Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

5586

.pdf
Скачиваний:
47
Добавлен:
10.05.2015
Размер:
800.61 Кб
Скачать

10

11. Сделайте вывод о результатах работы, сравнив свои значения работы выхода и постоянной Планка с табличными значениями.

ЛАБОР АТОР НАЯ Р АБОТА № 2

Изучение дифракции фотонов и проверка соотношения неопределенностей Гейзенберга

2.1.Цель работы: изучить распределение фотонов при дифракции на прямолинейной щели и экспериментально проверить соотношение неопределенностей Гейзенберга.

2.2.Подготовка к работе: прочитать данное описание лабораторной работы, изучить ¹¹ 213–219 в учебнике [1], ¹ 44 в [3] и

¹¹19 и 20 в [2]. В результате подготовки нужно знать: а) характеристики фотонов – энергию, импульс, скорость распространения, массу; б) понятие и свойства волновой функции и ее статистический смысл; в) физический смысл соотношения неопределенностей Гейзенберга; г) связь интенсивности света с энергией фотонов и их количеством.

2.3. Описание установки

Для проведения

 

2

3

 

эксперимента

ис-

1

5

пользуется

установ-

 

4

 

 

рV

ка, состоящая из ла-

 

 

 

 

 

 

зера,

испускающего

 

 

 

 

поток

монохромати-

Рис. 2.1. Оптическая схема установки для

ческих

фотонов на

изучения дифракции и счета фотонов:

длине

 

 

волны

 

 

 

1 – лазер; 2 – щель; 3 – экран;

 

633 нм ,

раздвиж-

 

 

 

4 – фотодиод; 5 – мультиметр

 

ная щель

с

микро-

 

 

 

 

 

 

метрической шкалой, матовый экран, фотодиод с мультиметром и рулетка. Установка собрана по схеме на рис. 2.1.

Лазер устанавливается на одном конце оптической скамьи, а на другом размещается либо экран для наблюдения дифракционной картины, либо фотодиод ФД для счета фотонов. Держатель

11

ФД снабжен поперечными направляющими для перемещения его в обе стороны от середины дифракционной картины.

2.4. Методика измерений и расчета

Напряжение U на выходе ФД пропорционально интенсивности света I . Она равна энергии N фотонов, прошедших через входное отверстие ФД площадью S за время t :

U ~ I N .

St

Здесь – энергия одного фотона; 2 – циклическая частота. Число фотонов N , пролетевших сквозь входное отверстие ФД, определяется общим количеством фотонов и плотностью вероятности их попадания в ФД. Таким образом, сигнал с ФД (при неизменной частоте света) пропорционален плотности вероятности, которая определяется квадратом модуля волно-

вой функции 2 .

Фотоны в промежутке от лазера до щели ни с чем не взаимодействуют и поэтому являются свободными. Их импульс

р k и волновой вектор k направлены вдоль оптической оси

установки. Модуль k / c 2 / . Свободным фотонам можно

поставить в соответствие плоскую волну де Бройля, описываемую волновой функцией:

 

 

 

 

i

 

 

 

 

 

 

 

( pr t)

 

 

Ae

(2.1)

(r , t) Ae-i( t kr )

.

Здесь А – амплитуда волновой функции; r – радиус-вектор точки наблюдения.

При прохождении через щель, поставленную на пути фотонов, их волновая функция искажается – она перестает быть плоской. Волновое поле за щелью можно найти по принципу Гюйгенса – Френеля как результат интерференции волн де Бройля, žисходящих¤ из различных точек щели (рис. 2.2). Вторичные волны, žизлучаемые¤ полоской волнового фронта ширины dx ,

12

параллельной краям щели, складываясь, дают цилиндрическую волну, осью которой является эта полоска.

Волна, žисходящая¤ из dx , опережает волну того же направления, žисходящую¤ из середины щели О, на kx sin . Поэтому результирующая волна, создаваемая всей щелью в этом направлении, представляется интегралом

 

b / 2

 

i

(kx sin t)

 

 

 

i

t b / 2

 

i

kx sin

 

 

 

 

 

 

 

 

 

( , t)

 

Ce

 

 

 

 

dx Ce

 

 

e

dx

 

b / 2

 

 

 

 

 

 

 

 

b / 2

 

 

 

 

 

 

 

i

t

sin

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

,

 

 

 

 

 

(2.2)

 

 

 

 

Ce

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где С – комплексная амплитуда вторичных волн; b – ширина щели; kb sin b sin ( – угол дифракции фотонов).

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отсюда найдем

плот-

х

 

 

 

 

ность вероятности

2

обна-

 

 

2

 

ружить фотон, летящий под

dx

 

 

Э

углом к оптической оси

b / 2

 

 

 

 

установки:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

0

2 sin 2

(2.3)

О

 

 

О

z

 

 

 

.

b / 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Здесь

0

2 Cb 2

 

 

 

2

 

плотность вероятности того,

 

 

 

 

 

что фотон летит вдоль опти-

Рис. 2.2. Пояснение принципа

ческой оси и попадает в се-

Гюйгенса – Френеля

редину дифракционной кар-

 

 

 

2

 

тины. На рис. 2.2 представлен график функции

от . При

0 она принимает максимум, равный

0

2 . При m , где

m = 1, 2, 3, …, 2

0 (минимумы). Условия минимумов можно

записать в виде

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

13

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b sin m

или b sin m .

 

 

 

(2.4)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Между двумя соседними минимумами 2

почти посереди-

не располагаются максимумы различных порядков. Отношение

плотности

вероятности

фотонов

в

максимумах

 

равно

 

2 :

2 :

 

2

:

2 : … = 1 : 0,047 : 0,017 : 0,0083 : ….

 

 

 

0

1

 

2

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таким образом, волновая функция фотона, прошедшего

сквозь щель, сложным образом зависит от направления . Ука-

зать заранее, в какое место экрана попадет фотон, невозможно:

он может быть обнаружен в любом месте, где 0 . Однако, ве-

роятность попадания в область центрального

максимума

2

наибольшая. Его угловая ширина равна 2 1, причем b sin 1

 

(рис. 2.3).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Из рисунка видно, что

 

х

 

 

 

 

 

 

 

после

прохождения

через

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

щель

 

неопределенность

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(разброс)

импульса

рх

 

 

 

E

 

B

 

2

 

фотона получается порядка

х b

 

 

 

D

 

 

р

1 рх

 

 

 

 

рх р sin 1 . Умножая это

 

О

рz

F

 

О

 

 

z

выражение

на

неопреде-

 

 

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

ленность

координаты фо-

 

 

 

 

 

 

 

тона x b и принимая ус-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ловие

(2.4)

при

m 1 и

 

Рис. 2.3. Изменение импульса

p 2 / , получим

 

 

 

фотона при прохождении через щель

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x px 2 .

 

 

 

 

 

 

 

 

(2.5)

 

Это выражение носит название соотношения неопределен-

ностей Гейзенберга. Для нашего эксперимента оно означает, что

чем уже щель, тем точнее мы можем определить координату х

пролетающего фотона (уменьшаем ширину щели х ). Но зато

потеряем точность в значении его импульса. Величину разброса

импульса рх можно выразить из подобия треугольников ОЕF и

ОВО

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

14

рх (О В) ,

р ОВ

где (О В) D . Из-за малости угла 1 длину отрезка (ОВ) можно заменить на расстояние L от щели до экрана, и тогда

рх р

D

 

2

 

D

.

(2.6)

 

 

 

 

L L

 

Соотношение неопределенностей (2.5) в этом эксперименте проверяется следующим образом. Измеряют ширину центрального дифракционного максимума 2D , расстояние L и по формуле (2.6) рассчитывают рх . Согласно (2.5) произведение х и рх должно быть величиной постоянной при разных значениях х . Следовательно, график зависимости рх от х должен быть гиперболой.

2.5. Выполнение работы

2.5.1. Проверка соотношений неопределенностей Гейзенберга

1.Расположите щель на расстоянии около 20 см от лазера, а экран – на краю оптической скамьи. измерьте расстояние L от плоскости щели до экрана.

2.Включите лазер в сеть.

3.Поперечным перемещением установите щель так, чтобы лазерный пучок падал на нее симметрично.

4.С помощью микрометрического винта наверху щели меняйте ее ширину от 0,05 до 0,3 мм через каждые 0,05 мм. При этом каждый раз измеряйте ширину 2D центрального максимума

вдифракционной картине на экране. Ширину максимума определяют по положению первых темных полос, примыкающих к максимуму.

5.Результаты измерений занесите в табл. 2.1.

6.По формуле (2.6) рассчитайте неопределенность импульса

фотона рх , взяв значение длины волны лазерного излучения 633 нм и постоянную Планка 1,05 10 34 Дж с .

15

Таблица 2.1

Результаты измерения ширины центрального максимума 2D при разной ширине щели х

№ опы-

х

2D

D

L

рх

x px

та

мм

мм

мм

м

кг½м/с

Дж½с

1

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

6

 

 

 

 

 

 

7.Постройте график зависимости рх от х .

8.Произведение неопределенностей х и рх запишите в

табл. 2.1.

9.Сравните это произведение со значением 2 .

2.5.2.Измерение относительной плотности вероятности попадания фотонов в максимумы дифракционной картины

1.Поставьте на расстоянии около 30 см от щели рейтер с фотодиодом (ФД). Его положение отрегулируйте так, чтобы середина центрального максимума как можно точнее попала на входное отверстие ФД.

2.Включите мультиметр на диапазон 2000 мВ и измерьте

напряжение U0 , пропорциональное плотности вероятности попа-

дания фотонов в данное место: U0 ~

 

0

 

2 .

 

 

 

 

3.

Перемещая ФД вдоль дифракционной картины измерьте

U1 на месте первого левого максимума и первого правого U1 .

 

 

 

 

 

 

 

 

Найдите их среднее значение U1 (U1 U1) / 2. То же самое сде-

лайте со вторым и третьим максимумами.

 

4. Результаты занесите в табл. 2.2.

 

 

 

5.

Найдите

отношение

 

показаний

мультиметра

Ui /U0 = i 2 / 0 2

6.Сравнив их с теоретическими значениями, сделайте вывод

освоем эксперименте.

16

Таблица 2.2

Результаты измерения интенсивности максимумов дифракционной картины

Номер

Левый

Правый

U

U

U

 

/U

 

=

 

 

 

 

 

2 /

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

максиму-

max

max

Ui

i

i

 

 

i

 

0

 

 

 

 

i

 

 

 

 

0

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ui

Ui

 

 

 

Экспер.

 

 

Теория

ма

 

 

 

 

 

 

мВ

мВ

мВ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1,0000

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,0470

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,0170

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,0083

 

 

ЛАБОР АТОР НАЯ Р АБОТА № 3

Изучение волновых свойств электронов при рассеянии их на атомах аргона и ксенона

3.1.Цель работы: изучить волновые свойства электронов при столкновении их с атомами инертных газов, определить размеры атомов аргона и ксенона, потенциалы ионизации и оценить глубину потенциальной ямы с помощью анодных и сеточных характеристик газонаполненных электронных ламп.

3.2.Подготовка к работе: прочитать данное описание ла-

бораторной работы. Изучить в учебниках 1 ¹¹ 46, 216, 217, 219– 221, 2 ¹ 18 и 8 гл. 1 ¹¹ 2–3, гл. 3 ¹ 9, Приложение 2 данных методических указаний. В результате подготовки нужно знать: а) в чем заключается эффект Рамзауэра и как его можно наблюдать экспериментально; б) как по вольт-амперной характеристике тиратрона можно определить энергию электрона, при которой возникает эффект Рамзауэра; в) как проявляются волновые свойства электронов при рассеянии их на атомах; условие гашения и усиления отраженных от атома электронных волн де Бройля; г) почему изменяется потенциальная энергия электрона при пролете через атом; д) что означает термин žпотенциальная яма¤.

17

3.3. Теоретические основы эксперимента

Среди физических явлений, объяснение которых требует учета волновой природы микрочастиц, выдающееся место занимает эффект Рамзауэра (1921 г.), в котором пучок медленных электронов с энергией, меньшей 1 эВ, практически беспрепятственно проходит сквозь тяжелые инертные газы. Вопреки классическим представлениям о монотонном убывании поперечного сечения рассеяния электронов с ростом их скорости (энергии) [4], эксперимент показывает четкий минимум рассеяния. Этот результат достаточно хорошо можно объяснить только на основе положения квантовой механики о волновых свойствах электронов.

Вданной лабораторной работе волновые свойства электронов проявляются при столкновении их с атомами аргона и ксенона в электронных лампах, заполненных этими газами – тиратронах. Изучив вольт-амперные характеристики (ВАХ) ламп, можно сделать выводы о изменении траектории электронов, налетающих на атомы, определить размер внешней электронной оболочки атомов и потенциал их ионизации.

Вработе используется тиратрон ТГЗ-0,1/1,3, заполненный ксеноном и газонаполненный триод ТГ1-0,1/0,3 с аргоном.

Электроны, испускаемые нагретым катодом, ускоряются напряжением V , приложенным между катодом и ближайшей к нему сеткой. Потенциал сетки примерно равен потенциалу анода, поэтому между ними практически нет электрического поля. Часть электронов, сталкивась с атомами газа, отклоняется в сторону (рассеивается) и переходит при этом на сетку. Другая их часть достигает анода и создает в лампе анодный ток Ia . Следо-

вательно, из-за рассеяния поток электронов, т. е. количество их в единицу времени, уменьшается от начального значения N0 у катода до величины Na у анода. Поэтому анодный ток Ia еNa (е – заряд электрона) меньше тока у катода I0 еN0 . Сравнивая величины Ia и I0 , можно оценить какая доля электронов долетела до анода, а какая рассеялась.

Казалось бы, чем быстрее пролетает электрон мимо атома, тем меньшее время они взаимодействуют, а значит меньше изме-

определяется уско-
ток. Так как скорость электронов

18

няется его траектория. Поэтому более быстрые электроны долетают до анода в большем количестве, вызывая больший анодный

2еV

m

ряющим напряжением V, то зависимость Ia от V, т. е. ВАХ, должна быть монотонно возрастающей функцией, как показано на рис. 3.1, а.

а) б)

Рис. 3.1. Качественный вид ВАХ тиратрона Ia V при классическом (а) и квантовом (б) рассмотрении

Однако иное объяснение процесса рассеяния электронов дает квантовая механика. Электрон, как микрочастица, обладает волновыми свойствами, поэтому налетающему на атом электрону соответствует волна де Бройля, длина которой определяется соотношением

2 2 . m 2mE

Здесь 1,05 10 34 Дж с – постоянная Планка; Е – кинетическая энергия электрона; m – его масса.

При прохождении электрона через атом длина волны де

Бройля становится меньше

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2m E U0 ,

 

где U0 – увеличение энергии электрона за счет взаимодействия его с атомом (глубина атомного потенциала). При этом, как показано на рис. 3.2, волна де Бройля отражается от передней и зад-

19

ней границ атома (атомного потенциала), и происходит интерференция прошедшей через атом волны 1 и волны 2, отраженной от границ атома. Эти волны когерентны. Прошедшая волна 1 усилится волной 2, если разность хода между ними 2 1, что соответствует условию первого интерференционного максимума, т. е. при выполнении условия

 

 

2

 

2

 

.

(3.1)

 

 

2m E U

0

Здесь E1

 

 

1

 

 

– энергия электрона,

 

 

1

соответствующая условию беспре-

 

 

 

 

 

пятственного

прохождения

его

 

 

+

сквозь атом.

 

 

 

 

 

С другой стороны, прошедшая

 

 

2

 

 

 

волна

ослабляется,

 

если

 

 

U0

2 3 2

(условие интерферен-

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

ционного минимума), т. е. при ус-

 

Рис. 3.2. Схема рассеяния

ловии

 

 

 

 

 

3

2

 

 

 

 

электрона на атоме:

 

 

 

 

 

2

 

 

 

– размер атома; ž+¤ – его

2

2m E2 U0 ,

 

(3.2)

 

 

 

 

ядро

когда электрон с энергией Е2 испытывает наиболее сильное отклонение в поле атома (рассеива-

ется). Таким образом, на ВАХ должен наблюдаться максимум анодного тока, когда электроны беспрепятственно проходят через атомы газа, и минимум – при их сильном рассеянии (см. рис. 3.1, б).

Решая совместно два уравнения (3.1) и (3.2), можно найти

эффективный размер атома:

2

 

 

 

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

 

 

,

(3.3)

 

 

 

 

 

32m E

2

E

 

 

 

1

 

 

 

а также глубину потенциальной ямы атома:

 

U0 0,8Е2

1,8Е1 .

(3.4)

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]