microscopy.pdf
Исследование режимов жидкостного травления жертвенного слоя SiO2.pdf
ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПЛЕНОК ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ.pdf
МОДЕЛИРОВАНИЕ ОТКЛОНЕНИЯ КАНТИЛЕВЕРА НА ОСНОВЕ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ.pdf
И еще 1 файл