Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Проектирование бесконтактных управляющих логических устройств промышленной автоматики

..pdf
Скачиваний:
27
Добавлен:
19.11.2023
Размер:
26.56 Mб
Скачать

Д ля схем без обратных связей с большим числом входных переменных

В этом случае дополнительные наборы рекомендуется подбирать следующим образом.

Анализируются попарно не различимые наборами контролирующе­ го теста между собой неисправности и методом существенных путей подбирается необходимый для их различения набор (такой набор, на котором проявляется лишь одна из не различимых до сих пор неисправ­ ностей, а другая неисправность не оказывает влияния на изменение значения выходного сигнала).

Для схем с обратными связями

Обратные связи обрываются, и далее при построении диагности­ ческих тестов используются те же приемы, что и для комбинационных схем, но к значениям исходных входных переменных в наборах добав­ ляются значения промежуточных переменных, обусловленные обрывом обратных связей.

11-5. ПРОВЕРКА КОНТРОЛИРУЮЩИХ И ДИАГНОСТИЧЕСКИХ ТЕСТОВ НА СТЕНДЕ-ТРЕНАЖЕРЕ

Обязательным условием проверки тестов на стенде-тренажере является правильность сборки схемы на стенде и правильность ее функ­ ционирования.

Проверка контролирующего теста

1:На схему поочередно подаются наборы контролирующего теста

исравниваются значения» выходных сигналов, фиксируемые сигнальны­ ми лампами тренажера, со значениями этих же сигналов, поставленны­ ми в соответствие. наборам' теста, в исходной таблице. Появление несоответствий указывает на наличие ошибки в тесте.

2.Составляется список неисправностей. В схеме задается, одна из неисправностей и навходы схемы поочередно подаются наборы кон­ тролирующего теста до тех пор, пока данная неисправность не изменит значения выходного, сигнала -на противоположное тому, которое про­ ставлено в исходной таблице для подаваемого в настоящий момент на схему набора.

3.Задается следующая по списку неисправность и снова, среди наборов контролирующего теста подыскивается проверяющий ее набор

ит. д . до тех пор, пока " Проверяющий не убедится в том, что данная совокупность наборов проверяет все неисправности.

В случае если какая-либо неисправность не проверяется, то тест является неполным.

Недостающие

наборы можно подыскать по методике, изложенной

в § 11-4.

.

.

Проверка диагностического теста

1.Составляется список пар различимых между собой неисправ­

ностей. .. .■ С/ 2. Производится анализ каждой пары неисправностей следующим

образом.

251

Подаются на схему поочередно наборы диагностического теста и для одной из пары неисправностей отмечаются наборы, ее проверяю­ щие. То же самое выполняется и для другой неисправности. Множества этих наборов не должны совпадать. Если для какой-либо пары неис­ правностей они совпадают, то тест является неполным.

 

Проверка правильности работы

отдельных логических

 

 

элементов

системы

 

При

выполнении наладочных работ

и

при поиске

неисправности

в бесконтактной схеме

управления

может

возникнуть

необходимость

проверки

правильности

работы отдельных

логических элементов.

Правильность работы элемента можно проверить путем подачи на его входы всех возможных наборов значений входных сигналов и про­ верки правильности значений выходного сигнала в соответствии с ло­ гической функцией элемента. При этом способе проверки число набо­ ров является избыточным.

Минимальное число наборов для отдельных элементов можно опре­

делить путем построения таблицы функций

неисправностей (ТФН) и

выполнения преобразования ШЗ—

по

методике,

изложенной

в гл. 10. Представляется целесообразным

иметь набор

минимальных

контролирующих тестов для всех логических элементов широко при­ меняемой промышленной серии.

11-6. ПРИМЕНЕНИЕ СТЕНДА-ТРЕНАЖЕРА В УЧЕБНОМ ПРОЦЕССЕ

Применение стенда-тренажера позволяет успешно решать многие задачи подготовки специалистов по проектированию и наладке бескон­ тактных логических устройств промышленной автоматики. Можно ука­ зать, например, следующие задачи:

ознакомление с устройством, схемами и техническими данными транзисторных элементов серии «Логика-Т», выполняемыми ими функ­ циями, условиями включения и т. д.;

ознакомление с реализацией логических функций, временных и счетных операций из различных комбинаций логических и временных элементов;

ознакомление с принципами и методами стендовой проверки схем промышленной автоматики;

приобретение навыков в сборке и проверке схем функциональных узлов и блоков;

приобретение навыков составления и проверки правильности кон­ тролирующих и диагностических тестов, составленных методами тех­ нической диагностики.

Ознакомление с модулями, входящими в комплект стенда, повы­ шает эффективность изучения элементов серии, позволяет активизиро­ вать процесс обучения. Для ознакомления со схемами, обозначениями выводов и характеристиками элементов следует пользоваться техниче­ скими данными и справочными сведениями, приведенными в гл. 8.

Основой набора заданий для учебно-тренировочных занятий могут быть следующие задачи:

реализация логических функций, например ИМПЛИКАЦИЯ, ЗА­ ПРЕТ, ЭКВИВАЛЕНТНОСТЬ, НЕЭКВИВАЛЕНТНОСТЬ, ПАМЯТЬ и др., из элементов Т-101 и комбинаций элементов Т-101, Т-106 и Т-107;

2 5 2

 

реализация временных операций, например задержки на появле­

ние

сигнала,

задержки

на

исчезновение сигнала,

мультивибратора,

ждущего

мультивибратора,

датчика последовательности

импульсов

и др.;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

реализация счетных узлов, например двоично-суммирующего счет-,

чика, двоично-вычитакяцего счетчика, двоично-десятичного

 

счетчика,

кольцевого регистра и т. д.;

 

 

 

 

 

 

проверка

схем

унифициро­

 

X i

*2

У

ванных

логических

блоков,

при­

 

 

 

 

веденных,

например,

в

[66];

 

 

 

 

 

 

проверка

схем функциональ­

М2\^

0

0

0

 

 

 

 

ных узлов

логических управляю­

0

1

1

*2

щих

устройств

промышленных

1

0

1

 

механизмов

и установок, состав­

а )

1

1

0

ленных

на

основе

опытно-кон­

 

 

 

 

структорских разработок, и т. п.;

 

б)

 

 

проверка

заданных

контро­

 

 

 

 

 

 

 

лирующих

и диагностических те­

Рис. 11-2. Условное

обозначение

и таблица

стов

и

составление

тестов

для

истинности логической ф ункции

Н Е Э К В И ­

заданных

схем

блоков.

 

 

В А Л Е Н Т Н О С Т Ь .

 

 

 

 

 

 

 

 

Среализацией логических

функций, временных и счетно-решающих операций рекомендуется зна­ комиться путем набора и исследования на стенде-тренажере схем, при­ веденных в гл. 8.

Ниже приведены примеры заданий для учебно-тренировочных за­ нятий на стенде-тренажере.

 

 

Переменные

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Номер

 

Входные

 

Выход­

 

 

Неисправности

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

набора

 

 

 

ные

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

ь

с

Y

3 ,- 1

S,—0

s ,-o

s „ - l

3

, - 0

36- 1

S 8- l

0

0

0

0

0

0

0

0

1

 

0

0

1

1

0

0

1

1

1

1

1

1

 

1

1

1

3

0

1

1

0

0

0

1

0

 

0

1

1

4

1

0

0

0

0

0

0

0

 

1

1

1

в)

Рис. 11-3. Данные к заданию 2.

— принципиальная схема: б — контролирующий тест; в — диагностический тест.

253

254

Рис. 11-4. Данные к заданию 3.

а — принципиальная схема; б — таблица функций неисправностей (ТФН). '

 

 

 

 

Входные сигналы

 

 

 

 

 

 

 

Неисправности

 

 

Номер

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

набора

г-1

ы

bb

ь,

bs

bo

bj

рв

bo

Si

s3

s4

s5 S„

s7 S.

S3

Sw Su

<bJ2 Si3

 

1

1

0

0

0

0

0

0

0

0 :

 

 

1

1

 

 

 

 

2

0

1

0

0

0

0

0

0

0

 

 

1

1

 

 

 

 

3

0

0

1

0

0 .

0

0

0

0

 

 

1

 

1

 

 

 

4

0

0

0

1

0

0

0

0

0

 

1

1

 

1

 

 

 

5

0

0

0

0

1

0

0

0

0

 

1

1

 

 

1

 

 

6

0

0

0

0

0

■1

0

0

0

 

 

1

 

 

 

1

 

7

0

0

0

0

0

0

1

0

0

 

1

1

 

 

 

1

 

8

0

0

0

0

0

0

0

1

0

 

1

V

 

 

 

 

1

9

0

0

0

0

0

0

0

0

1

 

1

1

 

 

 

 

1

10

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

 

 

 

 

 

 

 

Иснрав­ ный

Su S u выход

с

1 1

1 1 1

1 1 1

1

1

1

. 1

1

1

0

б)

Задание 1. Реализация логической функции НЕЭКВИВАЛЕНТНОСТЬ.

1) Исходные данные

Функция НЕЭКВИВАЛЕНТНОСТЬ — Y—X1X2.+X1X2. Словесное описание: функ­ ция принимает значение |1 тогда и только тогда, когда либо вход Хи либо вход хъ равен 1, но не оба вместе. Функция называется также СЛОЖЕНИЕ ПО МОДУЛЮ 2. Это название отражено в условном обозначении. На рис. 11-2 приведены условное Обозначение и таблица истинности функции.

2) Содержание работы:

реализовать функцию из элементов Т-101; реализовать функцию из элементов Т-101 и Т-1106; реализовать функцию из элементов Т-tlOl и Т-107.

Собрать составленные схемы на стенде-тренажере и проверить правильность их функционирования.

Задание 2

 

 

 

1) Исходные данные

 

(а), контролирующий тест

(б),

На рис. '11-3 приведены: принципиальная схема

диагностический тест (в).

 

 

 

2) Содержание работы

рис. 11-3,а:

 

 

П р о в е р к а с х е м ы

 

 

составить алгоритм функционирования устройства;

тест

проверить исправность

логического устройства,

применив контролирующий

рис. ill-3,6;

ввести поочередно искусственные неисправности в схему вида «О» и «)Ь и, при­ менив диагностический тест рис. 11-3,в, найти с его помощью место неисправности.

Jb а

 

 

Входные

 

 

 

Неисправности

 

 

 

 

Исправ­

Преды­

Номер

 

 

 

 

 

 

 

 

ный ВЫ­

дущее

 

сигналы

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ХОД

значе- '

набора

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

; ние щ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Щз-ай

 

а

ь

с

d

S,

5, S3

■S,

5,

S,

 

5,

SJO

Su

Y

 

1

0

1

0

0

 

1

1

 

 

 

1

 

1

0

1

2

0

0

0

0

 

1

 

1

 

 

 

 

 

 

 

3

0

0

1

0

 

 

1

1

 

 

 

 

 

 

 

4

0

0

1

1

 

. 1

 

 

1

1

 

1

1

0

0

5

0

~ 0

1

0

 

 

 

 

1

 

 

1

1

0

1

6

0

0

0

0

 

1

1

1

 

 

1

 

 

 

 

7

1

0

0

0

1

1

 

 

 

 

 

1

1

0

0

б)

Рис. 11-5. Данные к заданию 4.

а — принципиальная схема; б —таблица функций неисправностей (ТФН).

25Ь

П о с т р о е н и е т е с т о в с п о м о щ ь ю с т е н д а - т р е н а ж е р а : произвести построение контролирующего теста; произвести построение диагностического теста.

Полученные тесты сравнить с заданными.

 

П р о в е р к а

п р а в и л ь н о с т и з а д а н н ы х т е с т о в

и э л е м е н т о в

с х е м ы с п о м о щ ь ю с т е н д а - т р е н а ж е р а :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

проверить правильность заданного контролирующего теста;

 

 

 

 

 

 

 

проверить правильность заданного диагностического теста;

 

 

 

 

 

 

 

проверить поочередно работу элементов схемы.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Задание 3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1)

Исходные данные

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 11-4,а дана принципиальная схема логического блока, а на рис. 41-4,5

 

таблица функций неисправностей.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Г р у п п ы н е р а з л и ч и м ы х н е и с п р а в н о с т е й

 

 

 

 

5l)

Si(i)

1,

Sl(2 )—1,

5l(3)

1, S2 (l)—'1, 52(2)—1, 52(8)

1,

5з(1)

1,

*Ss(2 ) 1,

Ss(3)

jc

$4(1)—0, Si(5)—0, S5(1)—0,

S2(5)—0, 5e(i)—0, S3(5)—0, Sj^i)—0,

S4(5)— 1,

5s(i)—0,

5?(5)

“>

58(5)—1,

5 7(2)—<1,

S5(5).—.1 ,

S7(3)— 1,

5e(5)— 1;

5 2) 5 5(i);—II, S2(5)—11,

57(2)—0,

Ss(5)

5з)

Se(j)— 1,

S7(3)—0,

5 з<5)— 1,

5б(§)—0;

5 4)

5 a(i)— 1, 57(5)— 1,

5 S(5)—0;

5s)

5i(i)

6,

5 6)

Si(2)—0;

S7)

5 i(3>—0;

5s)

5 2(i)—0;

S9) 5 2(2)—0;

5m)

5 2(s)-—0;

5ц)

S30)'

5 I2) 5 з(2)—0;

5u)

5з(з)—0;

S 1 4 )

S4(i)—J1;

5u)

5^(1)—-Ю; S4(5)—0.

 

 

 

 

 

 

 

П р и м е ч а н и е .

В

группах

неразличимых неисправностей,

например,

57<з)—1

означает наличие неисправности типа

«1» на входе 3 элемента

7.

 

 

 

 

 

 

2 )

Содержание работы:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

составить алгебраическое выражение

c= }(bi, bz, Ьз, bi, bs, Ьз, bi, b3, Ьз)

для схемы на рис. 11-4,я; набрать схему на стенде-тренажере;

проверить исправность схемы, задавая наборы из ТФН на рис. 14-4,6 и сверяя полученные значения выходных сигналов с с табличными;

проверить правильность ТФН, поочередно задавая неисправности в схеме и про­ веряя, на каких наборах значения выходных сигналов не соответствуют табличным.

Задание 4

1) Исходные данные

На рис. 11-5,я дана принципиальная схема логического блока, а на рис. 11-5,5 — таблица функций неисправностей. Так как схема содержит обратную связь, то наборы подаются последовательно: 1, 2 . . . и т. д.

Г р у п п ы н е р а з л и ч и м ы х н е и с п р а в н о с т е й

 

5i)

5i(ij—0, 5 2(i)—0, 54(2)—0;

S2) 5j(t)—il, 5 Sm—1, Se(i)—0; 5»)

5i(i>— 1, 5i(?)— 1,

5i(3)— I,

5 5(!)— 1;

S i)

5 2(i)—1, 5 2(2)— 1, 5 2(S)— 1,

5»(i)—0,

5 4(i>— 1,

5 4(2)— 1,

Sb<2)— 1;

5s)

5 i(3>—О,

5 2(з)—6;

5e) Sem— 1,

Se(sj—0;

S7)

0;

Sg) Sz(z)—0;

5 9)

S4(i)—0;

5io)

55(i)— 1;

Su)

Se<5)— 1.

 

 

 

 

 

 

 

 

П р и м е ч а н и е .

Например,

Sg(i)—1 означает наличие неисправности типа «1»

на входе 1 элемента 3.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2)

Содержание работы:

 

 

 

 

 

 

 

 

составить алгебраическое выражение для

 

 

 

 

 

К =ф (я, Ь, с, d) и У=ф(я, Ь, с, й, улр) для схемы на рис. 11-5,я:

 

 

 

 

набрать схему на тренажере;

 

 

 

 

 

 

 

 

проверить исправность схемы, задавая последовательно наборы значений пере­

менных я, Ь, с, d

из ТФН на рис. 11-5,6 и сверяя полученные значения выходного сиг­

нала Y с табличными;

 

на рис.

11-5,6,

поочередно задавая

неисправности

 

проверить правильность ТФН

в схеме и проверяя, на каких наборах значение выходного сигнала не соответствует табличному;

оборвать обратную связь и подавать на схему в произвольной очередности на­ боры значений переменных я, b, с, d, ужр. Убедиться в том, что схема исправна, т. е. значения Y соответствуют табличным.

256

ГЛ А В А Д В Е Н А Д Ц А Т А Я

НАДЕЖ НОСТЬ БЕСКОНТАКТНЫ Х ЭЛ ЕМ ЕН ТО В И У П РАВЛЯЮ Щ И Х Л О ГИ Ч ЕС К И Х УСТРОЙСТВ ПРО М Ы Ш ЛЕН Н ОЙ АВТОМАТИКИ

12-1. О СНО ВНЫ Е ПО Л О Ж ЕН И Я ТЕО РИ И Н АД ЕЖ Н О С ТИ

Современное развитие промышленности потребовало создания сложных схем автоматического управления и регулирования, качество работы которых невозможно оценить умозрительно. Конкретные вели­ чины для определения качества работы электрических схем дает тео­ рия надежности.

Надежность по ГОСТ 13377-75 характеризуется совокупностью показателей безотказности, долговечности, ремонтопригодности и со­ храняемости.

Основными показателями, характеризующими безотказность рабо­ ты элементов и устройств, являются: вероятность безотказной работы

p{ t) ,

интенсивность

отказов

h( t ) ,

наработка

на

отказ Т ср.

 

 

Показатели ремонтопригодности для бесконтактных логических

элементов из-за их

неремонтоспособности не имеют такого

значения,

как для

контактной

аппаратуры,

 

 

 

 

 

 

 

и поэтому в данной главе

нерас-

 

 

Приработанные

Внезапные

сматриваются..

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

' Я

j отказы

 

; а азноновые

Техническое

обслуживание

 

 

Знезапнь/е отказы

отказы

схем

из

бесконтактных элементов

 

 

Период нормальной,

 

 

требует

своеобразного

 

подхода

 

 

 

 

по сравнению со схемами

на кон­

 

 

эксплуатации

 

 

 

 

 

 

И

 

 

тактной аппаратуре и будет

рас­

 

N .

 

 

 

 

 

 

 

 

смотрено .ниже.

 

 

 

 

 

II

 

 

IL

 

 

 

Распределение

отказов

ло­

 

 

 

 

 

гических

элементов может

про­

* /

Т„

 

 

 

 

исходить по различным

законам,

 

Период приработки

 

 

но наиболее характерным и при­

 

Рис.

12-1. Зависимость интенсивностей отка­

емлемым, дающим

простые

ма­

 

 

зов

от времени для электротехнической ап­

тематические соотношения, явля­

 

 

 

 

паратуры.

 

 

ется

экспоненциальный

закон

 

 

 

 

 

 

 

распределения.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Зависимость интенсивности отказов от времени (рис. 12-1) имеет

три

области.

Область

1

характеризуется

повышенными

значениями

интенсивностей

отказов

элементов

и схем.

Это

объясняется

тем, что

в этот момент происходит процесс

наладки

и приработки

устройства.

Увеличение интенсивности отказов является следствием заводских де­ фектов, а также недостатков монтажа и наладки. Область II характе­ ризуется сравнительно постоянными значениями интенсивностей отка­ зов, зависящих от наличия различных случайных факторов. Область

/// характеризуется увеличением интенсивностей отказов из-за влияния старения и износа элементов.

Исходя из этого отказы, происходящие в промежутках времени, характеризуемых областями / и /// учитывать не следует, так как они не являются следствием случайных явлений.

Если считать, что элементам и аппаратам приходится в основном работать в условиях области II, то вероятность безотказной работы

17—856 257

определится как

p(f) = e~ut

( 12- 1)

а наработка на отказ

 

3"Ср—1 /Я.

(12-2)

При переходе от элементов к системам эти понятия остаются преж­ ними. Так, для системы вероятность безотказной работы можно опре­ делить как произведение вероятностей безотказной работы элементов

р (о=р, (/) р л * )-рп (о = п pi (*)»

с12-3)

i=i

 

а общую интенсивность отказов схемы как сумму интенсивностей от­ казов элементов

лю= мо+ а.(о+--.+мо==2'мо.

(12-4>

г=1

12-2. ОСНОВНЫЕ ЗАДАЧИ РАСЧЕТА НАДЕЖНОСТИ

Для схем автоматического управления и электрических аппаратов, применяемых в промышленной автоматике, расчеты надежности необ­ ходимы для решения следующих трех задач:

разработки мер по повышению надежности (вероятности безотказ­ ной работы) схем и аппаратов при их проектировании;

определения технико-экономической эффективности замены одного вида электроаппаратуры другим, например, замены контактной стан­ ции управления бесконтактной;

определения периодичности технического обслуживания (ГОСТ 18322-73), обеспечивающей поддержание заданного значения вероят­ ности безотказной работы.

Разработка мер по повышению надежности управляющего логи­ ческого устройства требует прежде всего численного определения уров­ ня надежности схемы. Достаточным для этой цели является определе­ ние вероятности безотказной работы схемы p(t) в течение заданного промежутка времени. Такой расчет можно выполнить в том случае, если будут известны интенсивности отказов всех элементов, составляю­ щих схему.

Устройства промышленной автоматики, как правило, не требуют предельно больших значений p (t), равных, например, 0,98—0,99. На­ дежность этих устройств определяется больше факторами технико-эко­ номической эффективности.

При определении технико-экономической эффективности внедре­ ния тех или иных аппаратов или схем с точки зрения надежности не­ обходимо сравнивать капитальные и эксплуатационные затраты. Капи­ тальные затраты на внедрение любой аппаратуры определяются со­ гласно [43]. Эксплуатационные расходы для устройств, выполненных из логических элементов, можно определить, зная общую интенсивность отказов схемы.

Время t, определяемое из выражения (12-1), можно считать вре­ менем /пш, через которое необходимо производить профилактические

258

осмотры, чтобы поддерживать вероятность безотказной работы устрой­ ства p{t) на заданном уровне Рзая-

<ПП0= -'1 п (Р зад)/Л.

(12-5)

Чем чаще будут производиться плановые осмотры, тем выше веро­ ятность безотказной работы, но и тем больше эксплуатационные затра­ ты. Очевидно, необходимо найти такое значение Рзал, при котором не­ значительным эксплуатационным затратам соответствовала бы высо­ кая надежность устройства, иными словами, необходимо вычислить оптимальную вероятность безотказной работы. Методика этого расчета приводится в гл. 13. Учитывая неремонтоспособность бесконтактных логических элементов, можно было бы не производить и планово-пре­ дупредительные осмотры. Однако наличие штепсельных соединений, возможность изменения напряжения питания, возможность работы схе­ мы при выходе из строя одного элемента делает периодический плано­ во-предупредительный осмотр необходимым. Периоды, определяемые по формуле (12-7), можно принимать за основу при расчете циклов планово-предупредительных осмотров.

12-3. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ ПО ОПРЕДЕЛЕНИЮ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ ЛОГИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ

Интенсивность отказов является одним из основных критериев на­ дежности, без определения которого вообще невозможно производить

какие-либо инженерные расчеты.

 

Если

какое-то количество элементов N поставить на испытание и

к началу

рассматриваемого периода выйдет из

строя (откажет в ра­

боте) rii

элементов, то интенсивность отказов К*

представит собой чис­

ло отказавших элементов в единицу времени, отнесенное к числу эле­ ментов, оставшихся исправными к началу рассматриваемого проме­ жутка времени.

Эта величина может быть определена из опытных данных как

Г ;

Arij

[1/ч],

(M — ni)Ati

где Atii — число отказавших элементов за промежуток времени At; N —■ начальное число элементов; п, — общее число отказавших элементов к началу рассматриваемого промежутка времени.

Опытным путем эти данные в условиях эксплуатации получить довольно трудно, поэтому они должны быть определены на заводеизготовителе и включены в каталожные данные как одна из техниче­ ских характеристик элементов или аппаратов.

Сложность определения ^-характеристик логических элементов за­ ключается в следующем:

электрические логические элементы состоят из отдельных деталей, количество которых в отдельных логических элементах достигает 15— 20 шт. и более;

логические элементы в схемах автоматики могут выполнять раз­ личные функции, и в зависимости от этого их внутренние детали будут находиться в различных состояниях (под напряжением или нет, с раз­ личным значением проходящего тока и т. д.).

17*

259

Нагрузка внутренних деталей логических элементов значительно меньше ее номинального значения, что повышает надежность работы, но требует введения дополнительных поправок при расчетах.

Функциональное состояние логического элемента однозначно опре­ деляет состояние внутренних деталей. Общая интенсивность отказов логического Элемента может быть определена по формуле (12-4) как

П

2 — V 7

*эл — ‘ JLA лгдет»

/&х1

где Я,{дет — интенсивность отказов тех деталей, которые участвуют в фор­ мировании данного функционального состояния логического элемента. Таким образом, любой логический элемент может иметь столько значбН'ИИ интенсивностей отказов Яэл>сколько возможных функциональных состояний он может принимать.

Поэтому для каждого логического элемента необходимо опреде­ лить возможные функциональные состояния, которые данный элемент может принимать. Таких состояний может быть четыре: сохранение на выходе элемента сигналов 0 и 1 в статическом режиме (Х0 и Xi — интен­ сивности отказов сохранения на выходе нулевого сигнала и единичного сигнала), изменение функционального состояния на выходе элемента при соответствующих изменениях сигналов на входе, что характери­ зуется динамическими л-характеристиками ( V - i — динамическая ин­ тенсивность отказов перехода из состояния 0 в состояние 1; Xi_o — ди­ намическая интенсивность отказов перехода из состояния 1 в состоя­ ние 0).

Для расчета интенсивности отказов логических элементов выбирает­ ся метод, учитывающий режим работы элементов, их загрузку и исполь­ зование их по времени.

Расчетная интенсивность отказов деталей логических элементов принимается по формуле [31]:

П

Я== 5

(12-6)

i=sl

 

где k i= k 1&2 ... kn — коэффициенты, учитывающие условия работы дета­ лей схем логических элементов.

Рис. 12-2. Зависимость эксплуа­

Рис. 12-3. Зависимость эксплуа­

тационного коэффициента пле­

тационного коэффициента полу­

ночных резисторов (типа МЛТ)

проводниковых триодов

от

от коэффициента электрической

электрической нагрузки.

 

нагрузки.

 

 

260

Соседние файлы в папке книги