Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Оборудование для производства полупроводниковых диодов и триодов

..pdf
Скачиваний:
3
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
13.07 Mб
Скачать

ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ПРОИЗВОДСТВА

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ диодов И ТРИОДОВ

Под редакцией П. Н. М А С Л Е Н Н И К О В А

ф « Э Н Е Р Г ИЯ » • МОСКВА 1970

УДК 621.382.002

6Ф0.32

022

О 22 Оборудование для производства полупроводни­ ковых диодов и триодов, под редакцией П. Н. Мас­ ленникова, М., «Энергия», 1970.

184 с. с нлл.

Книга знакомит с технологическим и контрольно-измерительным оборудованием, применяемым в производстве полупроводниковых при­ боров и твердых схем. Описаны конструкции и приведены основные ха­ рактеристики наиболее широко используемого в полупроводниковой промышленности оборудования; даются основные сведения по техноло­ гии полупроводникового производства.

Значительнее внимание уделено вопросам механизации и автома­ тизации полупроводникового производства, перспективным направле­ ниям механизации и автоматизации, описаны наиболее характерные комплексно-механизированные линии.

Книга рассчитана на инженеров и техников, связанных с произ­ водством полупроводниковых приборов и твердых схем, а также на студентов вузов и техникумов соответствующего профиля.

3-3-12

6Ф0.32

298-69

П. Н. Масленников, Б. И. Симакин,

Г. И. Холин, Л . Ф. Шевченко,

 

М. М. Бабушкин, И. В. Борисовский, М. В. Высоцкий, Д. В. Горлов,

 

С. В. Ключанцев, В. А. Назаров, А. Я. Новак, С. С. Петров,

 

Ю. Н. Романцов, Э. С. Соломбеков

 

 

 

 

ОБОРУДОВАНИЕ

ДЛЯ ПРОИЗВОДСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

д и о д о в

ТРИОДОВ

Редактор

Л. Е. Ч е р н я к

 

 

 

 

Переплет

художника

А. А. И в а н о в а

 

 

 

 

Технический редактор

Л. М. К у з н е ц о в а

 

 

 

 

Корректор Я. В. Лобанова

 

 

 

 

Сдано в набор 3/Х1 196) г.

 

Подписано к печати 27/1V 1970 г.

 

т-06341

Формат 81хЮ8'/,(

Бумага типографская № 1

 

Уел. печ.

 

ч.-нз 1. л. 21,95

Тираж 10000 экз.

 

 

Цена 1

р. 43 кон.

 

Эак. 2508

 

Издательство «Энергия». Москва,

Ж-114.

Шлюзовая наб.,

10.

 

Московская типография № 10 Главполиграфпрома Комитета по печати при Совете Министров СССР.

Шлюзовая наб.. 10.

ПРЕДИСЛОВИЕ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Развитие современной

полупроводниковой

Книга, по мнению авторов, может оказать­

промышленности неразрывно связано с созда­

ся полезной не только

работникам

полупро­

нием

нового и непрерывным совершенствова­

водниковой промышленности, но и студентам

нием

технологического и измерительного обо­

•вузов и техникумов соответствующих спе­

рудования,

преимущественно

полуавтомати­

циальностей, которые смогут ее использовать

ческого и автоматического, а также поточных

при

курсовом и дипломном

проектировании,

и комплексно-механизированных линий, на ба­

а также

как факультативный материал.

 

зе внедрения которых обеспечивается коренное

Авторы

выражают

признательность всем

улучшение организации и технологии полупро­

коллективам и лицам,

любезно

предоставив­

водникового

производства. В связи с быстры­

шим

'материалы

для

книги,

в том

числе

ми темпами

роста

полупроводниковой

про­

А. Ф. Трутко, В. Г. Колесникову, В. И. Царен­

мышленности в последнее

время

остро

ощу­

ко,

С.

А.

Дохману,

Б.

С.

Савровскому,

щается

потребность

в литературе,

посвящен­

И. Г

Блинову, а также рецензенту Д. Б. Зво­

ной

оборудованию

для

полупроводникового

рыкину

за

ценные

советы

и

замечания,

сде­

производства.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ланные в процессе подготовки

рукописи к из­

Настоящая книга в какой-то

мере должна

данию.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

восполнить пробел,

имеющийся

в

этой

обла­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Считаем

своим

долгом

отметить

большую

сти. В книге,

наряду с описанием

конструк­

помощь, оказанную при оформлении рукописи

тивных

особенностей различных

установок,

со стороны

М. В. Новикова,

В. П. Быковой,

сделана

попытка дать анализ развития произ­

Д. Б. Новак, И. А. Баскакова.

 

 

 

водства

полупроводниковых приборов и осве­

 

 

 

Авторы с благодарностью примут все заме­

тить основные тенденции в области его комп­

чания и предложения читателей, направленные

лексной механизации и автоматизации.

 

 

на устранение всех возможных

недостатков

Авторы при подборе материалов ориентиро­

вались на наиболее прогрессивное уже дейст­

книги.

 

вующее оборудование.

 

ВВЕДЕНИЕ

В-1. РАЗВИТИЕ ПРОИЗВОДСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Развитие полупроводниковой техники привело к созданию новой отрасли промышленности, обеспечи­ вающей выпуск широкой номенклатуры полупроводни­ ковых приборов. Разработка и промышленное произ­ водство этих приборов потребовали создания большого количества новых технологических процессов и прие­ мов. Были разработаны методы получения р-л-перехо- дов в слитках, а затем и сплавлением, что позволило организовать производство тянутых и сплавных герма­ ниевых транзисторов. Особое значение для развития технологии кремниевых полупроводниковых приборов имели методы бестигельнон зонной очистки слитков и диффузии примесей. Диффузионные методы оказались лучшими среди управляемых методов создания р-п-пе­ реходов. Разработаны и другие различные технологиче­ ские методы (мезатехнология, сплавление-диффузия, защита кремния окислом, особые методы обработки поверхности, планарная технология, эпитаксиальное на­ ращивание, методы фотолитографии и др.), которые легли в основу современной промышленной технологии производства полупроводниковых приборов.

Успехи в разработке и применении различных по­ лупроводниковых приборов, совершенствование техно­ логии их изготовления, создание интегральных полу­ проводниковых схем сделали возможным решение за­ дачи микроминиатюризации радиоэлектронной аппара­ туры на основе пленочной электроники. Следует отме­ тить, что основные технологические приемы производ­ ства приборов, в том числе получение тонких пленок, фотолитография, меза- и планарная технология явля­ ются общими как для дискретных приборов, так и ми­ кроэлектронных схем [Л. 22].

В-2. ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ. ЭЛЕМЕНТЫ КОНСТРУКЦИЙ ОСНОВНЫХ ТИПОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ д и о д о в И ТРИОДОВ

Понятие полупроводниковые приборы объединяет большую группу приборов, выполненных на основе твердого тела: диоды, транзисторы, фоточувствительные и преобразовательные приборы, полупроводнико­ вые излучатели и др.

Полупроводниковым диодом называется прибор, принцип действия которого основан на использовании свойств электронно-дырочного перехода или поверхно­

стного потенциального барьера кристалла полупровод­ ника. Диод имеет два внешних вывода.

Транзистором называется полупроводниковый при­ бор с электронно-дырочными переходами, предназна­ ченный для усиления или генерирования электрических сигналов. Транзисторы могут быть двух- и многопе­ реходными. Двухпереходный транзистор называется по­ лупроводниковым триодом. Он имеет три внешних вы­ вода.

В производстве диодов и триодов достигнут наи­ более высокий уровень механизации по сравнению с другими полупроводниковыми приборами, что обес­ печено широким использованием специального техноло­

гического

и контрольно-измерительного оборудования

на

всем

протяжении

технологического

процесса — от

входного

контроля материалов

до упаковки готовых

приборов.

 

 

 

 

 

На рис. В-1 дается схема классификации приборов

по

группам, в основе

которой

лежит

учет технологи­

ческих особенностей. Возможна классификация также по другим признакам: рабочей частоте, областям при­

менения

и т.

д.

Существуют также

многочисленные

разновидности

приборов,

создаваемые

комбинацией

основных

технологических

методов получения

перехо­

дов (сплавно-диффузионные, меза-планарные,

планар­

но-эпитаксиальные

и др.).

 

 

 

Полупроводниковые диоды и триоды состоят из ряда элементов, общих по назначению для всех типов полупроводниковых приборов. Основным элементом полупроводникового прибора является кристалл круг­ лой или прямоугольной формы с образованными в нем р-л-переходами. Для защиты от внешних воздействий и улучшения теплоотвода кристалл помещают в корпус, конструктивные особенности которого определяются типом прибора. Корпуса маломощных диодов (обычно стеклянные различных размеров), корпуса мощных диодов и триодов (металлостеклянные) состоят из баллона и ножки. Приборы имеют внутренние и на­ ружные выводы для электрических соединений. Кри­ сталл припаивается или непосредственно к ножке или к кристаллодержателю.

Для защиты переходов от воздействий при сборке

приборов

их покрывают

различными

лаками. Иногда

в корпус

прибора перед

герметизацией

закладывается

силикагель или цеолит в виде таблетки или смеси ва­ зелин-цеолит для поглощения паров влаги, проникаю­ щих внутрь корпуса при хранении и эксплуатации при­ боров. Наружная поверхность корпуса покрывается эмалью или никелируется. После герметизации, окраски и проверки электрических параметров приборы марки­ руются, т. е. на корпус наносится клеймо, содержащее

Рнс. В-1. Классификация полупроводниковых приборов.

товарный знак, обозначение типа прибора и дату вы­ пуска.

Остановимся кратко на устройстве н конструктив­ ных особенностях основных типов полупроводниковых приборов.

Диоды. Наиболее массовые группы полупроводни­ ковых диодов — точечные и плоскостные (сплавные и диффузионные). В группу точечных приборов входят высокочастотные и сверхвысокочастотные диоды, им­ пульсные и преобразовательные диоды на основе гер­ мания и кремния. В группу плоскостных входят низ­ кочастотные выпрямительные и импульсные диоды на основе германия и кремния, кремниевые стабилитроны, варикапы на основе германия и арсенида галлия и туннельные диоды на основе германия, кремния и ар­ сенида галлия.

Точечные диоды получили широкое распростране­ ние благодаря технологической простоте их изготов­ ления и низкой стоимости.

На рис. В-2 схематически показаны типичные кон­ струкции точечных диодов. Диод состоит из кристалла

/ германия или кремния, припаянного к крнсталлодержателю 2, контактного электрода 3 в виде тонкой ме­ таллической заостренной иглы и баллона 4.

Корпус (баллон) диодов типов Д2 и ДЮ4 пред­

ставляет

собой стеклянную трубку с

приваренными

к ней по

торцам коваровыми втулками

5. Полупро­

водниковый кристалл напаивается на достаточно мас­ сивный никелевый кристаллодержатель, который встав­ ляется в баллон и спаивается с коваровой втулкой низкотемпературным припоем. С противоположной сто­ роны в баллон впаивается другой аналогичный элек­ трод, несущий на себе контактную иглу. Внешние вы­

воды 6 обычно

круглые (диаметр 0,6

мм),

иногда

ленточные;

они

изготовляются из

никеля

или

плати­

нита.

 

 

 

 

 

В цельностеклянных корпусах приборов типа Д9

кристалл

обычно припаивается

низкотемпературным

припоем непосредственно к торцу платинитового вывода, находящемуся внутри баллона. Иногда между кристал­ лом и торцом вывода для термосогласования поме­ щается очень тонкая коваровая прокладка. Второй

а )

6 )

в )

Рис. В-2. Конструкции точечных диодов.

 

 

о — германиевый точечный диод типа Д2; 6 — кремниевый точечный диод типа

Д104: в — германиевый

па Д9.

 

 

тактной, так и холодной сваркой. Иногда применяются

корпуса

коаксиальной конструкции, предназначенные

для монтажа в ВЧ-коаксиальных устройствах.

 

 

Подробнее

устройство полупроводниковых

диодов

и триодов описано в работах ЦЛ. 4, 14, 19, 21,

23, 25,

26,

28,

33—35,

38].

 

В-3. ТИПОВЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ СХЕМЫ ПРОИЗВОДСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ И ТРИОДОВ. НАЗНАЧЕНИЕ ОСНОВНЫХ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОПЕРАЦИИ

Технологические процессы производства полупро­ водниковых приборов включают большое число опера­ ций, которые осуществляются в различной последова­ тельности или могут неоднократно повторяться, обра­ зуя полный цикл изготовления (Л. 35]. Кроме основных процессов, применяется ряд вспомогательных, обеспе­ чивающих необходимые параметры технологических сред и энергоносителей (деионизованной воды, инерт­ ных газов, водорода, воздуха и др.), а также подготов­ ку исходных материалов.

Заготовительные процессы предназначены для по­ лучения металлических деталей, металлостеклянных спаев и электродных сплавов. Производство пластин и кристаллов включает в себя полный комплекс опера­ ций от ориентации слитков до получения пластин или кристаллов с заданными параметрами, необходимыми для выполнения последующих операций получения пе­

реходов. Процессы получения переходов включают опе­ рации собственно получения р-п-переходов различными методами, травление, защиту переходов и контроль их качества. Сборка приборов включает операции присо­ единения кристаллов с образованными в них перехода­ ми к кристаллодержателю или ножке, присоединения выводов к электродам перехода и выводам ножки, по­ мещения перехода в баллон, герметизации, нанесения внешнего покрытия на корпус, лужения выводов и мар­ кировки готовых приборов. Контрольно-измерительные и испытательные операции служат для контроля элек­ трических параметров приборов, проведения механиче­ ских, климатических и электрических испытаний.

Ниже приведены типовые технологические схемы производства полупроводниковых диодов и триодов (рис. В-6—В-12). Технологические схемы даны приме­ нительно к характерным представителям массовых ти­ пов приборов по всем основным технологическим груп­ пам. Так, на рис. В-7 дана технологическая схема про­ изводства точечных диодов на примере диода Д18, на рис. В-8 — сплавных диодов на примере диода Д226. Далее приведены технологические схемы производства

триодов: сплавных на примере триода

МП 13—МП 16

(рис. В-9), диффузионных на примере

триода 2Т301Г

(рис. В-10), сплавно-диффузионных на примере триодов П401—П415 (рис. В -11) и планарно-эпитаксиальных на примере триода 2Т312А (рис. В-12).

Схема, приведенная на рис. В-12, является типич­ ной для производства новейших типов триодов, в том

<*)

*)

о)

Рис. В-6. Технологические схемы производства полупроводниковых кристаллов.

а для точечных приборов; б — для приборов с получением р-п перехода на одиночном кристалле; в для приборов с групповым получением р-л переходов на пластине.

Рис. В-7. Технологическая схема производства точечных диодов.

Рис. В-9. Технологическая схема производства сплавных триодов.

 

 

 

 

Подготовка

 

Измерение

Лакародяа

 

 

Подготовка

,

Измерение

 

 

 

ояиснойялеккц кварцевойомнулы р Диффузив

 

чаши » ллас

 

 

кварцевойампулы

4Х иЯ * концентрации

 

 

 

8 парах

 

 

 

г

и су

 

 

 

 

 

 

И

 

 

кислорода

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Сг

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Контроль

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

__

 

 

 

Нанесение

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Упстнк [

 

 

 

Травление

 

 

 

 

 

Освежение

\

Нанесение

Замер параметров

Герметизаций

истока

меза-

меза-

 

 

 

 

 

ножек

защитного

переходовипроверка

с* 'п

площадок

 

 

 

 

 

и сушка

* покрытия 1*

ножек,совранных

 

 

 

 

площавку

и (ушка

 

 

 

 

 

 

 

и сушка

по внешнемувиду

 

 

 

 

 

 

 

г з

г

_

г

 

 

 

 

 

т т :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

'.Изготовление.

 

 

 

 

 

 

 

 

"I

I

 

 

 

 

 

бамока

Знаток

 

|

 

Испытание

Тренировка

 

 

 

Контроль

Проверка

 

Лужение

 

 

Проверка

 

 

1 Иаитшше на

Термоцим-

 

 

Классификация

 

 

накз. и

 

 

» параметров

стабильным

Окончательных

уварепрниностн

обрывы при

при*/30°С

лировакие

 

герметичности4

 

выводов

 

 

при*(30°с

 

 

вибрации

 

 

 

 

Ъо> ?ко>Р

 

 

 

 

опеотий

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Классификация

Шаркировка,

Проверка

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лакировки

внешнего

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и сушка

вида

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. В -10. Технологическая схема производства

диффузионных триодов.

 

 

 

 

 

10