Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Новотный и Хехт, Основы нанооптики

.pdf
Скачиваний:
546
Добавлен:
21.03.2016
Размер:
22.3 Mб
Скачать

5 5 Другие схемы. микроскопия на основе переноса энергии

163

СИ.l0ВОГО микроскопа резонансного типа 1), расположенного над инвертированным

оптическим микроскопом. Возбуждающий свет фокусируется на образец посредством объектива микроскопа с высокой числовой апертурой. Покрытая золотом силиконо­

вая головка АСМ устанавливается в центре фокуса возбуждающего поля, а детекти­

рование фотонов осуществляется в селективном режиме, т. е. учитываются только те фотоны, которые попадают на детектор в определенные интервалы времени, как по­

казано на рис. 5.26. Скорость счета в точке наибольшего сближения зонда и образца вычитается из скорости в верхней точке траектории конического кантилевера. Если

скорость счета на малых расстояниях между зондом и образцом падает, например

из-за гашения флуоресценции, мы получим положительный сигнал. На рис. 5.26, б

.:!еиствительно виден положительный оптический сигнал для флуоресцирующей ча­ стицы, которого не наблюдается, в случае если частица имеет тот же размер, но

неф.lуоресцентна.

L:t*"'A·~

х

-250нм

РIIС 5 26 Визуализация 60 нанометровых флуоресцентных шариков, основанная на эффекте

.1oKa.lbHorO гашения, при помощи АСМ-головки На левой картинке показана схема экс­ пеРЮlентальной установки В ней совмещен АСМ резонансного типа с инвертированным оптическим микроскопом Оптический сигнал получается путем селективного счета фотонов Скорость счета фотонов в точке наибольшего сближения образца и зонда вычитается из ско­

рости счета в верхней точке конического кантилевера АСМ Положительным сигнал является

ТОГ.1а. когда при приближении зонда к образцу скорость счета фотонов падает, т е. при га­ шении флуоресценции а - Топографическое изображение 60-нанометрового флуоресцентного шарика и частицы пыли, сделанное при помощи АСМ резонансного типа б - На оптическом

изображении виден только шарик Заимствовано из [34]

Контраст сигнала при эффекте гашения возрастает при уменьшении размера объекта В предельном случае одиночной флуоресцентной молекулы флуоресцен­

ция может спадать очень резко, а когда головка располагается непосредственно

над молекулой, мы наблюдаем полное исчезновение флуоресценции. Как показано

в работах [50, 51], при помещении одиночной молекулы в пленку ПММА 2) тол­

щиной 20 нм флуоресценция и время жизни возбужденного состояния предельно У:\lеньшa.rIИСЬ, когда покрытая золотом SiзN4 головка АСМ располагалась над этой

~Ю.1екулоЙ. На рис. 5.27, а показана схема установки, используемая в экспериментах. д.1Я того чтобы качественно объяснить характер поведения зависимости времени жизни, полученной по измерениям на рис. 5.27, б, представлена зависимость времени

1) В оригинале это соответствует: tapping mode AFM, предлагаемый термин - атомно­

си.lОВОЙ микроскоп резонансного типа - встречается чаще других, однако единообразия

в переводе этого выражения на русский язык в литературе нет. - Примеч пер

2) РММА - polymethylmethacrylate (полиметилметакрил). - Примеч. пер

164

Гл.

5.

Наноразмерная оптическая микроскопия

 

 

а

-

 

б

 

(i

 

 

 

 

 

 

ФлуоресцеНЦIIЯ

ВРС:\IЯ ЖI1 НlII

 

 

е

 

35r---------~--------,

.~

 

"~ '"-:'

2.5

 

 

о

 

 

 

 

 

 

~

 

3.0

 

 

 

 

 

»'"

 

 

а·

 

 

 

8

~ 2.0

 

 

 

 

~

~

15

 

.,

 

 

 

:z:

о

 

 

 

 

 

м

О.

 

 

 

 

 

~

»

1.0

 

 

 

 

'":;;

 

 

..

 

 

о".

 

O'01'---,----,-----,----,----j

 

 

 

со

 

() 100 20() ;юо

~()() !Ю()

 

 

 

 

 

Воздушный зазор (нм)

 

 

Рис 5 27 а -

Микроскоп на основе переноса энергии,

обладающий чувствительностыо к о:ш­

ночным молекулам, возбуждение происходит при помощи импульсного ПИКОССКУНДIlОГО .lазера

б - Зависимость времени жизни возбужденного уровня от величины зазора в системе стратифи­ uированных слоев, имитирующих локальную геометрию под АСМ-головкой ДИIlОЛЬНЫЙ ИЗ.lуча­ тель находится на глубине 20 нм в ПММА-слое. Как для перпендикулярной ориентации ;ЩПО.1Я

к плоскости слоев, так и для ориентаuии в плоскости наблюдается резкое падение Bpe~leHII Ж113-

ни при приближении величины зазора к нулю в - Скорость флуоресuенции и вре~IЯ ЖИЗНII возбужденного уровня каждой молекулы при сканировании покрытой золотом Si I NI rO.l0BKOli (верхний ряд) и безоболочечной головкой (нижний ряд) Заимствовано из [50. 51]

жизни одиночного дипольного излучателя, находящегося в стратифицированной.

среде от толщины слоев (см. гл. 10). Плоские слои локально аППРОКСИ~IИРУЮТ

область контакта зонд-образец. Вне зависимости от ориентации диполя время жизни

сокращается при уменьшении зазора между зондом и образцом, что свидетельствует

о гашении флуоресценции. На рис. 5.27, в показано двумерное распределение ско­

рости излучения и времени жизни возбужденного уровня как функция положения

сканирующей АСМ-головки. Наблюдается явное падение скорости флуоресценции

и времени жизни при приближении головки к молекуле. Конкретный вид области. в которой происходит гашение, зависит от размера и формы головки.

l{ругим подходом В микроскопии на основе переноса энергии является испо~ь­ зование акцептора, который будет свидетельствовать о наличии переноса энергии путем собственной флуоресценции. РПЭФ весьма успешно применяется в БИО,10гических науках для оценки изменений, происходящих на нанометровом масштабе (см. разд. 8.6.2), а в сочетании со сканирующей микроскопией реализует надеж­

ды на создание приборов, обладающих сверхвысоким пространственным разреше­

нием и чувствительностью к одиночным молекулам. Однако этот подход связан и с большими трудностями. Во-первых, для достижения высокого пространствен­

ного разрешения необходимо ограничить взаимодействие одной или несколькиыи

донорно-акцепторными парами, т. к. В случае большого числа пар в возбуждаеМО~1 объеме из-за малой длины взаимодействия только малая их часть будет давать BKola;I В сигнал РПЭФ, а остальные, скорее всего, будут усиливать фоновые процессы да.1Ь­ нодеЙствия. Во-вторых, при малом числе РПЭФ-пар огромной проблемой становятся деструктивные фотопроцессы: мерцание, потеря цвета. В связи с этим огромный

интерес возникает к фотостабильным донорам и акцепторам. Несмотря на все эти

проблемы, нескольким группам исследователей удалось показать, что реализация

РПЭФ-визуализации осуществима. В работе [521 было показано, что преждевре~lен­

ное обесцвечивание можно предотвратить, размещая на головке не акцептор, а донор

Это позволяет утверждать, что акцепторы возбуждаются не внешним лазерным излу­

чением, а исключительно посредством РПЭФ от возбужденного донора, находящего-

5 б ЗаICЛюченuе

165

ся в образце Принцип такого рода экспериментов показан на рис. 5.28 (слева). Здесь

.10НОР расположен в липидной мембране, состоящей из нескольких слоев. Возбужде­

ние образца приводит к флуоресценции донора и при приближении головки, несущей

акцептор, возникает дополнительная красная флуоресценция. Увидеть домены можно

при поточечном сканировании. Плотность этих доменов значительно ниже по срав­

нению с плотностью доменов, которая получается при использовании конфокальной :\lИКРОСКОПИИ или флуоресцентной микроскопии в дальнем поле, что указывает на на­

.1ичие БJ1изкодействующих взаимодействий между головкой и образцом. Благодаря та­ ким близкодействующим взаимодействиям оказывается возможным отличить верхний с.lОЙ стратифицированной мембраны от нижележащих слоев. Изображения в центре и справа на рис 5.28 представляют собой экспериментально полученные в ближнем

поле РПЭФ-изображения. Ограничение на размер изображений справа (~ 140 нм)

оБУСJlOвлено размером головки, используемой в данном эксперименте.

Рис 5 28 Ми"роскопия ближнего поля, основанная на переносе энергии во флуоресцентных резонансах Слева зарисовка эксперимента Донорные молекулы расположены в многослойной n.leHKe Ленгмюра-Блоджетта (Langmuir-Blodget, LВ), а молекулы-акцепторы удерживаются

LB-п.lенкоЙ. расположенной на головке Если головка отсутствует, донор флуоресцирует в эе­

.1eHoM диапазоне Однако в присутствии головки появляется дополнительная флуоресценция в красном диапазоне по причине РПЭФ между верхним слоем LВ-пленки и головкой. В цен­ тре РПЭФ-изображение области образца размером 50 х 50 мкм Видны флуоресцентные

пятна. выявляющие расположение донорных островков в LВ-пленке Справа: пространственное

разрешение. получаемое в эксперименте. Заимствовано из [52]

5.6. ЗаКJlючение

Поздравляем всех, кто выдержал испытание этим натиском описаний различных

возможностей визуализации. По прочтении настоящей главы вы должны были при­ обрести некоторые знания о существующих в настоящее время типах приборов нано­

размерной оптической микроскопии, а также об их характеристиках. Мы стремились

показать, что огромное разнообразие существующих методов можно классифици­

ровать исходя из способов осуществления подсветки и детектирования. Конечно,

:\Ibl не смогли дать описание всех существующих на сегодняшний день методик,

.1.1Я того чтобы сосредоточится на некоторых, пришлось оставить вне рассмотрения

остальные, например спектральную микроскопию на основе самоинтерференции [53].

Непрерывно рождаются новые подходы. На самом деле, можно только приветство­

вать развитие и доступность узконаправленных методик, т. к. различные измерения

не могут производиться эффективно при помощи одного инструмента для решения

раЗ.1ИЧНЫХ задач

166

Гл 5 Наноразмерная оптическая микроскопия

Задачи

5.1.Поверхностно си.~овая спектроскопия: используя работу [за], покажите, почему

усиление рамановского рассеяния вблизи наноструктуры попорционально чет­

вертой степени напряженности усиливающего фактора поля. Подчиняются .1И

этому закону другие спектроскопические сигнаЛbl";)

5.2Используя формализм разд. 3.6, определите диаметр осевой фазовой плаСТИНbI. которую необходимо использовать в микроскопии на основе STED, дЛЯ того

чтобы полностью нивелировать результирующее поле в геометрическом фокv­

се. Покажите, почему для достижения высокой степени точности так важно

достичь нулевого значения поля.

5.3.Выведите соотношение (5.3), рассматривая небольшие сферические чаСТИЦbl

над плоской поверхностью. Частицу необходимо рассматривать как диполь.

индуцирующий изображение диполя в веществе.

Список литературы

1.Hell S W. Schrader М , Hiinninen РЕ, and Soini Е Resolving fluorescence bea(ls аl

100-200 пт axial distance with а two photon 47Г-microscope operate{j in the пеаг infrared 11

 

Opt Сотт. 1995. V 120

Р 129-133.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

Webb R Н Confocal optical microscopy 11 Rep

Prog

Phys. 1996

V 59

Р 427-471

 

3.

Раш.'lеу J В ,

editor Handbook of Вiological Confocal

Microscopy

-

New

York. Lошlоп

 

Plenum Press. 2nd edn . 1995

 

 

 

 

 

 

 

 

 

microscope 11 J

4

Hell S

""

and Stelzer Е. Н. К

Properties of а

47Г-confocal Пuогеsсепсе

 

Opt Soc

Ат

А

1992. V 9 Р 2159-2166

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5 Lmdek S . Pick

R, and Stelzer Е Н. К. Confocal theta

microscope

\\'Ith

three

obJecli\ е

 

lenses 11 Rev

Sci Instrum

1994

V 65 Р 3367-3372

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

6 Hell

S W.

Increasing

the

Resolution

of

Far-Field Fluorescence Microscopy b~

 

Point-Spread-Function Engineering. Number 5 in Topics Fluorescence Spectroscop~

 

Nonlinear and T\vo-Photon-Induced Fluorescence. J. Lako\\<icz. ed

-

Ne\\'

York

Plenum

 

Press,

1997

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

7

Goeppert-Mayer М. ОЬег die Wahrscheinlichkeit des Zusammenwirkens zweier Lichtquanten

 

in einem Elementarakt 11 Naturwissenschaften

1929 V 17 Р 932

 

11 Phys

 

 

 

8

Kaiser W

and Garret С G В

Two-photon

excitation

in

('аР']

: EII 21

Re\'

Lelt

 

1961 V 7 Р 229-231

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

9

Denk

W. Strickler J Н. and Webb W W

2-photon

laser

scanning

Пuогеsсепсе ml-

 

croscopy 11 Science. 1990

V 248

Р 73-76

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

Dittrich Р S

and Sсhш..illе Р

PhotobIeaching

and stabilization of fluorophores used ior

 

single-molecule analysis with опе- and two-photon excitation 11 Аррl

Phys

В 2001

V 73

 

Р 829-837

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

11

Hell S

W

Towards Пuогеsсепсе nanoscopy 11 Nature Biotechnol

2003

V 21

Р

1347-1355

12

Dyba

М

and Hell S W

Focal

spots of

size

lambda/23 ореп up far-field Пuогеsсепсе

 

microscopy at 33 пт axial resolution 11 Phys Rev Lett 2002 V 88 Р 163901

 

 

 

13. Maker Р D. and Terhune R W

Study of optical effects due to ап induced polarization

thlrd

 

order in the electric field strength 11 Phys

Rev

А 1965

V 137 Р 801-818

 

 

 

 

14

Zumbusch А.. Holtom G R . and Юе Х S Three-dimensional vibrational imaging Ьу coherent

 

anti-Stokes Raman scattering 11 Phys. Rev

Lett

1999

V 82 Р 4142-4145

 

 

 

 

15

Mansfield S М. and Кino G S

Solid immersion microscope 11

Аррl

Phys

Lett

1990

 

V 77

Р 2615-2616

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

16Terris В D . Матm Н J , and Rugar D Near-field optical data storage 11 Аррl Phys Lett 1996 V 68 Р 141-143

 

 

 

 

 

 

 

 

5 б Список литературы

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

167

17

/ppoli/o S В. Goldberg В В. and ИпШ В В

High

spatial

resolution

subsurface

mi-

 

croscopy // Аррl Phys. Lett

2001

У.78

Р 4071-4073

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

18

Goldberg В В ./рроШо S В Novotny L ии Z . and S ИпШ М Immersion lens microscopy

 

оГ nanostructures and quantum dots

/ / 'ЕЕЕ J

 

Sel

 

Тор

Quantum

Electron

2002

 

V 8

 

Р 1051-1059

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

19

GhlSlatn L Р

and Elings

V В. Near-field

scanning solid

immersion

microscope

/ /

Аррl

 

Phys

Lett

1998 V 72

Р 2779-2781

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

:20

Ghlslam L Р. Eltngs V. В Crozier К. В.•

et аl

Near-field photolithography with а solid

 

Immегsiоп lens // Аррl

Phys

Lett

1999. У.74

Р 501-503

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

21

l"rbls/eI' Т D. Allhavan Р. Bailey М.. et al. Super-resolution Ьу combination of а solid

 

immersion lens and ап aperture / / J рп. J

Аррl

Phys. 2001

V 40

Р

1778-1782

 

 

 

22

Farahani J N. Eisler

Н J. РоЫ D W. and

НесЫ В

Single

quantum dot

coupled to

 

а scanning

optical

antenna'

А tunable

super

етШег / /

Phys

Rev. Lett

2005.

У.95

 

Р 017402

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

23

НееМ В . Bieleteldt Н . РоЫ D W. Novotny L and Heinzelmann Н

'пflиепсе of detection

 

conditions оп near-field optical imaging / /

J. Appl. Phys

1998

V 84

Р 5873-5882

 

 

24

Ргеу Н О. Kellmann Р. Kriele А and Guckenberger R. Enhancing the resolution of

 

scanning near-field optical microscopy Ьу а metal tip grown оп ап aperture

ргоЬе / /

Аррl

 

Phys Lctt 2002 V 81

Р 5030-5032

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

25

BeuerslUls М R . Bouhelier А . and Nouotny L

Continuum generation

[гот single

gold

 

папоstгuсturеs through

near-field

mediated

intraband

transitions

/ /

 

Phys.

Rev

В.

2003

 

V 68

Р 115433

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

26

Bnuheller А . Beuersluis М Hartschuh

А and Nouotny

L

Near-field

second-harmonic

 

generation induce(l Ьу local field enhancement / /

Phys

Rev

Lett. 2003 V 90. Р.013903

27

Stockle R М .

Suh

У D. Deckert

V. and Zenobi

 

R

Nanoscale

chemical

analysis Ьу

 

tip-enhanced Rаmап spectroscopy // Chem

Phys

Lett

2000 V 318

Р 131-136

 

 

 

28

/chlmura Т. Науаzаша N. Hashimoto М. /поиуе У. and Kawata

S

Tip-enhanced

 

coherent anti-Stokes Raman scattering [ог vibrational nanoimaging / /

Phys. Rev

Lett

2004

 

V 92

Р 220801

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

29

U'essel J

Surfacc-enhanced

optical

microscopy

/ /

 

J

Opt

Soc.

Ат.

В

1995

 

V 2

 

Р 1538-1541

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30

Лlеt/U Н Surface enhanced spectroscopy // Prog

Surf

Sci. 1984

V

17 Р 153-320

 

 

31

Hartschul/

А .

Sdnchez

Е J. Xie Х S. and Nouotny L

High-resolution

near-field гатап

 

mюоsсору оГ siпglе-\\'аllеd

сагЬоп nanotubes / /

Phys

Re"

Lett 2003

V 90

Р 095503

:32

Kellmanfl F

and Hillenbrand R

Near-field microscopy Ьу elastic

light

scattering

[гот

 

а tip / / Pl,il

ТI'апs

R Soc

Lond А

2004

V 362 Р 787-805

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

:3:3

Zenhausern F . Martm У . and Wiсkгатаsmghе Н К Scanning interferometric apertureless

 

mlCГoscopy

Optlcal imaging at 10 angstrom resolution / /

Science

1995. V 269

Р 1083

:3-1

Yang

Т J.

Lessard G А. and Quake

S

R. Ап apertureless

near-field

microscope

[ог

 

i!UОГбсепсе imagll1g / /

Аррl

Phys

Lett

2000. V 76

 

Р 378-380

 

 

 

 

 

 

 

 

 

35

.Hartm У. Rlshton S .

and

Wlckramasinghe Н К

Optical data

storage

read

out at

256

 

gы s//п22 / /

Аррl Phys

Lett

1997

V 71

Р 1-3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

36

Balistren М L М . Кlunder D J W. Korterik J Р. et аl

Visualizing the whispering gallery

 

mo(les iп а суliпdгiсаl optical microcavity // Opt

Lett

1999 V 24

Р

1829-1831

 

 

 

3,

СоиГ/оп D. Sarayeddine К. and Spajer

М

Scanning tunneling

optical

microscopy / /

 

Opt

Соттип

1989

V 71

Р 23

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

38

Reddlck R С . JX!armack R J Chilcott D W. Sharp S

L and Ferrell Т L . Photon scanning

 

tunneling microscopy / /

Rev

Sci Instrum

1990

V 61. Р 3669

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

39

Кгепп J R. Dereux А . Weeber J С. et al. Squeezing the optical near-field zone Ьу plasmon

 

coupling оГ metallic папорагtiсlеs / /

Phys

Rev. Lett

1999

У.82. Р 2590-2593

 

 

 

 

40

Bal/S/ren М L М . Kor/enk J Р. Kuipers L . and иап Hulst N F

Observations of phase

 

singularities

in

optical

fields

in waveguide structures

/ /

Phys

Rev. Lett

2000.

V 85.

 

Р 294-297

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

168

Гл 5 Наноразмерная оптическая микроскопия

 

 

41 Balistreri M.L.M., Korterik J.P.,

Kuipers L, and иаn

Hulst

N F

Phase

mapping о!

 

optical fields in integrated optical waveguide structures / / J

Lightwave Technol

2001 V 19

 

Р 1169-1176

 

 

 

 

 

 

42

Balistreri М. L. М., Gersen Н., Korterik J. Р,

Kuipers L ,

and иаn Hulst N

F Tracking

 

femtosecond laser pulses in space and time / /

Science. 2001

V 294 Р 1080-1082

43. Fйlck Е, Hammer М., Otter А М.,

et а! Amplitude and phase

evolution of

optical iields

 

inside periodic photonic structures / /

J Lightwave Technol

2003

V 21

Р 1384-1393

44 Betzig Е, Jsaacson М, and Lewis А. Collection mode near-field scanning optical microscopy / / Appl. Phys. Lett. 1987. У. 51. Р.2088

45Rhodes S.к., Nugent к.А., and Roberts А. Precision measurement о! the electromagnetic fields in the [оса! region of а high-numerical-aperture lens using а tapered fiber ргоЬе /1 J

Opt Soc. Ат. А. 2002. У.19. Р.1689-1693.

46.

Horsch J., Kusche R., Marti О., Weigl В.,

and Ebeling К J

Spectrally resolved near-iield

 

mode imaging оУ vertical cavity semiconductor 1asers / /

J.

Арр! Phys

1996

V 79

 

Р.3831-3834.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

47

Adelmann Ch., Hetzler J , Scheiber G , et al. Experiments оп the depolarization near-iield

 

scanning optical microscope / /

Арр! Phys. Lett

1999

V 74

Р

179

 

 

 

48.

Hosaka N and Saikl Т. Near-fie1d f1uorescence imaging of single molecules with а resolu(lOn

 

in the range of 10 пт // J. Microsc. 2001. У.202. Р.362-364

 

 

 

 

49.

Fischer U. Ch, Durtg

U. Т,

and РоЫ D

W

Near-field optical scanning

microscopy ,п

 

ref1ection / / Арр! Phys

Lett

1988. У.52

Р.249.

 

 

 

 

 

 

50

Trabesmger W, Kramer А., Kreiter М., НесЫ В., and Wild и Р Sil1gle-molecule near-iield

 

optical energy transfer microscopy / / Арр!

Phys Lett

2002

V 81

Р.2118-2120

 

51

Trabsinger W., Kramer А., Kreiter М.,

НесЫ В,

and

Wild

и Р, Single-molecule

 

near-field optical energy transfer microscopy with die1ectric tips / / J

Microsc

2003

V 209

 

Р.249-253.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

52Vickery S А. and Dunn R. С. Scanning near-fie1d f1uorescence resonance епегgу transier microscopy // Biophys J. 1999. У.76. Р.1812-1818.

53S1I1Юn А. к., Moiseev L А, Cantor С R, et а! Toward nanometer-scale resolution iп

f1uогеsсепсе microscopy usiпg spectral sеlf-iпtегfегепсе / / IEEE J Sel Тор Quапtum Еlесtгоп 2003 У.9 Р 294-300

Глава 6

зонды для микроскопии БЛИЖНЕГО ПОЛЯ

Оптические зонды ближнего поля, такие как облучаемые лазером металлические ГО.l0ВКИ, являются ключевыми компонентами оптических микроскопов ближнего

поля, которые были рассмотрены в предыдущей главе. Не взирая на то, используется

зонд для подсветки или детектирования, либо для того и другого одновременно,

оптическое пространственное разрешение системы зависит исключительно от того,

как нам удалось локализовать оптическую энергию на кончике зонда. В этой главе

~lbI обсудим распространение света и его локализацию в различных зондах, исполь­

зуе~IЫХ в оптической микроскопии ближнего поля. Где это возможно, мы исследуем фундаментальные свойства при помощи теории электромагнетизма (см. гл. 15), а так­ же даем обзор современных методов изготовления оптических зондов. Надеемся, что

предлагаемые нами сведения помогут сформировать у читателя ясное представление

о возможностях и технических ограничениях описываемых зондов. Наиболее часто встречающиеся оптические зонды: (1) безоболочечные волоконные зонды, (2) апер­ турные зонды, (3) узконаправленные металлические и полупроводниковые зонды,

(4) наноизлучатели, такие как отдельные молекулы или нанокристаллы. Известная теорема в теории электромагнетизма утверждает наличие свойства обратимости у Э.lектромагнитных полей, т. е. сигнал остается неизменным, если источник заменить

из.'учателем, а излучатель - источником [1, 2]. Таким образом, достаточно изучить

данный зонд только в одном режиме работы. В большинстве приложений необходимо

бывает избежать засветки больших поверхностей из-за риска фотодеструкции и даJlьнодеиствующих интерференционных эффектов, усложняющих восстановление

изображении. Поэтому мы сосредоточим свое внимание на локальных конфигураци­

ях подсветки

6.1. Диэлектрические зонды

Диэлектрические, т. е. прозрачные, головки представляют собой важнейший класс

оптических зондов ближнего поля и являются ключевыми компонентами при изготов­

.1ении более сложных зондов, например апертурных. Прозрачные головки могут быть

получены путем сведения на конус оптического волокна и образования конических

ГО.1Овок, в процессе соответствующей механической обработки стеклянных пластин

сполучением тетраэдрических головок, в процессах полимерной прессовки, а также

всиликоновой (нитридной или оксидной) технике микропроизводства. Головки на

конце стеклянных волноводов имеют то значимое преимущество, что направление

света в коническую область можно осуществлять путем возбуждения волноводных ~ЮД на противоположном конце волновода. Последние два типа головок могут быть

установлены на сколах (разрезах) волокна. Ниже мы обсудим наиболее значимые

~Iетоды, используемые при создании острых диэлектрических головок.

6.1.1. Оптические головки, сходящие на конус. Схождение на конус опти­

ческого волокна может быть получено путем химического травления или местного

нагрева с последующим вытягиванием. Здесь мы сравним возможности различных

техник травления и вытягивания и обсудим их свойства, преимущества и недостатки.

170

Гл. 6 Занды для микроскопии ближнего ПОЛЯ

 

Травление

Химическое травление стеклянных волокон представляется довольно привлека­

тельным методом, потому что позволяет организовать производство партий изделий с одновременным получением большого числа идентичных головок. Изначально

травление стеклянных волноводов осуществлялось с использованием метода Тернера (Тигпег) [1, 2]. Волокно освобождалось от пластиковой оболочки и погружалось в 40-процентный раствор HF. Как правило, сверху добавлялся тонкий слой органиче­

ского раствора, во-первых, для контроля высоты мениска раствора HF, образующего­

ся на стеклянном волокне, и, во-вторых, для предотвращения возникновения опасных

испарений, исходящих из травильного аппарата. Используя различные органичеСI\ие

вещества для этих растворов, можно было влиять на величину угла схождения на

конус [4]. Большие углы схождения необходимы, как мы увидим, для увеличения пропускной способности зонда. Формирование конуса, осуществляемое по ~leToJ.Y

Тернера, происходит потому, что высота мениска определяется диаметром цилиндри­ ческого волокна. Начальная высота мениска зависит от типа органического верхнего

слоя. Так как диаметр волокна в процессе травления сужается, уровень l\Iениска

понижается, таким образом более высокие участки волокна перестают участвовать

I ~I ~I ~I

ШШШLJ

в процессе. В конце концов диаметр волокна

становится нулевым и процесс травления вооб­

ще говоря, по идее, должен прекратиться ca~1

собой. Развитие процесса во времени показано

на рис. 6.1.

Описанный метод выглядит довольно при­

влекательно, но у него тем не менее есть суше­

ственные недостатки. Во-первых, процесс в ре­

альности не останавливается самопроизвольно

Рис 6 1.

Схема

травления

по

методу

Диффузия небольших

молекул HF в органи­

Тернера

Высота

мениска 40-процент­

ческий

раствор верхнего слоя начинает разру­

ного HF-раствора падает

при

умень­

шать головку, если

ее не вынуть

из вещества

 

 

 

 

 

 

шении диаметра

волокна

в процессе

сразу

по окончании

процесса формирования

травления Предполагается,

что про­

Во-вторых,

поверхность конуса,

как праВИ,10,

цесс остановится в момент

оконча­

является довольно

шероховатой.

Скорее все­

ния процесса формирования

Более де-

го,

причина

этой шероховатости

заключается

тальное описание см

 

в [3]

 

 

 

 

 

 

в

том,

что

мениск

HF-раствора

понижается

в процессе травления не непрерывно и не гладко, а скорее, совершая скачки от одного

равновесного положения к другому. Это приводит К возникновению ограненной,

довольно шероховатой поверхностной структуры, которая может вызвать ВПОС,lеJ.­

ствии проблемы, например с весьма посредственной прозрачностью металлического

покрытия Эти проблемы с шероховатостью можно решить, применяя так называе~IЫЙ метод пробирочного травления [5]. В этом методе волокно погружается в раствор с органическим верхним слоем (р-ксилена или изооктана) без снятия его пластиковой

оболочки. В стандартных оптических волокнах их пластиковые оболочки ХИl\lически

устойчивы к HF. На рис. 6.2 схематически показано, как происходит процесс трав­ ления в случае: а) НF-проницаемого и б) НF-непроницаемого покрытия. На вставках

расположены фотографии травленого волокона в момент травления. Разные типы покрытия приводят К разным способам формирования головки. Для более детального

ознакомления отсылаем читателя к исходной публикации [5] На рис. 6.3 показаны

типичные образцы конических головок, полученные этими двумя различными ~leTo­

дами. Обратите внимание, насколько различается шероховатость в методе Тернера и

пробирочном методе.

б 1 Диэлектрические зонды

171

Рис 62 ЭВОJ1ЮЦИЯ процесса пробирочного травления На вкладках показаны видеофрагменты процесса в соответствующие моменты времени. Покрытые волокна погружаются в 40-процент­ ный раствор HF с органическим верхним слоем (р-ксилен или изооктан) В случаях когда покрытие ПРOtlицаемо либо непроницаемо дЛЯ HF, травление происходит различным образом.

В с.lучае непроницаемой оболочки головка формируется на конце волокна и сохраняет свою

фОР~I). сокращаясь по длине внутри оболочки (а). Во втором случае головка образует мениск между HF-раствором и органическим верхним слоем (6) Заимствовано из [5]

Рис 63 Травленые волоконные головки Слева. травление по методу Тернера Справа' метод

проБИРОЧНОI'О травления На верхних рисунках изображения получены при помощи обычного оптического микроскопа На нижних показаны изображения поверхностной шероховатости ГО.l0ВКИ. наl1ыленной слоем платины 3 нм при 77 К, полученные при помощи электронного

микроскопа высокого разрешения Заимствовано из [5]

Кроме метода Тернера и пробирочного метода, существует несколько других

методов травления, позволяющих получить острые головки Был предложен приме­

чательный метод, основанный на погружении разреза волокна в смягченный раствор

HF. состоящий из смеси в объемном отношении NH4F: HF: Н20 = Х: 1 : 1, где Х - переменная величина [6]. Как правило, используются смеси, где Х > 1. Угол схожде­ ния на конус монотонно уменьшается при возрастании Х и выходит на стационарное

значение при Х > 6. Величина этого стационарного значения сильно зависит от кон­

центрации Ое в сердцевине волновода. Для уровня допирования 3,6 и 23 мол. % эти

ве.1ИЧИНЫ колеблются вблизи значений 1000 и 200 соответственно. Метод основан на

то!\(. что в подобных растворах обогащенные германием части оптического волокна травятся с более низкой скоростью. Так как сердцевина используемого здесь волокна

.J.опирована германием, на ней возникает протрузия, возвышающаяся над остальной поверхностью плоского волокна. На рис. 6.4 показан характерный вид волоконной

го.ювки, получаемой по методу Охтсу (Ohtsu). Волокно является плоским в разрезе,

за исключением короткой и острой протрузии, возникающей на его сердцевине. Для

172

Гл б Зонды для микроскопии ближнего поля

Рис 64. Изображения волоконных головок, травленых по методу Охтсу, полученные при помощи сканирующего туннельного микроскопа. Слева· специальное волокно с высоким уров­

нем допирования германием Заимствовано с согласия авторов из [6] Справа коммерческое волокно Заимствовано из [79]

того чтобы этот метод можно было применять, концентрация германия в сердцевине волокна должна иметь соответствующий профиль, чего не бывает в случае стандарт­ ных коммерческих одномодовых волокон. Еще более сложные методики необходимы

для формирований конических головок с углом схождения, представляющим собой разрывную функцию в пространстве, так называемых головок с множественной

коничностью [7].

Нагрев и вытягивание

Другим успешным методом создания сходящих на конус оптических волокон

является локальный нагрев безоболочечного волокна с последующим его вытягива­

нием. Используемая здесь методика ранее применялась в исследованиях электрофи­

зиологии клеток и использует метод локальной фиксации потенциала. 1) Метод ло­

кальной фиксации потенциала был разработан Эрвином Неером и Бертом CaKMaHO~1

в1970 г. [8] в институте биофизической химии Макса Планка (Геттинген, Германия)

В1991 г. они получили за свои разработки Нобелевскую премию по медицине.

Микропипетки для экспериментов по локальной фиксации потенциала производятся из кварцевых капилляров при помощи локального нагрева и вытягивания Форма и

диаметр при вершине пипетки сильно зависят от всех параметров, характеризующих

нагрев и вытягивание, включая профиль скорости вытягивания, размер области

нагрева и временной профиль нагрева.

Приложения нанооптики, как уже говорилось ранее, накладывают на конические оптические волокна определенные требования, а именно: коническая зона должна

быть короткой, твердой и иметь большой угол схождения на конус (угол раскрытия).

Для того чтобы удовлетворить этим требованиям, область нагрева должна быть

меньшей или равной диаметру волокна. Для того чтобы получить симметричную форму головки, распределение температуры в стекле должно иметь цилиндрическую

симметрию. Кроме того, нагрев стекла должен быть умеренным, т. к стекло обладает

определенным оптимумом вязкости, которого необходимо достичь перед началом про-

1) В оригинале· patch claтp technique. От англ patch - фрагмент, claтp (здесь) -

фиксация. - Прuм.еч пер